「at test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

A test writing control circuit 12 operates in a test mode and in each regular cell array CA 1-4, writes test data in a regular memory cell at a position corresponding to the position of the parity memory cell where test parity data are written.例文帳に追加

試験書き込み制御回路１２は、試験モード中に動作し、各レギュラーセルアレイＣＡ１−４において、試験データを、試験パリティデータが書き込まれるパリティメモリセルの位置に対応する位置のレギュラーメモリセルに書き込む。 - 特許庁

A control circuit 12 controls at least one of the test signal detection circuit 23 and the test signal detection circuit 20 so that the test signal detection circuit 20 detects the prescribed call signal 704 only when the test signal generation circuit 23 generates the prescribed call signal 704.例文帳に追加

また、制御回路12が、テスト信号発生回路23が所定の呼出信号704を発生しているときのみ、テスト信号検出回路20が所定の呼出信号704を検出するように、テスト信号発生回路23及びテスト信号検出回路20の中の少なくともいずれか一方を制御する。 - 特許庁

At the test mode, a selector circuit 75 receives output of the selector circuits 72 and 74, and when an object of an operation test is a spare memory cell, the circuit 75 outputs an output of the selector circuit 74 to a test device as test output data TDout.例文帳に追加

セレクタ回路７５は、テストモード時において、セレクタ回路７２および７４の出力を受けて、動作テストの対象がスペアメモリセルである場合には、セレクタ回路７４の出力をテスト出力データＴＤｏｕｔとして、試験装置に対して出力する。 - 特許庁

The analyte test strip also includes at least one meter identification mechanism 116a, 116b, and the meter identification mechanism is disposed on the electrical contact pad such that the electrical connector pin of the test meter is moved across the meter identification mechanism during insertion of the analyte test strip into the test meter.例文帳に追加

検体検査ストリップはまた、少なくとも１つの計器識別機構１１６ａ、１１６ｂを有し、その計器識別機構は、検査計に検体検査ストリップを挿入する間に検査計の電気コネクタピンが計器識別機構を横断して移動するように、電気接触パッド上に設けられている。 - 特許庁

To obtain a method for facilitating tests by a frequency divider circuit that verifies a timing, even at test operation by adding a test circuit to the frequency divider circuit so as to reduce a test pattern and to obtain the frequency divider circuit with the test circuit.例文帳に追加

分周回路にテスト回路を追加することによりテストパタンを短縮化し、且つテスト動作時でもタイミング検証を可能にする分周回路によるテスト容易化方法及びテスト回路付き分周回路を提供する点にある。 - 特許庁

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

To efficiently supply order receiving information and a test schedule related to an entrusted test to be provided at a testing place, to facilitate ordering of the entrusted test and work management and further to speedily report or disclose the test schedule and work progress conditions to a client or testing place.例文帳に追加

試験所が提供する受託試験に係る受注情報、試験計画を顧客に効率的に供給し、受託試験の発注と作業管理を容易なものとし、さらに試験計画と作業進捗状況を顧客または試験所に迅速に報告又は公開することを可能とする。 - 特許庁

A test container is fitted onto a section to be tested on the lining in the water, an ejector is actuated by a negative pressure generating unit to drain the water in the test container and keep the negative pressure condition in the test container, and a foaming liquid injection unit is actuated to squirt a foaming liquid at the lining face of the test container.例文帳に追加

水中ライニングの検査対象部分に検査容器を装着し、負圧発生ユニットによりエゼクタを作動させ、検査容器内の水を排出し、検査容器内を負圧状態に保ち、発泡液注入ユニットを作動し、検査容器内のライニング面に発泡液を噴射する。 - 特許庁

When this device is set at a specific use fire protection target, a test number attached to a fire item whose type approval effectiveness is lost is stored, and a prescribed test number is inputted, and the inputted test number is collated with the stored test number, and the collated result is outputted.例文帳に追加

特定用途防火対象物に設置されると、型式承認の効力を失う消防用品に付与されている検定番号を記憶し、所定の検定番号を入力し、この入力された検定番号と、上記記憶している検定番号とを照合し、この照合した照合結果を出力する。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

When the control test signal is received by a control test signal receiving means, a response signal is transmitted to the communication equipment by the control line by a response signal transmitting means and the sound test signal is returned to the communication equipment by the sound line by a sound test signal returning means at the radio equipment.例文帳に追加

無線装置では制御試験信号受信手段が制御試験信号を受信すると、応答信号送信手段が応答信号を制御回線により通信装置へ送信し、音声試験信号返送手段が音声試験信号を音声回線により通信装置へ返送する。 - 特許庁

A glide test and a certification test are simultaneously conducted by simultaneously moving a certification test head and a glide test head equipped with a thermal deformation using mechanism (micro thermal actuator) along a recording surface of a magnetic disk which is rotating at a predetermined rotational frequency.例文帳に追加

所定の回転数で回転中の磁気ディスクの記録面に沿って、サーティファイテスト用ヘッドと熱変形利用機構（マイクロ熱アクチュエータ）を備えたグライドテスト用ヘッドとを同時に移動させることによって、グライドテストとサーティファイテストを同時に行なう。 - 特許庁

Upon completing test of programmable routing resources in one self test area, an FPGA 10 is reconfigured such that a part of work area during normal system operation becomes a following self test area and at least a part of first self test area is replaced by that part of the work area.例文帳に追加

最初の自己試験区域の１つでのプログラム可能経路指定資源の試験の完了後、ＦＰＧＡ１０は、通常システム動作中の作業区域の一部が後続の自己試験区域になり、また、最初の自己試験区域の少なくとも一部が作業区域のその部分と置き換えられるように再構成される。 - 特許庁

The logic chip (2) is provided with a data storage circuit (22) for holding test data at a test mode, and the test data supplied through a data input/output terminal (6) in response to a test data set command are stored in the data storage circuit (22).例文帳に追加

ここにおいて、ロジックチップ（２）は、テストモード時にテストデータを保持するデータ記憶回路（２２）を備え、テストデータセットコマンドに応答してデータ入出力端子（６）を介して供給されるテストデータを、データ記憶回路（２２）に格納する。 - 特許庁

Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加

入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

A test apparatus for testing vibration characteristics of a tire includes a drum, rotation drive means for rotatably supporting the drum, tire supporting means for rotatably supporting a test tire while bringing the test tire into contact with the outer peripheral surface of the drum at a required ground contact load, and measurement means for measuring a change in axial force of the test tire during the rotation.例文帳に追加

ドラムと、このドラムを回転可能に保持する回転駆動手段と、前記ドラムの外周面に試験タイヤを所要の接地荷重で接触させながら該試験タイヤを回転可能に保持するタイヤ保持手段と、前記回転時の試験タイヤの軸力の変動を測定する測定手段とを具える。 - 特許庁

To obtain a working heat treatment reproducing test apparatus enabling not only the rotation of a test piece at a predetermined angle but also the movement thereof to a predetermined position, capable of independently controlling the temp. of the test piece and that of a working device and capable of compensating the uniform heating of a mechanical test piece.例文帳に追加

本発明の課題は、試験片を所定角度に回転できると共に試験片を所定位置に移動でき、かつ、試験片と加工具をそれぞれ単独に温度制御でき、しかも機械試験片の均熱性を補償できる加工熱処理再現試験装置を提供することにある。 - 特許庁

A test signal is transmitted from the AV amplifier to the display device, the test signal is reproduced from the speaker of the display device, and the test signal is received by a microphone arranged at the position of a listener, and thereby, a test signal arrival time is measured.例文帳に追加

ＡＶアンプからディスプレイ装置にテスト信号を送信し、ディスプレイ装置のスピーカーからテスト信号を再生させ、聴取者の位置に配置されるマイクによってテスト信号を受信することにより、テスト信号到達時間を測定する。 - 特許庁

Castec started to make earnest efforts to have employees take the national technical skills test after its director in charge of general administrative affairs was told by an official of another manufacturer located in the same industrial zone that it was natural for technical workers to pass at least Level 2 of the test. Thereafter, the company made it a policy to require team leaders or employees with higher positions to pass the national technical skills test so as to differentiate their skill levels from those of subordinates and disclose the qualifications acquired through the test.例文帳に追加

たまたま取締役総務部長が、同じ工業団地内のメーカーの人との会話の中で、「2 級技能検定合格は技術者として当たり前」と言われたことが、従業員の技能検定受検に本格的に取り組むきっかけとなった。 - 経済産業省

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

At the time of receiving the transfer of the waveform parameters of test waves for insertion from a host computer 81, a control part 14 generates test waves for insertion in a test wave generating part 1 by outputting one cycle of waveform parameters of test waves for insertion to the test wave generating part 1 and a level comparator 13 at every completion timing of one cycle outputted from the level comparator 13.例文帳に追加

制御部１４は、ホストコンピュータ８１から挿入用試験波の波形パラメータの転送を受けたときには、レベルコンパレータ１３から出力される１サイクルの終了タイミングごとに、挿入用試験波の波形パラメータを１サイクルずつ、試験波発生部１およびレベルコンパレータ１３に出力することにより、試験波発生部１に挿入用試験波を発生させる。 - 特許庁

One test control signal 34 is generated, the at least one test module 30 is electrically separated at least partially from the at least one wire 38, 40 and/or the at least one terminal in an operation mode of the electronic circuit, using the test control signal, and a switching current is evaded in the at least one test module.例文帳に追加

１つの試験制御信号（３４）が生成され、この試験制御信号を用いて、電子回路の動作モードで、少なくとも１つの試験モジュール（３０）が、少なくとも部分的に、少なくとも１つの線（３８、４０）または少なくとも１つの端子から電気的に分離されて、少なくとも１つの試験モジュールにおいてスイッチング電流が回避される。 - 特許庁

A plurality of printers and test images are specified at S80, the test images are printed by the plurality of printers on respective media at S81, generating conditions of a reference image for calibration are specified at S82, the plurality of test images are scanned at S84, and a reference image is generated from the plurality of test images thus scanned at S85 based on the generating conditions.例文帳に追加

Ｓ８０で複数プリンタ及び試験画像を指定し、Ｓ８１で前記複数プリンタのそれぞれにおいて該試験画像を記録媒体上に形成し、Ｓ８２でキャリブレーション用の基準画像の生成条件を指定し、Ｓ８４で該複数の試験画像をスキャンし、Ｓ８５で上記条件に基づいて、スキャンした複数の試験画像から基準画像を生成する。 - 特許庁

A ring oscillator 16 oscillates ring clock signal RCLK at a predetermined frequency out of synchronization with test clock signal TCLK at the time of normal operation mode and changes ring clock signal RCLKA synchronized with test clock signal TCLK at the time of test operation mode.例文帳に追加

リング発振器１６は、通常動作モード時では、テスト用クロック信号ＴＣＬＫとは非同期でリングクロック信号ＲＣＬＫを所定周波数で発振させ、テスト動作モード時では、リングクロック信号ＲＣＬＫＡをテスト用クロック信号ＴＣＬＫに同期させて変化させる。 - 特許庁

When this plastic sheet is subjected to a heat cycle test wherein a test comprising heating a plastic sheet in air at 150°C for 3 h and leaving the sheet standing in air at 23°C at a relative humidity of 50% for 1 week is repeated three times, the dimensional change from before to after each test is ±0.02% or lower.例文帳に追加

プラスチックシートを空気中で１５０℃、３時間加熱した後、５０％ＲＨの空気中で２３℃、１週間放置する試験を三回繰り返す加熱サイクル試験において、各回の試験前後の寸法変化量が±０．０２％以内であることを特徴とするプラスチックシート。 - 特許庁

The modular test system including to provide a modular test systems is equipped with a system controller controlling at least one site controller while at least one site controller controls at least one test module.例文帳に追加

モジュール式試験システムを提供することを含み、モジュール式試験システムは、少なくとも１つのサイトコントローラを制御するシステムコントローラを備え、少なくとも１つのサイトコントローラは少なくとも１つの試験モジュールを制御する。 - 特許庁

If you study consistently (at all times), you don't have to make a fuss before the examinations [before the test period]. 例文帳に追加

平生から勉強していれば試験前になってあたふたすることはない. - 研究社 新和英中辞典

Albert is always trying his hand at something to test his own skill.例文帳に追加

アルベルさんは自分の能力を試すため、何か新しいことをいつもやってみせます。 - Tatoeba例文

At his final exam, Bob was really put through the wringer; the test covered everything that was in the course.例文帳に追加

最終試験でボブは全くひどい目にあった。出題範囲が講義の全てにわたっていたのだ。 - Tatoeba例文

a test performed at home in which you collect specimens of your stool that are tested for traces of blood 例文帳に追加

血液の痕跡が見られる排せつ物の検査サンプルを収集するために実行される試験 - 日本語WordNet

a prenatal test to detect birth defects at an early stage of pregnancy 例文帳に追加

妊娠初期に行う先天的欠損症を発見するための出生前診断 - 日本語WordNet

items selected at random from a population and used to test hypotheses about the population 例文帳に追加

人口から無作為に選択されて、人口に関する仮説を試験するために使用される項目 - 日本語WordNet

TCP was introduced at the onset of the test or 1 hr after spiking the reactor with TeCP.例文帳に追加

実験の開始時またはTeCPを反応器に加えてから1時間後に，TCPが投入された。 - 英語論文検索例文集

The calculation of the t-test showed that this change was not statistically significant at the p = 0.05 level例文帳に追加

t検定の計算によれば，この変化は，p＝0.05レベルで，統計的に有意でない。 - 英語論文検索例文集

At his final exam, Bob was really put through the wringer; the test covered everything that was in the course. 例文帳に追加

最終試験でボブは全くひどい目にあった。出題範囲が講義の全てにわたっていたのだ。 - Tanaka Corpus

If anything fails at this stage, correct it and re-package and re-test. 例文帳に追加

本ステージで何か悪いところがあれば修正・再パッケージ・再テストを行ってください。 - PEAR

For example, to test that the Python interpreter is at least version 1.5.2, use:例文帳に追加

例えば、Python 1.5.2以降でのみ動作するプログラムでは、以下のようなチェックを行います。 - Python

In fiscal Heisei 19, KIT ranked the first of all national colleges at the number of successful candidates who took the test of the first-class registered architect. 例文帳に追加

平成19年度の一級建築士の合格者人数が国立大学中1位である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

ICOCA Monitor Test was undertaken at some of the major stations in the Keihanshin area from June 28 to July 26, 2003. 例文帳に追加

2003年6月28日から7月26日まで京阪神の主要駅の一部でICOCAモニターテストが行われた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

It is the first online test on the historical figure who lived at the end of the Edo Period. 例文帳に追加

幕末に生きたこの歴史上の人物に関する初のオンライン検定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

The test was carried out at the Challenger Deep in the Mariana Trench, the deepest spot in the ocean. 例文帳に追加

この試験は，海洋の最深部であるマリアナ海溝のチャレンジャー海淵で行われた。 - 浜島書店 Catch a Wave

To detect even a connection polarity error at an even-numbered spot in a thermocouple circuit test.例文帳に追加

偶数箇所の接続極性間違いも、熱電対回路試験において検出できるようにする。 - 特許庁