「path testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL PATH TESTING DEVICE AND OPTICAL PATH TESTING METHOD例文帳に追加

光線路試験装置及び光線路試験方法 - 特許庁

LIGHT BEAM PATH TESTING DEVICE AND LIGHT BEAM PATH TESTING SYSTEM例文帳に追加

光線路試験装置、及び、光線路試験システム - 特許庁

METHOD FOR TESTING COMMUNICATION PATH例文帳に追加

通信経路試験方法 - 特許庁

The test path extraction part 313 extracts the testing path and forms the testing path list 500.例文帳に追加

テスト対象パス抽出部３１３はテスト対象パスを抽出し、テスト対象パスリスト５００を作成する。 - 特許庁

TRANSMISSION APPARATUS, PATH TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

伝送装置、パス試験方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ITS PATH DIAGNOSING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置とその経路診断方法 - 特許庁

BEAM PATH TESTING METHOD, WAVEFORM ANALYZER, AND PROGRAM例文帳に追加

光線路試験方法、波形解析装置およびプログラム - 特許庁

RAY PATH TESTING SYSTEM AND LIGHT SOURCE POWER LEVEL MONITORING METHOD例文帳に追加

光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法 - 特許庁

RAY PATH TESTING SYSTEM AND CORRECTION METHOD FOR TRANSMISSION LOSS CHARACTERISTIC例文帳に追加

光線路試験装置及び伝送損失特性の補正方法 - 特許庁

APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING LIGHT BEAM PATH例文帳に追加

光線路試験装置、光線路試験システム及び光線路試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for scan-testing a path to a macro-block.例文帳に追加

マクロブロックまでのパスをスキャンテストする半導体集積回路を提供すること。 - 特許庁

To obtain a light beam path testing device with a simple structure, without reducing test items.例文帳に追加

試験項目を減らすことなく簡易な構成の光線路試験装置を実現する。 - 特許庁

SCAN PATH CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING LOGIC CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法 - 特許庁

LSI, TEST PATTERN CREATING METHOD FOR TESTING SCAN PATH, LSI INSPECTION METHOD AND MULTICHIP MODULE例文帳に追加

ＬＳＩ、スキャンパステスト用テストパターン生成方法、ＬＳＩ検査方法およびマルチチップモジュール - 特許庁

To obtain an optical path line testing system capable of testing optical fiber cables not directly housed in a communication facility building.例文帳に追加

通信設備ビルに直接収容されていない光ファイバケーブルの試験を行うことができる光線路試験システムを提供する。 - 特許庁

The control circuit (140) controls signals selected by the selection circuits (131-134) during path delay fault testing for detecting path delay faults.例文帳に追加

制御回路（１４０）は、経路遅延故障を検出する経路遅延故障テストのときに、選択回路（１３１〜１３４）が選択する信号を制御する。 - 特許庁

At the time of testing the communication path of a portion incorporated in the integrated circuit, a first communication path is formed in the communication path and the test is performed by making prescribed data to flow to the formed first communication path.例文帳に追加

集積回路における組込み部の通信路をテストする場合、所定の組込み部の通信路に第１の通信路を作成し、この作成された第１の通信路に所定のデータを流し、組込み部の通信路をテストするものである。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

The transmission path 18 is formed on a scribe line 19, and a testing circuit is disconnected at the time of separating a wafer.例文帳に追加

伝送線路１８は、スクライブ線１９上に形成し、ウエハを切り離す際に試験回路を切断する。 - 特許庁

To provide an LSI capable of testing a signal path between two circuit blocks by a scan separation test.例文帳に追加

スキャン分離テストによって、２つの回路ブロック間の信号経路をテストすることができるＬＳＩを提供する。 - 特許庁

Either a failure detection mode for testing the memory or a pseudo memory access mode for operating a bypass path circuit is set.例文帳に追加

メモリをテストする故障検出モード、迂回パス回路を動作させる擬似メモリアクセスモードのいずれかを設定する。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To obtain a method for testing the communication path of a network in which the communication path of the network can be verified simply and quickly.例文帳に追加

本発明は、ネットワークの通信経路の試験を行う通信経路試験方法に関し、ネットワークの通信経路の検証を簡易かつ迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical path testing system capable of an in-service test in L-band communication of 10 Gbit/s.例文帳に追加

１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信におけるインサービス試験を可能にした光線路試験システムを提供する。 - 特許庁

Additionally, a faulty circuit block is specified, by utilizing the partial scan path and testing only the specified circuit block.例文帳に追加

また部分スキャンパスを利用して、特定の回路ブロックのみのテストを行うことにより故障回路ブロックの特定を行う。 - 特許庁

To provide a monitor and a method for monitoring an optical path, which specify the optical path where a trouble is generated, even when splitters and terminal devices are multi-stage connected by the optical path in a testing device.例文帳に追加

試験装置に、スプリッタ、終端装置が光線路により多段接続されている場合であっても、障害が発生した光線路を特定することができる光線路監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.例文帳に追加

ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁

To provide a network load testing method which can give a high load to a network adapter and further, does not need another communication path.例文帳に追加

ネットワークアダプタに高い負荷を与えることができ、さらに、別の通信経路を必要としないネットワーク負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

An MODEM device is configured so that the installation worker can select a path by the start method of a gas meter 200 in the case of testing communication.例文帳に追加

モデム装置は、設置作業者が通信テストする際のガスメータ２００の起動方法によって、経路が選択できるようになっている。 - 特許庁

This allows the inlet node 10 to use information on the path setting used for the path setting with GMPLS to easily perform loopback testing, and ensures that signals are successfully communicated for the post-construction path.例文帳に追加

このため、入口ノード１０がＧＭＰＬＳによるパス設定で使用したパス設定に関する情報を利用し、容易にループバック試験を行うことが可能であり、構築後のパスに対して正常に信号が疎通していることを保障することが可能である。 - 特許庁

The base station unit 1 compares the message ID, made by the maintenance center 3 with that by the base station controller 2, assigns a testing path corresponding to the resource ID, when they match and performs the testing.例文帳に追加

基地局装置１において、保守センタ３および基地局制御装置２によって通知されたメッセージＩＤを比較し、一致している場合にリソースＩＤに応じた試験経路を割り当て、試験を実施する。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.例文帳に追加

プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁

An interleave circuit for performing data diffusion processing is set in an output portion of the scan chain set as a path used for testing an integrated circuit such as an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェインの出力部にデータ拡散処理を行うインターリーブ回路を設定した。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.例文帳に追加

テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁

The antenna 10 for testing is rotated on a circular orbiting path with the antenna 90 to be measured as a center each time when the antenna 90 to be measured is rotated at a specific angle.例文帳に追加

被測定アンテナ９０を所定角度回動する毎に試験用アンテナ１０を被測定アンテナ９０を中心とした円軌道上を回転させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of accurately detecting the temperature change in a transmission path in which a signal is transmitted and performing the calibration.例文帳に追加

信号が伝送される伝送経路での温度変化を正確に検出して校正を行うことが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing technology of a semiconductor device, which restricts the overhead of an area to a minimum and can make a signal propagate in parallel to testing by a method, wherein the signal is bypassed by utilizing an existent data path in an IP core.例文帳に追加

ＩＰコア内の既存のデータパスを利用して信号をバイパスさせることで、面積のオーバーヘッドを最小限に抑えながら、パラレルに信号を伝播させてテストを行うことができる半導体装置のテスト技術を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device comprises the semiconductor elements (203, 207), the scanning circuit (220) connectable to the semiconductor elements (203, 207) for testing the performance thereof, and the process monitor (PM) which is arranged in a path subjected to the testing by the scanning circuit (220).例文帳に追加

半導体素子（２０３，２０７）と、半導体素子に接続可能であり、半導体素子の機能を試験するためのスキャン回路（２２０）と、スキャン回路が試験を行うパス中に設けられるプロセスモニタ（ＰＭ）とを有する半導体装置が提供される。 - 特許庁

A test strip 10 for testing the blood sample is provided with a fluid transport path 30 terminating at the mouth 21 of the capillary channel 20, defined on the major face of the strip.例文帳に追加

血液サンプルを試験する試験片１０は、毛細管流路２０の口部２１で終端する流体搬送経路３０が、細片の主面上に画定されている。 - 特許庁

The devices (A-C)2-1 to 2-3 are respectively cascaded to the ATM tester 1 via transmission path cables 100-103, and execute the transmission of an ATM cell for testing.例文帳に追加

装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々は伝送路ケーブル１００〜１０３を介してＡＴＭ試験器１に縦続接続されており、試験用ＡＴＭセルの伝送を行う。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

A micro-bump pad (a first pad 21) for data input/output is arranged in a connection path between the test pad (second pad 22) used for testing a semiconductor device and an internal circuit 23.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストパッド（第２パッド２２）と内部回路２３との接続経路に、データ入出力のためのマイクロバンプパッド（第１パッド２１）が配置されている。 - 特許庁