「at test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

A test information communication part 3 sending test signals at predetermined intervals to the meter reading apparatus 1 is provided for checking a communication situation with the server.例文帳に追加

サーバーとの通信状況を調べるため、検針機器１に所定の間隔でテスト信号を送信するテスト情報通信部３を設ける。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

To easily and accurately perform the call processing test of communication equipment at a low cost without having a user prepare a special environment for the test.例文帳に追加

ユーザが試験のための特別な環境を用意することなく、安価で簡単かつ正確に通信装置の呼処理試験を行えるようにする。 - 特許庁

To perform a conduction test within practical period when performing the conduction test at every connecting operation of harness elementary wires on a compact drafting board.例文帳に追加

コンパクトな図板上でハーネス要素電線の接続作業毎に導通検査を行うに当たり、実用的な応答時間で導通検査を行うこと。 - 特許庁

To provide a bending test device for a wire harness, capable of executing a bending test of plural samples all at once.例文帳に追加

一度に複数のサンプルの屈曲試験が可能なワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁

To assure reliability in test by preventing a needles output signal coming from an integrated circuit from fed back to the integrated circuit at scan test.例文帳に追加

スキャンテスト時に、集積回路からの不要な出力信号が集積回路に帰還されるのを防止し、もってテストの信頼性の確保を図る。 - 特許庁

To make the result of a test more accurate by inhibiting the driving force of the vehicle under running test from becoming different value at running on the actual road.例文帳に追加

走行試験中の車両の駆動力が実路走行時と異なる値になることを抑制し、その走行試験の試験結果をより正確なものとする。 - 特許庁

A composite signal having the first test signal and a second test signal at a frequency that is twice the first frequency is generated and digitized.例文帳に追加

第１の試験信号と第１の周波数の２倍周波数にある第２の試験信号とを有する合成信号を生成しディジタル化される。 - 特許庁

A test data generation part 51 generates test data including individual data about customers who do not start use at a present time using the customer DB 2.例文帳に追加

テストデータ生成部５１は、顧客ＤＢ２を用いて、現時刻に利用を開始していない顧客の個別データを含むテストデータを生成する。 - 特許庁

Thus, only the subscriber test unit 7 at the POTS side exchange facility can conduct the subscriber line test of the xDSL subscriber circuit 9.例文帳に追加

このため、ＰＯＴＳ側交換設備の加入者試験装置７のみでｘＤＳＬ加入者回路９の加入者線試験ができる。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

At the time, before and after the transmission of test signals, RSSI is measured in the reception circuits 213 and 215 of a test object antenna.例文帳に追加

この際、試験信号の送信前後に、試験対象アンテナの受信回路２１３、２１５においてＲＳＳＩを測定する。 - 特許庁

To carry out a more precise lighting test in which a temperature of a panel itself is reflected at the time of lighting test of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査時に、パネル自体の温度を反映した、より正確な点灯検査を行う。 - 特許庁

Then, the test signal T is reproduced from the test area at predetermined timing to calculate the quality deterioration of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加

所定のタイミングで、テスト領域のテスト信号Ｔを再生し、その評価結果からユーザデータＵの品質劣化を推定する。 - 特許庁

In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加

超微小硬さ測定装置１００が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece preventing breaking at a chuck part during a period of an abrasion fatigue test of a thin line.例文帳に追加

細線の摩耗疲労試験を行うに際してチャック部での断線を防止することができる試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a test method thereof, for achieving a high-speed test at a desired operating frequency.例文帳に追加

所望の動作周波数での高速テストが可能である半導体装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at high speed in offline simulation environment of a test device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

The network test device uses at least two PN sequences applied to the network which is the object of the test.例文帳に追加

ネットワーク試験装置は、試験対象のネットワークに対して印加する少なくとも２つのＰＮシーケンスを用いる。 - 特許庁

To provide a test tube holder capable of easily observing the inside of a held test tube visually, and easily storing at the time of disusing and having a simple structure.例文帳に追加

保持した試験管内の様子を視認し易く、しかも不使用時の保管が容易な簡易な構成の試験管ホルダを提供する。 - 特許庁

To acquire sure contact between a terminal and a probe at the probing test time, while arranging the terminals highly densely, in a probing test method.例文帳に追加

プロービングテスト方法において、端子を高密度に配置しながら、プロービングテスト時に端子とプローブの確実な接触が得られるようにする。 - 特許庁

The slip issuing machine carries out printing of a test pattern 96 at a lower portion of a slip 94 in order to test printing omission of a printing mechanism 90.例文帳に追加

伝票発行機では、伝票９４の下部に印字機構９０の印字欠落をテストするためのテストパターン９６を印字する。 - 特許庁

The test pattern formed at the test pattern formation part 25 is detected by a pattern detecting device 30.例文帳に追加

テストパターン形成部２５に形成されたテストパターンは、パターン検出装置３０にて検出される。 - 特許庁

Temperatures at the test time of the test elements fixed to the fixing parts 2 are raised successively corresponding to the number of the resistors on the fixing parts 2.例文帳に追加

固定部２の抵抗体の数に応じて、この固定部２に固定された被試験素子の試験時の温度が順次高くなる。 - 特許庁

In this test target system, at least a part of the plurality of components needs a frequency margin test.例文帳に追加

本発明による試験対象システムは、その複数のコンポーネントの少なくとも一部が周波数マージン試験を必要とする。 - 特許庁

To provide a lens meter whereby the refracting power of a lens under test at the backside vertex can be accurately obtained, irrespective of the magnitude of the backside curve of the lens under test.例文帳に追加

被検レンズの裏面カーブの大きさに関わらず裏面頂点の屈折力を精確に求めることができるレンズメータを提供すること。 - 特許庁

In a step S20, either an impact test or a test for left standing at a low temperature or both are carried out, with respect to the low quality product.例文帳に追加

ステップＳ２０では、低特性品に対して、衝撃試験や低温放置試験のいずれか、又はその両方を実施する。 - 特許庁

To automatically generate a test vector to realize the shortening of a test time based on log data at the performance of a manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。 - 特許庁

The plate 5 for a test in which a code for a test is written is arranged at a predetermined position on the optical information reader 2.例文帳に追加

テスト用コードが記されたテスト用プレート５を、光学的情報読取装置２に対して所定位置に配置する。 - 特許庁

At the first stage of a test, a selector 22 selectively outputs a test clock CLK1 given from an LSI tester, in accordance with a select signal SL.例文帳に追加

テストの最初には、セレクタ２２は、セレクト信号ＳＬに基づきＬＳＩテスタから与えられたテスト用クロックＣＬＫ_t を選択出力する。 - 特許庁

More specifically, the processor can convert the at least one test request into JTAG data for the JTAG test controller.例文帳に追加

より詳細には、該プロセッサは、該少なくとも１個のテスト要求を該ＪＴＡＧテスト制御器用のＪＴＡＧデータへ変換することが可能である。 - 特許庁

When the test image is displayed at the display device in such a manner, the test relating to the display operation of the display device can be executed.例文帳に追加

このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁

To provide a digital controller capable of lessening operations at an input and output checking test and shortening a period of the input and output checking test.例文帳に追加

入出力確認試験における作業を軽減し、入出力確認試験の期間短縮が可能なディジタル制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in test system capable of transferring a test signal at a high speed.例文帳に追加

本発明の課題は、高速なテスト信号の転送が可能となるバーンインテストシステムを提供することである。 - 特許庁

Disclosed is a test system including at least 100 flash memory devices and a mass test board.例文帳に追加

少なくとも１００個のフラッシュメモリ・デバイスおよびマス・テスト・ボードを含むテスト・システムを開示する。 - 特許庁

To generate a possible small-size set, at a high speed, that includes many test cases matching with a set of existing test cases given as an input.例文帳に追加

入力として与えられた既存のテスト・ケースの集合と一致するものを多く含み、なるべく小さいサイズの集合を、高速に生成する。 - 特許庁

The spattering preventing member 1 comprises a cylindrical coating member 2 which covers the perimeter of a test piece 100 at tensile test.例文帳に追加

本発明の飛散防止部材１は、引張試験時に試験片１００の周囲を覆うように筒状に形成された被覆部材２を備えている。 - 特許庁

To observe a plurality of types of information by a simple test and acquire information of the phenomenon time change by placing a plurality of white light sources so that lights from the light sources take the same optical axis before arriving at an object under test.例文帳に追加

１試験で複数種の情報が得られ、現象の時間変化の情報も得られるカラーシュリーレン装置を提供すること。 - 特許庁

At the time of test end, by turning off a test switch 10 of the wireless base unit 6, the signal transmission inhibit mode is canceled.例文帳に追加

試験終了時、無線親機６の試験スイッチ１０をオフにすることにより移報禁止モードを解除する。 - 特許庁

To provide a test tube which can be handled without examiner's touching a mouth of the test tube to be inspected and can be easily sterilized by ultra-violet radiation at the same time.例文帳に追加

被検用試験管の口に試験者が接触せずに取り扱いでき、同時に紫外線照射で容易に滅菌できる試験管を提供する。 - 特許庁

At that time, the transmission of the test radio wave is delayed so that the test radio wave is transmitted after the door of a pipe shaft is closed.例文帳に追加

その際、試験電波の発信を遅延させ、前記操作手段の操作後パイプシャフトの扉を閉めた後に試験電波が発信するようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device having a built-in self-test circuit which can perform an operation check test for a memory at an actual operating speed.例文帳に追加

実動作速度でメモリの動作確認テストが可能な組み込み自己テスト回路を有する半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit test method, said method using at least one test vector comprising serialized input and output values.例文帳に追加

本発明は、直列化した入力と出力値を有する少なくとも一つのテストベクトルを利用する集積回路のテスト方法に関する。 - 特許庁

To reduce the execution time for a self-diagnosi tests in IC test and at the same time, reduce the execution time for the entire IC test.例文帳に追加

ＩＣ試験における自己診断試験に係る実行時間を短縮するとともに、ＩＣ試験全体に係る実行時間を短縮することである。 - 特許庁