「at test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an EMI resonance line test device and an effective EMI ruler for the EMI resonance line test device which can evaluate an EMI test object at a general environment so as to reduce the EMI test expense.例文帳に追加

ＥＭＩ試験経費を低減するためにＥＭＩ試験対象物を一般環境で評価することが可能なＥＭＩ共振線路試験装置及びそのために有効なＥＭＩ定規を提供する。 - 特許庁

Thereby, the test pattern signal can be supplied at a high frequency from a test control device 100, and it is unnecessary for the test control device 100 to directly read out output signals from the test devices DUT to be tested.例文帳に追加

このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 - 特許庁

To provide a pumping test method and a pumping test device capable of performing a pumping test at relatively inexpensive test cost, and highly accurately determining a hydraulic constant.例文帳に追加

高い精度で水理定数を求めることができると共に、比較的安価な試験コストで揚水試験を行なうことができる揚水試験方法と揚水試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a simultaneous test of a plurality of DUTs (test objects) at different test rates and to realize a parallel test of a plurality of different functions in an identical DUT.例文帳に追加

異なるテストレートでの複数のＤＵＴ（試験対象）の同時試験や、同一ＤＵＴでの複数の異なる機能別の並列試験を実現する。 - 特許庁

To enable stable test at the actual operating frequency by controlling, during the test of semiconductor device, power source noise and power source voltage drop due to heavy current in the test mode for operating a test circuit.例文帳に追加

半導体装置の試験において、テスト回路を動作させるテストモード時の大電流による電源ノイズや電源電圧降下を抑制し、実動作周波数での安定した試験の実施を可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which goes into a test mode according to an implementation test signal applied from outside, by changing an environment (test property) of the semiconductor device in the implementation state, capable of entering the test mode at the implementation state.例文帳に追加

実装状態でもテストモードに入ることができ、実装状態で半導体装置の環境（内部特性）を変化させ、外部から印加される実装テスト信号に応じてテストモードに入る半導体装置を提供すること。 - 特許庁

The test data including at least first test data for a first scan chain and second test data for a second scan chain is inputted to the test data input terminal.例文帳に追加

テストデータ入力端子には、第１のスキャンチェーンに対する第１のテストデータと第２のスキャンチェーンに対する第２のテストデータとを少なくとも含むテストデータが入力される。 - 特許庁

To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.例文帳に追加

同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inter-station test performance method and system applied to ring network system, capable of reducing the test time of an inter-station test and continuing the present operating state of all the stations at the execution of the inter-station test.例文帳に追加

局間テストのテスト時間の短縮を可能とし、また局間テスト実行時に全局の現状運転状態を継続可能とするリング状ネットワークシステムにおける局間テスト実施方法及びシステムを得ること。 - 特許庁

To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.例文帳に追加

本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁

To carry out exchange of a test piece promptly at the exchange of the test piece, by performing inspection of the test piece by irradiating charged particle beams such as electron beams on the test piece arranged in a normal pressure atmosphere opened to the outside air.例文帳に追加

外気に開放された常圧雰囲気に配置された試料に、電子線等の荷電粒子線を照射して試料検査を行うことにより、試料検査における試料交換を迅速に行う。 - 特許庁

To provide a test base apparatus, a test base program and a test base method for automating a test for a Web application for which a name of a parameter received at each access is varied.例文帳に追加

アクセスの都度受け付けるパラメータの名前が変化するＷｅｂアプリケーションに対するテストを自動化するテスト基盤装置、テスト基盤プログラム、テスト基盤方法を提供する。 - 特許庁

In this tire durability test method, after performing deterioration acceleration processing in the pneumatic tire T by oxygen, air is filled in the pneumatic tire T, and a drum durability test is performed at prescribed test speed, while applying a test load.例文帳に追加

空気入りタイヤＴ内を酸素により劣化促進処理した後、該空気入りタイヤＴ内に空気を充填し、試験荷重を加えながら所定の試験速度でドラム耐久試験を行うタイヤ耐久試験方法である。 - 特許庁

At this time, the test of even-numbered rows and odd-numbered columns and the test of odd-numbered rows and odd-numbered columns are simultaneously performed, and the test of even-numbered rows and even-numbered columns and the test of odd-numbered rows and even-numbered columns are simultaneously performed.例文帳に追加

このとき、偶数列奇数行の試験と奇数列奇数行の試験とは同時に行われ、偶数列偶数行の試験と奇数列偶数行の試験とは同時に行われる。 - 特許庁

At the time of performing a tensile test, both ends (clamp sections for tensile test) of the parallel section of the test piece are adjusted to larger sizes and the surfaces of the clamp sections are used for measuring the surface characteristic and hardness of the test piece.例文帳に追加

引張試験を行なう場合は、平行部の両端（引張試験における把持部）を大きめのサイズに調製し、把持部表面を表面特性や硬さ測定のの試験面とする。 - 特許庁

Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

Based on reproduced signals of the plural test recording operations at the outer peripheral side test area, the appropriate recording power value at this linear speed is obtained.例文帳に追加

該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を求める。 - 特許庁

Since the function is applied similarly to various test pieces, determination by √At=f(hr) is applicable even when a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

The lid member 20 is mounted on the valve blocking member 10 at the non-using time of the test hole, and the plug member 40 is mounted on the valve blocking member 10 at the using time of the test hole.例文帳に追加

試験孔の非使用時に弁閉塞具１０に蓋具２０を取り付け、試験孔の使用時に弁閉塞具１０にプラグ具４０を取り付ける。 - 特許庁

A container 100 is filled with pressurized gas at the pressurizing station 2 and ultrasonic leak test is performed at the leak test station 4.例文帳に追加

加圧ステーション２で容器１００内に加圧ガスが充填され、漏れ検査ステーション４において、超音波による漏れの検査が行われる。 - 特許庁

An initial count value (111) is reloaded to the counter at the time of finish of one test step and at the time of preparation of the next test step.例文帳に追加

カウンタには、１つのテスト段階の終了時及び次のテスト段階の準備の際に、初期カウント値(111)がリロードされる。 - 特許庁

At my school there was a test straight after second semester began. 例文帳に追加

私の学校では二学期が始まってすぐにテストがありました。 - Weblio Email例文集

You can take that test at our school if you so desire. 例文帳に追加

ご希望であれば、あなたは我が校でそのテストを受けることができます。 - Weblio Email例文集

He didn't do the test very well, but at any rate he passed. 例文帳に追加

彼の試験の成績はあまりよくなかったが, 少なくとも合格はした. - 研究社 新英和中辞典

She passed the test at the expense of her social life.例文帳に追加

彼女は友達付き合いを犠牲にしてそのテストに合格した。 - Tatoeba例文

Pregnancy test kits may be bought without a prescription for use at home.例文帳に追加

家庭用の妊娠検査薬は処方せんなしでも購入できる。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

She passed the test at the expense of her social life. 例文帳に追加

彼女は友達付き合いを犠牲にしてそのテストに合格した。 - Tanaka Corpus

(i) Work involving replacement of grinding wheels or their test runs at the time of replacement; 例文帳に追加

一　研削といしの取替え又は取替え時の試運転の業務 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The value of the destination property is set at the time the test case is created.例文帳に追加

「宛先」プロパティーの値は、テストケースの作成時に設定されます。 - NetBeans

With optional start, test beginning at that position.例文帳に追加

オプション引数 start がある場合、文字列の start から比較を始めます。 - Python

With optional start, test string beginning at that position.例文帳に追加

オプション引数 start がある場合、文字列の start から比較を始めます。 - Python

March: The last genuine, teacher qualification test at the Ministry of Education was held. 例文帳に追加

3月、「文部省教員検定試験」が最後の本試験を実施。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The test will be offered at three levels: beginner, intermediate and advanced. 例文帳に追加

この試験は初級，中級，上級の３つのレベルで行われる。 - 浜島書店 Catch a Wave

He passed the highest level of the certificate bookkeeping test at the age of 15. 例文帳に追加

彼は15歳で簿記検定最上級(１級)に合格した。 - 浜島書店 Catch a Wave

The reference pulse is supplied at a fixed time point to the test pattern.例文帳に追加

基準パルスをテストパターンに対して固定の時間位置で供給する。 - 特許庁

At a drop test the first holding member 5 absorbs an impact load.例文帳に追加

落下試験では第１保持部材５が衝撃荷重を吸収する。 - 特許庁

At the step S6, operation of the test template is tested.例文帳に追加

ステップＳ６において、テストテンプレートの動作テストを行なう。 - 特許庁

An internal storage means can not be accessed at the scan test time.例文帳に追加

またスキャンテスト時に内部の記憶手段にアクセスできないようにする。 - 特許庁

To surely perform a protective operation against an overcurrent at abnormality such as an abnormality test, etc.例文帳に追加

アブノーマル試験等の異常時の過電流保護動作を確実に行う。 - 特許庁

To test a partial array self-refresh function at high speed.例文帳に追加

パーシャルアレイセルフリフレッシュ機能を高速にテストする。 - 特許庁

To reduce the time of an I/O compression test at low cost.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ圧縮テスト時間を短縮かつ低コストで実現する。 - 特許庁

The activation energy at the finish time of the secondary accelerated test is obtained.例文帳に追加

二次加速試験終了時点での活性化エネルギーを求める。 - 特許庁

To reduce greatly a heavy current flowing momentarily at a scan test time.例文帳に追加

スキャンテスト時に瞬間的に流れる大電流を大幅に低減する。 - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

To more accurately position a component at a test head.例文帳に追加

テストヘッドに対してより精度よく部品を位置決めできるようにする。 - 特許庁