「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR CLEANING MEASURING PROBE FOR ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING DEVICE AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子部品検査装置用測定プローブのクリーニング方法及びこれを用いる電子部品検査装置 - 特許庁

To provide a method and device for detecting the contact of a touch probe of a wide measurement angle by making a measurement pressure low.例文帳に追加

測定圧が低く、広い測定角度のタッチプローブの接触検出方法及び装置を提供。 - 特許庁

TEMPERATURE AND FLUID PHASE DETERMINATION SIMULTANEOUS MEASUREMENT METHOD FOR MULTIPHASE FIELD CONSISTING OF LIQUID AND GAS, AND COMPOSITE PROBE例文帳に追加

液体及び気体から成る混相場の温度・流体相判別同時測定方法及び複合プローブ - 特許庁

TOOL FOR SETTING DEPTH FOR COMBUSTION DYNAMICS MONITORING SYSTEM AND METHOD FOR DISPOSING PROBE AT TARGET DEPTH例文帳に追加

燃焼力学モニタリングシステムのための深さを設定工具及び目標深さにプローブを配置する方法 - 特許庁

PROBE PAD, SUBSTRATE HAVING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTER FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブパッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスター - 特許庁

A method for manufacturing the molecule manipulator includes a step of forming a covalent bond of the photoreactive molecules with the probe.例文帳に追加

分子マニピュレータを作成する方法は、光反応分子をプローブに共有結合するステップを含む。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁

To provide a method for detecting a human herpesvirus 6 (HHV-6) DNA using a new probe.例文帳に追加

新たなプローブを用いたヒトヘルペスウイルス６型（ＨＨＶ−６）ＤＮＡの検出する方法を提供する。 - 特許庁

CONTACT LENS, PROBE FOR CONTACT LENS, SEARCHING METHOD USING THE SAME AND DATA MANAGEMENT SYSTEM FOR CONTACT LENS例文帳に追加

コンタクトレンズ、コンタクトレンズの探査具及びこれらを用いた探索方法、並びにコンタクトレンズのデータ管理システム - 特許庁

To provide a method and apparatus for using a single-crystal piezoelectric material within an ultrasonic probe.例文帳に追加

超音波探触子内で単結晶圧電材料を使用するための方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a software testing method capable of embedding a probe in accordance with real-timeness and memory limitation.例文帳に追加

リアルタイム性やメモリ制限に応じてプローブの埋め込みができるソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING FILM THICKNESS AND ULTRASOUND PROBE MOUNTING STRUCTURE USED IN SAME例文帳に追加

膜厚測定システム、膜厚測定方法、及び、これらに使用される超音波探触子の取付構造 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING NUMBER OF ORAL LACTOBACILLUS, AND PCR PRIMERS AND PROBE SET USED FOR THE SAME例文帳に追加

口腔内の乳酸桿菌数を測定する方法及びそれに用いるＰＣＲプライマー及びプローブセット - 特許庁

To provide a testing device and testing method for finding abnormalities of the needle of a probe.例文帳に追加

探針の針先の異常を発見することが可能な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF TRANSMISSION OF ACCESS PROBE IN WIRELESS COMMUNICATION SYSTEMS, AND COMPUTER-READABLE MEDIUM例文帳に追加

無線通信システムにおいてアクセスプローブを送信する方法および装置ならびにコンピュータ可読媒体 - 特許庁

CARBON NANOTUBE WIRING, DEPOSITING DEVICE FOR CARBON NANOTUBE, SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR WIRING CARBON NANOTUBE, AND PROBE例文帳に追加

カーボン・ナノ・チューブ配線、カーボン・ナノ・チューブの析出装置、半導体素子、カーボン・ナノ・チューブの配線方法、探針 - 特許庁

ORGANIC POLYMER MATERIAL, ORGANIC COMPOSITE MATERIAL, ORGANIC PIEZOELECTRIC MATERIAL, METHOD FOR FORMING THE SAME, AND ULTRASONIC PROBE例文帳に追加

有機高分子材料、有機複合材料、有機圧電材料、その形成方法及び超音波探触子 - 特許庁

DETECTION METHOD AND DETECTION DEVICE FOR WAFER LEVEL LIGHT-EMITTING DIODE (LED) CHIPS AND PROBE CARD THEREOF例文帳に追加

ウェーハレベル発光ダイオード（ＬＥＤ）チップのための検出方法及び検出装置並びにそれらのプローブカード - 特許庁

A method of imaging a low-oxygen region uses the near-infrared fluorescent probe for imaging a low-oxygen region.例文帳に追加

前記の低酸素領域イメージング用近赤外蛍光プローブを用いる低酸素領域のイメージング方法。 - 特許庁

To provide an ion scattering spectroscopy measuring method which can appropriately determine irradiation quantity of probe particles.例文帳に追加

プローブ粒子の照射量を適切に決定できるイオン散乱分光測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for conveniently assaying the complementarity of a sample nucleic acid fragment to a probe molecule.例文帳に追加

プローブ分子に対する試料核酸断片の相補性を簡便に検定する方法を提供すること。 - 特許庁

CONTACT GUIDING MEMBER, PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

接触子案内部材、プローブカード及び半導体装置試験装置、並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

NUCLEIC ACID PROBE FOR DETECTING BACTERIUM BELONGING TO GENUS PECTINATUS, AND METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID DERIVED FROM THE BACTERIUM例文帳に追加

ペクチネータス属菌検出のための核酸プローブ、およびその細菌に由来する核酸の検出方法 - 特許庁

TIP-COATED NANOTUBE, TIP-COATED PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE, PROCESSING EQUIPMENT AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

先端被覆ナノチューブ、走査型顕微鏡用先端被覆プローブ、これを用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁

MOLECULE PROBE FOR DISCRIMINATING OPTICAL ISOMER, DISCRIMINATION DEVICE OF OPTICAL ISOMER AND DISCRIMINATION METHOD OF OPTICAL ISOMER例文帳に追加

光学異性体識別用分子探針、ならびに光学異性体の識別装置および識別方法 - 特許庁

To provide an efficient joining method for enhancing attachment reproducibility for attaching a nanotube to a probe tip end part.例文帳に追加

探針尖端部へのナノチューブの取り付けの再現性を高める効率のよい手段が求められている。 - 特許庁

DIRECT LABEL PROBE COMPOSITION AND METHOD FOR DETECTING PLURAL CHROMOSOME OR CHROMOSOME REGION例文帳に追加

直接的標識プローブ組成物及び複数の染色体又は染色体領域の検出方法 - 特許庁

To provide a method for designing a primer-probe set rapidly and accurately identifying a variety of the target sequences.例文帳に追加

多数の標的配列を迅速かつ正確に同定できるプライマー−プローブセットの設計方法の提供。 - 特許庁

To provide a measuring method, capable of taking into consideration of a deformation in a touch probe during a measurement cycle.例文帳に追加

測定サイクル時におけるタッチ式プローブの変形を考慮することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a controlling method and an apparatus for a probe-tip sanding of a semiconductor-element testing apparatus.例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置を提供するにある。 - 特許庁

To provide a probe card coping with a change in a type of a specimen, and an inspection method using the same.例文帳に追加

検体の種類変更に対応できるプローブカード及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

There is provided a method for using a nucleic acid probe having constitution in which a probe complementary to a first mutation region is combined and linked to a probe complementary to a second mutation region in the method for directly detecting haplotype exhibiting the positional relationship on a single strand of a gene polymorphic allele.例文帳に追加

遺伝子多型アレルの一本鎖上での位置関係を示すハプロタイプを直接検出する方法であって、第一の変異領域に相補的なプローブと、第二の変異領域に相補的なプローブを組み合わせた連結した構成を持つ核酸プローブを用いる方法を提供する。 - 特許庁

The probe request is received by a printer where an identical connection method is set (request 32) and the printer sets up a connection method specified by the probe request, that is, the same connection method as the connection method set up at the access point.例文帳に追加

このプローブ要求は、同一の接続方法の設定されているプリンタに受信され（要求３２）、このプリンタが、プローブ要求で特定される接続方法、つまりアクセスポイントにおいて設定されている接続方法と同一の接続方法を設定する。 - 特許庁

To provide a liquid discharge device for manufacturing a probe carrier having constitution accommodating for supplying various kinds of probe solutions to a discharge part without enlarging the device, and preventing enlargement of the device, and provide a device for manufacturing the probe carrier using this device and a method for manufacturing the probe carrier using this device.例文帳に追加

装置の大型化を招くことなく、多種のプローブ溶液を吐出部に供給する場合に対応でき、かつ装置の大型化を招くことない構成を有するプローブ担体製造用の液体吐出装置、これを用いたプローブ担体製造用の装置、及びこれらを用いたプローブ担体製造方法を提供すること。 - 特許庁

To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.例文帳に追加

複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁

In the focused ion beam machining device, the probe is provided which has a long life and can be shape processed in accordance with the purpose of an extracted sample in the focused ion beam machining device by forming the tip of the probe device 9 for manipulating a sample 7 into a multi-step thin wire probe 11, and the method of manufacturing the probe is provided.例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置において、試料７をマニピュレート操作するためのプローブ装置９の先端を多段の細線プローブ１１とすることで、長寿命化、並びに集束イオンビーム加工装置内での抽出試料目的に合わせた形状加工ができるプローブと製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe of an electron source capable of sharpening rather than a conventional probe when sharpening a probe of an electron source and reproducibly manufacturing the probe of an electron source since a sharpening process can be easily controlled.例文帳に追加

電子源用探針を先鋭化するにあたって、従来のものよりもさらに先鋭化が可能であり、かつ先鋭化する工程を制御しやすいため再現性良く電子源用探針を作製することが可能な電子源用探針の製造方法と、この製造方法によって得られる電子源用探針を提供する。 - 特許庁

To provide a probe position control method which enables more accurate observation or operation by correcting the change of the relative position of a sample and a probe during observation or operation in a scanning type probe microscope (SPM) or an atomic manipulator (operation) by excluding the effect of a heat drift or the like, and a probe position control device.例文帳に追加

熱ドリフト等の影響を排除し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)や原子マニピュレータ(操作)装置において、その観察又は操作の間に試料とプローブの相対位置が熱により変化するのを補正して、より正確な観察又は操作を可能にする位置制御方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a laminate for probe pin cleaning capable of simply cleaning all probe pins at a time in the mounted state on the inspection machine as they are without extracting the probe pins from an inspection machine, and having no risk of exerting an adverse effect caused by static electricity, and a simple cleaning method of the probe pins using the laminate.例文帳に追加

検査機からプローブピンを抜き取ることなく検査機に取付けたそのままの状態で全てのプローブピンを一度に簡便に清掃でき、静電気による悪影響を与える心配もないプローブピン清掃用の積層体と、この積層体を用いたプローブピンの簡便な清掃方法を提供する。 - 特許庁

This method for inspecting thickness decrease of a high-temperature pipe includes a probe disposition step for bringing an ultrasonic probe into contact with the surface of the pipe via a contact medium for high temperature, and an inspection step for moving the ultrasonic probe along the axial direction of the pipe with the probe kept in contact with the surface of the pipe.例文帳に追加

高温の配管における減肉を検査する方法であって、高温用接触媒質を介して超音波探触子を前記配管表面に接触させる探触子配置ステップと、前記超音波探触子を、前記配管表面に接触させたまま前記配管の軸方向に沿って移動させる検査ステップとからなる。 - 特許庁

The method further comprises providing a probe substrate defining a planar surface and a second crystal plane identical to the first crystal plane and positioning the probe substrate so that the first and the second crystal planes are positioned identically when forming the probe from the probe substrate using the specific etch reagent, and the probe defines congruent surfaces to the first sidewall and the second sidewall.例文帳に追加

この方法は、平坦面と、第１の結晶面と同一の第２の結晶面とを形成するプローブ基板を配設することと、特定の腐食剤を使用してプローブ基板からプローブを形成する際に、第１および第２の結晶面が全く同じに配置され、プローブが第１の側壁及び第２の側壁と一致する表面を形成するようにプローブ基板を配置することとをさらに含む。 - 特許庁

In the method of fitting the probe 2 to the lower end part of the sub-lance 4 and performing the temperature measurement of the molten metal, the molten metal surface level measurement and the pickup of the sample, the probe supplied from a probe holding box 1, is inclined and erected while carrying a probe supporting inclinable frame to a probe fitting position 13 of the sub-lance.例文帳に追加

サブランス４の下端部に装着され、溶融金属の温度測定、湯面測定、材料採取のうち１以上を行うプローブ２の自動装着方法において、プローブ収納箱１から供給された前記プローブを、プローブ支持起倒フレームが前記サブランスのプローブ装着位置１３まで搬送しながら傾倒し起立させることを特徴とするプローブ自動装着方法。 - 特許庁

The method further comprises the steps of inserting the probe 14 to a leading end of a route of the welded part 5 to be inspected, circumferentially rotating the inserted probe 14 in the tube 1, and judging suitableness or not of the welded state based on data of the probe 14.例文帳に追加

上記探触子１４を溶接部５のルート先端予定箇所まで挿入し、挿入された探触子１４を管体１内部で周方向に回転させ、その探触子１４によるデータに基づいて溶接状況の適否を判断する。 - 特許庁

To provide a probe for analyzing a base sequence, capable of quantitatively detecting the base sequence of a nucleic acid in the same probe spot, and capable of being produced at a low cost; to provide a carrier with the immobilized probe; and to provide a method for analyzing the base sequence.例文帳に追加

核酸の塩基配列を同一プローブスポット内で定量的に検出可能とし、しかも低コストで生産可能な塩基配列解析用プローブ、このプローブを固相化した担体、及びこれを用いた塩基配列解析方法の提供。 - 特許庁