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at testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3411



例文

The measuring part periodically measures using states of the measured parts and measures test items to be executed for the respective measured parts along a prescribed test schedule at optional timing to obtain the test results.例文帳に追加

前記測定部は、定期的に前記被測定部の使用状況を測定するとともに、任意のタイミングには所定のテストスケジュールに沿って前記被測定部の各々に対して実施されるテスト項目を測定してテスト結果を得る。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも1つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

To implement a test wave generating method capable of generating test waves for insertion at the time when a request for the insertion of test waves for insertion is inputted during steady operation.例文帳に追加

定常運転中において、挿入用試験波の挿入要求が入力されたときに、挿入用試験波を発生させることができる試験波の発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for accurately performing a fracture mechanics test at a high temperature using a small-sized test piece sampled from a mounting machine, and a test object therefor.例文帳に追加

実機から採取した小型の試験片を利用して高温における破壊力学的試験を正確に行えるようにする方法及びその試験体を提供する。 - 特許庁

例文

During a test, at least one test program is executed which allows a flash controller on each flash controller die to test one or more flash memory dies of each flash device.例文帳に追加

テスト中、各フラッシュコントローラ・ダイ上に属するフラッシュコントローラが、各フラッシュ・デバイスの一つ以上のフラッシュメモリ・ダイの各々をテストするための、少なくとも一つのテスト・プログラムを実行する。 - 特許庁


例文

The disintegration time measuring value is the time until the test tablet disintegrates by applying a specific shear to the test tablet from above while wetting the test tablet with water at 37°C from underneath.例文帳に追加

崩壊時間測定値は、試験錠を37℃の水により下部から湿潤させつつ、この試験錠に上方から特定のシェアをかけ、試験錠が崩壊するまでの時間である。 - 特許庁

To provide a test system and a test method for a plant instrumentation device designed for enhancing quality by preventing a human error at work, and reducing cost ranging from lessening workload of a test staff and starting inspection to quality record creation.例文帳に追加

作業時のヒューマンエラーの防止による品質の向上、試験員の負荷軽減及び点検開始から品質記録作成までのコスト削減を図ったプラント計装品の試験システム及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency of IDDQ test, and to shorten the test time, even when the IDDQ (current at a stationary time) test having different conditions is repeatedly carried out many times for analysis or verification.例文帳に追加

解析や検証のために、条件を異ならせた多数回のIDDQ(静止時電流)テストを繰り返し実施するような場合においても、IDDQテストの効率を向上させ、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an accelerated weathering test system which can compute actual surface temperature of a test piece aiming at accurate and stable weathering test in order to control environmental conditions in a laboratory.例文帳に追加

正確で安定した耐候試験を目的として、試験室内の環境条件を制御する為に、試験片の実際の表面温度を求めることのできる促進耐候性試験装置の提供。 - 特許庁

例文

To provide a burn-in test adapter and a burn-in test device which can suppress low, the cost of obtaining semiconductor chip and test a multitude of chips at once.例文帳に追加

半導体チップを得るコストを低く抑え、一度に多数のチップをテストできるバーンインテスト用アダプタおよびバーンインテスト装置を得ること。 - 特許庁

例文

To test a memory being operated at higher speed by a test apparatus generating a reference clock of low speed in a memory test method.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法に関し,低速度の基準クロックを発生する試験装置により高速で動作するメモリの試験を行うことを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

As a sample, test terminals 15 and 17 are provided at substrate terminal parts for each substrate 11 and 12, electrodes 13 and 14 connected to the test terminals for each substrate are electrically connected to apply the electrical signal between the test terminals.例文帳に追加

一例として、基板端部に各基板11、12毎にテスト用端子15、17を設け、各テスト用端子に各基板毎に接続した電極13、14を電気的に接続し、テスト用端子間に電気信号を送る。 - 特許庁

Next, this test pattern data are reproduced with rotation speed being lower than speed at the time of test writing of this test pattern data (e.g. 1/2 times), after it is amplified by ta pre-amplifier 4, it is supplied to a quality evaluating means 22.例文帳に追加

次に、このテストパターンデータを試し書き時よりも低い(例えば、1/2倍の)回転速度で再生し、プリアンプ4で増幅した後、品質評価手段22に供給する。 - 特許庁

To provide a mobile terminal device in which a test terminal is disposed at a position where the test terminal is not visible for eyes of a user ordinarily but can be easily connected with a measuring instrument in the test.例文帳に追加

携帯端末装置において、試験用端子を、通常時にはユーザの目に触れることがなく、テスト時には容易に測定装置と接続可能な位置に配置する。 - 特許庁

With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.例文帳に追加

そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a remote test system for a mobile phone in which an event to be grasped by naked eyes is confirmed at a test implementation base where a test is implemented so as to also cope with the case that an abnormal state occurs.例文帳に追加

試験を実施している試験実施拠点での肉眼で把握すべき事象を確認し、異常状態が発生した場合にも対応可能な携帯電話のリモート試験システムを提供すること。 - 特許庁

Also, at the lower side being closer to the center between the test tube housing sections facing each other in each test tube housing section, a cutting-out roller for cutting out the test tubes one by one is arranged.例文帳に追加

また各試験管収容部における対向する試験管収容部どうしの中央寄りの下部側には、試験管を一本ずつ切り出すための切出ローラが配置されている。 - 特許庁

To facilitate procedures of producing and measuring a test piece and improve the measurement accuracy, by arranging a test piece in a state orthogonal to a disc at all times, without being affected by the thickness of the test piece that has the form of a cylinder pin.例文帳に追加

円柱ピン形状の試験片の厚みに影響されることなく、常に試験片をディスクに直交状態に配置することによって、試験片の作成と測定手順を容易にし、且つ測定精度を向上させる。 - 特許庁

Test results obtained with the small medical device is collected by the mobile phone and the test results and temporal change (change in the test results) are graphed and displayed on the LCD of the mobile phone to understand pathological condition at the present moment.例文帳に追加

小型医療機器で測定した検査結果を携帯電話で吸収し、携帯電話の液晶画面にて検査結果並びに経時変化(検査結果の変化)をグラフ形式で表示し、現時点での病態を把握する。 - 特許庁

According to the present invention, the integrated circuit for a smart card includes a transceiver which communicates with a host device and a joint test action group (JTAG) test controller for carrying out at least one test operation.例文帳に追加

本発明によれば、スマートカード用の集積回路が、ホスト装置と通信をするトランシーバ、及び少なくとも1個のテスト操作を実施するためのジョイントテストアクショングループ(JTAG)テスト制御器を包含している。 - 特許庁

A test in which the number of times of burn-in is decided with a test object device unit contacting to a prober for tester before performing burn-in at the time of wafer test (step SP4).例文帳に追加

ウェハテスト時において、バーンイン実施前に、テスタ用のプロ-バに接触するテスト対象デバイス単位でバーンイン回数を決定するテストを行なう(ステップSP4)。 - 特許庁

This unit test device 10 executes a unit test by defining at least one screen among a series of screen group having screen transition as a test object picture.例文帳に追加

本発明によるユニットテスト装置10は、画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも1つの画面をテスト対象画面としてユニットテストを実施する。 - 特許庁

To relieve a load on an operating test work at installation or the like to confirm by an operator performing the operating test whether or not a setting switch is normally set to thereby enable the minimum number of people, that is, one person to carry out the operating test.例文帳に追加

動作試験を行う作業者は正常に設定スイッチが設定されているかを確認するための施工時等における動作試験作業を軽減し、最低限の人数、即ち一人で実行可能にする。 - 特許庁

To provide an apparatus for compensating the heat generation of a semiconductor element test handler, which compensates the temperature deviation due to the heat generation of the semiconductor element itself, in the temperature test of the semiconductor element, and which can perform the test at an accurate temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度テスト中に半導体素子自体の発熱による温度偏差を補償して、正確な温度下でテストを遂行できる半導体素子テストハンドラの発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時(命令実行時)に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

After the end of test, the test result is searched and the test communication number wherein the relaying apparatus can make communication with the master unit 1 and the slave units 3 the number of which is at a maximum is obtained and displayed.例文帳に追加

試験終了後に、試験結果を検索して、親機1と通信可能で、最も通信可能子機3の数が多い試験通信番号を求めて表示する。 - 特許庁

A test image generating section 26 generates test image data including identification information of an image processor selected at the selecting section 25 and a test pattern.例文帳に追加

テスト画像生成部26は、選択処理部25が選択した画像処理装置の識別情報とテストパターンとを含むテスト画像データを生成する。 - 特許庁

To provide a biaxial tension test device which gives tensile force to a thin tabular test piece to obtain experimental data on even stress-strain at the center part in the surface direction of a part to be measured of the test piece.例文帳に追加

薄肉板状の試験片に引張り力を付与し、試験片の被測定部の面方向中央部に均一な応力−ひずみの実験データを得ることができる二軸引張り試験装置を提供する - 特許庁

The optical pickup device is tested by evaluating a reproduction signal using at least two or more types of test disks of a first test disk with one recording layer and a second test disk with two recording layers.例文帳に追加

記録層が1層である第1のテストディスクと、記録層が2層である第2のテストディスクとの少なくとも2種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。 - 特許庁

The temperature detecting part can be relatively compensated without temperature detection test at the predetermined temperature to be detected by the temperature detecting part, whereby test time can be shortened and a test cost can be reduced.例文帳に追加

温度検出部で検出すべき所定温度での温度検出試験を行なうことなく、相対的に温度検出部を補正することができ、試験時間の短縮化を図って、試験コストを圧縮することができる。 - 特許庁

To provide an infrared inspection device which can appropriately detect micro anomaly at the end of a test object, when infrared rays are given to the test object and the transmitting light is observed so as to detect abnormal portion of the test object.例文帳に追加

赤外線を照射して、その透過光を観測することによって被検体の異常部分を検出する場合において、特に被検体の端部において適切に微少な異常部分を検出できる赤外検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control method in a material test apparatus to be posed at a targeted position as close as possible in a material test under cyclic loads, and the material test apparatus.例文帳に追加

繰り返し荷重の材料試験において、極力狙った位置でポーズさせることができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To enter efficiently super VIH(SVIH) conditions to a test mode by suppressing restriction of a test device and possibility of erroneous entry of a user side at the time of entry of serial test.例文帳に追加

シリアルテストエントリ時におけるテスト装置の制約およびユーザ側の誤エントリの可能性を抑制して効率的にスーパVIH(SVIH)条件のテストモードにエントリする。 - 特許庁

To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.例文帳に追加

テスト時、第1、第2のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To provide a test conducting server enabling a testee to download test questions at any desired time and take a test keeping to the fixed time- limit.例文帳に追加

受験者が好きな時にいつでも試験問題を自分のコンピュータにダウンロードして、決められた試験時間を守って受験することができる試験実施サーバを提供する。 - 特許庁

A photographing camera 2 is placed in front of the test piece 1, and four illumination light sources 11-14 are placed so as to surround the test piece 1 in every direction at an angle commanding obliquely the surface of the test piece 1.例文帳に追加

試料1の正面には、撮影用のカメラ2が配置され、試料1の周囲を四方向から取り囲む様に、且つ試料1の表面を斜めに望む角度で、4台の照明光源11〜14が配置されている。 - 特許庁

To surely perform transfer to sample grip parts, grip operations of a test sample, and removal and disposal of a rupture test sample after test without large space, and automate material testing with simple construction and at small costs.例文帳に追加

簡単な構成で且つ低コストで試験サンプルのサンプル把持部への移送,把持作業及び試験後の破断試験サンプルの除去及び廃棄を場所を取らず確実に行うことができ、材料試験の自動化を図る。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system for automatically performing a function test in the production or maintenance of a ultrasonic diagnosing device with high reliability and at high speed and to provide a test method, a test device and the device.例文帳に追加

超音波診断装置の製造上やメンテナンスにおける機能テストを、高速・高信頼性にて自動的に行なうことができるシステム、テスト方法、テスト装置および超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁

To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加

光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやDCドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁

To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加

内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動/停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁

In a test conducting state, a relay contact (not shown) is switched and the metal line 11 is connected to a metal line test unit 122 at this side of a splitter circuit, then the test is conducted with high accuracy.例文帳に追加

試験を行う状態では、図示しないリレー接点が切り替わって、スプリッタ回路の手前側でメタリック回線111がメタリック回線試験機122に接続されるので、試験を高精度で行うことができる。 - 特許庁

To generate test data to protect secret information by hiding data in use at actual operations, and to restore necessary items to verify the test data after the test.例文帳に追加

実運用で使用中のデータを隠蔽化して機密情報が保護されるテストデータを生成すると共に、テスト実施後のテストデータの検証に必要な項目を復元する。 - 特許庁

The light incident face of the optical plate 62 adheres to, or comes close to, the test piece 3 at an immunochromatographic test instrument 2 placed on a mounting part 12 for the test instrument when the mounting part 12 is covered with the lid part 30.例文帳に追加

ファイバ光学プレート62の光入射面は、試験用具載置部12が蓋部30にて覆われることにより、試験用具載置部12に載置された免疫クロマト試験用具2の免疫クロマト試験片3に密着もしくは近接する。 - 特許庁

A display control board 30 reads the test display data from the storage device and displays a test image at the display device on the basis of the read test display data.例文帳に追加

表示制御基板30は、記憶装置からテスト表示データを読み出し、この読み出したテスト表示データに基づいて表示器にテスト画像を表示させる。 - 特許庁

Since the data can be thereby supplied serially from the test data terminals to the latch circuits during the test operation, therefore, the number of terminals used at the operation test can be greatly reduced.例文帳に追加

これにより、テスト動作時においてテストデータ端子からラッチ回路へデータをシリアルに供給できることから、動作試験において使用する端子の数を大幅に削減することが可能となる。 - 特許庁

When the safety plug 15 is not disconnected, a rectangular wave signal (test signal) generated in a test signal generation part 31 reaches at a test signal detector 33.例文帳に追加

安全プラグ15が外れていなければテスト信号発生部31で発生した矩形波信号(テスト信号)はテスト信号検出部33に到達する。 - 特許庁

To provide a piping pressure test data collection system which can easily and reliably perform a pressure test at a low cost, and which is excellent in the applicability of the test result.例文帳に追加

容易かつ安価に信頼性の高い耐圧試験を行うことができ、試験結果の活用性にも優れた配管耐圧試験データ収集システムを提供する。 - 特許庁

例文

Further, the first and second hydraulic motors 4 and 5 are connected to a hydraulic control part B, thus executing at least one of the damping force test, speed test, and load driving test of the vehicle.例文帳に追加

さらに、第1及び第2の油圧モータ4、5を油圧制御部Bに接続して、車両の制動力試験、速度試験、負荷走行試験の少なくとも一を実施可能とする。 - 特許庁

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