「point-defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTION POINT OF PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁

POINT DEFECT 3-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL OPTICAL RESONATOR例文帳に追加

点欠陥３次元フォトニック結晶光共振器 - 特許庁

METHOD FOR SIMULATING DISTRIBUTION OF POINT DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶の点欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁

METHOD OF SIMULATING POINT DEFECT AREA AND MINUTE DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の点欠陥領域と微小欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁

An irregular defect is detected in image data wherein the point/strain defect is repaired in the point/strain defect repair process ST200 (irregular defect detection process ST300).例文帳に追加

点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００にて点欠陥・シミ欠陥が修補された画像データにおいてムラ欠陥を検出する（ムラ欠陥検出工程ＳＴ３００）。 - 特許庁

POINT DEFECT CORRECTION DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DEVICE例文帳に追加

点欠陥修正装置、液晶装置の製造方法 - 特許庁

To prevent a line defect from occurring by keeping a defect to a point defect even when an electron emitting element is short-circuited in use.例文帳に追加

使用中に電子放出素子が短絡しても点欠陥に留めて線欠陥になることを防止する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY, AND METHOD OF CORRECTING POINT DEFECT OF THE SAME例文帳に追加

液晶表示装置及びその点欠陥修正方法 - 特許庁

Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.例文帳に追加

そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁

A defect forming point calculation part 18d calculates a defect forming point forming the contour of the defect formed in the measurement object based on the reference point and the reference curve.例文帳に追加

欠損構成点算出部１８ｄは、基準点および基準曲線に基づいて、計測対象物に形成された欠損の輪郭を構成する欠損構成点を算出する。 - 特許庁

To prevent a point defect or a line defect of a thin film semiconductor device used for a display or the like.例文帳に追加

ティスプレイなどに用いられる薄膜半導体装置の点欠陥や線欠陥を防止する。 - 特許庁

To eliminate a bright point defect due to a defect in contact between a drain electrode and a pixel electrode.例文帳に追加

ドレイン電極と画素電極とのコンタクト不良に起因する輝点不良の発生をなくす。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING POINT DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON MONOCRYSTAL INGOT例文帳に追加

シリコン単結晶インゴットの点欠陥分布を測定する方法 - 特許庁

An inspection device detects the line unevenness area indicating a line unevenness defect in an objective image obtained from a substrate, and the point defect area indicating a point defect.例文帳に追加

ムラ検査装置では、基板から得られる対象画像において筋ムラ欠陥を示す筋ムラ領域、および、点欠陥を示す点欠陥領域が検出される。 - 特許庁

When a defect Def exists on a spiral track Tsp, a CPU calculates a point existing one rap before the defect Def of the spiral as movement staring point Pst and the point existing one rap after the defect as movement ending point Psp.例文帳に追加

スパイラルトラックＴsp上に、ディフェクトＤefが存在する場合、ＣＰＵ１１０は、ディフェクトＤefに対して、スパイラル１周前の地点を移動開始地点Ｐstとし、スパイラル１周後の地点を移動終了地点Ｐspとして算出する。 - 特許庁

defect in an optical system in which light rays from a single point fail to converge in a single focal point 例文帳に追加

1点から発した光線を1つの焦点に集めることのできない、光学システムの欠陥 - 日本語WordNet

To exactly detect a defect candidate area and a line unevenness area or a point defect area, when the defect candidate area is overlapped with at least one part of the line unevenness area or the point defect area.例文帳に追加

欠陥候補領域が筋ムラ領域または点欠陥領域の少なくとも一部と重複する場合において、欠陥候補領域および筋ムラ領域または点欠陥領域を的確に検出する。 - 特許庁

In advance of this demerit point defect, a reverse bias voltage is impressed between an anode and a cathode of the EL element to actualize the demerit point defect.例文帳に追加

この滅点欠陥に先立って、ＥＬ素子のアノード・カソード間に逆バイアス電圧を印加することにより滅点欠陥を顕在化させる。 - 特許庁

A defect structure point calculation part 18c calculates a defect structure point for composing the outline of defect formed in the object to be measured on the basis of the reference points and the reference curve.例文帳に追加

欠損構成点算出部１８ｄは、基準点および基準曲線に基づいて、計測対象物に形成された欠損の輪郭を構成する欠損構成点を算出する。 - 特許庁

The method is provided with a defect information storage means 35 for storing a defect point correlating with a portion of an education material.例文帳に追加

教材箇所と関連付けて不具合点数を格納した不具合情報記憶手段３５を具備する。 - 特許庁

To correct a point defect and a line defect of an imaging device by accurately detecting them in a short time.例文帳に追加

撮像素子の点欠陥及び線欠陥を短時間で精度良く検出して補正することを可能とする。 - 特許庁

The piezoelectric sensor without contact point eliminates the defect of the contact point and aging as inherent in the conventional switches.例文帳に追加

そして、圧電センサは接点がないので従来のスイッチのような接点不良や経年劣化がない。 - 特許庁

To improve the display quality of an E-ink display device by repairing a pixel unit of the E-ink display device, which has a bright point defect or a dark point defect.例文帳に追加

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁

To provide a point defect detection method by which a point defect can be detected without the need for any exclusive circuit and that is used for a picture signal processor.例文帳に追加

専用の回路を必要とせず、点欠陥の検出を行なうことができる画像信号処理装置で用いられる点欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stripe defect detection method and a device thereof capable of detecting a stripe defect highly accurately without detecting a bright point or a black point.例文帳に追加

輝点や黒点を検出することなく、筋状欠陥を高精度に検出することができる筋状欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL POINT DEFECT INTERFERENCE OPTICAL RESONATOR AND OPTICAL REFLECTOR例文帳に追加

２次元フォトニック結晶点欠陥干渉光共振器及び光反射器 - 特許庁

To provide an inspection method of an active matrix substrate capable of inspecting point defect, line defect, or brightness defect at the stage of the active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥または輝度不良を検査することができるアクティブマトリクス基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁

The display panel with the point defect is specified, the coordinate of a defective pixel is specified, the luminance of the same coordinate corresponding to the point defect of the adjacent pixel of the defective pixel or other display panels is added, and the apparent point defect stops being able to be conspicuous easily.例文帳に追加

点欠陥のある表示パネルを特定し、欠陥画素の座標を特定し、欠陥画素の隣接画素、または他の表示パネルの点欠陥に対応する同座標の輝度を加算して、見かけ上点欠陥を目立ちにくくする。 - 特許庁

To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.例文帳に追加

ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

A defect element pair determining part 53 performs Delaunay triangulation with the typical point of the respective defect elements as base point, and determines a defect element pair constituted of the defect elements of both end points of the respective sides that constitute a plurality of triangles.例文帳に追加

欠陥要素ペア決定部５３では各欠陥要素の代表点を母点としてドローネ三角形分割を行い、複数の三角形を構成する各辺の両端点の欠陥要素により構成される欠陥要素ペアが求められる。 - 特許庁

To reduce a contact fail in a thin-film transistor causing a point defect and a line defect although it is extremely difficult to eliminate the point and line defects completely in the thin-film transistor in an active matrix type liquid crystal display.例文帳に追加

アクティブマトリクス型の液晶表示装置において、薄膜トランジスタの点欠陥や線欠陥を完全に排除するのは極めて困難であるのが現状である。 - 特許庁

A waveguide 13 is formed by chipping a part of the rod belonging to the stripe layer to which the point defect 12 belongs and different from the rod to which the point defect 12 belongs.例文帳に追加

点欠陥１２の属するストライプ層に属し、かつ点欠陥１２の属するロッドとは異なるロッドの一部を欠損させることによって導波路１３を形成する。 - 特許庁

To prevent deterioration of a display quality level by point defect of a display panel with high definition.例文帳に追加

高精細な表示パネルの点欠陥による表示品位の低下を防止する。 - 特許庁

Evaluation points (elements) are created with respect to a set measurement region 342, and defect degree for each defect point is calculated.例文帳に追加

設定された計測領域３４２に対して、評価点（エレメント）が生成され、その各々についての欠陥度が算出される。 - 特許庁

To provide a method for defect inspection capable of inspecting accurately existence of a defect such as a bright point in an inspection object.例文帳に追加

検査対象における輝点等の欠陥の有無を精度良く検査することができる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which a TFT defect caused by static electricity does not occur, and a point defect and a line defect in a detection image are not caused.例文帳に追加

静電気によるＴＦＴ不良が発生することがなく、検出画像において点欠陥、線欠陥を生じることのない撮像装置を提供すること。 - 特許庁

An upper electrode is formed on the point defect at the central part to reduce device resistance.例文帳に追加

上部電極を中央部の点欠陥上に形成し、素子抵抗を低減する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of reducing point defect and improving transmissivity.例文帳に追加

点欠陥の低減および透過率の向上を図った液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a redundancy circuit which corrects a light point defect, which is caused by a defect of an active matrix substrate, as a normal image, the light point defect having been corrected by blackening, and to provide a correcting method therefor.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の欠陥により発生した輝点欠陥に対して、黒点化処理による修正処理が行われてきたが、この修正を正常画素として修正する冗長化回路および修正方法を提供する。 - 特許庁

A time for the ultrasonic wave passing the point P2 to be reflected and returned by a defect 21 is measured, whereby an angle difference β between the point P2 and a position where the defect is present is detected.例文帳に追加

点Ｐ２を透過した超音波が欠陥２１によって反射して戻るまでの時間を計測して、点Ｐ２と欠陥が存在する位置との間の角度差βが検出できる。 - 特許庁

To provide an inspection system which can, even when there is a luminance point defect at an alignment mark part, detect the bright point defect and a position detection system included in the inspection system.例文帳に追加

アライメントマーク部分に輝点欠陥があった場合でも、当該輝点欠陥を検出することができる検査装置および検査装置が備える位置検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a honeycomb filter which enables detection of a defect point and defect cause without installing a device for detecting a defect of the honeycomb filter on the downstream of the honeycomb filter.例文帳に追加

ハニカムフィルタの下流側にハニカムフィルタの欠陥を検出するための装置を配置することなく、欠陥箇所及び欠陥原因を検出することが可能なハニカムフィルタを提供する。 - 特許庁

Subsequently, the defect observation apparatus 3 forms a primary defect position correction expression for optimizing a defect position at the detection coordinate system, on the basis of the position deviation amount of each measurement point.例文帳に追加

続いて、欠陥観察装置３は、各測定ポイントの位置ずれ量に基づき、検出座標系での欠陥位置を適正化するための１次の欠陥位置補正式を作成する。 - 特許庁