「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To successfully extract an image only with a character part from a scan image even when the scan image is blurred.例文帳に追加

スキャン画像が不鮮明であっても、その画像から文字部分だけの画像を上手く抽出する。 - 特許庁

A plurality of scan lines are set to a bar code image, and decoding is performed along with each of these scan lines.例文帳に追加

バーコード画像に対して複数の走査ラインを設定し、それら各走査ラインに沿ってデコードを行う。 - 特許庁

To quickly transmit a scan data file to the outside.例文帳に追加

スキャンデータファイルを外部に高速で送信すること。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus capable of designating a scan parameter as well as a scan box at the same time.例文帳に追加

スキャンボックスの指定と同時的にスキャンパラメータも指定することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

Run a complete system scan.例文帳に追加

システムの完全なスキャンをして 原因を取り除くんだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

But I need a cat scan to know how bad.例文帳に追加

catスキャンをして どれ程ひどいか知る必要がある - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a laser therapy equipment, reduced in laser scan time in a wide laser scan range.例文帳に追加

広範囲なレーザ走査領域において、レーザ走査時間を短くしたレーザ治療装置を提供すること。 - 特許庁

MRI scan and PET scan are carried out simultaneously on a patient medicated with a suitable constrast medium.例文帳に追加

適切な造影剤を投与された被験者は、ＭＲＩスキャンおよびＰＥＴスキャンが同時に実施される。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 has a logic circuit part comprising a user logic circuit 10, and a scan chain 11 for performing its scan test, and a memory part comprising a memory 40, a BIST circuit 20, and a scan chain 21 for performing its scan test.例文帳に追加

半導体集積回路１は、ユーザロジック回路１０及びそのスキャンテストを行うスキャンチェーン１１からなるロジック回路部と、メモリ４０、ＢＩＳＴ回路２０及びそのスキャンテストを行うスキャンチェーン２１からなるメモリ部とを有する。 - 特許庁

To reduce the number of cycles during a capture period in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるキャプチャ期間のサイクル数を削減する。 - 特許庁

To automatically run a boundary-scan test with a test device.例文帳に追加

バウンダリスキャンテストをテスト装置によって自動的に実行する。 - 特許庁

A scanner 1 scans a document to generate scan data.例文帳に追加

スキャナー部１は原稿をスキャンしてスキャンデータを作成する。 - 特許庁

A device 500 is provided with a key scan code set storage area.例文帳に追加

デバイス５００は、キースキャンコードセット記憶領域を有する。 - 特許庁

They do a dna scan of this, they will come up with a great mailing list.例文帳に追加

それでDNAをスキャンすれば すごいメーリングリストができますね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

They do a dna scan of this, they will come up with a great mailing list.例文帳に追加

それでdnaをスキャンすれば すごいメーリングリストができますね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A slow lamp signal is generated by a lamp signal generation part 4 based on a scan signal from a scan signal generation part 2.例文帳に追加

スキャン信号発生部２からのスキャン信号に基づいてランプ信号生成部４よりスローランプ信号が生成される。 - 特許庁

To shorten the time for a scan test when performing a scan design in a semiconductor integrated circuit having a hard macro.例文帳に追加

ハードマクロを有する半導体集積回路において、スキャン設計を行う場合、スキャンテストの時間短縮を図る。 - 特許庁

To acquire a successful read image in a reading system which performs a preview scan and a main scan.例文帳に追加

プレビュースキャンと本スキャンを行なう読み取り方式において、良好な読み取り画像を取得することを可能とする。 - 特許庁

A main-scan direction shift register 101 shifts one pixel of data to a main-scan direction at a time in synchronizing with a data transfer clock.例文帳に追加

主走査方向シフトレジスタ１０１は、データ転送クロックに同期して、主走査方向にデータを１ピクセルずつシフトする。 - 特許庁

To realize a conversion system to an interlaced scan image in which a third party can not recover a sequential scan image easily when the sequential scan image is converted into an interlaced scan image.例文帳に追加

順次走査画像を飛び越し走査画像に変換するに際して、第三者が容易に順次走査画像を復元することのできない飛び越し走査画像への変換方式を実現すること。 - 特許庁

During a scan test, a specific gated clock cell equipped with the scan power control terminal is stopped (operated) using the scan power control circuit 3003, thereby performing a scan test without test division.例文帳に追加

スキャンテスト中スキャン電力制御回路３００３を用いて特定のスキャン電力制御端子つきゲーテッドクロックセルを止める（動かす）ことでテスト分割なしでスキャンテストを行うことが可能となる。 - 特許庁

To make unnecessary addition of scan FF and selector in order to shorten the design period in the design of LSI including a non-scan block and scan block.例文帳に追加

非スキャンブロックとスキャンブロックを含むＬＳＩの設計において、スキャンＦＦ及びセレクタの追加を不要とし、設計期間を短縮する。 - 特許庁

When a scan test interruption request is received from the processor control unit during the execution of the scan test by the scan test control unit, the scan test is interrupted and, after the execution of the application, the scan test is resumed.例文帳に追加

そして、スキャンテスト制御部がスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させるものである。 - 特許庁

The SoC is provided with a scan chain in which a plurality of latch circuits are connected like a chain and which executes a scan test and a debug circuit 100 for designating the specific latch circuit configuring the scan chain for reading data while executing the scan test to the scan chain.例文帳に追加

ＳｏＣに、複数のラッチ回路がチェーン状に接続されたスキャンテストを実行するためのスキャンチェーンと、このスキャンチェーンに対するスキャンテストを実行しながらスキャンチェーンを構成する特定のラッチ回路を指定してデータを読み取るデバッグ回路１００とを備える。 - 特許庁

To provide a design method for a scan test circuit allowing the inspection of a critical path of a semiconductor integrated circuit by a scan test.例文帳に追加

スキャンテストによって半導体集積回路のクリティカルパスの検査を可能にするスキャンテスト回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

A scan driving part includes a set-up pulse supply part 210 for supplying a reset pulse to a scan electrode in a set-up period.例文帳に追加

スキャン駆動部は、セットアップ期間にスキャン電極にリセットパルスを供給するためのセットアップパルス供給部２１０を含む。 - 特許庁

A period adjusting flip-flop is added to a rearmost stage in a SCAN circuit included in a system circuit configured in a semiconductor device (an LSI).例文帳に追加

半導体素子（LSI）に構成されるシステム回路に含まれるSCAN回路の最後段に期間調整用フリップフロップが追加される。 - 特許庁

To restrain a hold error upon performing a scan test in which a scan chain is formed by a plurality of flip-flops in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路において複数のフリップフロップでスキャンチェーンを構成するスキャンテスト実施時のホールドエラーを抑制する。 - 特許庁

A scanner 10 applies an electronic signature 22 to scan image data 21 of a scan document 20 read by a document reader 12 and stored in a scan document storage region 145.例文帳に追加

スキャナ１０は、文書読取部１２にて読み取ったスキャン文書２０のスキャン画像データ２１に電子署名２２を行いスキャン文書格納領域１４５に蓄積する。 - 特許庁

During a scanning interval for obtaining an observation image over one frame interval, a spiral scan and a circular scan are alternated with one another in one revolution withinin a central area M (double scan range).例文帳に追加

そして、１フレーム分の観察画像を得る走査期間中において、螺旋状走査と円状走査を中心エリアＭ（二重走査範囲）内で１周ずつ交互に行う。 - 特許庁

To perform an image reading operation which is specialized in a calibration scan when the calibration scan is instructed.例文帳に追加

キャリブレーションスキャンが指示された場合に、キャリブレーションスキャンに特化した画像読み取り動作を行う。 - 特許庁

To provide a three-dimensional scan data correction system or the like for removing height error of three-dimensional scan data.例文帳に追加

３次元スキャンデータの高低誤差を除去する３次元スキャンデータ補正システム等を提供する。 - 特許庁

When a scan range is set, the scan button is operated for some seconds to start scanning.例文帳に追加

スキャン範囲が設定されるとスキャンを開始するために任意の何秒間かスキャンボタンを操作する。 - 特許庁

To provide a scan condition determining device capable of determining new scan conditions easily.例文帳に追加

新たなスキャン条件を容易に決定することができるスキャン条件決定装置を提供する。 - 特許庁

The image reading part 10 reads in scan mode image data in synchronism with a scan clock signal.例文帳に追加

画像読取部１０は、スキャンモードではライン画像データをスキャンクロック信号に同期して読み取る。 - 特許庁

The scan of a file older than the final scan date is omitted to quicken file access.例文帳に追加

最終スキャン日時よりも古いファイルはスキャンを省略することでファイルアクセスを高速化する。 - 特許庁

The scan control part 5 performs a scan control according to the inspection conditions given in the respective elements.例文帳に追加

スキャン制御部５は、各エレメントで示される検査条件に従ってスキャン制御を行う。 - 特許庁

The conduction of the first and second transistors is determined by a scan signal transmitted along the scan line.例文帳に追加

第一、第二トランジスタの導通は、スキャンラインにより伝送されるスキャン信号により決定される。 - 特許庁

To detect a fault on a scan chain using a random pattern.例文帳に追加

ランダムパターンを用いてスキャンチェーン上の故障を検出すること。 - 特許庁

A scanner illuminates a partial width 212 of a scan line.例文帳に追加

スキャンラインの部分的な幅２１２を照明するスキャナが開示される。 - 特許庁

To provide a shift register, a scan driving circuit and a display apparatus having the shift register.例文帳に追加

シフトレジスタとこれを有するスキャン駆動回路及び表示装置。 - 特許庁

The means 2 inputs the white noise to a scan electrode adjacent to a scan electrode to which the driving voltage is inputted, within one scan period.例文帳に追加

前記手段２は、１走査期間内に前記駆動電圧が入力される走査電極に隣接する走査電極に、前記ホワイトノイズを入力する。 - 特許庁

The dummy block 120 has a clock terminal D4 to which a clock signal CLK is input, a scan input terminal D2 connected to the scan chain 140, and a scan output terminal D5 connected to the scan chain 140.例文帳に追加

ダミーブロック１２０は、クロック信号ＣＬＫが入力されるクロック端子Ｄ４と、スキャンチェーン１４０に接続されたスキャン入力端子Ｄ２と、スキャンチェーン１４０に接続されたスキャン出力端子Ｄ５と、を有する。 - 特許庁

A scan is made over all the boards to collect this information. 例文帳に追加

すべてのボードについてこの情報を集めます。 - FreeBSD

To prevent occurrence of erroneous operation in a scan test circuit.例文帳に追加

スキャンテスト回路での誤動作の発生を防止する。 - 特許庁