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p bufferの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 349件
On the AlN buffer layer 2, an undoped GaN layer 3, an n-type GaN layer 4, an active layer 5, and a p-type GaN layer 6 are laminated in order, and an isolation groove A isolating elements is formed.例文帳に追加
AlNバッファ層2上には、アンドープGaN層3、n型GaN層4、活性層5、p型GaN層6が順に積層され、素子間を分離する分離溝Aが形成される。 - 特許庁
When the doping quantity of an n-type buffer layer 4 is set to be Ce and the doping quantity of a p^+-type emitter layer 5 to be Cb, the ratio Ce/Cb of impurity doping quantity is set to be 2.5 to 8.2.例文帳に追加
n型バッファ層4のドーピング量Ceとp+型エミッタ層5のドーピング量Cbとしたとき、不純物ドーピング量の比Ce/Cbを2.5以上、且つ8.2以下とする。 - 特許庁
Then an n-type gallium nitride semiconductor layer 13, a gallium - indium nitride active layer 14, and a p-type gallium nitride semiconductor layer 15 are successively formed on the buffer layer 12.例文帳に追加
バッファ層12の上に窒化ガリウムから成るn形半導体層13、窒化ガリウムインジウムからなる活性層14、窒化ガリウムから成るp形半導体層15を順次に形成する。 - 特許庁
Then an n-type gallium nitride semiconductor layer 12, a gallium - indium nitride active layer 14, and a p-type gallium nitride semiconductor layer 15 are successively formed on the buffer layer 12.例文帳に追加
バッファ層12の上に窒化ガリウムから成るn形半導体層13、窒化ガリウム インジウムからなる活性層14、窒化ガリウムから成るp形半導体層15を順次に形成する。 - 特許庁
Then an n-type gallium nitride semiconductor region 13, a gallium - indium nitride active layer 14, and a p-type gallium nitride semiconductor region 15 are successively formed on the buffer layer 12.例文帳に追加
バッファ層12の上に窒化ガリウムから成るn形半導体領域13、窒化ガリウムインジウムからなる活性層14、窒化ガリウムから成るp形半導体領域15を順次に形成する。 - 特許庁
An n type semiconductor region 14 made of gallium an active layer 15 made of gallium, a p type semiconductor region 16 made of gallium nitride are successively formed on the buffer layer 13.例文帳に追加
バッファ層13の上に窒化ガリウムから成るn形半導体領域14、窒化ガリウムインジウムからなる活性層15、窒化ガリウムから成るp形半導体領域16を順次に形成する。 - 特許庁
A region from the p-type InP window layer 5 to the middle of the undoped InP diffusion buffer layer 4 is removed precisely by dry etching, to form a second mesa with a diameter smaller than that of the first mesa.例文帳に追加
そして、p型InP窓層5からアンドープInP拡散バッファ層4の途中までドライエッチングにより精密に除去し、第一のメサより径が小さい第二のメサを形成した。 - 特許庁
A first mesa is formed by removing from the p-type InP window layer 5 to the n-type InP buffer layer 2 by a low selectively etchable Br-based etchant in an inclined forward mesa form.例文帳に追加
そして、p型InP窓層5からn型InPバッファ層2まで、選択エッチング性の低いBr系エッチャントによって傾斜型順メサ形状に除去して第一のメサを形成した。 - 特許庁
The laminating temperature of the buffer layer, the p-type group III nitride semiconductor crystal layer of cubic system and the n-type group III nitride semiconductor crystal layer of hexagonal system is optimized.例文帳に追加
上記緩衝層、立方晶のp形III族窒化物半導体結晶層、六方晶のn形III族窒化物半導体結晶層の積層温度を最適化する。 - 特許庁
An output circuit of an SRAM is structured with a buffer circuit connecting in series a P-channel MOS transistor PTR5 and an N-channel MOS transistor NTR5 between the power source (SVCC5) and the ground and an analog switch SW5 inserted between the drain of the P-channel MOS transistor PTR5 forming the buffer circuit and the output terminal SDO5.例文帳に追加
電源(SVCC5)−接地間に、PチャネルMOSトランジスタPTR5とNチャネルMOSトランジスタNTR5とが直列接続された構成のバッファ回路と、該バッファ回路を構成する上記PチャネルMOSトランジスタPTR5のドレインと、出力端子SDO5との間に挿入されるアナログスイッチSW5とにより、SRAMの出力回路を構成する。 - 特許庁
An n-InP buffer layer 54, GalnAsP group MQW56 of light- emission wavelength, 1,550 nm, p-InP upper-part clad layer 58, p-GalnAs intermediate layer 60, and p-AllnAs oxidized layer 62 are epitaxial-grown sequentially on an n-InP substrate 52 by through MOCVD method, etc., forming a laminated structure.例文帳に追加
本作製方法は、n−InP基板52上に、MOCVD法等によって、n−InPバッファー層54、発光波長1550nmのGalnAsP系MQW56、p−InP上部クラッド層58、p−GalnAs中間層60、及びp−AllnAs被酸化層62を、順次、エピタキシャル成長させて、積層構造を形成する。 - 特許庁
The semiconductor optical element comprises an n-type buffer layer 102, an undoped InAlAs carrier travel layer 103, an n-type InAlAs field relaxation layer 104, an undoped InAlAs multiplication layer 105, a p-type InAlAs field relaxation layer 106, a p-type concentration gradient InGaAs absorption layer 107, and a p-type InP cap layer 108 formed on an n-type InP substrate 101.例文帳に追加
n型InP基板101上に、n型バッファ層102、アンドープInAlAsキャリア走行層103、n型InAlAs電界緩和層104、アンドープInAlAs増倍層105、p型InAlAs電界緩和層106、p型濃度勾配InGaAs吸収層107、p型InPキャップ層108で構成されている。 - 特許庁
The photodetecting element comprises an SiGe graded buffer layer 2 of an n-conductivity disposed on an Si layer 1, an i-SiGe layer 3 which is an intrinsic semiconductor absorbing light disposed on the SiGe graded buffer layer, and an SiGe layer 4 of a p-conductivity disposed on the i-SiGe layer.例文帳に追加
Si層1上に位置するn導電型のSiGeグレーデッドバッファ層2と、SiGeグレーデッドバッファ層上に位置し、光吸収を行なう真性半導体であるi-SiGe層3と、そのi-SiGe層上に位置するp導電型のSiGe層4とを備える。 - 特許庁
Although, a parasitic diode is formed in the IGBT by PN junction of a p^+ collector region 1 and the n^+ type buffer layer 2, the n^+ type buffer layers 2 floating in an actual device are connected through the resistor 13.例文帳に追加
すなわち、IGBTにはp^+型コレクタ領域1とn^+型バッファ層2とによるPN接合によって寄生ダイオードが形成されることになるが、この寄生ダイオードのうち実際のデバイスではフローティング状態となる各n^+型バッファ層2が抵抗13を介して接続された構成とする。 - 特許庁
Since a buffer tank 17 is connected to a ground side G through a high resistance 18, a paint supply route 19 which passes from the buffer tank 17 to a coating gun 10 and a nozzle 11 is kept in a prescribed electric potential and a paint P discharged from the nozzle 11 is charged in a prescribed electric potential.例文帳に追加
バッファタンク17を高抵抗18を介して接地側Gに接続しているので、バッファタンク17から塗装ガン10に至る塗料供給路19及びノズル11が所定の電位に保たれ、ノズル11から噴出する塗料Pは所定電位に帯電された状態となっている。 - 特許庁
A semiconductor substrate includes an Si substrate, a Ge layer crystal-grown on the substrate and having an isolated island shape, a buffer layer crystal-grown on the Ge layer and composed of a group 3-5 compound semiconductor layer including P, and a functional layer crystal-grown on the buffer layer.例文帳に追加
Siの基板と、基板上に結晶成長され、孤立した島状に形成されたGe層と、Ge層の上に結晶成長され、Pを含む3−5族化合物半導体層からなるバッファ層と、バッファ層の上に結晶成長された機能層と、を備える半導体基板を提供する。 - 特許庁
To exhibit function as a buffer after exposure to the maximum and to enlarge a length dimension of an image forming medium capable of performing treatment without generating unevenness of exposure as much as possible in an image forming device A in which a loop is formed on a part of paper P and is functioned as the buffer after exposure.例文帳に追加
ペーパーPの一部にループを形成して、露光後バッファとして機能させるようにした画像形成装置Aにおいて、その露光後バッファとしての機能を最大限に発揮させ、露光ムラを生じることなく処理可能な画像形成媒体の長さ寸法を可及的に大きくする。 - 特許庁
Preferably, the phosphoric acid ester compound contains at least one of β-glycerophosphoric acid, p-nitrophenyl phosphate, adenosine monophosphate, adenosine diphosphate, adenosine triphosphate or various vitamin phosphoric acid ester derivatives, the water-soluble calcium compound contains at least one of calcium chloride, calcium nitrate and calcium hydroxide, and the buffer solution contains at least one of phosphate buffer solution, hydrochloride buffer solution and acetate buffer solution.例文帳に追加
リン酸エステル化合物が、βグリセロリン酸、pニトロフェニルリン酸、アデノシン一リン酸、アデノシン二リン酸、アデノシン三リン酸または各種ビタミンリン酸エステル誘導体の少なくとも1つを含むことが好ましく、水溶性カルシウム化合物が、塩酸カルシウム、硝酸カルシウムまたは水酸化カルシウムの少なくとも1つを含むことが好ましく、緩衝液が、リン酸緩衝液、塩酸緩衝液または酢酸緩衝液の少なくとも1つを含むことが好ましい。 - 特許庁
The current drive capability of the output buffer circuit 4 is adjusted by making the P channel MOS transistor 27.1 nonconductive when a fuse 39.1 is not blown and by connecting gates of the P channel MOS transistor 27.1 and a MOS transistor 21 when the fuse 39.1 is blown.例文帳に追加
ヒューズ39.1がブローされていない場合はPチャネルMOSトランジスタ27.1を非導通にし、ヒューズ39.1がブローされている場合はPチャネルMOSトランジスタ27.1およびPチャネルMOSトランジスタ21のゲートを接続して、出力バッファ回路4の電流駆動能力を調整する。 - 特許庁
In the active layer 3 between the N-type buffer region 4 and the P-type base region 6, the N-type base region 12 is provided, and a gate electrode 9 is provided through a gate insulating film 14 extending from the surface of the N-type base region 12 onto the surface of the P-type base region 6.例文帳に追加
N型バッファ領域4とP型ベース領域6との間の活性層3には、N型ベース領域12が設けられ、N型ベース領域12の表面上からP型ベース領域6の表面上に延在するゲート絶縁膜14を介してゲート電極9が設けられる。 - 特許庁
The semiconductor layer is formed of a gallium nitride based compound semiconductor as a group-III nitride semiconductor, and has a buffer layer 71; an n-type barrier layer 72, an active layer 73; a p-type barrier layer 74; and a p-type contact layer 75, which are sequentially stacked on the silicon nitride substrate.例文帳に追加
半導体層は、III族窒化物半導体である窒化ガリウム系化合物半導体から形成され、バッファ層71と、n型障壁層72と、活性層73と、p型障壁層74と、p型コンタクト層75とを有し、これらの層は炭化珪素基板上に順に積層されている。 - 特許庁
This optical modulator 40 is the embedded ridge waveguide type semiconductor optical modulator and has an n-InP buffer layer 14, GaInAsP-base multiple quantum well structure 16, p-InP upper clad layer 18 and p-GaInAs contact layer 20 on an n-InP substrate 12.例文帳に追加
本光変調器40は、埋め込みリッジ導波路型半導体光変調器であって、n−InP基板12上に、n−InPバッファ層14、GaInAsP系多重量子井戸構造16、p−InP上部クラッド層18、及びp−GaInAsコンタクト層20を備えている。 - 特許庁
A semiconductor light emitting element comprises a laminated structure having a GaN crystal layer formed via a buffer layer or directly on the Si substrate and having a p-type layer, an n-type layer and a light emitting layer disposed between the p-type layer and the n-type layer so as to emit light by current injection.例文帳に追加
Si基板上に、バッファ層を介してまたは直接的に、GaN系結晶層からなる積層構造を形成し、該積層構造は、電流注入によって発光可能なように、p型層と、n型層と、これらの間に位置する発光層とを有する。 - 特許庁
In a semiconductor laser element 100, a buffer layer 2, an undopped GaN layer 3, an n-type GaN first contact layer 4, an n-type AlGaN first clad layer 5, a light emitting layer 6, a p-type AlGaN second clad layer 7, and a p-type GaN second contact layer 8 are sequentially formed on a sapphire substrate 1.例文帳に追加
半導体レーザ素子100は、サファイア基板1上にバッファ層2、アンドープGaN層3、n−GaN第1コンタクト層4、n−AlGaN第1クラッド層5、発光層6、p−AlGaN第2クラッド層7、p−GaN第2コンタクト層8が順に形成されてなる。 - 特許庁
While heating the metal film 3 and thereby heating the infrared transmission substrate 2 through heat conduction, an n-type buffer layer 21, an n-type clad layer 22, an active layer 23, a p-type clad layer 24 and a p-type contact layer 25 are formed by epitaxial growth, on the other side of the infrared transmission substrate 2.例文帳に追加
金属膜3を加熱し、それによって、熱伝導で赤外線透過基板2を加熱しながら、赤外線透過基板2の他方の面に、エピタキシャル成長により、n型バッファ層21、n型クラッド層22、活性層23、p型クラッド層24およびp型コンタクト層25を形成する。 - 特許庁
The semiconductor device 100 that is a vertical IGBT includes a collector electrode 2, a p^+-type collector layer 4, an n^+-type buffer layer 6, an n^--type drift layer 8, a p-type body region 10, an n^+-type emitter region 12, a gate electrode 18, and an emitter electrode 14.例文帳に追加
縦型のIGBTである半導体装置100は、コレクタ電極2と、p^+型のコレクタ層4と、n^+型のバッファ層6と、n^−型のドリフト層8と、p型のボディ領域10と、n^+型のエミッタ領域12と、ゲート電極18と、エミッタ電極14を備えている。 - 特許庁
A stripe base layer arranged alternately and repeatedly with an n-type base layer 21 and a p-type base layer 22 is formed on one surface of an n-type buffer layer 1 and a p-type well layer 3, an n-type emitter layer 4, an emitter electrode 10 and an insulating gate electrode 6 are formed on the base layer.例文帳に追加
n型バッファ層1の一方の表面上にn型ベース層21とp型ベース層22が交互に繰返し配列されたストライプ状のベース層を形成し、このベース層状にp型ウェル層3、n型エミッタ層4、エミッタ電極10及び絶縁ゲート電極6を形成する。 - 特許庁
This semiconductor laser element 500 is composed by successively laminating a buffer layer 2, an undoped GaN layer 3, an n-contact layer 4, an n-crack prevention layer 5, an n-clad layer 6, a light emitting layer 7, a p-clad layer 8 and a p-first contact layer 9a on a sapphire substrate 1 whose thickness t1 is 500 μm.例文帳に追加
半導体レーザ素子500は、厚さt_1 が500μmのサファイア基板1上にバッファ層2、アンドープGaN層3、n−コンタクト層4、n−クラック防止層5、n−クラッド層6、発光層7、p−クラッド層8およびp−第1コンタクト層9aが順に積層されてなる。 - 特許庁
Input nodes of first inverters MP3, MN11 are connected to the first node N1, output nodes of the first inverters MP3, MN11 are connected to the second node N2, and a third transistor MP1 made into an off-state when data is input to the page buffer P/B is connected between the first inverters MP3, MN11 and a power source terminal Vdd.例文帳に追加
第1インバータMP3,MN11の入力ノードは、第1ノードN1に接続され、第1インバータMP3,MN11の出力ノードは、第2ノードN2に接続され、第1インバータMP3,MN11と電源端子Vddの間には、データをページバッファP/Bに入力するときにオフ状態となる第3トランジスタMP1が接続される。 - 特許庁
In a group III nitride compound semiconductor light emitting element 100, a sapphire substrate 10, a buffer layer comprising an aluminum nitride (AlN) not shown in a figure, an n-contact layer 11, an n-cladding layer 12, a multiple quantum well layer 13 having a light emitting wavelength of 470 nm, a p-cladding layer 14 and a p-contact layer 15 are formed.例文帳に追加
III族窒化物系化合物半導体発光素子100は、サファイア基板10、図示しない窒化アルミニウム(AlN)から成るバッファ層、nコンタクト層11、nクラッド層12、発光波長470nmの多重量子井戸層13、pクラッド層14、pコンタクト層15が形成されている。 - 特許庁
A semiconductor laser device 100 is constituted by laminating a buffer layer 2, undoped GaN layer 3, n-GaN contact layer 4, n-InGaN crack preventing layer 5, n-AlGaN clad layer 6, light emitting layer 7, p-AlGaN clad layer 8, and p-GaN contact layer 9 upon another in this order.例文帳に追加
半導体レーザ素子100は、バッファ層2、アンドープGaN層3、n−GaNコンタクト層4、n−InGaNクラック防止層5、n−AlGaNクラッド層6、発光層7、p−AlGaNクラッド層8およびp−GaNコンタクト層9が順に積層されてなる。 - 特許庁
Further, a p-type weak anode layer arranged adjacently to the surface of the bottom of the buffer layer 30, and a rear side metallic contact (laminated structure of 23-26) connected to the weak anode layer, are formed.例文帳に追加
また、バッファー層30底部表面に隣接するように配置されたPタイプの弱アノード層と前記弱アノード層に接続する裏面側金属接点(23,24,25,26の積層構造)を備える。 - 特許庁
Each cell is formed of an n-type GaN layer 21 having uneven surface of mound type inclination having an inclination angle corresponding to each band gap, an n-type InAlGaN layer 22 and a p-type InAlGaN layer 23 formed on an n-type GaN buffer layer 21.例文帳に追加
各セルは、各バンドギャップに対応する傾斜角の山型傾斜の凹凸面を有するn型GaN層21、n型GaNバッファ層21上に形成されたn型InAlGaN層22及びp型InAlGaN層23よりなる。 - 特許庁
An N type AlGaN layer 12 is formed on a sapphire substrate 10 and an N type light emission layer 14 is formed thereupon; and a buffer layer 16 is formed thereupon and further a P type AlGaN layer is formed thereupon.例文帳に追加
サファイア基板10上にN型AlGaN層12を形成し、その上にN型発光層14を形成し、その上にバッファ層16を形成し、その上にP型AlGaN層を形成する。 - 特許庁
A photoelectric element 10 includes a light absorption layer 16 that is a p-type semiconductor layer, a buffer layer 18, and a window layer 20, which are provided in this order.例文帳に追加
p型半導体層である光吸収層16と、バッファ層18と、窓層20と、を備え、光吸収層16、バッファ層18及び窓層20がこの順に設けられている光電素子10。 - 特許庁
The light emitting diode comprises a p-type nitride semiconductor layer (3), an active layer (4), an n-type nitride semiconductor layer (5) and a current diffusion layer (6) which are arranged on a silicon support substrate (1) through a buffer layer (2).例文帳に追加
発光ダイオードはシリコン支持基板(1)の上にバッファ層(2)を介して配置されたp型窒化物半導体層(3)、活性層(4)、n型窒化物半導体層(5)及び電流拡散層(6)を有する。 - 特許庁
A sheer 16 the surface of which facing sun rays is subjected to non-glare treatment (the surface3 treatment to form a rough surface) is attached to a print circuit board (P plate) 14 and a panel 11 by a fastening screw 12 with a buffer material 15 interposed.例文帳に追加
太陽光に面する側がノングレア処理(凹凸の表面処理が施されている)されたシート16を取付ネジ12によって緩衝材15を挟んでプリント基板(P板)14とパネル11に取り付けている。 - 特許庁
Here, since the insulator 12 is embedded in the groove 11 which separates the buffer layers 5, the N-type clad layer 6, the MQW active layer 7 and the P-type clad layer 8 do not grow on the groove 11.例文帳に追加
このとき、バッファ層5を分離する溝11に絶縁体12が埋設されているので、溝11上には、N型クラッド層6、MQW活性層7およびP型クラッド層8が成長しない。 - 特許庁
The output buffer 300 corresponding to each row of a pixel circuit 600 arranged in matrix is a CMOS inverter in which a p-type transistor 303 and an n-type transistor 304 are connected in series.例文帳に追加
マトリック状に配列された画素回路600の各行に対応する出力バッファ300は、p型トランジスタ303およびn型トランジスタ304が直列に接続されたCMOSインバータである。 - 特許庁
A p-type well layer 4, an n-type buffer layer 7 and an n-type diffusion layer 20 are formed by impurity diffusion on the surface of the n-type active layer 3 between a source electrode 9 and a drain electrode 11.例文帳に追加
ソース電極9及びドレイン電極11間で、n^- 型活性層3の表面には、p型ウエル層4、n型バッファ層7、及びn型拡散層20が不純物拡散により形成される。 - 特許庁
In an element formation region 9 surrounded by the deep trench 6, a P type drain buffer region 10, a drain contact region 11 and a drift region 12 are formed in the top layer of the epitaxial layer 5.例文帳に追加
ディープトレンチ6に取り囲まれる素子形成領域9には、エピタキシャル層5の表層部に、P型のドレインバッファ領域10、ドレインコンタクト領域11およびドリフト領域12が形成されている。 - 特許庁
A resistive thin film 13 is provided via an oxide film 12 in a trench 11 provided at a part sandwiched between a p-body region 4 and an n-buffer region 7 in a surface layer of an n-drift region 3.例文帳に追加
nドリフト領域3の表面層のpボディ領域4およびnバッファ領域7に挟まれた部分に設けられたトレンチ11に、酸化膜12を介して、抵抗性薄膜13が設けられている。 - 特許庁
An n-type GaN epitaxial layer 2, n-type GaN nano-columns 3, multiple quantum well nano-columns 4, and p-type GaN nano-columns 5, are successively grown in lamination on a sapphire substrate 1 through the intermediary of a low-temperature buffer layer (Figure 1 (a)).例文帳に追加
サファイア基板1上に、低温バッファ層を介して、n型GaNエピ層2、n型GaNナノコラム3、多重量子井戸ナノコラム4、p型GaNナノコラム5を、順次積層成長させる(図1(a))。 - 特許庁
Different virtual colors VC1, VC2, VC3, VC4 are assigned to each of four objects A, B, C, D at a level of detail formed by reducing the number of polygons and an image viewed from a viewpoint P is drawn on a frame buffer.例文帳に追加
ポリゴン数を削減した描画レベルの4つのオブジェクトA、B、C、Dに、それぞれ異なる仮想色VC1、VC2、VC3、VC4を割り振り、視点Pから見た画像をフレームバッファ上に描画する。 - 特許庁
A compound semiconductor thin film includes a rear surface electrode 22, a p-type compound semiconductor thin film 23, an n-type compound semiconductor thin film 24, a buffer layer 25, a window layer 26 and a transparent conductive film 27.例文帳に追加
基板21上に形成された裏面電極22、p型化合物半導体薄膜23、n型化合物半導体薄膜24、バッファ層25、窓層26および透明導電膜27を含む。 - 特許庁
A semiconductor mesa of the laminate structure 33 includes a low-temperature GaN buffer layer 35, an n-type GaN layer 37, and an active layer 39 and a p-type gallium nitride-based semiconductor layer 37 of a quantum well structure.例文帳に追加
積層構造33の半導体メサは、低温GaNバッファ層35、n型GaN層37、量子井戸構造の活性層39及びp型窒化ガリウム系半導体層37を含む。 - 特許庁
On the basis of a coordinate instruction P, a CPU 1 reads HRTF coefficient data (h) from an HRTF coefficient data memory M2 and reads the waveform data from a waveform buffer memory M1 by frame units.例文帳に追加
CPU1は、座標命令Pに基づいて、HRTF係数データメモリM2からHRTF係数データhを読み出すとともに、フレーム単位で波形バッファメモリM1から波形データを読み出す。 - 特許庁
A connection layer 105 for electrically connecting the first buffer layer 107 to the p-type semiconductor crystal layer 103 is prepared in the opening 104A, to extract holes accumulated in the first buffer layer 107 through the connection layer 105.例文帳に追加
第1の緩衝層107をp伝導型半導体結晶層103に電気的に接続するための接続層105が開口部104Aに配されており、第1の緩衝層107に滞留する正孔を接続層105を介してp伝導型半導体結晶層103に引き抜くことができる。 - 特許庁
A VBV buffer controller 40 finds a target code amount for each picture type and a transition of VBV buffer occupancy based upon the encoding rate, sets the target code amount to settle the VBV buffer occupancy at the time point of encoding data of I pictures or P pictures into a predetermined value and controls the code amount by controlling the quantization scale of a quantizer 4 to match the code amount and the set target code amount.例文帳に追加
VBVバッファ制御器40は、符号化レートに基づいてピクチャタイプ毎の目標符号量とVBVバッファ占有量の推移を求め、IピクチャやPピクチャのデータの符号化時点でのVBVバッファ占有量を所定の値に収束するように目標符号量を設定し、その設定した目標符号量に合うように量子化器4の量子化スケールを制御して符号量制御を行う。 - 特許庁
The semiconductor element includes an undoped GaN layer 3, an Si film 31, an n-type GaN layer 4, an MQW active layer 5, and a p-type GaN layer 6 laminated in this order on an AlN buffer layer 2 formed on a sapphire substrate 1.例文帳に追加
サファイア基板1上に形成されたAlNバッファ層2上にアンドープGaN層3、Si膜31、n型GaN層4、MQW活性層5、p型GaN層6が順に積層されている。 - 特許庁
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