「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for analyzing a nucleic acid sequence for detecting the nucleic acid sequence with high specificity and to provide a substrate for immobilizing a probe, an assay kit and a probe set.例文帳に追加

高い特異性で核酸配列を検出するための核酸配列の解析方法、プローブ固定化基体、アッセイキットおよびプローブセットを提供する。 - 特許庁

Also the device for the same is to perform the above method and has at least a transmitting probe 1, receiving probe 2 and calculating part 3.例文帳に追加

また、当該装置は、当該方法を実施するためのものであって、送信探触子１と、受信探触子２と、演算部３とを少なくとも有する。 - 特許庁

To provide method and system for planarizing of semiconductor contactor, attaining flatter relation, with regard to probe card assembly, and more specifically, between contacting element and device under test on the probe card assembly.例文帳に追加

プローブカードアセンブリに関し、より具体的には、プローブカードアセンブリ上の接触要素と被試験デバイスとの間で、より平坦な関係を達成する。 - 特許庁

To provide a method, including measuring a force exerted by a probe on tissue of a patient and measuring a displacement of the probe while measuring the force.例文帳に追加

患者の組織にプローブが及ぼす力を測定することと、力の測定工程中のプローブの変位を測定することと、を含む、方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, the states of the chips of the probe pins arranged on the probe card are accurately identified and then the operation efficiency of the inspecting method is improved to lower the costs.例文帳に追加

これにより、プローブカードに配設されたプローブピンの先端の状態が正確に識別され、検査方法の作業効率が向上し、低コスト化が実現する。 - 特許庁

To provide a method for generating a probe tip of nanostructure, capable of generating an ultrafine probe tip part while controlling the developing direction thereof.例文帳に追加

極微細な探針先端部を生成させるとともに、その成長方向を制御可能なナノ構造物の探針先端生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-B, and to provide a method for identifying the same using the probe set.例文帳に追加

ＨＬＡ−Ｂの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたＨＬＡ−Ｂのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe unit and its manufacturing method capable of being surely conducted to a specimen with proper contact pressure and having a probe hardly separated from a base.例文帳に追加

適切な接触圧で検体と確実に導通させることができ、プローブが基板から剥がれにくいプローブユニット、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method, a nucleic acid, a probe and a primer, a probe-immobilized chip and an antibody for specifically detecting the hormone-disruptive property of a chemical substance.例文帳に追加

化学物質の内分泌撹乱性を特異的に検出するための方法、核酸、プローブおよびプライマー、プローブ固定化チップ、並びに抗体を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe capable of detecting even an inclined defect and having high evaluation precision of the defect, and a defect evaluation method using the probe.例文帳に追加

傾いた欠陥でも検出することができ、、且つ、欠陥の評価精度が高い超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heatproof probe unit and a manufacturing method for it using a low resistance base board for arranging a probe pin on it with high precision.例文帳に追加

耐熱性を有し、プローブピンが高精度に基板上に配置され、抵抗の低い基板を用いたプローブユニットおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析装置 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

The apparatus and method includes a probe having an insertion tube, a joint, and a joint sensor, contained within the probe, for sensing a position of the insertion tube.例文帳に追加

この装置及び方法は、挿入管、接続部、及び挿入管の位置を感知するためにプローブ内に収容されている接続部センサを有するプローブを含む。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe charger, a charge method, and an ultrasonic diagnostic apparatus for charging different batteries in accordance with the kind of ultrasonic probe.例文帳に追加

超音波プローブの種類に応じて異なるバッテリへの充電もできる超音波プローブ充電装置、充電方法及び超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe wherein piezoelectric elements can be arranged with higher density, and to provide an ultrasonic wave imaging apparatus and a manufacturing method of the ultrasonic probe.例文帳に追加

圧電素子がより高密度に配列可能となる超音波探触子、超音波撮像装置および超音波探触子製造方法を実現する。 - 特許庁

To enable it to achieve a long probe time which cannot be achieved conventionally with respect to a substantial probe time with nondestructive measurement applied to a conventional Ramsay method.例文帳に追加

従来のラムゼー法に非破壊測定を適用して、実質的なプローブ時間について、今まで達成できなかった長いプローブ時間を達成できるようにする。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe carrier capable of always preventing drying up of the tip of a nozzle for discharging a probe solution, preventing the generation of bubbles in the supplied probe solution, surely conducting a first shot of the probe solution, and generating no trouble in the discharge of the probe solution even if the probe carrier is continuously produced.例文帳に追加

プローブ溶液吐出用のノズル先端部の乾燥を常時防止することができ、供給されるプローブ溶液中に気泡が生じることのなく、それによって、一発目のプローブ溶液の吐出が確実に生じさせることができ、さらに、プローブ担体を継続的に製造し続けても、プローブ溶液の吐出に不都合が生じることのないプローブ担体製造方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for an ultrasonic flaw detection and ultrasonic flaw detecting device and method, capable of facilitating determination for the replacement of the probe by a method except the halting of ultrasonic-wave injection.例文帳に追加

超音波の射出停止以外の方法により探触子の交換の判断を容易にさせる超音波探傷装置用探触子、超音波探傷装置、及びその方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR USING CHIP OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, PRODUCT FOR PERFORMING THE METHOD OR PRODUCT MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡チップの使用方法及び該使用方法を実施するための製品又は該使用方法によって製造される製品 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a probe microscope capable of growing a carbon nanotube on the tip part of a probe substrate by a plasma CVD method by reducing a damage received from plasma by electric field concentration.例文帳に追加

電界集中によりプラズマから受けるダメージを減少させて探針基体の先端部にカーボンナノチューブをプラズマＣＶＤ法によって成長させることができるプローブ顕微鏡用探針の作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for detecting microscopic sample dispersed widely on substrate, in a short time, and to provide a method for surely moving the sample to any little position on the substrate, by using probe of the scanning probe microscope with little damage on the probe/sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁

To achieve a high yield of an ultrasonic probe in the ultrasonic probe in which a plurality of transducers arrayed in a two-dimensional manner and an electric circuit are electrically connected and a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

２次元状に配列された複数の振動子と電気回路とが電気接続される超音波プローブ及び超音波プローブの製造方法において、超音波プローブの歩留りの向上を実現することにある。 - 特許庁

To provide a probe card and an inspection method, allowing reduction of excess man-hours caused by an alignment failure of the probe card generated by reduction of the area or a pitch of an IO pad, or electroconductivity failure between the probe card and a wafer.例文帳に追加

ＩＯパッドの小面積化、狭ピッチ化により発生するプローブカードのアライメント不良、プローブカードとウエーハの導通不良により生じる余分な工数を削減出来るプローブカードおよび検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for position sensing which includes inserting a probe having a first probe-electrode and a second probe-electrode into a body of a subject, and coupling body-surface electrodes to a surface of the body.例文帳に追加

第一プローブ電極及び第二プローブ電極を有するプローブを患者の身体内に挿入することと、体表電極を身体の表面に連結することと、を含む、位置検出のための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe film for a probe block and a manufacturing method of the probe film, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるプローブブロック用プローブフィルム、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

To provide an improved measuring probe which can be used, even if the boundary region of the shortage of an electrolyte cannot be detected visually regarding the measuring probe for potentiometry and to provide a method, in which the aging state of the measuring probe can be monitored.例文帳に追加

電位差測定のプローブに関して、電解質不足の境界域を目で検知することが不可能であっても、改良したプローブを提供し、測定プローブの老化の状態を監視する方法を提供。 - 特許庁

To provide an analyzer and a probe pre-operation method, use capable of easily and rapidly replacing the probe and of starting the use of the probe, moreover, in a stable condition with the carryover made small.例文帳に追加

容易且つ迅速にプローブの交換が可能であり、さらにキャリーオーバ量が小さく安定した状態でプローブの使用を開始することが可能な分析装置およびプローブ使用前準備方法を提供する。 - 特許庁

PROBE-BONDED SUBSTRATE, PRODUCTION OF PROBE-BONDED SUBSTRATE, PROBE ARRAY, DETECTION OF TARGET SUBSTANCE, METHOD FOR SPECIFYING BASE SEQUENCE OF SINGLE-STRANDED NUCLEIC ACID IN SAMPLE AND DETERMINATION OF TARGET SUBSTANCE IN SAMPLE例文帳に追加

プローブ結合基板、プローブ結合基板の製造方法、プローブアレイ、標的物質の検出方法、サンプル中の一本鎖核酸の塩基配列を特定する方法、及びサンプル中の標的物質の定量方法 - 特許庁

To provide a device and method for correcting probe altitude data so as to reduce the influence on energy consumption to be calculated from the probe altitude data and attain matching between the probe altitude data and mesh altitude data.例文帳に追加

プローブ標高データから演算されるエネルギー消費量への影響が小さく、かつ、プローブ標高データとメッシュ標高データを整合させるようにプローブ標高データを補正可能な装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe for furthermore improving the sensitivity by enhancing the linearity response of a displacement current with respect to a displacement of vibration and to provide an array probe and a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

振動の変位に対する変位電流の直線応答性を良くすることにより、感度のさらなる向上を図った超音波探触子、アレイ探触子および超音波探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cleaning sheet that can remove foreign matters adhering to the probe of a probe card without wearing the probe in a state that the removed foreign matters are not allowed to again adhere to the probe and part of the cleaning layer of the sheet is not transferred to the probe; and to provide a method of manufacturing the sheet, a method of cleaning the sheet, and a transporting member having the sheet.例文帳に追加

プローブカードのプローブ針に付着した異物を除去する時に、プローブ針を磨耗させることなく異物を除去することができ、また、一旦、針から除去された異物が再付着することがなく、かつ、クリーニング層の一部がプローブ針に転写することのないクリーニングシートとその製造方法、クリーニング方法、クリーニングシートを有する搬送部材を提供する。 - 特許庁

NOVEL NUCLEIC ACID PROBE, ASSAYING METHOD OF NUCLEIC ACID USING THE SAME, AND ANALYZING METHOD OF DATA OBTAINED THEREBY例文帳に追加

新規核酸プローブ並びにそれを用いる核酸測定方法、及びその方法によって得られるデータを解析する方法 - 特許庁

ULTRASONIC WAVEGUIDE ROD, ULTRASONIC PROBE, IMPURITY DETECTION METHOD USING SAME, AND INTERFACE POSITION MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

超音波導波棒および超音波プローブ並びにそれを用いた不純物検出方法および界面位置計測方法 - 特許庁

To provide an optical test apparatus, a test method, a driving method, and a probe card that are suitable for selectively testing an image sensor.例文帳に追加

イメージセンサを選択的にテストするのに適する光学テスト装置、テスト方法、駆動方法、及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR ELEMENT INSPECTION METHOD USING IT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTED BY THE INSPECTION METHOD例文帳に追加

プローブカードおよびそれを用いた半導体素子の検査方法、並びにその検査方法により検査した半導体装置 - 特許庁

SOLIDIFICATION CARRIER FOR LIVING BODY-RELATED SUBSTANCE DETECTION, PROBE SOLIDIFICATION METHOD, AND LIVING BODY-RELATED SUBSTANCE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

生体関連物質検出用固相化担体及びプローブの固相化方法、並びに生体関連物質解析方法 - 特許庁

METHOD FOR PREDICTING INFLUENCE OF CHEMICAL SUBSTANCE ON LIVING BODY, PROBE SET AND DETECTION OR QUANTIFICATION KIT TO BE USED FOR THE METHOD例文帳に追加

化学物質が生体に与える影響の予測方法、これに用いるプローブセット及び検出又は定量用キット - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING GENOTYPE OF STAPHYLOCOCCUS, PROBE USING THE SAME, MICROARRAY, AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR HYBRIDIZATION例文帳に追加

ブドウ球菌の遺伝子型解析方法、それに使用するプローブ、マイクロアレイ、及びハイブリダイゼーション用サンプルの調製方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPES, ITS MANUFACTURING METHOD, AND FERROMAGNETIC ALLOY COATING METHOD FOR CARBON NANOTUBES例文帳に追加

走査型磁気力顕微鏡用探針およびその製造方法並びにカーボンナノチューブ用強磁性合金成膜方法 - 特許庁