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electron computerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 44件
AUTOMATIC CORRECTION METHOD FOR ELECTRON BEAM DEVICE, COMPUTER PROGRAM, RECORD MEDIUM, AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加
電子線装置の自動補正方法、コンピュータプログラム、記録媒体及び電子線装置 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
The electron microscope is logged on a computer 44 for each operating user.例文帳に追加
電子顕微鏡を操作するユーザごとにコンピュータ44にログオンする。 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
PHOTOCATHODE ELECTRON SOURCE HAVING EXTRACTION LATTICE, DISPLAY SOURCE AND COMPUTER SYSTEM例文帳に追加
抽出格子を有するフォトカソ—ド電子源、表示源およびコンピュ—タ・システム - 特許庁
To improve a stage-link precision between CAD (Computer Assisted Drawing) data and the electron microscope stage.例文帳に追加
CADデータと電子顕微鏡ステージのステージリンク精度を向上させる。 - 特許庁
OPTICAL SENSOR, GAMMA RAY DETECTOR, AND POSITIVE ELECTRON EMISSION COMPUTER TOMOGRAPHIC DEVICE例文帳に追加
光センサ、ガンマ線検出器、及び陽電子放出コンピュータ断層撮影装置 - 特許庁
ANIMATION FUNCTION USING THREE-DIMENSIONAL COMPUTER GRAPHICS ON SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR EQUIPMENT例文帳に追加
走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における三次元CG(ComputerGraphics)を用いたアニメーション機能 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING OBJECTIVE LENS APERTURE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
電子顕微鏡、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別方法、電子顕微鏡の対物レンズ絞り判別プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
The fluorescent screen 20 also acts as an electron beam detecting screen, and a current corresponding to the electron beam quantity detected with the fluorescent screen 20 is sent to an electron microscope controlling computer 18 through an amplifier 22.例文帳に追加
蛍光板20は電子線検出板を兼ねており、蛍光板20で検出された電子ビーム量に対応する電流は増幅器22を介して電子顕微鏡制御用コンピューター18に送られるように成っている。 - 特許庁
IMAGE PROCESSING METHOD, IMAGE PROCESSING STORAGE MEDIA, IMAGE PROCESSING SYSTEM, AND ELECTRON BEAM OR X-RAY COMPUTER TOMOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加
画像処理方法、画像処理記憶媒体、画像処理システム、および電子線またはエックス線コンピュータトモグラフィシステム - 特許庁
The computer control system controls the electron beam patterning machine using the distortion maps in order to adjust the expected distortions.例文帳に追加
コンピュータ制御システムは、予想された歪みを調整するために、歪みマップを用いて電子ビームパターニング装置を制御する。 - 特許庁
A computer control system, coupled to the electron beam patterning machine, has a plurality of pre-computed distortion maps.例文帳に追加
電子ビームパターニング装置と結合したコンピュータ制御システムが、複数の事前に算出された歪みマップを備えている。 - 特許庁
The binary images are plotted on the medium by electron beams and the computer hologram medium having recessed parts and projecting parts is formed.例文帳に追加
この二値画像を電子線で媒体上に描画し、凹部と凸部とを有する計算機ホログラム媒体を作成する。 - 特許庁
To provide a quantum dot quantum computer element, where a single electron can be introduced.例文帳に追加
量子ドット量子コンピュータ素子に関し、単一の電子の導入が可能な量子ドットを用いた量子コンピュータ素子を提供する。 - 特許庁
The optimum value is first found in operating the transmission electron microscope, and stored in a memory 11 connected to a computer 9.例文帳に追加
この最適な値は、透過電子顕微鏡の操作を行う際に最初に求められており、コンピュータ9に接続されたメモリー11に記憶されている。 - 特許庁
While performing the two-dimensional scanning of the electron beam, a computer 8 controls a driving circuit 10, and changes the excitation intensity of an objective lens 3 slightly in stepwise.例文帳に追加
この電子ビームの2次元走査を行いながら、コンピュータ8は駆動回路10を制御し、対物レンズ3の励磁強度を僅かにステップ状に変化させる。 - 特許庁
The interference fringe and the diffraction grating pattern are plotted by an electron beam lithographing device based on an image data generated by calculation by a computer.例文帳に追加
干渉縞や回折格子パターンは、コンピュータによる演算に基いて生成された画像データに基き、電子線描画装置によって描画される。 - 特許庁
To provide an optical sensor, a gamma ray detector, and a positive electron emission computer tomographic device which process light with digital signals.例文帳に追加
光をデジタル信号によって処理することが可能な光センサ、ガンマ線検出器、及び陽電子放出コンピュータ断層撮影装置を提供することである。 - 特許庁
A control computer 14 turns a second switch 19 on and a current I_0 is measured while irradiating an electron beam continuously.例文帳に追加
制御コンピュータ14から第2のスイッチ19をON側に切り換え、電子ビームを継続的に照射している状態で電流I_0を測定する。 - 特許庁
To provide a mask pattern inspecting method for electron beam exposure, with which a position relation between a first complementary pattern and a second complementary pattern, which are formed by dividing an original mask pattern for electron beam exposure, by a cut line, is inspected on a computer.例文帳に追加
元の電子線露光用マスクパターンを切断線で分割して形成した第1の相補パターン及び第2の相補パターンの位置関係を計算機上で検査することができる電子線露光用マスクパターン検査方法を得る。 - 特許庁
The electron microscope has an objective lens 151b for connecting the focus point of an electron beam on the sample, a lens controller 150b which applies exciting current applied to the objective lens 151b, and a host computer 102 which measures feature structures.例文帳に追加
電子顕微鏡は電子ビームの焦点を試料上に結ぶための対物レンズ151bと、対物レンズ151bに供給される励磁電流を供給するレンズ制御部150bと、特徴構造を測定するホストコンピュータ102を有している。 - 特許庁
When a secondary electron signal is selected by a signal selection switch on an operation image-plane by operating a mouse 21, a control means 14 controlled by a computer 19 displays the secondary electron signal on an image indicator 22 by controlling a switch 17.例文帳に追加
マウス21を操作して操作画面上の信号選択スイッチにより二次電子信号を選択すると、コンピュ−タ19によって制御される制御手段14はスイッチ17を制御して二次電子信号を像表示器22に表示する。 - 特許庁
The writing system 1 for writing a pattern on a semiconductor substrate 9 comprises a head section 2 projecting a writing electron beam, and a computer 4 performing arithmetic operation.例文帳に追加
半導体の基板9にパターンを描画する描画装置1において、描画用の電子ビームを出射するヘッド部2、および、演算処理を行うコンピュータ4を設ける。 - 特許庁
A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加
パーソナルコンピュータ20は電子顕微鏡10によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁
The electrically charged particle beam drawing apparatus 1 includes a drawing chamber 51 wherein a guide 4 provided with a stage 3 where a mask substrate 2 is mounted is disposed at a bottom part, an electron lens barrel 20 capable of performing irradiation with an electron beam, and a drawing control computer 50 which draws a predetermined pattern by irradiating the mask substrate 2 with the electron beam in accordance with predetermined drawing data.例文帳に追加
電子ビーム描画装置1は、マスク基板2が載置されるステージ3が設けられたガイド4を底部に配置した描画室51と、電子ビームを照射可能な電子鏡筒20と、所定の描画データに従い、マスク基板2に電子ビームを照射して所定のパターンを描画する描画制御コンピュータ50とを備える。 - 特許庁
The government is pushing ahead with R&D on fundamental monodzukuri technologies, such as development and promotion of public utilization of cutting-edge large R&D facilities (completing development of the X-ray free electron laser facility “SACLA” and partial startup of the next-generation K computer supercomputer “K computer”). 例文帳に追加
また、最先端の大規模研究開発基盤の整備・共用(X線自由電子レーザー施設「SACLA」の整備完了、次世代スーパーコンピュータ「京」の一部稼働)を通じ、我が国独自の価値創造型ものづくり基盤技術の研究開発に取り組んでいる。 - 経済産業省
A ronchigram signal is obtained from the TV camera in this condition, and the signal is supplied to a computer 44 through a TV power source 40 and an interface 43 of a transmission electron microscope image.例文帳に追加
この状態で、ロンチグラム信号がTVカメラから得られ、その信号は透過電子顕微鏡像のTV電源40、インターフェイス43を介してコンピュータ44に供給される。 - 特許庁
The assembly includes wiring harness fixed to the back of the display screen to input video signals to the display screen from a number of electron sources like a TV antenna, a VCR, a DVD player, and a computer.例文帳に追加
組立体は、TVアンテナ、VCR、DVDプレーヤー、及びにコンピュータのような多数の電子源からビデオ信号を表示画面に入力するように該画面の後部に固定された配線ハーネスを含む。 - 特許庁
A host computer 9 displays an electron beam diffraction-image as a digital image of 256 gradations and uses a lattice constant as a parameter by simultation to perform fitting by using a predetermined program, thereby calculates the lattice constant of the semiconductor device 1.例文帳に追加
ホストコンピュータ9は、電子線回折像を256階調のディジタル画像として表示し、シミュレーションにより格子定数をパラメータとして所定のプログラムを用いてフィッティングを行い、半導体装置1の格子定数を算出する。 - 特許庁
To provide a scintillating material for nuclear physics, medicine and oil industry, namely for the measurement of X-ray, gamma and alpha radiation, control for trans uranium nuclides in the habitat of a man, non destructive control for the structure of heavy bodies, three dimensional positron-electron computer tomography, etc.例文帳に追加
原子核物理学、医学、石油産業、すなわち、X線放射、γ放射、α放射の測定、人間の居住環境における超ウラン核種の制御、重い物体の構造の非破壊制御、三次元陽電子電子コンピュータ断層撮影法などに関する。 - 特許庁
To realize a method for regulating an electron microscope which can bring forward a degree of skill level of a beginner microscope by improving operability of the microscope by decreasing a regulating work by a complicated knob operation and increasing an operation by a computer.例文帳に追加
煩わしいつまみの操作による調整作業を減少させ、コンピュータによる操作を増やすことによって電子顕微鏡の操作性を向上させ、また初心者の電子顕微鏡の習熟度を早めることができる電子顕微鏡の調整方法を実現する。 - 特許庁
An SEM control means 41 of a scanning electron microscope device body 10 is set at a maintenance mode via a computer 50 processing an operation function about an observation operation processed with a normal SEM control means 41, or an output function about an observation operation via a data telecommunication line 80 from a maintenance computer 60 of a development base, a service center or the like of the manufacturer.例文帳に追加
メーカの開発拠点・サービスセンタのメンテナンスコンピュータ60から、データ通信回線80を介して、通常のSEM制御手段41との間で実行する観察作業に関わる操作機能や観察作業に関わる出力機能を実行するコンピュータ50を経由して、走査電子顕微鏡装置本体10のSEM制御手段41をメンテナンスモードに設定する。 - 特許庁
On the basis of information of drawing data input to an input unit 20, a control computer 19 divides a predetermined region where drawing is to be performed by an electron beam 54 into smaller regions in at least one frame unit, and evaluates area densities of patterns to be drawn in respective sectioned regions.例文帳に追加
入力部20に入力された描画データの情報に基づいて、制御計算機19で、電子ビーム54により描画する所定領域を少なくとも1つのフレーム単位で区分けし、各区分けされた領域に描画される予定のパターンの面積密度が評価される。 - 特許庁
When the image processing using maximum entropy method is performed to the microscopic image, the personal computer 20 determines a filtering condition for the image processing based on an evaluation result for comparison between a preliminarily acquired electron microscopic image with large current value and an image using maximum entropy method.例文帳に追加
パーソナルコンピュータ20は、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す際に、あらかじめ取得された大照射電流量の電子顕微鏡画像と、最大エントロピー法を用いた画像との比較に対する評価結果に基づいて前記画像処理のためのフィルタリング条件を決定する。 - 特許庁
The drawing control computer 50 predicts temperature change of the mask substrate 2 and guide 4 with time due to the electron beam irradiation from the drawing data, and performs the temperature control over the periphery of the guide 4 by placing the liquid cooling controller 55 in operation according to the temperature change prediction in parallel with a drawing operation from a start of drawing of the predetermined pattern.例文帳に追加
描画制御コンピュータ50は、描画データから電子ビーム照射により生じるマスク基板2およびガイド4の時間に対する温度変動を予め予測し、所定のパターンの描画開始を起点に描画作業をするのと並行して、その温度変動予測に従って液冷コントローラ55を動作させてガイド4近傍の温度制御をする。 - 特許庁
To provide a communication system that provides computer users with a charging means for transmitting an electronic mail to portable terminals and enables the users to transmit and receive the electronic mail between portable terminals, even when the system adopts such a system that only collects fees from electron mail transmitting side users and the users are connected to be Internet.例文帳に追加
電子メール送信側携帯端のユーザにのみ課金がされる方式を採用する通信システムにおいても、インターネットに接続されたコンピュータユーザに対して、携帯端末に対する電子メール送信の課金手段を提供し、インターネットに接続されたコンピュータユーザに対しても携帯端末の間における電子メールの送受信を可能とするシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a creating method and apparatus of drawing data for making short the movement distance of a stage that moves in a field unit in pattern drawing due to an electron beam, drawing data, a drawing method, a mask and its manufacturing method, a semiconductor device and its manufacturing method, a program for drawing data creation, and a computer readable record medium where the program is recorded.例文帳に追加
電子線によるパターン描画の際にフィールド単位に移動するステージの移動距離をより短くする描画データの作成方法及び装置、描画データ、描画方法、マスク及びこの作成方法、半導体装置及びこの製造方法、描画データ作成用プログラム及びこのプログラムを記録したコンピュータ読みとり可能な記録媒体を提供すること。 - 特許庁
This printed matter can be obtained by printing an image designed on the screen of a computer by the digital signals as they are without a platemaking process and efficiently curing through the electron radiation under low acceleration voltage, not necessitating the conventional gas oven nor a large sized baking drying device such as an electric oven nor wider space nor longer cure time.例文帳に追加
この印刷物は、コンピュータ画面状でデザインされた画像を、デジタル信号でそのまま製版工程を経ることなく印刷し、低加速電圧の電子線照射により効率良く硬化させることにより、従来のガスオーブン、電気オーブンのような大型の焼き付け乾燥装置が必要でなく、スペース、硬化時間が短い等の優れた印刷方法、印刷物を提供するものである。 - 特許庁
These changes are compared with the mislanding of each electron beam on the red, green and blue phosphors without wobbling, to calculate their differences by means of a control 105 and personal computer 106, thus adjusting the deflection unit so as to minimize the deviation amount.例文帳に追加
蛍光体面101Aを白色発光させ、前記白色発光をプリズム103により赤色、緑色、青色に分光し、ウォブリング磁場に伴う赤色、緑色、青色の輝度変化を測定し、測定データからウォブリング磁場の無いときの、赤色蛍光体、緑色蛍光体、青色蛍光体各々に対する電子ビームのずれ量を制御系105、パーソナルコンピューター106にて解析計算し、ずれ量を最小にするように偏向系を調整する。 - 特許庁
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