「module testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

This USB optical time-domain reflection test equipment comprises an optical time-domain reflection test module for testing an optical fiber, and a USB module which is connected to the optical time-domain reflection test module, provides power to the optical time-domain reflection test module from outside, performs control so that the optical time-domain reflection test module tests the optical fiber, and collects data.例文帳に追加

本発明のＵＳＢ光時間領域反射テスト装置は、光ファイバーをテストする光時間領域反射テストモジュールと、前記光時間領域反射テストモジュールと接続され、外部から前記光時間領域反射テストモジュールに電源を提供し、前記光時間領域反射テストモジュールが前記光ファイバーのテストを行うように制御し、また、データの収集を行うＵＳＢモジュールとを含む。 - 特許庁

To provide a solar battery module durability testing device for automatically testing mechanical strength and durability of solar battery modules and also the durability in an environment close to an actual usage state where the modules are attached onto a roof by using frame bodies and support metal fittings.例文帳に追加

太陽電池モジュールの機械的強度や耐久性、モジュールを枠体や支持金具を用いて屋根に取付けた実際の使用状態に近い環境での耐久性について自動的に試験できる太陽電池モジュールの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.例文帳に追加

メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁

To conduct various kinds of testing for characteristic of optical semiconductor in a state with the wavelength locked, in a wavelength locker module having a function to lock the wavelength and a wavelength variable laser module utilizing the wavelength locking function, by feedback of wavelength of an output light detected by a wavelength monitor and by conroling the temperature of the module.例文帳に追加

波長モニターにより検知した出力光の波長をフィードバックして温度制御をおこなうことにより波長をロックする機能を有する波長ロッカーモジュールや、この波長のロック機能を利用した波長可変レーザモジュールに対して、波長をロックした状態で光半導体としての各種特性の試験をおこなうこと。 - 特許庁

Such a system provides a lower cost, more improved testing/repairing performance and larger density than those of conventional modular packaging technologies, such as a printed circuit board (10) and a multi-chip module.例文帳に追加

このようなシステムは、プリント回路板（10）及びマルチチップモジュールのような従来のモジュラーパッケージング技術よりも低コストの改良されたテスト／修理性能、及び大きな密度を与える。 - 特許庁

To provide a method of testing and verifying total functionality in an actual application, by mounting a new software module depending on a newly established protocol version.例文帳に追加

新しく確立されたプロトコル・バージョンに依存する新しいソフトウェアモジュールを実装して、実際のアプリケーションで全体的な機能性を試験および検証する方法および装置を提供する。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for checking performance of a wireless data network in which the performance of the wireless data network can be grasped in real time without another performance checking apparatus by incorporating a file transport protocol (FTP) module and displaying a result of testing data transmission/reception through the incorporated FTP module.例文帳に追加

ＦＴＰ(File Transport Protocol)モジュールを内蔵し、該内蔵されたＦＴＰモジュールを通してのデータ送受信の試験結果をディスプレイすることにより、別途の性能点検装置なしでリアルタイムに無線データ網の性能を把握できる無線データ網の性能点検装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a pallet from rising up to the upper side of an installation plate and continuously transfer the pallet where a test tray or a customer tray is placed by improving the transfer method of the pallet in a module IC handler for testing a module IC.例文帳に追加

本発明は、モジュールＩＣをテストするモジュールＩＣハンドラーに関するもので、パレットの移送方法を改善して、設置板の上側にパレットが上昇しないようにして、なお、テストトレイ又はカストマトレイが載置されるパレットの移送が連続的に行われるようにしたものである。 - 特許庁

Namely, in a testing device 3, the sensor module 5 is fixed to a specimen fixing device 340 whose absolute axis is determined, so that the direction of the detection axis of the acceleration sensor 520 becomes the direction of the absolute axis.例文帳に追加

すなわち、試験装置３において、絶対軸が定められた被検体固定装置３４０に、加速度センサー５２０の検出軸の方向を絶対軸方向とするようにセンサーモジュール５が固定される。 - 特許庁

To provide a board-mounted component and a mounting method therefor which is applied, for example, to a wireless LAN module, design and manage easier than the conventional types and simplify testing facility.例文帳に追加

本発明は、基板実装部品及び基板実装部品の実装方法に関し、例えば無線ＬＡＮモジュールに適用して、従来に比して設計、管理が容易で、かつ検査設備を簡略化できるようにする。 - 特許庁

The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.例文帳に追加

この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも１つの線（３８、４０）および／または１つの端子と接続される、少なくとも１つの試験モジュール（３０）を有する。 - 特許庁

Namely, in a testing device 3, the sensor module 5 is fixed to a specimen fixing device 340 whose absolute axis is determined, so that the direction of the detection axis of the gyro sensor 520 becomes the direction of the absolute axis.例文帳に追加

すなわち、試験装置３において、絶対軸が定められた被検体固定装置３４０に、ジャイロセンサー５２０の検出軸の方向を絶対軸方向とするようにセンサーモジュール５が固定される。 - 特許庁

An on-board vehicle emissions testing system includes a flowmeter module adapted to be detachably connected to the exhaust pipe of a vehicle to provide for flow of exhaust gas therethrough.例文帳に追加

車両搭載型の排気物試験システムの中に、車両の当該排気管に対して取外し可能に接続されるように成した排気ガスの流れを規定する流量計モジュールを包含する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test module and its test method capable of testing a semiconductor device in a short time, while keeping reliability of the semiconductor device, without increasing the number of testers.例文帳に追加

テスタの台数を増加させることなくかつ半導体装置の信頼性を維持しつつ、短時間に半導体装置を試験する半導体装置試験モジュールおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

This module contains one or many color-sensitive photodiodes(40a, 40b, 40c) accurately measuring true colors and intensity emitted by the device, when it is exposed to a light coupled from an emitter under testing.例文帳に追加

該モジュールは、試験中のエミッタから結合された光に露呈された時、デバイスにより発出された真の色と強度とを正確に測定する１つ又は多数の色感知性フォトダイオード（４０ａ，４０ｂ，４０ｃ）を含んでいる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.例文帳に追加

電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device.例文帳に追加

取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。 - 特許庁

To previously shut off a circuit defect, to improve the workability during testing or repairing and to make a module connector of a PCB easily usable by improving a protective cover for liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の保護カバーを改善して、回路不良を予め遮断することは勿論、テスト時又は修理時の作業性を向上させると共に、ＰＣＢのモジュールコネクターが容易に使用できるようにすること。 - 特許庁

To provide an optical line testing and monitoring system capable of being applied to a communication system using a wavelength of a wide band by realizing the optical coupler module of small reflection, having the precipitous filter blocking characteristic.例文帳に追加

フィルタの遮断特性が急峻で且つ、反射の小さい光カプラモジュールを実現できることにより、広帯域な波長を用いた通信システムに適応可能な光線路試験監視システムを実現するにある。 - 特許庁

When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.例文帳に追加

チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁

An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加

検査時には、ＬＳＩ検査装置１３０が状態制御フラグ１２１の値を設定することによって、検査モジュール１００のインターフェース制御回路１０２が制御され、テスト用データの検査対象ＬＳＩへの出力、前記検査対象ＬＳＩから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁

To precisely adjust an optical axis in a short time by precisely aligning the surfaces of an optical device and a package in a testing machine for an optical module used for an optical communication field and its optical- axis adjusting method.例文帳に追加

光通信分野に利用される光モジュール用試験機及びその光軸調整方法に関し、光デバイスのパッケージと光ファイバブロックとの面合わせを精度良く行い、光軸調整を精密に且つ、短時間で行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a light-emitting component test module capable of testing a light-emitting component mounting a semiconductor light-emitting element in an environment at a temperature that is higher or lower than a normal temperature, without mounting the light-emitting component on a substrate or the like, and to provide a light-emitting component test apparatus.例文帳に追加

半導体発光素子を搭載した発光部品を、基板等に実装することなく、常温より高温または低温の環境下で試験することができる発光部品試験モジュールおよび発光部品試験装置を提供する。 - 特許庁

The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.例文帳に追加

このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁

To provide a smoke exposure testing module which enables the efficient and easy recovery of cells in an amount sufficient for performing highly precise observation with microscopes and various biological measurements without damaging the exposed cells.例文帳に追加

曝露された細胞に損傷を与えることなく、顕微鏡での高精度の観察、及び様々な生物学的測定を行うのに十分な量の細胞を効率的かつ容易に回収することができる煙曝露試験用モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a packaging method of an electronic component and a board module, by which lifting between insulating resin and the electronic component or a substrate is made less likely to be generated, even in reflow process or heat cycle testing process, short circuiting or erosion can be prevented, and reliability can be improved.例文帳に追加

リフロー工程やヒートサイクル試験工程においても絶縁樹脂と電子部品又は基板との間で剥離が生じにくく、短絡又は腐食が防止でき、信頼性を高めることができる電子部品実装方法及び基板モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.例文帳に追加

電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

The power portion and the control portion of the intelligent power module are stacked mutually in a lead frame configuration after a wire bonding and also stacked mutually in a semiconductor package configuration using a locking method after a molding, trimming/forming and an electrical characteristic testing.例文帳に追加

インテリジェントパワーモジュールパッケージの電力部とコントロール部とはワイヤボンディングが完了したリードフレーム形で互いにスタックしたり、モールディングを行ってトリミング／フォーミング及び電気的な特性検査を完了した状態の半導体パッケージ状にしてロックキング手段を利用して互いにスタックしたりする。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

The enlarged image by the objective lens of a dent (recess) 16 of an approximately square shape formed by pressing a indenter 3 of a Vickers hardness testing machine 1 to a sample 15 is formed on the image forming plane and the measuring lines 12 by the liquid crystal module 11 are aligned to opposite vertexes 16a and 16c of this image.例文帳に追加

ビッカース硬さ試験機１の圧子３を試料１５に押し付けることによって形成された略正方形の圧痕（窪み）１６の対物レンズによる拡大像を結像面に結像し、この像の対向する頂点１６ａ、１６ｃに、前記液晶モジュール１１による測定線１２を合わせる。 - 特許庁

A device 10A for testing a semiconductor element includes an upper guide plate 20A, having a plurality of upper guide holes 22A; a lower guide plate 30A having a plurality of lower guide holes 32A; a plurality of vertical probe 40A, provided in the upper guide holes 22A and the lower guide holes 32A; and a temperature regulation module 50.例文帳に追加

半導体素子の試験装置１０Ａであって、複数の上部ガイド孔２２Ａを有する上部ガイド板２０Ａと、複数の下部ガイド孔３２Ａを有する下部ガイド板３０Ａと、上部ガイド孔２２Ａおよび下部ガイド孔３２Ａ内に設けられている複数本のバーチカル型探針４０Ａと、温度調整モジュール５０とを備えている。 - 特許庁

In systems and methods for performing design verification testing, test cases are analyzed to determine the characteristics that will be verified in a module under test, and the identified characteristics are used to selectively enable checker modules 340 needed to verify the characteristics implicated by the test cases while other checker modules are disabled.例文帳に追加

テストケースが分析されて検査対象のモジュール内で検証されるであろう特性を決定し、特定された特性が用いられてテストケースによって実行される特性を検証するのに必要なチェッカーモジュール３４０を選択的に有効にし、他のチェッカーモジュールを無効にする、設計検証検査を実行するためのシステムおよび方法。 - 特許庁

To solve the problem of a conventional system testing apparatus wherein, when a faulty module has been adjusted, replaced or repaired to remove a fault, the fact that the fault has been removed is not taken into account at all, resulting in low accuracy with which priority is determined next time and a difference with the priority with which faults must be actually dealt with.例文帳に追加

従来のシステム試験装置においては、故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施し故障が解消した場合、その故障が解消したことに対して何ら考慮されないため、次に優先順位を決定する場合の精度が低くなり、実際に対処しなければならない優先順位とでは相違が発生する。 - 特許庁

The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.例文帳に追加

ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁