「laser microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the fluorescent image of the laser beam is magnified by means of the microscope MS, it can be picked up accurately even when the beam diameter is small.例文帳に追加

レーザビームの蛍光像は顕微鏡ＭＳで拡大されるので、レーザビームのビーム径が小さい場合においても、これを正確に撮像することができる。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope with which confocal scanning images can be obtained even relating to light beams from any of a plurality of scanning optical systems.例文帳に追加

複数の走査光学系のいずれからの光ビームについても共焦点走査画像を得ることのできる走査型レーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Each hyper lens 1007 designed and manufactured in accordance with a plurality of light source wavelengths and each light source wavelength is arranged on a lens holder 1001 of a laser microscope.例文帳に追加

複数の光源波長と各光源波長に合わせて設計・作製したハイパーレンズ１００７をレーザ顕微鏡のレンズホルダ１００１に配置する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device capable of improving image quality by removing a non-resonance component, while suppressing complication of device constitution.例文帳に追加

装置構成の複雑化を抑制しつつ、非共鳴成分を除去して画質を向上させることができるレーザ顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The illuminator for the microscope is equipped with a plurality of laser beam sources 1 and 2, micromirror arrays (DMD) 4 and 5 respectively provided corresponding to the laser beam sources and reflecting the light beams from the laser beam sources, and light beam compositing means 10, 11, 19 and 15 compositing the light beams from the respective laser beam sources reflected by the respective micromirror arrays.例文帳に追加

複数のレーザ光源１，２と、各レーザ光源に対応して夫々設けられた、レーザ光源からの光線を反射させる微小鏡配列（ＤＭＤ）４，５と、各微小鏡配列で反射した各レーザ光源からの光線を合成する光線合成手段１０，１１、１９，１５とを備えている。 - 特許庁

An illumination device (20) for a microscope (40) has a laser unit (24) that generates at least one broadband laser light pulse (30), and light components (71, 72, 73, 74, 75, 76) of different wavelengths of the broadband laser light pulse (30) are temporally offset from one another.例文帳に追加

顕微鏡（４０）の照明装置（２０）は、少なくとも１つの広帯域レーザ光パルス（３０）を生成するレーザユニット（２４）を有し、上記広帯域レーザ光パルス（３０）の異なる波長の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）は、互いに時間的にずらされる。 - 特許庁

The laser confocal microscope system using a Nipkow disk type confocal scanner adopting laser light as excitation light is constituted so as to measure a phosphorescent image by a camera for forming the confocal image outputted from the confocal scanner after turning off the laser light.例文帳に追加

レーザ光を励起光としたニポウディスク型の共焦点スキャナを使用したレーザ共焦点顕微鏡システムにおいて、前記レーザ光のオフ後に、前記共焦点スキャナからの共焦点画像を結像するカメラで燐光画像を計測するように構成する。 - 特許庁

A laser oscillating means 2 radiates a laser beam in the optical axis direction of a tested lens 1 to the tested lens 1, and an image of the laser beam transmitted through the tested lens 1 and focused on a cover glass 5 is expanded by means of a microscope 6 so as to be converted into an image signal by means of a camera 7.例文帳に追加

レーザー発振手段２は被検レンズ１の光軸方向から被検レンズ１にレーザー光を照射し、被検レンズ１を透過したレーザー光がカバーガラス５にて集光した像を顕微鏡６で拡大しカメラ７にて映像信号に変換する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of executing optimum pulse width adjustment for shortening the pulse width of a laser beam on the position of a sample, preferably making it to the shortest width and observing the sample under an optimum condition.例文帳に追加

標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができ、最適な条件下での観察を行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of efficiently detecting fluorescence generated by excitation with a laser beam from a first scanning optical system with preventing entry of a second laser beam into the first scanning optical system even when a plurality of scanning optical system are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which prevents second laser light from impinging on a light detection system of a first scanning optical system to efficiently detect fluorescence excited by the laser light of the first scanning optical system in the case a plurality of scanning optical systems are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In one example of implementation of positioning the probe, when observation using the scanning probe microscope is started; the three-dimensional shape of a sample 18 is observed with a confocal laser scanning microscope; and its three-dimensional shape data is stored in a storage part 51.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による観察開始時にそのプローブの位置決めを行なうには、一実施例では、はじめに、共焦点レーザ顕微鏡で試料１８の三次元形状観察を行ない、その三次元形状データを記憶部５１に記憶する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope which is easily controlled without a loss of light quantity due to a beam splitter or the like and is capable of easily corresponding to the size of a wavefront converting element without largely changing an optical arrangement of the conventional laser scanning microscope.例文帳に追加

ビームスプリッター等による光量の損失もなく、制御が容易で、従来のレーザー走査型顕微鏡の光学配置を大きく変更することなく、波面変換素子の大きさにも容易に対応することが可能な走査型光学顕微鏡。 - 特許庁

A position signal, showing the position which is output from the position detection element 37, can be used as a signal showing an irradiation position of the laser light to a sample when scanning is performed in a scanning type confocal laser microscope.例文帳に追加

位置検出素子３７から出力されるこの位置を示す位置信号は、走査型共焦点レーザ顕微鏡において走査が行われているときにおける試料へのレーザ光の照射位置を示す信号として利用できる。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

CANTILEVER ARRAY, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME, SLIDING DEVICE FOR GUIDE AND ROTATION MECHANISM, SENSOR, HOMODYNE LASER INTERFEROMETER, LASER DOPPLER INTERFEROMETER WITH PHOTOEXCITATION FUNCTION OF SAMPLE AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバーアレイ、その製造方法及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡、案内・回転機構の摺動装置、センサ、ホモダインレーザ干渉計、試料の光励振機能を有するレーザドップラー干渉計ならびにカンチレバーの励振方法 - 特許庁

The thickness measurement means 51 is constituted by a non-contact laser length-measuring device 51A and a thickness-calculating means 51B, wherein the laser length-measuring device 51A is attached on a biobjective microscope 12, enabling measurement of the whole surface.例文帳に追加

また、厚さ測定手段５１は、非接触のレーザ測長器５１Ａと厚さ演算手段５１Ｂとから構成し、レーザ測長器５１Ａを双体物顕微鏡１２に取付け、ワーク全面に亘って測定できるように構成した。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of preventing the lowering of detection precision based on the relative positional relation of a laser beam source and the reflecting part of a cantilever, and to provide the cantilever.例文帳に追加

レーザ光源とカンチレバーにおける反射部の相対的な位置関係に基づく検出精度の低下を防止できる走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーを得る。 - 特許庁

The method comprises measuring the moisture content and the amount of cholesterol in a stratum corneum, by measuring the intensity of self-fluorescence, generated from a collected sample of the stratum corneum by using a confocal laser microscope.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を強度測定し、角層水分量とコレステロール量を測定する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional confocal laser microscope system capable of providing the super-depth image of a sample at a real time by scanning an objective lens at high speed.例文帳に追加

対物レンズを高速に走査することによって、リアルタイムで試料の超深度画像を得ることのできる３次元共焦点レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope that allows stable examination by eliminating influence of ambient light while inhibiting damage to a specimen and fading of fluorescence.例文帳に追加

標本へのダメージおよび蛍光の退色を抑制しつつ、環境光による影響を排除して安定した観察を行うことができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of automatically or nearly automatically adjusting an applied voltage of a photodetector even when scanning conditions are changed.例文帳に追加

走査条件が変更されても、光検出器の印加電圧を自動的または略自動的に調整することが可能なレーザ走査顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which is capable of acquiring images formed by superposing a plurality of fluorescent dye images without mispositioning and without requiring intricate adjustment and control.例文帳に追加

複雑な調整や制御を必要とすることなく、複数の蛍光色素画像を位置ずれなく重ねた画像を得ることのできる走査型レーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

After that, the laser beam carries out incidence to a wave length separating unit 6, and the only light having a fixed wave length is emitted and guided to an optical microscope for machining.例文帳に追加

その後，レーザ光は波長分離ユニット６に入射し，所定の波長を有する光のみが出射され，加工用光学系である顕微鏡９に導かれる。 - 特許庁

To provide a color laser scanning type microscope which can obtain a high-pixel and high-sharpness color image by removing noises, signal distortion, etc., of a signal processing system and is inexpensive.例文帳に追加

信号処理系統におけるノイズ及び信号歪み等を排除して高画素、高鮮明カラー画像が得られ、しかも安価なカラーレーザー走査型顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a laser microscope device that stably performs spectroscopy at high resolution over a wide band area while suppressing a decrease in the intensity of detected fluorescence.例文帳に追加

検出される蛍光の強度低下を抑制しつつ、広帯域かつ高分解能な分光を安定的に行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small-sized laser scanning type microscope capable of optionally selecting a wavelength region, and capable of detecting an image having satisfactory S/N with high sensitivity.例文帳に追加

小型で、任意に波長領域を選択することができ、高感度にＳ／Ｎの良好な画像を検出することが可能なレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope for obtaining a quantitative image by detecting fluorescence from a sample in uniform conditions in each pixel period.例文帳に追加

各画素周期において均一な条件で標本からの蛍光を検出して、定量性のある画像を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The laser microscope uses simultaneous absorption of three or more photons to cause molecular excitation in the target substance, yielding intrinsic three-dimensional resolution.例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡は、３つ又はそれ以上の光子の同時吸収により、目的物における分子励起を生じさせて、内在的な３次元分解能をもたらす。 - 特許庁

To provide a general type confocal laser scanning microscope constituted so that a light source which is inexpensively acquired and operated can be used for the purpose of CLSM.例文帳に追加

獲得および運転が低コストであるような光源がＣＬＳＭ用途に使用されることもできるようにした一般的なタイプの共焦点レーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope in which a plurality of light sources are separated, laser light is made incident on a device body part, and a light source can be easily added after a device is delivered.例文帳に追加

複数の光源を分けて装置本体部に入射させたり、装置納入後に光源を追加することが容易な走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a device in which the change in the power and/or wavelength of a laser beam source does not affect the power of the light coupled to an optical assembly and a confocal scanning microscope as the device for coupling the light of at least one wavelength of the laser beam source the optical assembly and the confocal scanning microscope.例文帳に追加

この発明は、レーザ光源の少なくとも１つの波長の光を光学組立物に結合するための装置および共焦点走査型顕微鏡であって、レーザ光源のパワーおよび／または波長における変化が光学組立物に結合される光のパワーに影響を及ぼさない装置および共焦点走査型顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The high resolution of 1/10-1/100, i.e. sub-μm, compared with that in a conventional SQUID microscope, is obtained noncontactly because controlling the distance between the sample 4 and the tip of the probe 22 by the laser microscope part 3 of deep depth of focus.例文帳に追加

被測定試料４とプローブ２２の先端との距離を焦点深度の大きいレーザ顕微鏡部３により制御するので、非接触で、従来のＳＱＵＩＤ顕微鏡の１０分の１から１００分の１、即ちサブμｍの高い分解能を得ることができる。 - 特許庁

The heat generating part is matched with an optical axis of the optical microscope 7 and found within a high magnification visual field based on the located position of the heat generating part, and irradiated by a laser beam in the same optical axis as the optical microscope 7 to segmentize the short part which is the heat generating part.例文帳に追加

求められた発熱箇所の位置に基づき発熱箇所を光学顕微鏡７の光軸に一致させて高倍率視野内に捉えるとともに、光学顕微鏡７と同一の光軸でレーザを照射して発熱箇所であるショート箇所を分断する。 - 特許庁

To examine a physical property of a target of inspection having one of its surfaces covered with a member resistant to transmission of laser light or a magnetic field, a semiconductor IC mounted on a substrate for example, by a laser SQUID microscope with higher sensitivity.例文帳に追加

レーザー光や磁場の透過が困難な部材により片面が覆われている検査対象物、例えば基板に実装された半導体ＩＣでも、レーザーＳＱＵＩＤ顕微鏡による物理的性質の検査をより高感度に行うこと。 - 特許庁

The optical device having a light source, in particular a laser light source and a cut-off device (1) for the light beam (2) from the light source, in particular a laser scanning microscope, has a means (3) of monitoring the operation state of the cutoff device (1) in the cut-off device (1).例文帳に追加

光源、とりわけレーザ光源、及び該光源の光線（２）に対する遮断装置（１）を有する光学装置、とりわけレーザスキャニング顕微鏡は、該遮断装置（１）の作動状態を監視するための手段（３）が、該遮断装置（１）に配されている。 - 特許庁

The laser scanning microscope of the present invention is characterized in being provided with: a scanner (11) which scans a face to be observed with a laser beam; detection means (11 and 203) which detect the variation in the velocity of the scanning; and power control means (204 and 205) which vary the power of the laser beam according to the detected variation in the velocity.例文帳に追加

本発明のレーザ走査顕微鏡は、レーザ光で被観察面上を走査するスキャナ（１１）と、前記走査の速度変化を検出する検出手段（１１，２０３）と、前記検出された前記速度変化に応じて前記レーザ光のパワーを変化させるパワー制御手段（２０４，２０５）とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope apparatus capable of independently changing the intensity distribution of stimulating light in the depth direction on a sample surface of a laser beam stimulating a sample and light for acquiring an image respectively, and an observation method using the confocal microscope apparatus.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

The near field scanning optical microscope laser processing device is comprised of a laser beam source 110 generating a laser beam with the peak wavelength, an NSOM prove 110, a binding substrate 124 formed by materials substantially transmitting the laser peak wavelength, an NSOM mount holding the NSOM probe and the binding substrate controllably, an NSOM controller, and a photodetector combined optically with the NSOM mount.例文帳に追加

ピーク波長を有するレーザ光を発生するレーザ光源１１０と、ＮＳＯＭプローブ１１０と、レーザピーク波長をほぼ伝達する材料によって形成した結合サブストレート１２４と、ＮＳＯＭプローブおよび結合サブストレートを制御可能に保持するＮＳＯＭマウントと、ＮＳＯＭコントローラと、ＮＳＯＭマウントに光学的に結合される光検出器とを有する。 - 特許庁

To provide a scanning-type laser microscope, allowing a galvanoscanner to fast scan over a wide range and capable of observing a wide range, by efficiently radiating the heat generated in the galvano-scanner.例文帳に追加

ガルバノスキャナで発生する熱を効率よく放熱することにより、ガルバノスキャナを高速かつ広範囲を走査可能にし、広い範囲を観察できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a stage position measuring device for an electronic microscope using a laser interference measuring machine for measuring the position of a stage, if inclinable, with high accuracy.例文帳に追加

傾斜可能なステージであっても、レーザ干渉測長器を用いて高精度のステージの位置測定を行うことができる走査電子顕微鏡等のステージ位置測定装置を実現する。 - 特許庁

Fluorescence from a sample 26 placed in a confocal inverted optical microscope 19 and excitation laser light are allowed to be simultaneously incident on a nonlinear optical element 32 to generate sum frequency light 34.例文帳に追加

共焦点倒立光学顕微鏡１９に設置された試料２６からの蛍光と、励起レーザ光を非線形光学素子３２に同時に入射させ、和周波光３４を発生させる。 - 特許庁

Then, the confocal laser microscope system 100 amplifies the image information 6, in conjunction with the input of an operation instruction 7 that alters the distance between the specimen 5 and the focusing position.例文帳に追加

そして、共焦点レーザ顕微鏡システム１００は、標本５と焦点位置の間の距離を変更する動作指示７の入力に連動して、画像情報６を増幅する。 - 特許庁

The light source is a laser light source for generating action beam, illumination beam and/or aiming beam which is provided within the slit lamp head, the slit lamp base, or the slit lamp microscope.例文帳に追加

光源は、スリットランプヘッド、スリットランプベースまたはスリットランプ顕微鏡の内部に配置された、作用光線、照明光線および／または照準光線生成のためのレーザ光源である。 - 特許庁