「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING MAIN AXIS ELECTRIC RESISTIVITY OF TWO-DIMENSIONAL AND THREE-DIMENSIONAL ANISOTROPIC SUBSTANCES BY MULTIPOINT VOLTAGE-CURRENT PROBE METHOD例文帳に追加

多点電圧・電流プローブ法による２次元、および３次元異方性物質の主軸電気抵抗率測定方法およびその測定装置 - 特許庁

METHOD FOR PREDICTING DEVELOPMENT OF SECONDARY FAILURE IN ADVANCE WHEN SULFONYLUREA AGENT IS ADMINISTERED, AND EXAMINATION KIT, PRIMER, AND PROBE USED FOR THE SAME METHOD例文帳に追加

スルホニルウレア剤を投与した場合の二次無効の発生を事前に予測する方法、並びに、該方法に用いられる検査キット、プライマー及びプローブ - 特許庁

MID SUBSTRATE STRUCTURE, METHOD FOR INSPECTING MID SUBSTRATE OF THAT STRUCTURE, AND CONTACT PROBE FOR INSPECTING MID SUBSTRATE BEING USED IN THE INSPECTION METHOD例文帳に追加

ＭＩＤ基板構造、及び当該構造のＭＩＤ基板検査方法、及び同検査方法で用いるＭＩＤ基板検査用コンタクトプローブ - 特許庁

The method for diagnosing the exhaust gas probe disposed in the exhaust system of the internal combustion engine, and the device for executing the method are mentioned.例文帳に追加

内燃機関の排気システム内に配置された排気プローブを診断する方法、および、本方法を実行するための装置が記載される。 - 特許庁

METHOD FOR QUANTITATIVELY DETERMINING TARGET NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID USED FOR THE SAME, PROBE-IMMOBILIZED SUBSTRATE, ASSAY KIT AND METHOD FOR DETECTING VIRUS BY USING THE SAME例文帳に追加

標的核酸の定量方法、それに使用される核酸、プローブ固相化基体およびアッセイキット、並びにそれを利用するウイルス検査方法 - 特許庁

GENE PROBE FOR RAPIDLY AND SPECIFICALLY COUNTING LIVE PSEUDOMONAS AERUGINOSA BY IN-SITU HYBRIDIZATION METHOD JOINTLY USING CULTURE, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

培養併用インサイチューハイブリダイゼーション法により生きている緑膿菌を迅速かつ特異的に計数するための遺伝子プローブ及びその方法 - 特許庁

This manufacturing method of the probe jointing particles includes a process for jointing a probe to the surfaces of particles and a process for treating the particles with the probe jointed thereto by using the blocking agent composed of a water-soluble copolymer having a functional group shown by the formula (1).例文帳に追加

プローブ結合粒子の製造方法は、粒子の表面にプローブを結合させる工程と、下記式（１）で示される官能基を有する水溶性共重合体からなるブロッキング剤を用いて、前記プローブが結合された前記粒子を処理する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a detection method of a target material capable of removing an influence caused by dispersion of a fixing state of a probe carried by a probe immobilization carrier to a solid phase carrier on a measurement result of the target material, and the probe immobilization carrier, a device or the like therefor.例文帳に追加

標的物質の測定結果へのプローブ固定担体の有するプローブの固相担体への固定状態のバラツキによる影響を排除できる標的物質の検出方法及びそのためのプローブ固定担体及び装置などを提供すること。 - 特許庁

The probe manufacturing method comprises: a contact point forming step for forming a contact part on a probe body; and a shaping step for cutting at least one of the contact part and the probe body by a cutting tool, for shaping.例文帳に追加

プローブを製造する製造方法であって、プローブ本体上に接点部を形成する接点形成段階と、接点部およびプローブ本体の少なくとも一方を切削工具により切削して整形する整形段階と、を備えるプローブ製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for amplifying a nucleic acid, by which a specimen elongated over the almost all length of a template nucleic acid can be prepared, and high detection sensitivity for a detection probe at a site near to the 3'-terminal side of the detection probe without being affected by the selected position of the probe can be achieved.例文帳に追加

鋳型核酸に対してほぼ全長伸長した検体を調整することが可能となり、検出用プローブの選択位置に影響されず、その３’末端側の近い部位に検出用プローブに対しても高い検出感度を達成する - 特許庁

To reduce the obstruction of the detection of fluorescence caused by the scattering, absorption and refractive index change of exciting light on the surface of a probe due to a fat component in an optical measuring method for detecting the bonded substance formed on the probe by bringing the probe and a specimen into contact with each other.例文帳に追加

プローブと検体とを接触させることで、プローブ上に形成される結合物を検出する光学的測定法において、脂肪分によるプローブ表面での励起光の散乱・吸収・屈折率変化などによる蛍光検出の妨害を軽減する。 - 特許庁

There are provided a dispensing device 5 which includes a dispensing probe turned and moved up or down for dispensing a liquid specimen including a reagent and a sample, and a cleaning tank for cleaning the dispensing probe after dispensation, a method for cleaning a dispensing probe of a dispensing device, and the automatic analysis device.例文帳に追加

回動、かつ、昇降され、試薬及び検体を含む液体試料を分注する分注プローブと、分注後の前記分注プローブを洗浄する洗浄槽とを備えた分注装置５、分注装置の分注プローブ洗浄方法及び自動分析装置。 - 特許庁

In the pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, the substrate having the semiconductor device, the method of testing the semiconductor device and the tester for testing the semiconductor device, the probe pad includes a probing region with which a probe needle makes contact.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターにおいて、前記プローブパッドはプローブ針が接触するプローブ領域を含む。 - 特許庁

To provide a positioning method of the measuring position of a scanning probe microscope, capable of performing positioning at a high speed with high precision, by eliminating the positional shift caused by the coarse operation of a Z-coarse adjustment part, at positioning of the probe at the measuring position in the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での測定位置の探針位置決めで、Ｚ粗動部の粗動動作に起因する位置ズレを解消し、高精度でかつ高速な位置決めを行うことができる走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法を提供する。 - 特許庁

To provide an operating method of a tip kit, capable of enhancing, at least one performance, among reactivity performance of specimen to the probe supported particles, removal performance of unreacted specimen from the probe particles, and separating performance of target matter in specimen from the probe supported particles.例文帳に追加

プローブ担持粒子と検体との反応性、プローブ粒子からの未反応検体の除去性能、プローブ担持粒子からの検体中の標的物質の分離性能の少なくとも１つを向上させることができるチップキットの操作方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic visual inspection device capable of certainly performing the automatic visual inspection in the chip invalid region of a semiconductor wafer and capable of preventing the probe of a probe device from being damaged by the foreign matter adhered to the chip invalid region when inspecting the probe, and an automatic visual inspection method.例文帳に追加

半導体ウェーハのチップ無効領域における自動外観検査を確実にし、プローブ検査時にチップ無効領域に付着した異物によりプローブ装置における探針が破損するのを防止することのできる外観検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of preventing damage of a specimen due to contact with the specimen, its manufacturing method, and an inspecting method of an electronic device capable of preventing damage of the specimen due to contact of the specimen with a substrate of the probe unit.例文帳に追加

検体との接触による検体の損傷を防止できるプローブユニット、その製造方法及び検体とプローブユニットの基板との接触による検体の損傷を防止できる電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit adjusting the position of conducting wires to electrodes using contact marks, even if the inspecting pads are not prepared in the specimen for each electrode, and also to provide an inspecting method and and a producing method of the probe unit.例文帳に追加

検査用パッドが電極毎に検体に設けられていなくても、接触痕跡を用いて電極に対する導線の位置を調整することができるプローブユニット、検査方法及びプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hybridization method not requiring setting of stringency optimum and common to a plurality of probe species in a method for analyzing point mutation of single nucleotide polymorphism or the like by using a DNA microarray carrying an oligonucleic acid probe.例文帳に追加

オリゴ核酸プローブ搭載のＤＮＡマイクロアレイを用いた一塩基多型等の点変異を解析する方法において、複数種のプローブに最適な共通のストリンジェンシーを設定する必要のないハイブリダイゼーション方法を提供する。 - 特許庁

In the method for manufacturing probe tips to be formed on a substrate correspondingly to the positions of electrode pads of a semiconductor device to be inspected, metal powder is three-dimensionally sintered at prescribed locations on the substrate on the basis of shape information including the shapes of probe tips and locations at which the probe tips are to be formed on the substrate to manufacture the probe tips.例文帳に追加

検査する半導体装置の電極パッドの位置に合わせて基板上に形成されるプローブチップの製造方法であって、プローブチップの形状とこのプローブチップを基板上に形成する位置を含む形状情報に基づいて、基板上の所定の位置に金属粉末を３次元的に焼結させてプローブチップを製造する。 - 特許庁

The method makes the probe move in a moving direction that is different from the pushing direction, while pushing the probe to the surface of the sample; detects twisting of the probe that is generated during this movement operation; and adjusts one or both of a speed in the moving direction of the probe and the force in the pushing direction, based on the detected value.例文帳に追加

この探針制御方法では、探針を試料の表面に押付けながら押付け方向とは異なる移動方向に探針を移動させ、この移動動作中に生じた探針の捩れを検出し、その検出値に基づき探針の移動方向の速度あるいは押付け方向の力のいずれか一方または両方を調整する。 - 特許庁

The method for manufacturing a probe card includes steps of bonding a thermoplastic resin substrate to one surface of the probe head; forming a plurality of terminals on the other surface of the probe head; bonding a metal substrate to the thermoplastic resin substrate; and selectively etching the metal substrate to form probe chips.例文帳に追加

プローブヘッドの一面に熱可塑性樹脂基板を接合する工程と、上記プローブヘッドの他面に複数の端子を形成する工程と、上記熱可塑性樹脂基板に金属基板を接合する工程と、上記金属基板を選択的にエッチングしてプローブチップを形成する工程と、を含むことを特徴とするプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dispensing probe cleaning method and an automatic analyzing apparatus, capable of performing the cleaning of a dispensing probe by properly determining the contact range with a specimen or reagent of the dispensing probe when the dispensing probe gets into the specimen or reagent more than necessary because a liquid level is not normally detected by the trouble or bad condition of a liquid level detecting mechanism.例文帳に追加

液面検知機構の故障または不具合によって、正常に液面を検知できずに分注プローブが必要以上に検体または試薬内部に潜り込んだ際に、分注プローブが検体または試薬と接触した範囲を適切に判断して洗浄を行なうことができる分注プローブ洗浄方法および自動分析装置を提供する。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

In a method of manufacturing the probe, a recess exposed by a sacrifice layer is formed with a resist on the sacrifice layer on the pedestal, after a probe material is accumulated in the recess to form the probe, the resist is removed, the sacrifice layer is removed by performing etching treatment and leaving part thereof, and the probe held on the pedestal by the remaining part includes being peeled from the pedestal.例文帳に追加

基台上の犠牲層の上に該犠牲層が露出する凹所をレジストで形成し、該凹所にプローブ材料を堆積してプローブを形成した後、レジストを除去し、さらにエッチング処理により、犠牲層をその一部を残して除去し、その残部で基台上に保持されたプローブを基台上から剥離することを含むプローブの製造方法。 - 特許庁

To provide a method for inspecting conduction by contacting a probe on the outer surface of a contact even when the contact cannot have a contact surface orthogonal to a travelling direction of the probe on the outer side surface of the contact.例文帳に追加

コンタクトの外側面にプローブの進行方向と直交する接触面を設けることのできないコネクタであっても、コンタクトの外側面にプローブを接触させて導通検査する方法を提供する。 - 特許庁

The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-DQ and identify the HLA-DQ contained in a specimen using the probe set.例文帳に追加

ＨＬＡ−ＤＱの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるＨＬＡ−ＤＱを同定する。 - 特許庁

To reduce the size and thickness of a vacuum tank and the whole prober device by reducing the cross section of bellows while securing the movable range of a probe, to stably stabilize a probe holding method, and to suppress a temperature drift.例文帳に追加

探針の可動範囲を確保しつつ蛇腹の断面積を抑制し真空槽およびプローバ装置全体を小型化薄型化し、探針保持方法を機械的に安定化し、かつ温度ドリフトを抑制する。 - 特許庁

To provide a method of determining a needle mark, which can more accurately determine whether marks formed on electrode pads of devices are probe needle marks, thereby significantly reduces erroneous determination of the marks as the probe needle marks.例文帳に追加

デバイスの電極パッドに付いた痕跡をプローブの針跡としてより正確に判定し、プローブの針跡としての誤判定を格段に軽減することができる針跡の判定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe sheet capable of accurately arranging a needle tip at a prescribed position without having to perform any troublesome position adjusting work in the connecting work between each contact and a probe sheet body.例文帳に追加

各接触子とプローブシート本体との結合作業での針先の煩わしい位置調整作業を行うことなく、該針先を正確な所定位置に配置し得るプローブシートの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for avoiding singular points, in the moving of CMG in the CMG arrangement at a space probe, including a first step of receiving an operation command for turning the direction of the space probe.例文帳に追加

宇宙探査機の向きを回転する操縦コマンドが受信される第１のステップを含む宇宙探査機内のＣＭＧの配列のＣＭＧの移動における特異点を回避する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a managing method and a managing apparatus of a cleaning wafer capable of selecting the cleaning wafer suitable for cleaning the probe of each probe card easily and managing the usable region of the cleaning wafer.例文帳に追加

個々のプローブカードの触針のクリーニングに最適なクリーニングウエハを容易に選択出来ると共に、クリーニングウエハの使用領域の管理も行うことができるクリーニングウエハの管理方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test apparatus for testing integrated-circuit technology and, to be more precise, provide a probe card constituted in such a way as to reduce crosstalk between probes of a probe card.例文帳に追加

集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。 - 特許庁

To provide a labeled substance for identifying several tens of or several thousands of sample molecules in the same section, by minimizing a probe section, such as a DNA probe array, and to provide a multiple inspection method of biological substances.例文帳に追加

ＤＮＡプローブアレーなどのプローブ区画を最小にし、同一区画で数十ないし数千の試料分子を識別できる標識物とこれを用いる生体物質のマルチ検査法を提案すること。 - 特許庁

To provide a method which enables the accurate identification of the kind of the probe bonded to probe beads and to sharply enhance a biochemical or immunological inspection result using a capillary bead array.例文帳に追加

プローブビーズに結合しているプローブの種類を正確に同定することができる方法を提供し、キャピラリビーズアレイを用いる生化学的又は免疫学的検査の結果の信頼性を大幅に向上させる。 - 特許庁

To provide a probe unit, a probe assembly, and an inspection method of an electronic device capable of inspecting the electronic device having electrodes arranged at a narrow interval without damaging the top surfaces of the electrodes of the electronic device.例文帳に追加

電子デバイスの電極の頂面を傷つけることなく、狭い間隔で電極が配列された電子デバイスを検査できるプローブユニット、プローブアッセンブリ及び電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card which enables to use probe pins in the shape of a horizontal type cantilever on the occasion of performing continuity inspection of an integrated circuit having a plurality of electrodes arranged in grid disposition, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

複数の電極がグリッド配置された集積回路を導通検査する際に水平型カンチレバー形状のプローブピンを使用することができるプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A dispensing pump 5 is operated by a pump driving part 6, and the liquid sample containing the specimen or a reagent is dispensed from the probe 2, in this dispenser, dispensing amount correction method for the probe and analyzer.例文帳に追加

ポンプ駆動部６によって分注ポンプ５を作動させ、検体又は試薬を含む液体試料をプローブ２から分注する分注装置、プローブの分注量補正方法及び分析装置。 - 特許庁

To provide a probe and a cantilever for realizing an AFM (Atomic Force Microscope) having high resolution, and a method for manufacturing the probe and the cantilever easily and surely.例文帳に追加

高い分解能を有するＡＦＭを実現し得るプローブ及びカンチレバーと、それらプローブ及びカンチレバーを簡易且つ確実に製造することが可能な製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

A method of medical imaging includes creating an anatomical map of an inner wall of a cavity in a body of a subject by inserting a probe into the body and collecting data using the probe.例文帳に追加

医用撮像の方法は、患者の体にプローブを挿入し、かつこのプローブを使用してデータを収集することによって、体内空洞の内壁の解剖学的マップを作成することを含む。 - 特許庁

To provide an AFM cantilever constituted so that a probe part is strongly held so as to be hardly detached from a lever part without increasing the weight of the probe part by keeping the lever part thin, and its manufacturing method.例文帳に追加

レバー部の厚さを薄くしたまま探針部の重量を増加させることなく、探針部がレバー部から外れにくいように強固に保持させたＡＦＭカンチレバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

PRIMER AND PROBE FOR DETECTING BASES OF CYTOCHROMES P450, 2C9 AND 2C19 IN SINGLE NUCLEOTIDE POLYMORPHISM, KIT HAVING THE PRIMER AND THE PROBE, DETECTING DEVICE HAVING THE KIT AND DETECTION METHOD例文帳に追加

チトクロームＰ４５０２Ｃ９及び２Ｃ１９の一塩基変異多型の塩基を検出するプライマ、プローブ、当該プライマ及びプローブを備えるキット、当該キットを備える検出装置、並びに、検出方法 - 特許庁

The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-MICA and identify the HLA-MICA contained in a specimen using the probe set.例文帳に追加

ＨＬＡ−ＭＩＣＡの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるＨＬＡ−ＭＩＣＡを同定する。 - 特許庁

In the inspection method, before the plane is measured, the distance between the probe and the surface of the specimen is detected, and the height position of the probe is calibrated in such a way that the distance becomes a set distance.例文帳に追加

この超音波映像検査方法では、平面測定の前に、プローブと被検体の表面との間の距離を検出し、この距離が設定距離になるようにプローブの高さ位置を較正する。 - 特許庁

To provide a method for measuring a local average absorption power when radio waves of same frequency are simultaneously transmitted from a plurality of antennas, using a conventional electric field probe or magnetic field probe.例文帳に追加

従来型の電界プローブまたは磁界プローブを用いて、複数のアンテナから同一周波数の電波を同時に送信する場合の局所平均吸収電力を測定する方法を提供する。 - 特許庁