「module testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM, LOGIC MODULE, AND SEMICONDUCTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、論理モジュール、ならびに半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

This device is prepared for each testing module, and has a module memory unit which stores at least either diagnostic data or correction data, performs at least one of diagnosis and correction of the testing module, and stores the diagnostic data or correction data in the module memory unit.例文帳に追加

本装置は、試験モジュールごとに設けられ、診断データまたは校正データの少なくとも一方を格納するモジュール記憶部を設け、試験モジュールの診断または校正の少なくとも一方を行い、診断データまたは校正データをモジュール記憶部に格納することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a test method for testing a general-purpose memory incorporated in a multi-chip module without preparing a special circuit for the testing.例文帳に追加

本発明は、試験用の特別な回路を設けることなくマルチチップモジュール内蔵の汎用メモリを試験する試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

CONNECTION STRUCTURE OF HIGH-FREQUENCY DEVICE, HIGH- FREQUENCY MODULE USING THE SAME, AND TESTING METHOD OF HIGH-FREQUENCY DEVICE USING THE HIGH-FREQUENCY MODULE例文帳に追加

高周波デバイスの接続構造およびこれを用いた高周波モジュール並びにこの高周波モジュールを用いた高周波デバイスの検査方法 - 特許庁

On the assembly stand 201, there is provided a connector component for testing to be connected to the connector 7 of the module 1.例文帳に追加

組立台２０１には、モジュール１のコネクタ７と接続される検査用コネクタ部が設けられている。 - 特許庁

This testing does not rely on inputs from the software module being tested, and hence is an independent test.例文帳に追加

このテストは、テストされるソフトウェアモジュールからの入力に依存せず、それゆえに、独立したテストである。 - 特許庁

To provide a semiconductor test module capable of inexpensively testing a semiconductor device having an ADC circuit.例文帳に追加

ＡＤＣ回路を有した半導体装置を低コストで試験可能な、半導体試験モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a high frequency module for a stable inspection even if the height of the high frequency module varies.例文帳に追加

高周波用モジュールの高さがばらついた場合でも、安定した検査ができる高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a safety testing method for a hollow fiber membrane module of a hollow fiber membrane filter device.例文帳に追加

中空糸膜ろ過装置の中空糸膜モジュールの安全性試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of identifying a defective optical module, with normal passage of test signal being allowed.例文帳に追加

不良品の光モジュールの特定が可能で、試験信号の正常通過も可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of solving hybrid constraints concerning numeric values and character strings in testing of a software module.例文帳に追加

ソフトウェアモジュールの検査における、数値と文字列に関する混合された制約を解決する方法を提供する。 - 特許庁

A testing apparatus 2 is configured to test an electronic module 1 which is to be mounted in a vehicle, before mounting in the vehicle.例文帳に追加

検査装置２は、車両に搭載される電子モジュール１を車両に搭載する前に検査するものである。 - 特許庁

By utilizing a high-frequency module, using this connecting structure as a selection testing instrument of the device 1, improvement in device productivity and module assembling productivity, shortening of manufacture period by reducing testing processes, and improvement in efficiency of module development are carried out, and low cost manufacturing is realized.例文帳に追加

また、この接続構造を用いた高周波モジュールをデバイス１の選別試験用治具として用いることにより、デバイス歩留及びモジュール組立歩留の向上、検査工程の削減による工期短縮及びモジュール開発効率の向上が図られ、製造の低コスト化が実現する。 - 特許庁

To provide a means for inspecting a module (DUT) to be tested, removed from a scan path for a chip test of ASIC, using a simple mechanism without using a special testing module or the like.例文帳に追加

ＡＳＩＣのチップ・テストのために、スキャン・パスから外れたＤＵＴを、特別なテスト・モヂュールなど無しに、簡単な機構で検査していく手段を実現すること。 - 特許庁

To determine quality of interchip connection in semiconductor chips in a multi-chip module, by a simple test circuit and a simple testing method.例文帳に追加

マルチチップモジュールにおける半導体チップ間の接続の良否判定を簡易なテスト回路とテスト方法により行う。 - 特許庁

In an equivalent load testing circuit for testing a thyristor module 1, a capacitor is divided into capacitors 21, 22 in series, and a diode 91 is connected in parallel with the capacitor 22.例文帳に追加

サイリスタモジュール１の試験を行う等価負荷試験回路において、コンデンサが直列に２分割されてコンデンサ２１、２２とされ、コンデンサ２２にダイオード９１が並列接続されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a total testing period by carrying out a determination processing at a side of measurement module rather than conventionally at a side of control device.例文帳に追加

従来は制御装置側で行なっていた判定処理を計測モジュール側で行なえるようにして、トータルのテスト時間を短縮できるようにした半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of performing a test for evaluating pumping-out characteristics (resistance) of heat transfer grease used for accelerating heat radiation of a power module, or the like.例文帳に追加

パワーモジュール等の放熱促進用に用いられる伝熱グリースのポンピングアウト特性（耐性）を評価するための試験を実行可能な試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal pad structure of which ESD durability of a terminal part for testing a protection circuit module of a battery pack is improved.例文帳に追加

本発明は電池パック用保護回路モジュールのテスト用端子部分のＥＳＤ耐量の向上を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a scan test system for testing operations of a component module of an integrated circuit and the interconnection between their component modules.例文帳に追加

集積回路の成分モジュールと、それらの成分モジュール間の相互接続と、の動作をテストする走査テストシステムを提供する。 - 特許庁

In an embodiment, the data management method includes the steps of: testing for the presence/absence of the controller module 340 through a first data port using the processor 330; and testing for the presence/absence of the controller module 340 through a second port if the controller module 340 is not found through the first port.例文帳に追加

一実施形態において、データ管理方法は、プロセッサ３３０を用いて、第１のデータ・ポートを通じてコントローラ・モジュール３４０の有無をテストするステップと、第１のデータ・ポートを通じて、コントローラ・モジュール３４０が見つけられない場合には、第２のデータ・ポートを通じて、コントローラ・モジュール３４０の有無をテストするステップと、を含む。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an artificial satellite system testing device module that can shorten the time for movement and reduce the number of workers by easily moving a plurality of testing equipments and materials among a plurality of test sites.例文帳に追加

複数の試験機材を複数の試験実施場所間で容易に移動することができ、移動時間を短縮でき、作業人員を削減することができる人工衛星システム試験装置モジュールを得る。 - 特許庁

To provide a digital circuit capable of testing a particular digital circuit module in a short time with a simple and small scale structure.例文帳に追加

簡単かつ小規模な構成で、特定のデジタル回路モジュールのテストを短時間で行えるデジタル回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

The optical module 291 is replaceable with another optical module 292 to which a testing optical fiber 29a is connected through a built-in optical coupler 56a.例文帳に追加

また、この光モジュール２９１と、内蔵した光カプラ５６ａを介して試験用光ファイバ２９ａが接続されてなる別の光モジュール２９２とが入れ替え可能になっている光配線盤を提供する。 - 特許庁

Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加

テスト動作時にＴＩＮ端子から入力された回路モジュール２_4のテストデータがスキャンセル３_1,1 〜３_1,4 ，３_2,1 〜３_2,4 ，３_3,1 〜３_3,4 ，３_4,1 〜３_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a multichip module which is capable of testing semiconductor chips comprised in an integrated circuit package without increasing parts in number.例文帳に追加

集積回路パッケージを構成する半導体チップの単独テストを部品点数を増加させることなく可能としたマルチチップモジュールを提供する。 - 特許庁

The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.例文帳に追加

システムプロファイルは、１組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたＴＯＳとを含む。 - 特許庁

The chip test unit 2 has at least one chip test module 20 disposed adjacently to the rotation unit 1, and testing the mounted chip C.例文帳に追加

チップテストユニット２は、回転ユニット１に隣接するように配置され、実装チップＣをテストする少なくとも１つのチップテストモジュール２０を有する。 - 特許庁

The TEG 104 is a module capable of checking the concentration and depth of impurities, and is connected with the testing pad 105 via a switch 106.例文帳に追加

不純物測定ＴＥＧ１０４は不純物の濃度、深さを確認出来るモジュールであり、試験動作用パッド１０５とはスイッチ１０６を介して接続する。 - 特許庁

Since the power supply device thus configured can cope with various situations, it is suitable for use in the semiconductor testing device in which the numerous module substrates are selected and used.例文帳に追加

多様な状況に対応することができるので、多数のモジュール基板を選択して用いる半導体試験装置に用いて好適である。 - 特許庁

For more information on working with Composite Application projects, see The BPEL Module Project and Testing and Debugging BPEL Processessections of this guide. 例文帳に追加

複合アプリケーションプロジェクトでの作業に関するさらに詳しい情報については、このガイドの「BPEL モジュールプロジェクト」および「BPEL プロセスのデバッグ」を参照してください。 - NetBeans

For testing of the semiconductor module 1, probes 22 of the tester 30 are electrically connected to the internal electrodes 16 via through-holes 17.例文帳に追加

また、半導体モジュール１の検査の際には、スルーホール１７を通じて、検査装置３０のプローブ２２が内部電極１６と電気的に接続される。 - 特許庁

To provide a semiconductor module capable of testing with high accuracy the connecting state of an internal connection between semiconductor devices, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置間の内部結線の接続状態をより高精度に試験することが可能な半導体モジュールおよび半導体装置を提供すること。 - 特許庁

This invention relates to the communication testing device (1000) including a plurality of data communication module (40 and 50), wherein the data communication module perform data communication with a device to be tested in combination of the plurality of protocols.例文帳に追加

複数のデータ通信手段（４０，５０）を備える通信試験装置（１０００）であって、前記データ通信手段が複数の業務プロトコルの組み合わせで被試験装置とデータ通信を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To solve the problem that a large number of test man-hours are required for repeatedly compiling and loading each of test modules to a debugger in order to operate a plurality of module tests when a STAB program only for testing is assembled for testing the modules in a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラム内のモジュールテストを行うために、テスト専用のスタブプログラムを組込むのだが、複数のモジュールテストを実行するために、テストするモジュール毎にコンパイルしデバッガにロードを繰返すためテスト工数がかかる。 - 特許庁

To generate a testing data, irrespective of any of a synchronized input and output for an inspection-objective LSI and a nonsynchronized input and output therefor, in an LSI inspection module for generating the testing data for inspecting an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ検査のためのテスト用データを生成するＬＳＩ検査モジュールにおいて、検査対象ＬＳＩの入出力が同期入出力であるか、非同期入出力に係わらず、テスト用データを生成できるようにする。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

The apparatus includes: the second measurement module for testing the to-be-tested object, and outputting a code to a plurality of the signal lines in the trigger bus; and the third measurement module for testing the to-be-tested object, inputting the code from a plurality of the signal lines in the trigger bus, and implementing an operation corresponding to the code.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験すると共に、トリガバスの複数の信号線にコードを出力する第２計測モジュールと、被試験対象を試験すると共に、トリガバスの複数の信号線からコードを入力し、コードに対応した動作を行う第３計測モジュールとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A system testing apparatus is provided which, when a faulty module has turned into a conforming module as a result of adjustments, replacement or repair, can increase the accuracy of determining the priority of the next module to be adjusted, etc., by updating the assumed rate of failure of other modules.例文帳に追加

故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施すことで良モジュールとなった場合、その他のモジュールの故障推定率を更新することで、次に調整等を行うモジュールの優先順位決定の精度を高めることができるシステム試験装置を提供する。 - 特許庁

To miniaturize a testing device for an electronic part substrate suitable for testing the electronic part substrate while the electronic part substrate such as, for example, memory module is stored, provide a testing method therefor, and improve throughput of a test process.例文帳に追加

たとえばメモリモジュールなどの電子部品基板を収容した状態で、電子部品基板を試験するために適した電子部品基板の試験装置および試験方法であって、特に、装置の小型化と試験工程のスループットの向上とを図ることができる電子部品基板の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

This testing device has a gripping mechanism 120a, 120b for gripping freely detachably a testing tray 20 for holding a memory module, a moving body 110 for hanging and holding the gripping mechanism 120a, 120b, and a driving mechanism 144 for moving the moving body 110 in the state where the testing tray 20 is gripped by the gripping mechanism 120a, 120b.例文帳に追加

メモリモジュール１０を保持する試験用トレイ２０を着脱自在に把持する把持機構１２０ａ，１２０ｂと、把持機構を吊り下げ保持する移動体１１０と、把持機構により試験用トレイ２０を把持した状態で、移動体１１０を移動させる駆動機構１４４とを有する試験装置。 - 特許庁

To provide a test module used for verifying proper arrangement of a light-emitting device on an electronic assembly, by testing light color and light intensity on the light-emitting device.例文帳に追加

発光デバイス上で色及び光度試験を実施することにより、電子アセンブリ上の発光デバイスの適正な配置を検証するために用いられるテストモジュールを提供する。 - 特許庁