| 例文 |
p bufferの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 349件
The p-type well layer 4 and the n-type buffer layer 7 have overlapped diffusion regions and the end part of the n-type buffer layer 7 reaches a position under a gate electrode 10.例文帳に追加
p型ウエル層4及びn型バッファ層7は互いの拡散領域が重なり、且つn型バッファ層7の端部はゲート電極10の下方の位置に到達する。 - 特許庁
An n-GaAs buffer layer 2 is provided on an n-GaAs substrate 1 provided with a bottom face electrode 8, a light emitting part consisting of an n-clad layer 3, an active layer 4 and a p-clad layer 5 is formed on the buffer layer 2, and a p-contact layer 6 is formed on the p-clad layer 5.例文帳に追加
底面電極8が設けられたn−GaAs基板1上には、n−GaAsバッファ層2が設けられ、このバッファ層2には、nクラッド層3、活性層4、pクラッド層5よりなる発光部が形成され、pクラッド層5上にpコンタクト層6が形成される。 - 特許庁
This semiconductor laser 10 has a double-heterojunction multiplayer structure of a 1st buffer layer 14, a 2nd buffer layer 16, an n-type clad layer 18, an active layer/guide layer 20, a p-type clad layer 22, and a p-type cap layer 24 on a substrate 12.例文帳に追加
本半導体レーザ素子10は、基板12上に、第1バッファ層14、第2バッファ層16、n型クラッド層18、活性層/ガイド層20、p型クラッド層22、及びp型キャップ層24のダブルヘテロ接合積層構造を備える。 - 特許庁
The monitor 22 or 12 for the number of cell accumulation determining that the own system is the non-active system begins reading the cell from the buffer 21 or 11, and releases the system switching inhibit signal IR when detecting that the number of cell accumulation of the buffer 21 or 11 in the own system reaches the reading threshold value p.例文帳に追加
また、自系を非運用系と判断したセル蓄積数監視部22,12は、自系のバッファ21,11のセル蓄積数が読出閾値pに達したことを検出したとき、バッファ21,11からセルを読出開始させ、系切替禁止信号IRを解除する。 - 特許庁
Next, a P^+-drain layer 1 is formed on the rear surface of the N^+-buffer layer 2 by means of the ion implantation and irradiation of a second laser light beam.例文帳に追加
次に、N^+バッファ層2の裏面にイオン注入と第2のレーザ照射によりP^+ドレイン層1を形成する。 - 特許庁
An n^+ buffer layer 21 and a p^+ collector layer 17 are formed on the lower side of the substrate 11.例文帳に追加
そして、n- 型半導体基板11の下部側には、n+ 型バッファ層21およびp+ 型コレクタ層17を形成する。 - 特許庁
An n-side electrode 8 is formed on the buffer layer 4, and a p-side electrode 9 is formed on the diffusion area 7.例文帳に追加
バッファ層4の上にはn側電極8、拡散領域7の上にはp側電極9が形成されている。 - 特許庁
A p-type buffer layer 12, a p-type semiconductor layer 14, an n-type semiconductor layer 16, a p-type semiconductor layer 18, an n-type semiconductor layer 20, and an n-type semiconductor layer 30 serving as a light absorbing layer are successively laminated on a p-type substrate 10 to form a pnpn structure.例文帳に追加
p形基板10上に、p形バッファ層12,p形半導体層14,n形半導体層16,p形半導体層18,n形半導体層20、光吸収層であるn形半導体層を順次積層し、pnpn構造を作る。 - 特許庁
The differential input buffer 2 consists of an internal differential input buffer 122, that receives a differential signal (strobe P signal 26 and strobe N signal 27), an internal differential input buffer 224, that receives the strobe P signal 26 and an external reference voltage-use power supply 23, and the phase comparator 21 that receives output signals from the internal differential input buffer 122 and the internal differential input buffer 224.例文帳に追加
差動入力バッファ2は、差動信号(ストローブP信号26、ストローブN信号27)を入力とした内部差動入力バッファ122と、ストローブP信号26と外部参照電圧用電源23を入力とした内部差動入力バッファ224と、内部差動入力バッファ122と内部差動入力バッファ224の出力信号を入力とした、位相比較器21から構成される。 - 特許庁
A barrier region 13 is disposed in an area below the gate region 17 in a boundary region of the channel layer 12 and the buffer layer 11, and contains p-type impurities at a higher concentration than the concentration of the p-type impurities in the buffer layer 11.例文帳に追加
バリア領域13は、チャネル層12とバッファ層11との境界領域において、ゲート領域17の下に位置する領域に配置され、バッファ層11におけるp型不純物の濃度より高い濃度のp型不純物を含む。 - 特許庁
An input and output buffer control circuit 9 controls an external output controls in a usual mode so that the external output can be output if an identifying signal P for a fetch instruction is not active as well as the external output can not be output to an address buffer 11 and an input/output data buffer 12 if the identifying signal P for the fetch instruction is active.例文帳に追加
通常のモードでは、入出力バツファ制御回路9は、命令フェッチ認識信号Pがアクティブな時アドレス出力バツファ11およびデータ入出力バツファ12に対し外部出力をしないように、また命令フェッチ認識信号Pがアクティブでないときは出力できるように制御する。 - 特許庁
To suppress the skew of a paper P due to the formation of a loop, and to prevent the paper P from oblique motion, in an image forming apparatus A constituted so that the loop formed at a part of the paper P is made to function as a post-exposure buffer.例文帳に追加
ペーパーPの一部にループを形成して、露光後バッファとして機能させるようにした画像形成装置Aにおいて、そのループの形成に起因するペーパーPの傾きを抑制し、ペーパーPの斜行を防止する。 - 特許庁
In a composition of the buffer layer 12, a region (substrate connection region 121) where the value of p is set to 0 (p=0) (GaN) is formed on the lower end side, and a region (active layer connection region 122) where the value of p is also set to 0 (p=0) (GaN) is formed on the upper end side (electron transit layer 13 side).例文帳に追加
この緩衝層12の組成においては、下端側においてp=0(GaN)となった領域(基板接続領域121)が、上端側(電子走行層13側)においてもp=0(GaN)となった領域(能動層接続領域122)が、それぞれ設けられている。 - 特許庁
A semiconductor laser element 100 comprises a low temperature buffer layer 2, an n-GaN layer 3, an n-clad layer 4, an n-optical guide layer 5, an n-MQW light emitting layer 6, a p-AlGaN layer 7, a p-optical guide layer 8, a p-clad layer 9 and a p-contact layer 10 formed sequentially on a sapphire substrate 1.例文帳に追加
半導体レーザ素子100は、サファイア基板1上に、低温バッファ層2、n−GaN層3、n−クラッド層4、n−光ガイド層5、n−MQW発光層6、p−AlGaN層7、p−光ガイド層8、p−クラッド層9およびp−コンタクト層10を順に形成してなる。 - 特許庁
A buffer layer 22, an n-type clad layer 23, an MQW layer 24, a p-type clad layer 25, an intermediate layer 26, and a part of a p-type contact layer 27 are grown on a substrate 21 using an MBE method.例文帳に追加
基板21上にバッファ層22,n型クラッド層23,MQW層24,p型クラッド層25,中間層26,p型コンタクト層27の一部をMBE法で成長する。 - 特許庁
An n-type buffer layer, an n-type clad layer, an active layer 38, a p-type clad layer and a p-type cap layer are sequentially laminated on an n-type substrate, and an (n) electrodes 44 is provided on a lower surface of the substrate.例文帳に追加
n型基板上に、n型バッファ層、n型クラッド層、活性層38、p型クラッド層、及びp型キャップ層を順次積層し、基板の下面にn電極44を設ける。 - 特許庁
The basic buffer circuit 14 contains a P well 21, an N well 22, an Nch transistor MN1 fitted in the P well 21 and a Pch transistor MP1 fitted in the N well 22.例文帳に追加
基本バッファ回路14は、Pウェル21と、Nウェル22と、Pウェル21の中に設けられたNchトランジスタMN1と、Nウェル22の中に設けられたPchトランジスタMP1と、を含む。 - 特許庁
Then, the first processing means 31 performs loopback of the packet P to the j-th input port through a loopback circuit 2 and stores the packet P in an input buffer 12-j for loopback.例文帳に追加
その後、第1の処理手段31は、上記パケットPをループバック回路2を介して第j番目の入力ポートにループバックし、ループバック用入力バッファ12−jに蓄積する。 - 特許庁
On the reverse side of the semiconductor substrate 11, an (n) type buffer layer 19, a (p) type anode layer 20, and an anode electrode 21 are provided.例文帳に追加
半導体基板11の裏面側にn型バッファ層19、p型アノード層20およびアノード電極21を設ける。 - 特許庁
The output buffer 300 includes a potential compensation circuit 320 between the p-type transistor 303 and an output node 309.例文帳に追加
この出力バッファ300は、p型トランジスタ303と出力ノード309との間に電位補償回路320を備える。 - 特許庁
In a radio interface card 10A, a radio module 1 receives a packet P from an external network and stores the packet to a packet buffer 1a.例文帳に追加
無線インタフェースカード10Aでは、無線モジュール1が外部ネットワークからパケットPを受信し、パケットバッファ1aへ蓄積する。 - 特許庁
The input and output sides of the buffer circuit 11 are connected to the n-type diffusion layer 2 and the p-type diffusion layer 3, respectively.例文帳に追加
バッファ回路11の入力側がn型拡散層2に接続され、出力側がp型拡散層3に接続されている。 - 特許庁
An ATM function section 22 includes a transmission path termination function section 21; an S/P conversion section 35 for performing serial communication; a cell buffer 37 wherein an ATM switch stores an ATM cell; and a cell monitor section 38 for monitoring the ATM cell in the cell buffer to output a 'buffer ENP' signal when no ATM cell is resident in the cell buffer.例文帳に追加
ATM機能部22は、伝送路終端機能部21とシリアル通信を行うS/P変換部35と、ATMスイッチがATMセルを格納するセルバッファと37、セルバッファ内のATMセルを監視しATMセルの滞留がない場合に「バッファENP」信号を出力するセル監視部38を含む。 - 特許庁
A first N-channel MOS (metal oxide semiconductor) transistor 20 of a first buffer circuit and a second P-channel MOS transistor 41 of a second buffer circuit are added to an output circuit provided with a first control circuit 50, a level conversion circuit 11, the first buffer circuit 20, the second buffer circuit 40, and an over-voltage protection circuit 70.例文帳に追加
第1の制御回路部50と,レベル変換回路11と,第1のバッファ回路20,第2のバッファ回路40,過電圧保護回路70とを備えた出力回路において,第1のバッファ回路の第1のNチャネル型MOSトランジスタ22,および第2のバッファ回路の第2のPチャネル型MOSトランジスタ41を付加した。 - 特許庁
A first buffer layer 12, a second buffer layer 14, an SLS layer 16, an MQW light emitting layer 18, an SLS layer 20, an electrode forming layer 22, a p-type electrode 24, and an n-type electrode 26 are formed on a substrate 10.例文帳に追加
基板10上に第1バッファ層12、第2バッファ層14、SLS層16、MQW発光層18、SLS層20、電極形成層22、p電極24、n電極26を形成する。 - 特許庁
This power supply consists of an N buffer 22, a P buffer 23, a comparator 24, a variable resistance control circuit 25, voltage-dividing resistors R1 to R4, variable resistors r1 to r3 and a resistor Rr.例文帳に追加
電源装置は、Nバッファ22と、Pバッファ23と、コンパレータ24と、可変抵抗制御回路25と、分圧抵抗R1〜R4と、可変抵抗r1〜r3と、抵抗Rrと、から構成されている。 - 特許庁
Subsequently, a buffer layer 11 composed of AlN is formed on the sapphire substrate 10, and then a buried layer 12, an n-type layer 13, a light-emitting layer 14, and a p-type layer 15 are sequentially stacked on the buffer layer 11.例文帳に追加
次に、サファイア基板10上に、AlNからなるバッファ層11を形成し、バッファ層11上に、埋め込み層12、n型層13、発光層14、p型層15を順に積層する。 - 特許庁
In the collector forming part 11, there are formed an N-type buffer region 4 reaching the embedded oxide film 2 from the surface and a P-type collector region 5 formed on the surface of the N-type buffer region 4.例文帳に追加
当該コレクタ形成部11に、表面から埋め込み酸化膜2に達するN型バッファ領域4と、N型バッファ領域4の表面部に形成されたP型コレクタ領域5とが形成される。 - 特許庁
The distance from the position at which the net doping concentration of the N^+ first buffer layer 2 is maximum to the interface between the P^+ collector layer 3 and the second buffer layer 12 is determined to be 5 μm or more to 30 μm or less.例文帳に追加
また、N^+第1バッファ層2のネットドーピング濃度が極大の位置から、P^+コレクタ層3と第2バッファ層12との界面までの距離を、5μm以上30μm以下となるようにする。 - 特許庁
Read- data detected by the sense amplifier S/A.0, that is, a result of verify-read is transferred to a page buffer P/B of a selected column.例文帳に追加
センスアンプS/A・0により検出されたリードデータ、即ち、ベリファイリード結果は、選択されたカラムのページバッファP/Bに転送される。 - 特許庁
A mixed water supply passage (served also as a raw water supply passage) 12 between the buffer tank BT and a reverse osmosis membrane RO is fitted with a pump P.例文帳に追加
バッファタンクBTと逆浸透膜ROとの間の混合水供給路(兼原水供給路)12にポンプPを設ける。 - 特許庁
The noninverting buffer has an N-channel MOS transistor(TR) and a P-channel MOS TR, and source of the TRs are connected in common.例文帳に追加
同相バッファは、NチャネルMOSトランジスタとPチャネルMOSトランジスタとを有し、相互のトランジスタのソースが共通に接続されている。 - 特許庁
In particular, the operational amplifier 82-4 is composed of a push-pull type operational amplifier having a PMOS (p-type MOS transistor) buffer and is provided with a hysteresis comparator 90.例文帳に追加
特に、オペアンプ82−4を、PMOSバッファを有するプッシュプル型のオペアンプで構成すると共に、ヒステリシス・コンパレータ90を設けている。 - 特許庁
The pixel circuit P comprises a control circuit CTL, a latch circuit 70, a buffer circuit 80, a supply circuit 90, and an OLED element 100.例文帳に追加
画素回路Pは、制御回路CTL、ラッチ回路70、バッファ回路80、供給回路90、及びOLED素子100を備える。 - 特許庁
After forming an n-type buffer layer 7, a surface of the n-type buffer layer 7 is covered with a protecting film 8, then flaws 6, which are generated in forming the n-type buffer layer 7, are removed by a mirror polishing, and a p-type base region and an n-type emitter region are formed on the surface.例文帳に追加
n型バッファ層7を形成した後で、このn型バッファ層7の表面を保護膜8で被覆し、n型バッファ層7を形成したたきに付いたキズ6を鏡面研磨で除去し、その面に、p型ベース領域やn型エミッタ領域を形成する。 - 特許庁
A p-type InP buffer layer 2, an active layer 3, and an n-type InP clad layer 4 formed on a p-type InP substrate 1 are processed through a first dry etching process for the formation of a ridge 6.例文帳に追加
p型InP基板1の上に形成された、p型InPバッファ層2、活性層3およびn型InPクラッド層4を第1のドライエッチングにより加工して、リッジ部6を形成する。 - 特許庁
Moreover, the active layer 3 includes a P-type base region 6 which is formed away from the N-type buffer region 4 and an N-type emitter region 7 formed on the surface of the P-type base region 6.例文帳に追加
また、活性層3は、N型バッファ領域4から離間して形成されたP型ベース領域6と、P型ベース領域6の表面部に形成されたN型エミッタ領域7を備える。 - 特許庁
A p-type emitter region 12 is formed on the undersurface of the n+ type buffer region 13, and a collector electrode 11 is formed to be electrically connected to the undersurface of the p-type emitter region 12.例文帳に追加
また、n+型バッファ領域13の下面にはp型エミッタ領域12が設けられ、p型エミッタ領域12の下面に電気的に接続するようにコレクタ電極11が設けられている。 - 特許庁
An AlN buffer layer 102, an undoped GaN layer 103, an undoped AlGaN layer 104, a p-type control layer 105, and a p-type contact layer 106 are sequentially formed on a sapphire substrate 101 in this order.例文帳に追加
サファイア基板101上にAlNバッファ層102、アンドープGaN層103、アンドープAlGaN層104、p型コントロール層105、p型コンタクト層106がこの順に形成されている。 - 特許庁
An input buffer circuit 21 includes a differential circuit consisting of P channel MOS transistors 211-213, N channel MOS transistors 214, 215, and a threshold value changing circuit consisting of P channel MOS transistors 217, 218.例文帳に追加
入力バッファ回路21は、PチャネルMOSトランジスタ211〜213、NチャネルMOSトランジスタ214,215からなる差動回路と、PチャネルMOSトランジスタ217,218からなる閾値変更回路とを含む。 - 特許庁
A high-concentration (n) type buffer layer 12, an (n) type intermediate layer 13, a low-concentration (n) type base layer 14, a (p) type well layer 15, and a high-concentration (n) type emitter layer 16, are sequentially formed on a (p) type semiconductor substrate 11.例文帳に追加
p型半導体基板11上に、高濃度n型バッファ層12、n型中間層13、低濃度n型ベース層14、p型ウェル層15、高濃度n型エミッタ層16を順次形成する。 - 特許庁
This sheet discharge table 10 is capable of adjusting the height of a buffer plate 78 to an impact wall body 76 by a position adjusting mechanism 94 to locate the buffer plate 78 in a position for effectively absorbing an impact of the printing sheet P corresponding to the quality of the printing sheet P.例文帳に追加
本発明の排紙台10は、衝壁本体76に対する緩衝板78の高さ位置を位置調整機構94によって調整可能とし、印刷用紙Pの紙質に対応させて、その印刷用紙Pの衝撃を効果的に緩衝させる位置に緩衝板78を位置させる。 - 特許庁
On the substrate 601, an AlN buffer layer 602, an undope GaN layer 603, an undope AlGaN layer 604, a first p-type AlGaN layer 605, a second p-type AlGaN layer 607, and a high density p-type GaN layer 608 are formed sequentially; and a gate electrode 611 carries out ohmic contact with the high density p-type GaN layer 608.例文帳に追加
基板601上にAlNバッファ層602、アンドープGaN層603、アンドープAlGaN層604、第1のp型AlGaN層605、第2のp型AlGaN層607、高濃度p型GaN層608が順に形成され、ゲート電極611が高濃度p型GaN層608とオーミック接合する。 - 特許庁
An n-type buffer layer 102, n-type first clad layer 103, MQW active layer 104, p-type second clad layer 105, p-type etch stop layer 106 of energy band gap smaller than that of this second clad layer 105, p-type third clad layer 107 comprising the ridge part, and p-type protection layer 108 are provided on a GaAs substrate 101.例文帳に追加
GaAs基板101上に、n型バッファ層102、n型第1クラッド層103、MQW活性層104、p型第2クラッド層105、この第2クラッド層105よりもエネルギーバンドギャップの小さいp型エッチング停止層106、リッジ部を構成するp型第3クラッド層107、p型保護層108を備える。 - 特許庁
In this manufacturing method, when nitride treatment is performed to a tunnel insulating film 61 of a nonvolatile storage element Qm, in a semiconductor device in which the nonvolatile storage element Qm and a P-channel MISFET Qp are mounted on the same substrate, a forming region of a gate insulating film 63 of the P-channel MISFET Qp is covered in advance with a thick buffer silicon oxide film.例文帳に追加
不揮発性記憶素子Qm及びpチャネルMISFETQpを同一基板上に搭載した半導体装置の製造方法において、不揮発性記憶素子Qmのトンネル絶縁膜61に窒化処理を施す際に、pチャネルMISFETQpのゲート絶縁膜63の形成領域を厚い膜厚のバッファシリコン酸化膜で被覆しておく。 - 特許庁
An N-type GaAs buffer layer, an N-type InGaP clad layer, an InGaAsP barrier layer, an InGaAs active layer, an InGaAsP barrier layer, a P-type InGaP clad layer, a P-type InGaAsP etching stop layer, a P-type InGaP clad layer, and a P-type GaAs contact layer are successively laminated on an N-type GaAs substrate.例文帳に追加
n型GaAs基板11上に、n型GaAsバッファ層12、n型InGaPクラッド層13、InGaAsPバリア層14、InGaAs活性層15、InGaAsPバリア層16、p型InGaPクラッド層17、p型InGaAsPエッチングストップ層18、p型InGaPクラッド層19、p型GaAsコンタクト層20を順次積層する。 - 特許庁
An n-type buffer layer 2, an n^--type drift layer 3, and a p-type base layer 5 are laminated on an n^+-type 4H-SiC substrate 1 in this order.例文帳に追加
n^+型4H−SiC基板1の上に、n型バッファー層2と、n^-型ドリフト層3と、p型ベース層5とが、この順に積層されている。 - 特許庁
To suppress the underflow of a P-STD audio buffer in real-time even when the length of one pack to be transmitted is large in the case of PS multiplexing.例文帳に追加
PSの多重化の際、伝送される1パック長が大きいときでも、リアルタイムにP−STDオーディオ・バッファのアンダーフローを抑制する。 - 特許庁
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