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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3948件
To provide a conductive probe of which the measurement accuracy of a magnetic characteristic is improved by improving wear resistance and the size is reduced without decreasing its life, and to provide a method for manufacturing the conductive probe and a method for measuring a magnetic characteristic by using the conductive probe.例文帳に追加
耐摩耗性を向上して小型化を図ることにより寿命を損なうことなく磁気特性の測定精度を向上した導電性プローブ、導電性プローブの製造方法、及びその導電性プローブを用いた磁気特性測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a DNA probe chip which improves a hybridization rate on the surface of a solid chip, carries out a measurement in a short period of time with high sensitivity and causes less pseudopositive hybridizations, and also to provide a method of producing the DNA probe chip and a hybridization method for the DNA probe chip.例文帳に追加
固体チップ表面でのハイブリダイゼーション速度を改善し、短時間で計測が可能で高感度、かつ、擬陽性ハイブリダイゼーションの少ないDNAプローブチップ、DNAプローブチップの作成法、および、DNAプローブチップにおけるハイブリダイゼーション法を提供すること。 - 特許庁
To provide an inexpensive high-performance probe device for inputting/outputting an electric signal for inspecting operation of a semiconductor integrated circuit, and to provide a method for manufacturing the probe device, and a method for inspecting the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
半導体集積回路の動作を検査する電気信号を入出力するための、低コストで高性能なプローブ装置、その製造方法および半導体集積回路の検査方法を実現する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a probe cover whose tip can be very thin without affecting the accuracy in the measurement by integral molding, and a probe cover manufactured by the method.例文帳に追加
先端部の厚さを極めて薄くすることができ、測定精度に影響しないプローブカバーを一体成形により製造するプローブカバーの製造方法、およびかかる方法で製造されるプローブカバーを提供する。 - 特許庁
The method for detecting the target nucleic acid comprises selectively detecting the RNA probe hybridized with the target nucleic acid by mixing the target nucleic acid with the RNA probe produced by the method and having the label.例文帳に追加
標的核酸と上記方法により作成された標識を有するRNAプローブとを混合し、前記標的核酸とハイブリダイズしたRNAプローブを選択的に検出する標的核酸の検出方法。 - 特許庁
The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-DP and identify the HLA-DP contained in a specimen using the probe set.例文帳に追加
HLA-DPの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるHLA-DPを同定する。 - 特許庁
To provide an inspection tool and a method for fixing a probe to it, allowing facilitation of probe replacement and adaptation to the miniaturization of inspection points of an object to be inspected.例文帳に追加
プローブの交換が容易に行え、被検査体の検査点の微細化に対応できる検査治具及び検査治具へのプローブの固定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a scanner driving method for a scanning probe microscope for avoiding the influence of an error resulted from the scanning of the probe or the sample in a circular arcuate shape.例文帳に追加
プローブまたは試料が円弧状に走査されることに起因するエラーの影響を回避できるようにする走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法を提供すること。 - 特許庁
This enables the current flowing to the pattern 4 and probe 3, and the temperature of a probe unit 1 for use in the photochemical gas phase deposit method can be raised.例文帳に追加
したがって、電流通路パターン4及び探針3へ電流を流すことが可能となり、光化学気相堆積法用プローブ1の温度を上昇させることができる。 - 特許庁
The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-C and identify the HLA-C contained in a specimen using the probe set.例文帳に追加
HLA-Cの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるHLA-Cを同定する。 - 特許庁
To provide an array probe measuring method for measuring a place away from the central reference line of a pair of probes in the state of discriminabilities being improved, and also to provide an array probe measuring instrument.例文帳に追加
一対の探触子の中央基準線から外れた箇所を識別性の良い状態で測定するアレイ探触子の測定方法及びその測定装置を提供する。 - 特許庁
To evade damage of a test pad caused by contact of a defective probe needle by a simple mechanism, with respect to a vertically-movable type probe card, testing method and testing device.例文帳に追加
上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置に関し、簡単な機構により不具合のあるプローブ針のコンタクトによるテストパッドの損傷を回避する。 - 特許庁
This method has a step for sucking some quantity of fluid into the metering probe by using the metering pump, moving the probe relative to a reaction vessel, and supplying the fluid.例文帳に追加
この方法は、計量ポンプを用いて、ある量の流体を計量プローブ内に吸込み、プローブを反応容器に対して移動させ、流体を供給するステップを備える。 - 特許庁
To provide a probe position correction method for deriving a high precision observation images by compensating for the errors due to the migration of the probe within XY face, accompanying its movement in Z direction.例文帳に追加
プローブがZ方向に移動するのに伴うXY面内のプローブの移動による誤差を補正し高精度な観察像を得るプローブ位置補正方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a pump-probe photometric device and photometric method that can irradiate pump light and probe light to a photosensitive material, accurately measure the time development of a non-linear component of the response signal, and display a waveform on a display.例文帳に追加
感光物質にポンプ光とプローブ光とを照射し、その応答信号の非線形成分の時間発展を正確に測定し、かつディスプレイに波形表示する。 - 特許庁
The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-A and identify the HLA-A contained in a specimen using the probe set.例文帳に追加
HLA-Aの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるHLA-Aを同定する。 - 特許庁
To provide a method of cleaning a high-reliability probe card that keeps a low contact resistance value without damaging a probe terminal of an inspection tool for inspecting a semiconductor element.例文帳に追加
半導体素子を検査する検査治具のプローブ端子を損傷することなく、低接触抵抗値を維持し、信頼性の高いプローブカードの洗浄方法を得る。 - 特許庁
To provide a probe tip generating method for a nanostructure and its generating device which generates a microscopic probe tip part and controls its growth direction.例文帳に追加
極微細な探針先端部を生成させるとともに、その成長方向を制御可能なナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection probe manufacturing method in which the quality of a joined part in an inspection probe configured by joining wire rods consisting of dissimilar metals is improved.例文帳に追加
異種金属からなる線材を接合して構成される検査用プローブにおける接合箇所の品質を向上した検査用プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁
The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-DR and identify the HLA-DR contained in a specimen using the probe set.例文帳に追加
HLA- DRの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるHLA- DRを同定する。 - 特許庁
To provide ultrasonographic system and method, automatically activating a probe selected by a user through a sensor mounted on the probe in the ultrasonographic system.例文帳に追加
超音波診断システムにおいて、プローブに装着されるセンサを通じて使用者が選択したプローブを自動で活性化させることができる超音波診断システム及び方法を得る。 - 特許庁
The method for inspecting the semiconductor connects a contact probe to an object to be inspected, and is conducted on the basis of a signal received by the contact probe.例文帳に追加
検査対象にコンタクトプローブ(5)を接続させ、前記コンタクトプローブ(5)が受ける信号に基づいて行われる半導体検査を、以下のステップを含む方法で実行する。 - 特許庁
INFORMATION DETECTOR WITH SCANNING PROBE, PROCESSOR AND SURFACE OBSERVATION DEVICE BUILT USING THE SAME AND INFORMATION DETECTING METHOD WITH SCANNING PROBE例文帳に追加
走査型プローブを備えた情報検出装置、該情報検出装置を用いて構成した加工装置、表面観察装置、及び走査型プローブを備えた情報検出方法 - 特許庁
To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-DQ, and to provide a method for identifying the same using the probe set.例文帳に追加
HLA−DQの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたHLA−DQのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a probe card which does not require a high degree of skillful technique, improves the productively, and can remarkably increase position accuracy of a probe needle, along with improving the productivity, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加
高度な熟練技術を要せず、生産性が改善されると共にプローブ針の位置精度を格段に向上できるプローブカード及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The ultrasonic probe 12 is scanned along the surface of the moving blade, while executing this flaw detection method to acquire the B scope display accompanied by the scanning of the ultrasonic probe 12.例文帳に追加
この探傷法を実行しながら超音波探触子12を動翼の表面に沿って走査して、超音波探触子12の走査に伴うBスコープ表示を取得する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a scattering-type near field optical probe, capable of fixing a scattering body having a size smaller than 100 nm to the pointed end of a probe.例文帳に追加
100nmよりも小さなサイズの散乱体をプローブの尖った先端(尖端)に固定することができる散乱型近接場光プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁
In the working method by the scanning probe, the probe 6a supported by a cantilever is relatively scanned on a sample 2 at a predetermined scanning speed to work the sample 2.例文帳に追加
カンチレバーにより支持された探針6aを、所定の走査速度で試料2上を相対走査して試料2を加工する走査型プローブによる加工方法である。 - 特許庁
To provide a probe testing method in which excellent electric contact can be stably made, and to provide a semiconductor wafer and a probe card.例文帳に追加
安定して良好な電気的接触が可能な安定して良好な電気的接触が可能なプローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカードを提供する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic probe having a connection strength between a piezoelectric element and an electrode and having excellent acoustic characteristics, and to provide a manufacturing method of the ultrasonic probe.例文帳に追加
圧電素子と電極との間で高い結合強度を有し、且つ音響特性の高い超音波プローブ、及び当該超音波プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-MICA, and to provide a method for identifying the same using the probe set.例文帳に追加
HLA−MICAの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたHLA−MICAのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method which shortens the execution time of the grinding and cleaning of the probe needle of a probe card to be used for a wafer prober device, and can be executed in an arbitrary time.例文帳に追加
ウエハプローバ装置に使われるプローブカードのプローブ針の研磨またはクリーニングの実行時間が短く、かつ任意の時間に実行可能な方法を提供する。 - 特許庁
To provide a probe which is readily designed and with which a plurality of base polymorphisms are accurately detected under the same condition and a method for detecting the base polymorphisms using the probe.例文帳に追加
プローブの設計が容易で、同一条件下で複数の塩基多型を精度よく検出できるプローブと、そのプローブを使った塩基多型検出方法を提供すること。 - 特許庁
PROBE FOR HIGH-TEMPERATURE MEDIUM WITH RADIO TRANSMITTER AND SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE OF HIGH-TEMPERATURE MEDIUM, CONSTITUENT CONCENTRATION, AND PHYSICAL PROPERTY USING THE SAME PROBE例文帳に追加
無線発信装置を備えた高温融体用プローブ及び当該プローブを用いた高温融体の温度、成分濃度及び物性測定システム並びに測定方法 - 特許庁
To provide an optical fiber probe suitable for use in a proximity optical microscope, and a manufacturing method for the optical fiber probe capable of manufacturing easily and inexpensively the optical fiber probe having a highly precise sharp part.例文帳に追加
近接場光学顕微鏡に用いて好適な光ファイバプローブを提供するとともに、高精度な先鋭部を有する光ファイバプローブを容易にかつ安価に製造することが可能な光ファイバプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a multi-probe type scan probe microscope apparatus and a sample surface evaluation method which can reduce labor and time required for measuring work by facilitating the measurement of multiple kinds of scan probe microscope images.例文帳に追加
複数種の走査プローブ顕微鏡像の測定を容易に行えて、測定作業に要する労力および時間を軽減できるマルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法を提供する。 - 特許庁
The method further includes positioning a probe in the region and measuring a perturbed magnetic field at the probe, and determining a location of the probe in response to the measured perturbed magnetic field and the calculated reaction magnetic field.例文帳に追加
本方法は、領域中にプローブを配置し、前記プローブにおける摂動した磁界を測定することと、測定された摂動した磁界及び計算した反応磁界に対応してプローブの位置を決定することと、を更に含む。 - 特許庁
To provide a jig that facilitates performing the insertion of a probe into a magnetic pipe and the taking out of the probe from the magnetic pipe in the inspection of the flaw of the magnetic pipe using the probe, and to provide a method of inspecting the flaw of the magnetic pipe.例文帳に追加
プローブを用いた磁性体管の欠陥検査において、プローブの磁性体管への挿入、および磁性体管からの取出しを容易に行うための治具および磁性体管の欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a probe fixing substrate capable of performing the total inspection in a manufacturing process of a probe fixing substrate so that all of the manufactured probe fixing substrates have good measuring precision.例文帳に追加
プローブ固定化基体の製造過程において全数検査を行い、製造されたプローブ固定化基体が全て良好な測定精度を有することを可能にする、プローブ固定化基体の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
In this inspecting method, magnetic attracting force is applied between a rockably held probe 1 and a circuit 55 to bring the probe 1 into contact with the circuit 55 when bringing the probe 1 into contact with the circuit 55 on a substrate 5 for inspecting the circuit 55.例文帳に追加
基板5上の回路55にプローブ1を接触させて回路の検査を行うにあたり、揺動自在に保持しているプローブ1と回路55との間に磁気的吸引力を働かせてプローブ1を回路55に接触させる。 - 特許庁
To provide a probe card capable of accurately inspecting electric characteristics of an object by avoiding the structure of the probe card from being complicated and surely contacting a probe needle with an electrode part so as to decrease the frequency of withdrawal, and to provide a measuring method using the same.例文帳に追加
プローブカードの構造を複雑にせず、更に、電極部に対し確実にプローブ針を接触させ外れる頻度を減らし、正確な電気特性検査ができるプローブカード及びプローブカードの測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加
簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method using a probe device capable of inspecting a probe card without heating or cooling it preliminarily, and capable of preventing surely a position shift between a probe and an inspection object to carry out highly precise inspection.例文帳に追加
プローブカードを事前に加熱または冷却することなく検査を行うことがで、また、プローブと被検査体の位置ズレを確実に防止して信頼性の高い検査を行うことができるプローブ装置を用いる検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an insulation coated probe pin in which no current leakage is generated, when the tip of the probe pin is in contact, and to provide a method for producing the insulation coated probe pin by which the workability is not lowered, and which does not use organic solvents or special chemicals.例文帳に追加
プローブ針先端部が接触しても通電リークが発生しないプローブ針を提供すること、および作業性が低下せず、有機溶剤や特殊な薬品を使用しない絶縁被覆プローブ針の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic probe capable of providing stable adhesive force among each of members to be laminated, a manufacturing method of such ultrasonic probe and an ultrasonic image pickup device using such ultrasonic probe.例文帳に追加
積層される各部材間で安定した接着力が得られる超音波プローブ製造方法、そのような超音波プローブの製造方法、およびそのような超音波プローブを用いる超音波撮像装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a method of synthesizing a new fluorescent pigment molecule, a purification method, and an application as a skeleton of a cell introduction type probe.例文帳に追加
新規な蛍光色素分子の合成方法、精製方法および、細胞導入型プロープの骨格として応用の提供。 - 特許庁
PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT, ITS MANUFACTURING METHOD, NEAR FIELD LIGHT MICROSCOPE, AND INFORMATION RECORD REGENERATION METHOD FOR OPTICAL MEMORY例文帳に追加
近接場光用のプローブ及びその作製方法、並びに近接場光学顕微鏡、光メモリの情報記録再生方式 - 特許庁
HOLDING METHOD FOR OBJECT TO BE TREATED, ELECTROSTATIC ATTRACTING MECHANISM, ELECTROSTATIC ATTRACTION PROBE, TRANSPORTING METHOD AND DEVICE FOR OBJECT TO BE TREATED例文帳に追加
被処理物保持方法、静電吸着機構、静電吸着プローブ、被処理物搬送方法、および被処理物搬送装置 - 特許庁
NEAR-FIELD PROBE WITH GUIDE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OPENING CREATION METHOD, AND NEAR-FIELD SPECTROGRAPH AND OPTICAL HEAD USING THE SAME例文帳に追加
ガイド付き近接場プローブとその製造方法、及び開口作成方法、それを用いた近接場分光装置および光ヘッド - 特許庁
PROBE FOR DETECTING POLYMORPHISM IN CYP3A GENE, METHOD FOR DETECTING POLYMORPHISM, METHOD FOR EVALUATING MEDICINE EFFICACY AND REAGENT KIT FOR DETECTING POLYMORPHISM例文帳に追加
CYP3A遺伝子の多型検出用プローブ、多型検出方法、薬効評価方法及び多型検出用試薬キット - 特許庁
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