「optical defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technology which discriminates a defect on an optical disk from disturbance applied to an optical disk device, detects only defects, and stably controls the position of a light spot when the optical spot passes through the defect.例文帳に追加

光ディスク上の欠陥と、光ディスク装置に加えられた外乱とを区別し欠陥のみを検出し、光スポットが欠陥通過時に安定な光スポットの位置制御が可能となる技術を提供する。 - 特許庁

To allow one optical sheet which has no defect to be reused even when an optical member integrally constituted of two optical sheets has a defect.例文帳に追加

２つの光学シートが一体化されて構成された光学部材が欠陥を有する場合であっても、欠陥を有していない一方の光学シートを再利用できるようにすること。 - 特許庁

To provide an optical device defect inspection method and an optical device defect inspecting apparatus which is not affected by the difference in curvature or the position of an optical device, and which is high-speed and is low cost.例文帳に追加

曲率の違いや光学デバイスの位置に影響されない高速かつ安価な光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

MASK CORRECTION OPTICAL SYSTEM FOR PHASE DEFECT CORRECTION, MASK CORRECTION DEVICE FOR PHASE DEFECT CORRECTION, AND LASER CVD MASK CORRECTION DEVICE FOR PHASE DEFECT CORRECTION例文帳に追加

位相欠陥修正用マスク修正光学系，位相欠陥修正用マスク修正装置，及び位相欠陥修正用レーザＣＶＤマスク修正装置 - 特許庁

Since adjustment of an optical system or fine correction by signal processing becomes possible, positional accuracy of defect inspection and accuracy of defect level (defect size) can be improved.例文帳に追加

本発明により、光学系の調整や信号処理による微細な補正が可能になるため、欠陥検出の位置精度および欠陥強度（欠陥寸法）の精度を向上させることができる。 - 特許庁

When the defect of the track such as the scratch is formed in the optical disk 10, the defect is detected with a defect detecting part 16a in an RF amplifier 16, and a detection signal is supplied to a servo signal processing part 18.例文帳に追加

光ディスク１０に傷などのトラック欠陥が生じた場合、ＲＦアンプ１６内のディフェクト検出部１６ａで検出し、検出信号をサーボ信号処理部１８に供給する。 - 特許庁

The wiring board is manufactured through a wiring part forming stage, an optical inspection stage of detecting a defective wiring part where a defect occurs, and a defect correcting stage of correcting the defect of the defective wiring and in the defect correcting stage, a defect correction procedure previously stored in a database is read out selectively corresponding to the position relation between the defect and a finite number of regions constituting a wiring.例文帳に追加

配線基板の製造を、配線部形成工程と、欠陥が生じた欠陥配線部を検出する光学検査工程と、欠陥配線部の欠陥の修正を行う欠陥修正工程とによって行い、欠陥修正工程において、予めデータベースに蓄積された欠陥修正手順を、欠陥と、配線部を構成する有限数の領域との位置関係に対応して選択的に読み出して前記修正を行う。 - 特許庁

defect in an optical system in which light rays from a single point fail to converge in a single focal point 例文帳に追加

1点から発した光線を1つの焦点に集めることのできない、光学システムの欠陥 - 日本語WordNet

DEFECT SIGNAL GENERATION CIRCUIT AND OPTICAL DISK REPRODUCING APPARATUS HAVING SAME CIRCUIT例文帳に追加

ディフェクト信号生成回路及び同回路を有する光ディスク再生装置 - 特許庁

HIGHLY SENSITIVE OPTICAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECT ON DIFFRACTION SURFACE例文帳に追加

回折面上の欠陥を検出するための高感度光学検査システムおよび方法 - 特許庁

To fablicate an optical waveguide superior in light transmittance by forming a core free from defect or distortion.例文帳に追加

欠陥や歪みのないコアを形成して、光透過率の良好な光導波路を作製する。 - 特許庁

DEFECT SIGNAL GENERATING CIRCUIT AND OPTICAL DISK RECORDING AND REPRODUCING DEVICE HAVING THE SAME例文帳に追加

ディフェクト信号生成回路及び同回路を有する光ディスク記録再生装置 - 特許庁

To precisely detect a defect by bubble in a plastic optical fiber (POF) element wire.例文帳に追加

プラスチック光ファイバ（ＰＯＦ）素線内の気泡による欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF DISC SUBSTRATE, APPARATUS FOR THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR OPTICAL DISC例文帳に追加

円盤状基板の欠陥検出方法、その装置及び光ディスク用基板の製造方法 - 特許庁

CIRCUIT AND METHOD FOR DETECTING DISK DEFECT, AND OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加

ディスク欠陥検出回路、ディスク欠陥検出方法及び光ディスク装置 - 特許庁

To inspect the defect of a scanning optical system in the single state before integration into a device.例文帳に追加

走査光学系の欠陥を、装置に組み込む前の単体の状態で検査することを可能にする。 - 特許庁

To easily and securely inspect whether or not a scanning optical unit has a defect of beam energy characteristics.例文帳に追加

走査光学ユニットにおけるビームエネルギー特性の欠陥の有無を簡易かつ確実に検査する。 - 特許庁

To perform reproduction while suppressing deterioration of quality when a defect exists in an optical disk.例文帳に追加

光ディスクにディフェクトがあった場合に、品質の劣化を抑えて再生する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD AND APPARATUS OF DEFECT IN MAGNETIC HEAD BY OPTICAL SYSTEM MEASUREMENT IMAGE例文帳に追加

光学系測定画像による磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

To prevent deviation of specification relating to optical characteristics of a mask blank and to prevent a pattern defect in a transfer material.例文帳に追加

マスクブランクの光学特性に係る仕様の逸脱や、被転写体のパターン欠陥を防止する。 - 特許庁

DEFECT HEIGHT DETECTING DEVICE FOR OPTICAL DISK AND ITS PROTECTION SURFACE QUALITY DECIDING DEVICE例文帳に追加

光ディスクの欠陥高さ検出装置及びその保護面良否判別装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION OPTICAL SYSTEM, AND EFFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE USING IT例文帳に追加

欠陥検出光学系、これを用いる欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING FILM SURFACE DEFECT AND METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL FILM例文帳に追加

フィルム表面欠陥検査装置、フィルム表面欠陥検査方法及び光学フィルムの製造方法 - 特許庁

To provide a method for manufacturing optical film capable of quickly manufacturing a liquid crystal compound layer of hybrid alignment which hardly causes schlieren defect.例文帳に追加

シュリーレン欠陥の少ないハイブリッド配向の液晶化合物層を、迅速に製造する。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

To enable to reproduce data even if a defect such as a scratch and dirt exist in an optical disk device.例文帳に追加

光ディスク装置において、傷や汚れ等の欠陥があってもデータを再生可能とする。 - 特許庁

To provide an optical member for a backlight that is free from flexure causing a video defect.例文帳に追加

映像不良の原因となるたわみを発生させることのないバックライト用光学部材を提供する。 - 特許庁

To simultaneously measure a transmission wavefront and a defect of an optical element.例文帳に追加

光学素子の透過波面の測定と欠陥の測定とを同時に行えるようにする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT SIGNAL DETECTION FOR OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

光記録／再生装置の欠陥信号検出装置及びその欠陥信号検出方法 - 特許庁

The location of the defect 3 is detected, by observing the luminescent spot from the surface of the optical film 2.例文帳に追加

これを、光学フィルム２の表面から観察することにより欠点３の位置を検出する。 - 特許庁

On the occurrence of a defect in a hermetic structure section, the damage of the nonlinear optical crystal can be prevented.例文帳に追加

密封構造部に欠陥が生じた場合に、非線形光学結晶の損傷を防止することができる。 - 特許庁

ADDRESS TRANSLATION METHOD, DEFECT DISPLAY DEVICE, OPTICAL DISK DEVICE, AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

アドレス変換方法、欠陥表示装置、光ディスク装置および集積回路 - 特許庁

A defect of the optical card is detected by a CPU based on signals binarized.例文帳に追加

次に二値化処理された信号に基づいてＣＰＵにより光カードの欠陥検出が行なわれる。 - 特許庁

The optical recording medium has: a lead-in area; a data region; a lead-out area; a temporary defect management region for storing temporary defect information and a temporary disk definition structure for managing the temporary defect information; and a defect management region for storing the final temporary defect information and the final temporary disk definition structure when finalizing the optical recording medium.例文帳に追加

光記録媒体はリードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域と、臨時欠陥情報と前記臨時欠陥情報を管理する臨時ディスク定義構造とを格納する臨時欠陥管理領域と、光記録媒体の最終化の時に最終の臨時欠陥情報と最終の臨時ディスク定義構造とを格納する欠陥管理領域とを有する。 - 特許庁

To obtain a defective image even when a defect is present under an optically transparent film, in the case where the defect is observed by using an SEM based on defect position data outputted from a defect inspection device by an optical means.例文帳に追加

光学的手段による欠陥検査装置により出力された欠陥位置データに基づいてＳＥＭを用いて該欠陥を観察する場合において、該欠陥が光学的に透明な膜の下に存在する場合でも、欠陥画像の取得を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a photomask correction optical system for phase defect correction with which high-accuracy defect correction can be achieved by correcting while observing and measuring the degree of a defect on correcting a phase shift photomask having a phase defect, and to provide a correction device using the system.例文帳に追加

位相欠陥を持つ位相シフトフォトマスクの修正にあたり、欠陥の度合いを観察、測定しながら行うことにより高精度の欠陥修正を達成できる位相欠陥修正用フォトマスク修正光学系とそれを用いた修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member inspecting method in which not only the quality point rating is performed with high accuracy to the defect factors classified in specified shapes or the defect factors located in specified areas, but also representing quality point rating to the defect factors of intermediate shapes and the defect factors located in intermediate areas.例文帳に追加

特定形状に分類される不良要因や、特定エリアに位置する不良要因に対する高精度な品質点数化を行うだけでなく、中間形状の不良要因や中間エリアに位置する不良要因にも対応した品質点数化を行う光学部材検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

This makes it possible to adjust the criteria of the defect inspection performed by the defect inspection device 14, 24 in accordance with the criteria of defect inspection to be performed by the inspection device 30 later, so that the defect inspection can be more preferably performed and the yield of the optical films can be improved.例文帳に追加

これにより、後に検査装置３０により行われる欠点検査の基準に合わせて、欠点検査装置１４，２４により行われる欠点検査の基準を調整することができるので、欠点検査をより好適に行うことができ、光学フィルムの歩留りを向上することができる。 - 特許庁

To provide a method of marking the defect of an optical film in which a position of the defect is easily specified by marking the defect of the optical film and even if the marking is erroneous recognition, the marking itself does not cause defect and it is prevented that the marked optical film has adverse effect upon a final product.例文帳に追加

光学フィルムの欠陥をマークするマーキングによって、欠陥の位置を容易に特定することができるとともに、そのマーキング自体が誤認であった場合においても、そのマーキング自体が欠陥とならず、マーキングされた光学フィルムが最終製品の品質に悪影響を及ぼすことを回避することができる光学フィルムの欠陥マーキング方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical member, a backlight unit and a display device, capable of observing visually a defect observable visually through a liquid crystal panel when a backlight turned on, clearly by the optical member only, and capable of evading the defect from flowing into a following process, even when the defect affecting image quality is generated.例文帳に追加

バックライト点灯時に液晶パネルを通して目視可能な欠陥を、光学部材単独で明確に目視でき、画像品位に影響を及ぼす欠陥が発生してしまった場合にも、後工程に欠陥が流出することを回避できる光学部材、バックライトユニット及びディスプレイ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk recording system, a recording method and a recording medium which are reused in a file system having no defect control functions, by physically avoiding a defective part even when the defect is present in an optical disk used in a file system having a defect control function.例文帳に追加

欠陥管理機能を有するファイルシステムで使用されていた光ディスクに欠陥部分が存在しても、物理的に欠陥部分となった部分を回避するようにして、欠陥管理機能を有さないファイルシステムで再使用できる光ディスク記録システム、記録方法及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device easily restarting control before defect can not be corrected even if hardly detectable defect exists, and to provide an optical disk playback method.例文帳に追加

検出困難なディフェクトが存在しても、訂正不能となる前に容易に制御を再開することができる光ディスク装置および光ディスク再生方法を提供する。 - 特許庁

Since the refractive index of the transparent film 30 is larger than 1, the degree of optical ruggedness (optical distance d_opt) is larger than the degree of geometric ruggedness (d) of a defect 20, and this results in higher defect detection sensitivity.例文帳に追加

透明膜３０の屈折率は１よりも大きいから、光学的凹凸の程度（光学距離：ｄ_opt）は欠陥２０の幾何学的な凹凸の程度（ｄ）よりも大きくなり、その分だけ欠陥検出感度が高くなる。 - 特許庁