「at test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

Also, an internal packet generating circuit generates a packet signal for test at high speed by an internal clock.例文帳に追加

また、内部パケット発生回路は、内部クロックによって、テスト用パケット信号を高速に発生する。 - 特許庁

To provide a test usable for diagnosing celiac disease at initial stage.例文帳に追加

初期段階でセリアック病を診断するのに使用できる試験を開発することである。 - 特許庁

To provide a photocurrent-voltage conversion circuit wherein an exact test is applied at low cost.例文帳に追加

正確な試験を低コストで実施し得る光電流・電圧変換回路を提供する。 - 特許庁

In the transparent latch circuit 10, the test signal TE is low level at the regular operation.例文帳に追加

トランスペアレントラッチ回路１０において、通常動作時、テスト信号ＴＥはＬレベルとなる。 - 特許庁

MEMORY TEST SYSTEM/METHOD AT THE TIME OF STARTING SYSTEM BY CONTROL FIRMWARE例文帳に追加

制御ファームウェアによるシステム立ち上げ時のメモリ試験システム及び方法 - 特許庁

The first and second electrodes 2, 3 are disposed at positions for holding the test piece 5.例文帳に追加

第１電極２及び第２電極３は、試験片５の検査面を挟む位置に配置されている。 - 特許庁

To detect a fault at an early stage by accelerating reproduction tests in test programs.例文帳に追加

試験プログラムにおける再現テストを加速し、早期に障害を発見する。 - 特許庁

Thus, TPTP of each magnetic head can be measured quantitatively, for example, at the burn-in test process.例文帳に追加

これにより，例えばバーンインテスト工程で，各磁気ヘッドのＴＰＴＰを定量的に測定できる。 - 特許庁

The apparatus has a deck having a test station at which a head can be tested.例文帳に追加

この装置は、ヘッドを試験することができる試験ステーションを有するデッキを有する。 - 特許庁

Hitherto, optimum reference voltage is set for each chip only at the time of test for trimming of reference voltage.例文帳に追加

従来、基準電圧のトリミングは検査時にのみチップ毎に最適な基準電圧を設定していた。 - 特許庁

The adjustment device repeats the test after 3,000 driving hours at the latest.例文帳に追加

調節装置は、遅くとも、駆動時間が３０００ｈを過ぎると、検査を反復する。 - 特許庁

To provide a technique for accurately performing a hardness test at a stipulated load speed.例文帳に追加

規格通りの負荷速度で以って硬さ試験を正確に行う技術を提供する。 - 特許庁

Optimum recording power P(Si) at the prescribed high recording speed Si is obtained by a test writing.例文帳に追加

所定の高速記録速度Ｓｉでの最適記録パワーＰ（Ｓｉ）を試し書きによって求める。 - 特許庁

In S57, a speaker is set up based on the sound volume V of the test sound at that time.例文帳に追加

Ｓ５７では、テスト音響のその時の音量Ｖに基づきスピーカのセットアップを実施する。 - 特許庁

To supply air current mixed with fine solid particles at an arbitrary numerical density to a test device.例文帳に追加

気流中に微小な固体粒子を任意の数密度で混入させて試験装置に供給すること。 - 特許庁

At the step S5, the electronic document template is temporarily registered as a test template.例文帳に追加

ステップＳ５において、電子帳票テンプレートをテストテンプレートとして仮登録する。 - 特許庁

A first distribution is obtained by processing the first test data statistically at a first statistic processing step.例文帳に追加

第１統計処理ステップにより上記第１試験データを統計処理して第１分布を求める。 - 特許庁

To simply test the state switching of a base station apparatus at optional timing.例文帳に追加

任意のタイミングでの基地局装置での状態切替えを簡易に試験する。 - 特許庁

To improve work efficiency at the test piece mounting time of a universal joint interposed between a crosshead and a gripping implement.例文帳に追加

クロスヘッドと把持具との間に介設された自在継手の試験片取付時の作業性をよくする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a scan path test can be conducted at high speed.例文帳に追加

スキャンパステストを高速に実施することのできる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

A softening point difference measured by a stability test of the asphalt composition is preset at <2.5°C.例文帳に追加

このアスファルト組成物の安定性試験によって測定された軟化点差を、２．５℃未満に設定する。 - 特許庁

At least two of the semiconductor chips have a connection test circuit and a switch circuit.例文帳に追加

半導体チップの少なくとも２つは、接続試験回路とスイッチ回路とを有している。 - 特許庁

To make the color reproducibility of a test print consistent with that of a print obtained at a laboratory.例文帳に追加

試し焼きプリントとラボにおいて得られるプリントとの色再現性を一致させる。 - 特許庁

Return torque in which a temporary value of the recursion offset at the time of a test is zero is provided.例文帳に追加

テスト時に回帰オフセットの一時値がゼロの戻りトルクを提供する。 - 特許庁

To load sufficient stress to a minute test piece at high temperature by a simple mechanism.例文帳に追加

微小試験片に対して、簡単な機構によって高温時に十分な応力負荷ができるようにする。 - 特許庁

The test circuit 14 and the output pads 16 are provided at the peripheral edge part of the semiconductor wafer 10.例文帳に追加

テスト回路１４および出力パッド１６は、半導体ウェハ１０の周縁部に設ける。 - 特許庁

(2) The reduction of amount after heating and aging test at 100°C for 120 hr according to JISK6723 is 1.0% or less.例文帳に追加

（２）ＪＩＳＫ６７２３における１００℃１２０ｈｒ加熱老化試験後の減量が１．０％以下である。 - 特許庁

To test surely a circuit component to be tested at minimum cost.例文帳に追加

テストすべき回路コンポーネントを最小のコストで確実にテストできるようにする。 - 特許庁

The test piece is treated so as to be in a state at which a dendritic austenite structure can be observed.例文帳に追加

樹枝状のオーステナイト組織が観察可能な状態となるように試験片を処理する。 - 特許庁

To provide a dust explosion test apparatus which can evaluate dust explosibility at high temperature.例文帳に追加

高温における粉塵爆発性を評価することが可能な粉塵爆発試験装置を提供する。 - 特許庁

To easily discover failure of blazing jointing at an emboss portion by a normal leak test.例文帳に追加

通常の漏れ検査でエンボス部分でのロー付け接合の不良を容易に発見できるようにする。 - 特許庁

To supply lubricant to a bearing device on the side of a driver at unit test of a main electric motor.例文帳に追加

主電動機の単体試験時に、駆動装置側の軸受装置への潤滑油の供給を可能とする。 - 特許庁

The temperature at an outer peripheral surface of a test vessel 5 is measured with a first temperature sensor 11.例文帳に追加

第１温度センサ１１により試験容器５の外周面の温度を測定する。 - 特許庁

The reticle 1 is placed at the front focusing point of an optical system 2 which is under the test.例文帳に追加

レチクルには、複数の位置に計測パターン１ａ、１ｂが形成されている。 - 特許庁

The performance of the test circuit element at various settings of a performance controlling parameter is determined.例文帳に追加

性能制御パラメータの様々な設定における検査回路素子の性能が決定される。 - 特許庁

Since the transmission propriety is verified through the transmission reception of the test signal, the verification is performed at high speed.例文帳に追加

試験信号の送受信により伝送可否が検証されるので，検証が高速化される。 - 特許庁

To enable a rapid and reliable test to be carried out with superior work efficiency at low cost.例文帳に追加

迅速確実な試験を優れた作業効率およびコストのもとで可能とする。 - 特許庁

To effectively carry out a memory test at a low cost for a semiconductor device, including a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリを含む半導体装置におけるメモリテストを低コストで、効率よく行う。 - 特許庁

At this time, the external edge of the test piece P is supported by adjacent tapered surfaces.例文帳に追加

またこのときテストピースＰの外縁を隣接テーパ面１９ａ、１９ａにおいて支持するようにする。 - 特許庁

To provide such test data that data sent on a data bus are switched at one time.例文帳に追加

データバス上に流れるデータが一斉に切り替わるテストデータを提供する。 - 特許庁

The test result data accommodated in the scan chain is compressed by a MISR 110 at each stage.例文帳に追加

スキャンチェインに収納されたテスト結果データは各段のＭＩＳＲ１１０にて圧縮される。 - 特許庁

To verify a logic circuit under test by simulation at high speed.例文帳に追加

被テスト回路としての論理回路のシミュレーション検証を高速に実行する。 - 特許庁

To efficiently test a device for transferring data at very high bit rate.例文帳に追加

極めて高いビットレートでデータを転送するデバイスを、効率的に試験することを目的とする。 - 特許庁

To increase the number of samples in a test device and to measure the service life of each sample at low cost.例文帳に追加

試験装置内のサンプル数を増やし、かつ各サンプルの寿命の測定を低コストで実現する。 - 特許庁

At this time, the common data block, contained in two or more arbitrary test patterns, is searched.例文帳に追加

このとき、任意の２つ以上のテストパターンに含まれる共通のデータブロックを検索する。 - 特許庁