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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > low temperature testingに関連した英語例文

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low temperature testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 57



例文

PROBER FOR TESTING SUBSTRATE AT LOW TEMPERATURE例文帳に追加

低温で基板を試験するプローバ - 特許庁

LOW-TEMPERATURE CONDITION TESTING DEVICE AND METHOD FOR HANDLER例文帳に追加

ハンドラの低温条件試験装置及びその方法 - 特許庁

To provide a high-temperature testing device capable of constituting a high-temperature testing environment at a low cost.例文帳に追加

安価に高温試験環境を構成することが可能な高温試験装置を提供する。 - 特許庁

LOW/HIGH TEMPERATURE ROOM TYPE THERMAL SHOCK TESTING DEVICE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

気槽式熱衝撃試験装置およびその運転方法 - 特許庁

例文

To prevent condensation in a testing device that performs low-temperature tests.例文帳に追加

低温試験を行う試験装置において、結露を防止する。 - 特許庁


例文

FILTER MODULE FOR LOW TEMPERATURE LIQUID AND METHOD FOR TESTING INTEGRITY OF THE SAME例文帳に追加

低温液体用フィルターモジュールおよびその完全性試験方法 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 1 includes a high temperature side temperature regulating part 20 for supplying a testing chamber 10 with air regulated in temperature, and a low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加

試験装置1は、試験室10に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部20と、低温側温調部21とを備えている。 - 特許庁

The environment testing machine 1 is equipped with a high temperature side temperature regulating part 20 for supplying air adjusted in temperature to a testing chamber 10 and a low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加

試験装置1は、試験室10に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部20と、低温側温調部21とを備えている。 - 特許庁

例文

The testing device 1 is capable of carrying out in a sequentially repeated manner an operation in a high temperature exposing mode of supplying the testing chamber 10 with high-temperature air from the high temperature side temperature regulating part 20, and an operation in a low temperature exposing mode of supplying the testing chamber 10 with low-temperature air from the low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加

試験装置1は、高温側温調部20から高温の空気を試験室10に供給する高温晒しモードによる運転と、低温側温調部21から低温の空気を試験室10に供給する低温晒しモードによる運転とを順次繰り返し実施可能とされている。 - 特許庁

例文

The environment testing machine 1 can successively repeatedly execute operation in a high temperature exposing mode for supplying high temperature air to the testing chamber 10 from the high temperature side temperature regulating part 20 and operation in a low temperature exposing mode for supplying low temperature air to the testing chamber 10 from the low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加

試験装置1は、高温側温調部20から高温の空気を試験室10に供給する高温晒しモードによる運転と、低温側温調部21から低温の空気を試験室10に供給する低温晒しモードによる運転とを順次繰り返し実施可能とされている。 - 特許庁

The testing salt water in a testing-salt water tank, arranged inside a testing vessel, is brought into a low temperature or a high temperature by a refrigerator or a heater and is atomized.例文帳に追加

冷凍機及び加熱器によって試験槽内に配設した試験用塩溶液貯槽の試験用塩溶液を低温又は高温にして噴霧する。 - 特許庁

The device 1 sets a temperature change rate when changing the testing environment temperature between a low-temperature set temperature and a high-temperature set temperature, and changes the testing environment temperature as set.例文帳に追加

熱疲労評価装置1は、試験環境温度を低温設定温度と高温設定温度との間で変化させる際の温度変化率を設定し、この設定通りに試験環境温度を推移させることができる。 - 特許庁

This thermal shock testing device 1 has a high temperature testing vessel 2 and a low temperature testing vessel 3, and a rack 4 for mounting the sample is movable between the both.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置1は、高温試験槽2と低温試験槽3とを有し、両者の間を試料Wを載せたラック4が移動可能な構成とされている。 - 特許庁

To provide a connector insertion-pull out testing device enabled to perform an insertion-pull out test of a pair of connectors in the temperature ranging from low temperature to high temperature, having small size, at low cost.例文帳に追加

低温から高温の温度範囲で被試験コネクタ対の挿抜試験が実施可能な小型且つ安価なコネクタ挿抜試験装置を提供する。 - 特許庁

The aging testing device performs the high- and low-temperature tests on a plurality of magnetic disk devices by means of an external tester while performing uniform temperature control by forming high- and low- temperature environments through program control.例文帳に追加

プログラム制御にて高低温環境を作り、外付けしたテスタにて複数の磁気ディスク装置に均一な温度制御をしながら試験する装置。 - 特許庁

The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置1は、試験環境の切り替え時に送風機11,16を停止し、高温試験室2内および低温試験室3内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁

To provide a low-temperature engine testing apparatus capable of achieving the maintenance of the inner environment of a low-temperature test room and control of the wall deterioration at the same time.例文帳に追加

低温試験室の内部環境の維持と壁の劣化の抑制を同時に達成することができるエンジンの低温試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a low-temperature vehicle testing room, performing efficiently a performance test of a vehicle whose wheels are stopped in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境において車輪を停止させた状態にある車両の性能試験を効率的に行うことのできる低温車両試験室を提供する。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low-temperature testing device capable of having light irradiated from the lower surface of a sample stage to a sample.例文帳に追加

試料ステージの下面から試料に光を照射することができる低温試験装置を提供する。 - 特許庁

When switching an operation mode in the testing device 1, the air velocity of air introduced into the testing chamber 10 during a shift period until an atmosphere temperature in a testing part reaches a predetermined temperature is higher than the air velocity of air introduced into the testing chamber during a testing period until the high temperature exposing mode or the low temperature exposing mode is completed after reaching the predetermined temperature.例文帳に追加

試験装置1は、運転モードの切替に際して、試験部内の雰囲気温度が所定温度に到達するまでの移行期間において試験室10に対して導入される気体の風速が、所定温度に到達してから高温晒しモードあるいは低温晒しモードが完了するまでの試験期間において試験室に対して導入される気体の風速よりも高くなる。 - 特許庁

For the low-temperature engine testing apparatus 10, the inner environment of the low-temperature testing room 30 can be maintained and the deterioration of the wall 40 can be controlled by setting up the small chamber 74 between the low-temperature room 30 and the machine room 20 and controlling the pressure therein.例文帳に追加

エンジンの低温試験装置10では、低温試験室30と機械室20の間に小部屋74を設け、その内部の圧力を調整することによって、低温試験室30の内部環境を維持することができるとともに、壁40の劣化を抑制することができる。 - 特許庁

OIL MOISTURE CONTENT REMOVING DEVICE AND OIL MOISTURE CONTENT REMOVING METHOD IN LOW TEMPERATURE ENVIRONMENT TESTING DEVICE FOR INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置における油内水分除去装置及び油内水分除去方法 - 特許庁

To construct a system capable of performing from virus elimination at a low temperature to an integrity testing.例文帳に追加

本発明は、低温でウイルス除去から完全性試験まで行う事ができるシステムを構築する事である。 - 特許庁

To provide a thermostatic device for testing where a sample placement section is deflected less even if temperature is adjusted to an extremely low temperature or a high temperature by improving the thermostatic device for testing used for the performance test or the like of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハの性能試験等に使用される試験用恒温装置を改良し、極低温や高温に温度調節しても試料配置部の撓みが少ない試験用恒温装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.例文帳に追加

ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁

This cold thermal shock testing device 1 has a high-temperature testing laboratory 2 and a low temperature testing laboratory 3 The device can change the test environment in the cold thermal shock test by moving a rack 4, on which a sample is placed between both the laboratories.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置1は、高温試験室2と低温試験室3とを有し、両者の間を試料Wを載せたラック4が移動することにより、冷熱衝撃試験の試験環境を切り替え可能な構成とされている。 - 特許庁

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置1は、高温槽2と低温槽3を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁

To provide a testing method for easily securing the recording/reproduction quality of magnetic disk device in a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下における磁気ディスク装置の記録再生品質を簡易に確保することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and a type-switching method capable of shortening a type switching operation time of a device, in testing of the semiconductor device under a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下での半導体デバイスの試験における該デバイスの品種切替作業時間を短縮させることができる試験装置及び品種切替方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing light stability, which can easily carry out an exchanging work and a dimmer control for a light source and can effectively carry out a test under a high temperature and a low temperature conditions.例文帳に追加

光源の交換及び調光が容易で、高温及び低温の条件下での試験を効率的に実施することが可能な耐光性試験装置を提供する。 - 特許庁

A low-temperature tank 15 and a high-temperature vessel 16 are installed in parallel via an insulating layer 17 in a lower part of a device main body 14 of the liquid tank type thermal shock testing device 13.例文帳に追加

液槽式冷熱衝撃試験装置13の装置本体14の下方に低温槽15及び高温槽16が断熱層17を介して並列状態に設置されている。 - 特許庁

This low-temperature vehicle testing room 1 is equipped with a housing 2 into which an automobile M is driven, and an air conditioner 11 cooling the air in the housing 2.例文帳に追加

低温車両試験室1は、自動車Mを乗り入れ可能なハウジング2と、ハウジング2内の空気を冷却可能な空調機11とを備えている。 - 特許庁

To provide an air conditioner and an environment testing device of low power consumption capable of coping with a wide temperature range.例文帳に追加

本発明は、幅広い温度領域に対応することができ、且つ、消費電力の少ない空調装置及び環境試験装置を提供すること課題とする。 - 特許庁

To provide a substrate for testing electronic parts enabling the performance of a multitude of electronic parts at a high temperature to be tested at a low cost.例文帳に追加

低コストで多数の電子部品の高温条件下での性能を試験することを可能とする電子部品の試験用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁

A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加

真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料1が載置される試料ステージ2の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光10を照射するように構成した。 - 特許庁

To provide a method for testing and inspecting valve by which the performance changes of valves with temperature changes can be obtained by testing the valves under conditions close to the actual working conditions of the valves and which is suitable to, particularly, flow passages for low- temperature fluids requiring high accuracy.例文帳に追加

実際の使用状態に近い状態でバルブの試験を行なうことによって、温度変化によるバルブの性能の変化を得ることのできるバルブの試験方法であり、特に、高精度が要求される低温流体流路に好適なバルブの試験・検査方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce the occupying space of an aging testing device by improving the yield and packaging density of the device by upgrading the accuracy of high- and low-temperature tests performed on magnetic disk devices.例文帳に追加

磁気ディスク装置の高低温試験における試験精度改善による歩留まり向上及び実装密度向上によるエージング試験装置の省スペース化。 - 特許庁

The air of low temperature is press fed from an air supply device located outside of the testing laboratory to the hollow part 13 through the air inlet 14.例文帳に追加

そして、上記試験室外の空気供給装置から給気口14を介して中空部13へ低温空気が圧送されることにより車輌20が輻射冷却される。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device capable of testing a substrate for holding a contact shoe at high temperatures and at low temperatures with preventing an occurrence of a distortion and an expansion caused by the temperature.例文帳に追加

この発明は、接触子を保持する基板を温度による歪や膨張を発生させなくして高温や低温の試験を行える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

To regenerate fog under low-temperature conditions in a high mountain and fog under high-temperature conditions in the tropics to conduct an atomization test, by holding a water temperature of an atomized testing-salt water at an arbitrary temperature, to enhance reliability, and to cope with various tests, concurrently in a salt water atomization test device.例文帳に追加

塩水噴霧試験装置において、噴霧する試験用塩溶液の水温を任意の温度で保持し、高山における低温条件下での霧と熱帯における高温条件下での霧を再現させ噴霧試験を行い、同時に、信頼性向上、多様な試験への対応を図ること。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁

To enable temperature of cooling water inside a pipe fitting 6 connected to an inlet or an outlet of a radiator to be measured by equalizing a temperature distribution of the cooling water and to reduce a water flow resistance inside the pipe fitting 6 as low as possible in testing a cooling performance of the radiator.例文帳に追加

ラジエータの冷却性能試験において、ラジエータの出入口に接続される配管6内の冷却水の水温分布を均一にして水温を測定することができ、かつ、この配管6内の通水抵抗を極力低くする。 - 特許庁

The air of low temperature is press fed from an air supply device located outside of a testing laboratory to the hollow part 5 through the air inlet 6, whereby the cooling bag 2 is closely attached to a vehicle 15, and the vehicle 15 is cooled.例文帳に追加

そして、試験室外の空気供給装置から給気口6を介して中空部5へ低温空気が圧送されることにより、クーリングバッグ2が車輌15に密着し、車輌15が冷却される。 - 特許庁

Thus, the environmental test of the circuit board 20 is conducted by energizing the circuit board 20, using an energizing unit 9, while the temperature inside the testing chamber forming housing 25 is made to change in this manner by low dew-point air.例文帳に追加

このように低露点エアーによって試験室形成用ハウジング25内の温度を変化させながら回路基板20へ通電装置9を用いて通電することによって回路基板20の環境試験を行う。 - 特許庁

To provide an environmental testing device for suppressing surely supply of the outside air containing moisture into a closed space inside a closed space constitution part constituting a test tank, when starting a test from a low-temperature test.例文帳に追加

低温試験から試験を始める場合に試験槽を構成する閉空間構成部の内部の閉空間に湿気を含んだ外気が供給されるのを確実に抑制することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a bonding method for the production of a transparent material having thin thickness, producible at a low cost and exhibiting excellent adhesiveness, impact resistance, penetration resistance, temperature cycle testing resistance, transparency, anti-crime property, or the like.例文帳に追加

厚みが薄く、かつ安価で接着性、耐衝撃性、耐貫通性、耐温度サイクル性、透明性、防犯性等に優れる等の特徴をもつ透明材料を作製する際に用いられる接着方法を提供する。 - 特許庁




  
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