「laser microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics.例文帳に追加

本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

The scanning type laser microscope 1 includes scanning means 21, 21' which two-dimensionally scan a laser beam from a laser light source 2, and a light-shielding member 4 covering the scanning means 21, 21', and further, has heat radiating means 25, 25' radiating the heat generated by the scanning means 21, 21' into a space outside the light-shielding member.例文帳に追加

レーザ光源２からのレーザ光を二次元に走査する走査手段２１、２１’と、前記走査手段２１、２１’を覆う遮光部材４とを有する走査型レーザ顕微鏡１であって、前記走査手段２１、２１’が発生する熱を前記遮光部材の外側の空間に放熱する放熱手段２５、２５’を有する走査型レーザ顕微鏡１。 - 特許庁

This semiconductor device inspection apparatus 1 is equipped with a stage 141 disposed in a vacuum chamber 11 for setting the semiconductor device (sample S), a femto-second laser device 12 for generating a femto-second laser beam FSLB for cutting the semiconductor device, and a scanning electron microscope (SEM 17) for observing the cut face W of the semiconductor device cut by the laser beam.例文帳に追加

半導体デバイス検査装置１は、半導体デバイス（試料Ｓ）をセットする真空チャンバー１１内に配設されたステージ１４１と、半導体デバイスを切削するフェムト秒レーザビームＦＳＬＢを生成するフェムト秒レーザ装置１２と、当該レーザビームにより切削した半導体デバイスの切削面Ｗを観察する電子顕微鏡（ＳＥＭ１７）とを備えている。 - 特許庁

In the experiments and analyses, a computer 2 controls laser beam irradiation from a laser system 4 to make photobleaching on a partial area of a specimen in observation sample 108, while controlling a confocal laser scan type microscope body 1, to observe time variation in recovery of fluorescence on the area, where photobleaching in the specimen at this time has been carried out.例文帳に追加

コンピュータ２は、レーザ装置４によるレーザ光の照射の制御を行って観察試料１０８における標本の部分領域にフォトブリーチを施す一方で、共焦点レーザ走査型顕微鏡本体１を制御してそのときの当該標本における当該フォトブリーチが施された領域の蛍光の回復の時間変化を観測する。 - 特許庁

To provide a tomography and tomograph that can measure the thickness of affected parts easily and accurately by using short wave infrared light, or an invisible ray as a laser source of a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡のレーザ光源は近赤外光、すなわち不可視光を用い、患部の厚さを簡便かつ正確に測定することができる断層像形成方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive scanning laser microscope with a film thickness measuring function which requires only small memory capacity for image data and does not require highly accurate high resolution in Z-axis drive.例文帳に追加

画像データのメモリ容量が少なくて済み、さらにＺ軸駆動分解能も高精度、高分解能である必要のない、安価な膜厚測定機能付き走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope which is configured, in the case of acquiring fluorescence from pigments, to acquire each fluorescence, even when spectral components of the fluorescence by the respective pigments overlap one another.例文帳に追加

複数の色素からの蛍光を取得する場合において、各色素による蛍光のスペクトルが重なっている場合にも、それぞれの蛍光を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The metal microstructure exposed through an etching treatment using the etching solution is observed under an optical or laser microscope to determine a subgrain size, and the creep damage is derived from the subgrain size.例文帳に追加

このエッチング液によりエッチング処理して現出した金属微細組織を光学顕微鏡またはレーザ顕微鏡により観察し、サブグレインサイズを求め、このサブグレインサイズからクリープ損傷率を求める。 - 特許庁

To perform the simultaneous beam transmission of a plurality of ultrashort pulse laser beams having different single wavelengths while suppressing an extension of time width, thereby making it possible to perform a high-speed observation on a microscope.例文帳に追加

複数の異なる単一波長の超短パルスレーザ光を、時間幅の拡がりを最小限に抑えつつ同時に光伝送して顕微鏡による観察等を高速に行えるようにすること。 - 特許庁

The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.例文帳に追加

上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁

A laser emitting image including at least linear optical image is obtained by the light L1 passing though a hologram element 9, a collimator lens 4, a condenser 5, a half mirror 6 and a microscope lens 7 one after another.例文帳に追加

ホログラム素子９、コリメートレンズ４、集光レンズ５、ハーフミラー６および顕微鏡レンズ７を順次経由した光Ｌ１によって、少なくとも線状光像を含むレーザ発光画像を取得する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device for imaging a sample using terahertz vibrations of molecules in the sample, capable of performing high speed imaging while focusing on the specific molecular vibration.例文帳に追加

標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a detection wavelength range setting method capable of setting easily the optimum detection wavelength range (start wavelength and acquired wavelength width) for an observation object.例文帳に追加

観察対象に対する最適な検出波長範囲（開始波長と取込み波長幅）を簡単に設定できる走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation that can be protected certainly from irregularly reflected laser light rays with a simple constitution and, in addition, can be improved conveniently and easily in color reproducibility and high resolution.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成で、レーザー光の乱反射からの確実な保護を実現し得、且つ、簡便にして容易に色再現性及び高解像度化の促進を図り得るようにすることにある。 - 特許庁

To provide an illuminator for a laser microscope in which a wavelength width of light selected from light which is spectrum spread can be freely set and loss of amount of light can be suppressed with a simple structure.例文帳に追加

スペクトル拡散された光から選択する光の波長幅を自由に設定でき、簡単な構成で光量のロスを抑えることができるレーザ顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁

The scanning laser microscope 100 is further equipped with an X-Y fine focus adjustment stage 135 for moving the confocal pinhole 133 in a direction nearly orthogonal with the optical axis of the detecting optical system C.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡１００は、さらに、共焦点ピンホール１３３を検出光学系Ｃの光軸にほぼ直交する方向に移動させるためのＸＹ微動ステージ１３５を備えている。 - 特許庁

The selectively activated convex surface provides an activated region having an adhesive characteristic, when activated (typically using a laser passed through an optical path in the microscope).例文帳に追加

この選択的に活性化された凸状表面は、活性化された場合（典型的には、顕微鏡における光学光路を通るレーザを用いて）、接着特性を有する活性化された領域を提供する。 - 特許庁

A scanning type laser microscope 2 has irradiation means which irradiates the top of a sample 38 with a beam emitted from a light source 4 through an objective lens 34 and generates fluorescence from the sample 38.例文帳に追加

走査型のレーザー顕微鏡２は、光源４から出射したビームを対物レンズ３４を介して標本３８上に照射して、この標本３８から蛍光を発生させる照射手段を有する。 - 特許庁

In the evaluation method for the SOI wafer where the semiconductor layer, an insulation layer, and a supporting substrate are formed in sequence, a defect in the semiconductor layer is actualized and evaluated with the laser microscope of a confocal optical system.例文帳に追加

半導体層、絶縁層、支持基板が順次形成されたＳＯＩウエーハの評価方法であって、半導体層に存在する欠陥を顕在化させ、コンフォーカル光学系のレーザ顕微鏡で評価する。 - 特許庁

In an image recording method of the laser scanning confocal microscope device, each of a plurality of laser lights having at least different wavelengths is scanned on a specimen as a spot light, light from the specimen based on the spot light is detected, and obtained image information is recorded by segmenting it.例文帳に追加

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置の画像記録方法として、少なくとも波長の異なる複数のレーザ光の各々をスポット光として試料上に走査し、このスポット光に基づく試料からの光を検出し、得られた画像情報を切り分けて記録する、ようにする。 - 特許庁

A higher harmonic wave generation device 5 modulating a laser light beam Q transmitted through optical fiber 3 to a laser light beam Qa whose wavelength is different from that of the light beam Q and transmitting it to a scanning type optical microscope main body 4 is integrally fitted to the main body 4.例文帳に追加

光ファイバー３を伝送してきたレーザ光Ｑを、このレーザ光Ｑの波長とは異なる波長のレーザ光Ｑａに変調して走査型光学顕微鏡本体４に送る高調波発生装置５を、走査型光学顕微鏡本体４に一体的に取り付けた。 - 特許庁

A confocal laser scanning microscope for acquiring a confocal image of a sample is provided with an optical microscope optical system which radiates illuminating light emitted from a light source, to the sample and detects measurement light from the sample to acquire a non-confocal image of the sample, and the optical microscope optical system has optical systems corresponding to at least two observation methods and can be switched to either of the optical systems.例文帳に追加

試料の共焦点画像を取得する共焦点レーザスキャニング顕微鏡は、光源から出射された照明光を試料に照射し、試料からの測定光を検出して試料の非共焦点画像を取得する光学顕微鏡光学系を備え、光学顕微鏡光学系は、少なくとも２種の観察法に対応する各光学系を有し、いずれか１つの前記光学系に切り換えられる。 - 特許庁

When total reflection illumination is selected in the microscope, a piece 65 is rotated by a motor 66, and ceiling plates 62 and 63 are raised to be nearly parallel to the stage 12 so that laser light with which the sample 53 is irradiated from below may not leak to the outside through the objective lens of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡において全反射照明が選択されている場合、顕微鏡の対物レンズを介して下方から標本５３に照射されるレーザ光が外部に漏れるのを防ぐように、モータ６６により駒６５が回転し、天井板６２および天井板６３がステージ１２とほぼ平行となる位置まで持ち上げられる。 - 特許庁

A sample is arranged on the slide of a laser dissection microscope to make the slide movable in parallel on an extension surface, and an adhesive collection system, with the center aligned with the optical axis, is lowered to the sample, bonded adhered to the sample, freely moved in parallel, together with the slide, and then strayed from the optical axis of the microscope.例文帳に追加

レーザ解剖顕微鏡のスライド上に試料を配置し、スライドはその延在面で平行移動可能とし、粘着性採集装置をその中心を光軸に合わせた状態で試料上まで下降させ、試料に付着させてスライドと共に自由に平行移動しかつ顕微鏡の光軸から外れる。 - 特許庁

This light signal analyzer has a laser 10 for emitting excitation light, a microscope part 30 for acquiring light from the sample S, a fluorescence extracting part 20 for extracting fluorescence from the light acquired by the microscope part 30, and a processing part 40 for processing the fluorescence extracted by the fluorescence extracting part 20.例文帳に追加

光信号分析装置は、励起光を発するレーザー１０と、試料Ｓからの光を取得する顕微鏡部３０と、顕微鏡部３０で取得した光から蛍光を抽出する蛍光抽出部２０と、蛍光抽出部２０で抽出された蛍光を処理する処理部４０とを有している。 - 特許庁

A system controller 8 of the scanning laser microscope device outputs an A/D conversion clock (a) to an A/D converter 12 of the photometric apparatus 7 and outputs a pixel clock (p) to an arithmetic unit 13 of the photometric apparatus 7.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置のシステムコントローラ８はＡ／Ｄ変換クロックａを測光装置７のＡ／Ｄ変換器１２に出力し、画素クロックｐを同じく測光装置７の演算装置１３に出力する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope system and a light quantity detector which allows quantitative observation by informing an operator of the quantity of light radiated to a sample by a luminous stimulus.例文帳に追加

オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A confocal laser microscope is used to observe autofluorescence emitted by a sampled stratum corneum, image data divided in the height direction of the stratum corneum are compared and analyzed, and the multilayer exfoliation state of the stratum corneum is measured.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を観察し、角層の高さ方向に分割した画像データを比較分析して角層の重層剥離状態を測定する。 - 特許庁

The scanning type laser microscope is equipped with a 1st scanning optical system A for obtaining the scanning image of the sample 19 and a 2nd scanning optical system B for causing the singular phenomenon at the specific position of the sample 19.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡は標本１９の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本１９の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂとを備える。 - 特許庁

The magnesium oxide powder has a cubic particle shape when observed by a scanning electron microscope, and has a cumulative 50% particle diameter (D_50) of at least 1.0 μm by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡にて観察した粒子形状が立方体状であり、かつレーザ回折散乱式粒度分布測定による累積５０％粒子径（Ｄ_５０）が１．０μｍ以上である酸化マグネシウム粉末。 - 特許庁

In the device for generating a laser light beam such as an illumination light beam preferably for a confocal scanning microscope, including at least one laser light source (2), the laser light source (2) constitutes a module (1) having a mechanical and/or electrical and/or optical interface which is regulated to the outside individually or by grouping.例文帳に追加

少なくとも１つのレーザ光源（２）を含んで構成される、好ましくは共焦点式の走査顕微鏡のための照明光ビーム等のレーザ光ビームを生成するための装置において、前記レーザ光源（２）は、個別に又はグループ化されて、外部に対して規定される機械的及び／又は電気的及び／又は光学的インターフェースを有するモジュール（１）を構成することを特徴とする。 - 特許庁

This confocal laser scanning microscope having at least one detector 4 to detect detecting light 3 coming from at least one laser beam source 1 for irradiating a sample 2 is provided with additional light source 5 and 8 which are not single mode (TEM00) laser beam sources in order to extend the use of the CLSM while using the light source which is inexpensively acquired and operated.例文帳に追加

試料（２）を照射するための少なくとも１つのレーザ光源（１）および試料からくる検出光（３）を検出するための少なくとも１つの検出器（４）を有する共焦点レーザ走査顕微鏡は、獲得および運転が低コストである光源の使用に関して、ＣＬＳＭ用途を拡張するために、単一モード（ＴＥＭ００）レーザ光源ではない追加光源（５，８）が設けられる。 - 特許庁

By this operating method, an object to be observed on the sample is specified first by using the visible light beam of a normal optical system and observed with high resolution by using the extreme ultraviolet laser beam of a confocal optical system after it is specified when the sample is observed by a ultraviolet laser confocal microscope 1.例文帳に追加

極紫外線レーザコンフォーカル顕微鏡１で試料を観察する場合、最初に試料上の観察対象を通常光学系の可視光を使用して特定し、観察対象を特定した後で、コンフォーカル光学系の極紫外線レーザを使用してより高い分解能で観察対象を観察する。 - 特許庁

The position of the light emitting point (chip surface active layer) of the semiconductor laser 21 is detected by an adjusting optical system consisting of a microscope 32 and a CCD camera 33 through a polarizing beam splitter 22, and a deviation from a prescribed position is calculated to perform the translational adjustment (positional adjustment in X and Y directions) for the semiconductor laser 21.例文帳に追加

半導体レーザ２１の発光点位置（チップ面活性層）を、偏光ビームスプリッタ２２を介して顕微鏡３２およびＣＣＤカメラ３３からなる調整光学系により検出し、所定の位置からのずれを算出して半導体レーザ２１の並進調整（ＸＹ方向位置調整）を行う。 - 特許庁

In this case, when carrying out focus detection using a laser beam reflected from the surface of a boundary between a cover glass or slide glass and a cell or culture media, the microscope focus maintaining device can alter the luminous flux diameter of the laser beam to a luminous flux diameter corresponding to NA smaller than the refractive index of the cell or culture media.例文帳に追加

ここで、顕微鏡フォーカス維持装置は、カバーガラスやスライドガラスと細胞や培養液との境界面からのレーザー光ビームの反射光を利用してフォーカス検出する場合、レーザー光ビームの光束径を細胞や培養液の屈折率よりも小さいＮＡに相当する光束径に変更可能としている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.例文帳に追加

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁

An image 22 acquired by a laser microscope function part and a color image 23 acquired by an optical microscope function part are developed on a memory in a processor 4, addresses which should be stored in an image data file 24 are calculated from, for example, the size of each piece of image data by a CPU of the processor 4 and pieces of image data are sequentially stored in the addresses.例文帳に追加

レーザ顕微鏡機能部で取得した画像２２及び光学顕微鏡機能部で取得したカラー画像２３は、処理装置４内のメモリ上に展開され、処理装置４のＣＰＵによって、例えばそれぞれの画像データのサイズから画像データファイル２４内に格納すべきアドレスが算出され、そのアドレスに順次画像データを格納される。 - 特許庁

To provide a laser scan type microscope wherein an aperture diaphragm is arranged in front of a detector so as to have at least one detection optical path, and by which various kinds of wavelength of detected light are focused in the aperture diaphragm plane in the detection optical path.例文帳に追加

検出器の前に孔絞りが配置されている、少なくとも１つの検出光路を有するレーザ走査型顕微鏡であって、検出された光のさまざまな波長を検出光路内の孔絞り平面内へフォーカシングする。 - 特許庁

A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions.例文帳に追加

この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 - 特許庁

To provide a method for observing and acquiring a histological image inside an individual by a two-photon laser microscope without being influenced by spontaneous vibration of an individual (living body) itself, and to provide a sheet having a hollow part used in the method.例文帳に追加

個体（生体）自体の自発振動の影響を受けずに、２光子レーザー顕微鏡により個体内部の組織学的イメージ像を観察・取得する方法、並びに該方法に使用する中空部を有する薄板の提供。 - 特許庁

To obtain confocal effect for improving the picture quality of a simple laser scanning microscope which has its Y-directional scan fixed (linear scan type) and picks up an image formed by an objective at a return destination directly by a television camera.例文帳に追加

レーザー走査顕微鏡で、Ｙ方向走査を固定型（線走査型）とし、戻り先の対物レンズによる結像を直接テレビカメラに写し込む簡易化型レーザー走査顕微鏡の画質を向上させるため共焦点効果をだすこと。 - 特許庁

The scanning laser microscope is provided with drive parts (25a, 25b) to drive a plurality of mirrors (11a, 11b) to reflect luminous flux while adjusting the wavelength width and wavelength band of spectrally resolved luminous flux, and a control part 27 to control the drive parts.例文帳に追加

スペクトル分解された光束の波長幅と波長域とを調整しながら前記光束を反射する複数のミラー（１１ａ、１１ｂ）を駆動する駆動部（２５ａ、２５ｂ）と、前記駆動部を制御する制御部２７とを備えた。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁

The emission generated from this reverse current is measured by an emission microscope and the defective part is identified, and the defective part is insulated by irradiating a laser beam and, thereby, the short circuit area is repaired.例文帳に追加

この逆方向電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射して絶縁化させることによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法。 - 特許庁

In the process of the increase, the power of the laser light source of the 1st microscope 21A is gradually decreased to make electrons (current) based upon internal photoelectron effect flow, thus obtaining an abnormal point based upon an actual crystal defect, etc.例文帳に追加

この上げていく過程で、同時に、第１マイクロスコープ２１Ａのレーザ光源のパワーをゆっくり下げていき、内部光電子効果に基づく電子（電流）が流れるようにして、実際の結晶欠陥等に基づく異常点を得る。 - 特許庁