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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > probe methodに関連した英語例文

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probe methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3948



例文

To provide a linear and two-dimensional array ultrasonic wave probe that employs a composite piezoelectric body consisting of a solid solution group piezoelectric single crystal and a resin where no defective processing is caused at cutting and to provide a manufacturing method for the ultrasonic wave probe.例文帳に追加

固溶系圧電単結晶と樹脂との複合圧電体を用いて、切断時の加工不良が生じない一次元及び二次元アレイ超音波プローブ及び当該超音波プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device and an inspection method therefor capable of easily removing dirt, dust or the like from a probe when a defective contact is caused due to dirt, dust or the like on the tip of the probe.例文帳に追加

プローブ先端の汚れまたはごみ等によってコンタクト不良が発生したときに、簡易にプローブの汚れまたはごみ等を除去することができる液晶表示装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card that is easy to keep high reliability as reducing the density of a probe arrangement when contact regions (such as pads or bumps) under measurement are arranged with fine pitches, and a chip region sorting method using the same.例文帳に追加

測定対象となる接触領域(パッド、バンプ等)が狭ピッチの場合に探針配列の密集を軽減しつつ、高信頼性を維持しやすいプローブカード及びそれを用いたチップ領域ソート方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe of a two-dimensional array capable of simply and reliably communicating the top and bottom surfaces of each element in an acoustic matching layer, an ultrasonic diagnostic device, and to provide a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

簡便且つ確実に音響整合層の各素子の上下面を導通することを可能とする2次元アレイの超音波探触子、超音波診断装置、及び超音波探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

In this conduction inspection method, conduction of the contact 30 is inspected by contacting the probe 40 for conduction inspection inserted into a probe passage 25 formed on a housing 20 on the outer side surface of the contact 30.例文帳に追加

本発明は、ハウジング20に形成されるプローブ通路25に挿入される導通検査用のプローブ40をコンタクト30の外側面に接触させてコンタクト30の導通を検査することを前提とする。 - 特許庁


例文

To provide a contact probe for improving electrical contact properties in probing without reducing wear-resistance properties of a contact section and strength against force in a direction orthogonal to a conductive layer, and to provide a manufacturing method of the contact probe.例文帳に追加

接触部の耐摩耗性や導電層に交差する方向の力に対する強度を低下させることなく、プロービング時の電気的接触性を向上させたコンタクトプローブ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an ultrasonic probe, capable of highly accurately forming an acoustic matching layer and an acoustic lens on an ultrasonic transducer used for transmitting and receiving ultrasonic waves in the ultrasonic probe.例文帳に追加

超音波用探触子において超音波を送受信する超音波トランスデューサに、音響整合層や音響レンズを高い精度で形成することができる超音波用探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical probe, a covering member, a measurement method for an optical probe, and an optical power meter that are capable of checking an output intensity of laser light while securing cleanness without deteriorating work efficiency.例文帳に追加

清潔性を確実に確保し、かつ、作業性を損なうことなく、レーザ光の出力強度のチェックを行うことができる光プローブ、被覆部材、光プローブの測定方法及び光パワーメータを提供すること。 - 特許庁

This method is constituted so as to control the only one ultrasonic probe by exchanging among the plurality of ultrasonic scanners, and includes controlling the operation of the ultrasonic probe by using the plurality of ultrasonic scanners.例文帳に追加

この方法は、複数の超音波スキャナを、やり取りさせて、ただ1つの超音波プローブを制御するように構成していることと、複数の超音波スキャナを用いて、超音波プローブの動作を制御することを含む。 - 特許庁

例文

To provide a method for correcting inclination of a wafer chuck that corrects the inclination of the wafer chuck without fail, even with a probe card which covers the entire area of a plurality of semiconductor chips formed on a semiconductor wafer, and to provide a probe apparatus.例文帳に追加

半導体ウエハに形成された複数の半導体チップの全領域を覆うプローブカードでもウエハチャックの傾きを確実に補正することができるウエハチャックの傾き補正方法及びプローブ装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method of manufacturing a test specimen for atom probe analysis to simply manufacture a test specimen for analyzing an analyzed domain by means of an atom probe, the analyzed domain comprising a conductor portion formed on an insulating substrate.例文帳に追加

絶縁基板上に形成された導体部分からなる被分析領域をアトムプローブによって分析するための検査試料を、簡便に製造できるアトムプローブ分析用検査試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting mutation of a specimen or mismatch with a probe by a probe carrier exemplified by a DNA microarray by which the mutation or the mismatch is detected even if the number of the mutation or the mismatch sites is small.例文帳に追加

DANマイクロアレイに代表されるプローブ担体により検体中の変異やプローブとのミスマッチを検出する際に、変異やミスマッチ部位の数が少ない場合でもこれを検出できる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加

インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁

In another embodiment, a method for scanning a V-bank filter includes inserting a probe having a plurality of sample ports into a filter adjacent a filter pack, and traversing the probe along the filter pack.例文帳に追加

別の実施の形態では、Vバンクフィルタを走査するための方法は、複数のサンプルポートを有するプローブをフィルタパックに隣接するフィルタに挿入すること、及びプローブをフィルタパックに沿って移動させることを含む。 - 特許庁

In yet another embodiment, a method for scanning a V-bank filter includes: scanning a slot of a V-bank filter with a probe; and collecting samples of gas passing through the filter and into the probe.例文帳に追加

さらに別の実施の形態では、Vバンクフィルタを走査するための方法は、プローブを用いてVバンクフィルタのスロットを走査すること、及びフィルタを通ってプローブに入り込むガスのサンプルを回収することを含む。 - 特許庁

To obtain a flaw detecting method dispensing with a highly viscous contact medium in ultrasonic flaw detection by an SH wave probe and eliminating the necessity for pressing the probe to an object to be inspected by predetermined pressing force.例文帳に追加

SH波探触子による超音波探傷において、高粘性の接触媒質が不要で、また所定の押圧力で探触子を被検体に押し付ける必要がない探傷方法及びSH波探触子。 - 特許庁

In this method of the present invention, an optical probe device is used generally in the spectrometry, and the probe device transmits a two-dimensional image of an emission light emitted from a monitoring area in the process container 1.例文帳に追加

上記方法は、分光計測内で光学プローブ装置を一般的に利用することを含み、プローブ装置はプロセス容器(1)内のモニタ領域から発せられる発光の2次元画像を伝送することが可能である。 - 特許庁

To provide a method for centering a probe that is capable of reducing influence of a shape error and an installation error of an assistance sample, and centering the probe with a high accuracy in a short time while quantitatively calculating a centering error.例文帳に追加

補助試料の形状誤差や取り付け誤差による影響を低減可能で、芯出し誤差を定量的に算出しつつ、高精度かつ短時間で芯出しを行うことができるプローブの芯出し方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe pin capable of continuing stable measurement even when making repeated contact, by having sufficient rigidity and elasticity regardless of the kind of a material, and to provide a method for manufacturing the probe pin.例文帳に追加

材質の種類によらず、十分な剛性、及び弾性を有することで、繰り返し接触を行っても安定した計測を継続できるプローブピンとその製造方法の提供を行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide an acoustic lens with little attenuation of ultrasonic waves, a manufacturing method for manufacturing the acoustic lens, an ultrasonic probe provided with the acoustic lens, and an ultrasonic diagnostic apparatus provided with the ultrasonic probe.例文帳に追加

超音波の減衰が少ない音響レンズ、該音響レンズを製造する製造方法、及び、該音響レンズを有する超音波探触子、及び、該超音波探触子を有する超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

The emission probe includes both an atomic group capable of oxidizing and reducing and an emission lanthanide chelate group with a long emission lifetime in one molecule, and the method uses the emission probe.例文帳に追加

酸化又は還元が可能な原子団、及び長い発光寿命を有する発光ランタニドキレート原子団の両原子団を、一分子内に含むことを特徴とする発光プローブ、並びに、この発光プローブを用いる検出方法。 - 特許庁

The probe for use in typing the respective genes of HLA-B antigen, HLA-C antigen, HLA-DR antigen and HLA-DQ antigen, a probe set, and a typing method are provided respectively.例文帳に追加

本発明によれば、HLA−B抗原、HLA−C抗原、HLA−DR抗原およびHLA−DQ抗原の遺伝子のタイピングに用いられるプローブ、プローブセット、およびタイピング方法が提供される。 - 特許庁

To provide a contactless continuity test apparatus and method, capable of checking continuity of a probe for insulation test and electrodes of a component to be tested with the probe attached to the component to be tested.例文帳に追加

絶縁試験用のプローブと試験対象部品の電極との導通を、プローブを試験対象部品に装着した状態で確認することのできる非接触導通試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

This method includes a process (304) to store tracking information within an ultrasound probe and a process (302) to access the tracking information stored within the ultrasound probe.例文帳に追加

超音波探触子(252)の使用をトラッキングするための方法は、超音波探触子の内部にトラッキング情報を保存する工程(304)と、該超音波探触子の内部に保存したトラッキング情報にアクセスする工程(302)と、を含む。 - 特許庁

To connect pattern wirings having a narrow pitch mutually with high precision in a connection structure of the minute pattern wiring, a method therefor, a contact probe, and a manufacturing method therefor.例文帳に追加

微細パターン配線の接続構造及び接続方法、並びにコンタクトプローブ及びその製造方法において、狭ピッチなパターン配線を互いに高精度に接続すること。 - 特許庁

To provide a water potential measurement method and water potential measurement instrument using a fluorescent reagent as a probe, which is different from the method of a cyclometer or a pressure chamber.例文帳に追加

サイクロメータやプレッシャーチャンバーの方法とは異なり、蛍光試薬をプローブとして用いた水ポテンシャル測定方法及び水ポテンシャル測定装置を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CLEANING PROBE FOR MEASURING FOR EXAMINING UNIT, EXAMINING UNIT HAVING CLEANING APPARATUS AND METHOD FOR EXAMINING MATERIAL TO BE EXAMINED例文帳に追加

検査装置用測定プローブのクリーニング装置、このクリーニング装置を備える検査装置、および、検査装置用測定プローブのクリーニング方法、ならびに、被検体の検査方法 - 特許庁

To provide an electrode tension test method, which can lead accurater data to an electrode tension test, a device for the electrode tension test method and a substrate/probe support device for an electrode tension test.例文帳に追加

より正確なデータを導くことのできる電極引張試験方法及びその装置並びに電極引張試験用の基板/プローブ支持装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for heat treatment for accurately measuring variation in a resistance value in a plane of a wafer by a four-probe method after heat treatment.例文帳に追加

熱処理後における四探針法による抵抗値のウェーハ面内ばらつきをより正確に測定することのできる熱処理装置及び熱処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for pre-examining whether or not secondary failure is easily developed by administration of a sulfonylurea agent, and to provide an examination kit, a primer, and a probe used for the method.例文帳に追加

スルホニルウレア剤の投与により二次無効が生じやすいかどうかを予め検査する方法、該方法に用いられる検査キット、プライマー及びプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for hybridizing a target nucleic acid with a probe nucleic acid specifically binding with the same and a method for detecting the target nucleic acid in a good efficiency in association with the same.例文帳に追加

標的核酸と特異的に結合するプローブ核酸とのハイブリダイゼーション方法および装置に関し、標的核酸を効率良く検出する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe and a cell for measuring infrared absorption of a material, in a supercritical fluid having high-temperature, high-pressure, and high-corrosion properties, by a method other than transmission method.例文帳に追加

高温高圧高腐食性の超臨界流体中の物質の赤外線吸収を、透過法以外の方法で測定するためのプローブおよびセルを提供する。 - 特許庁

To provide a method for analyzing genetic expression, sensitively carried out by using a small amount of a nucleic acid probe, safety because the method is free from use of a radio isotope.例文帳に追加

少量の核酸プローブにより高感度で実施でき、ラジオアイソトープを使用しないことから安全且つ簡便に実施できる遺伝子発現を解析する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a beam measurement device, a beam measurement method, and a pump/probe measurement method that use them, wherein three-dimensional measurement of quantum beams can be carried out simply and easily.例文帳に追加

量子ビームの3次元的な測定を簡便に行うことができるビーム測定装置、及びビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法を提供する。 - 特許庁

TYPING PROBE FOR HEPATITIS C VIRUS, METHOD FOR TYPING HEPATITIS C VIRUS AND METHOD FOR PREDICTING THERAPEUTIC EFFECT OF INTERFERON ADMINISTRATION例文帳に追加

C型肝炎ウイルスの型分類用プローブ及びそれを用いたC型肝炎ウイルスの型分類方法並びにそれを用いたインターフェロン投与の治療効果を予測する方法。 - 特許庁

To provide a nonspecific adsorption prevention agent and a probe-bound particle, having an easy manufacturing method and sufficient noise reduction effects, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加

製造が容易であり、かつ、十分なノイズ低減効果を有する非特異吸着防止剤ならびにプローブ結合粒子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

PROBE FOR PLASMA DENSITY INFORMATION MEASUREMENT, MOUNTING FIXTURE FOR PLASMA DENSITY INFORMATION MEASUREMENT, PLASMA DENSITY INFORMATION MEASUREMENT METHOD, ITS DEVICE, PLASMA TREATMENT METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

プラズマ密度情報測定用プローブおよびプラズマ密度情報測定用装着具、プラズマ密度情報測定方法およびその装置、プラズマ処理方法およびその装置 - 特許庁

METHOD FOR DIAGNOSING EXHAUST GAS PROBE DISPOSED IN EXHAUST SYSTEM OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE, DEVICE FOR EXECUTING METHOD, COMPUTER PROGRAM AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT例文帳に追加

内燃機関の排気システム内に配置された排気プローブを診断する方法、および、当該方法を実行するための装置、コンピュータプログラムおよびコンピュータプログラム製品 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR POSITIONING METHOD, POSITIONING METHOD FOR ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR AND INSPECTION CIRCUIT BOARD, ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR, AND PROBE CARD例文帳に追加

異方導電性コネクターの位置決め方法、およびこの異方導電性コネクターと検査用回路基板との位置決め方法、並びに異方導電性コネクター、およびプローブカード - 特許庁

POLYNUCLEOTIDE, PROBE AND PRIMER SET USED FOR SELECTION OF BOTTOM BEER YEAST STRAIN, AND METHOD FOR SELECTING BOTTOM BEER YEAST STRAIN AND METHOD FOR PRODUCING SPARKLING ALCOHOLIC LIQUOR例文帳に追加

下面ビール酵母株の選抜に用いるポリヌクレオチド、プローブ及びプライマーセット並びに下面ビール酵母株の選抜方法及び発泡性アルコール飲料の製造方法 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus which can accurately detect the status of all probes of a probe card even if the probe card is thermally expanded under the temperature adjustment, and ensures highly reliable inspection in the electrical characteristic inspection of wafer or the like using the probe card.例文帳に追加

温度調節下(例えば、高温下)で検査を行う時のプローブカードの熱膨張によるプローブの位置ズレについて何等考慮されていないため、事前にプローブの位置を測定しても高温検査時のプローブの針先位置が測定時の位置から位置ズレし、プローブを被検査体の電極パッドに正確に接触させることができない。 - 特許庁

To provide a method for analyzing a measurement sample, by which the presence or absence of the formation of a nucleic acid probe-target nucleic acid hybridized product in a measurement sample obtained by reacting a probe carrier with the sample can accurately be detected by the imaging of the state of the immobilized nucleic acid probe, for example, a disposed position, or by mass spectrometry.例文帳に追加

プローブ担体に試料を反応させた測定用試料に形成された核酸プローブと標的核酸とのハイブリッド体の形成の有無を、固定化した核酸プローブの状態、例えば、配置位置のイメージングやその量的分析を正確に行うことができる測定用試料の分析方法を提供することにある。 - 特許庁

This detection method of the object material in the specimen includes a process for bringing a complex of the fine particle and the probe into contact with the specimen, and a process for detecting a property change of the fine particle caused by removal of the probe from the fine particle caused by interaction between the object material in the specimen and the probe.例文帳に追加

微粒子とプローブとの複合体及び検体を接触させる工程、及び検体中の対象物質とプローブとの相互作用によりプローブが微粒子から脱着することにより生ずる微粒子の物性変化を検出する工程を含む、検体中の対象物質の検出方法。 - 特許庁

The method for controlling the distance between a light probe and a sample is carried out by detecting the focus position of the propagating beam exiting from a light probe 13 and controlling relative positions of the light probe 13 and a sample 2 so as to align the focus position onto the measurement surface 2a of the sample 2, for a wide range measurement using propagating light.例文帳に追加

伝播光を用いた広範囲測定を行う際に、光プローブ13から射出する伝播光束の焦点位置を検出し、この焦点位置が試料2の被測定面2aとなるように上記光プローブ13と試料2との相対位置を制御する光プローブと試料間距離の制御方法。 - 特許庁

A probe mix composed of a nucleic acid hybridization assay probe selectively detecting the Neisseria gonorrhoeae and not the Neisseria meningitidis and a helper oligonucleotide, the hybridization assay probe and amplification primer selectively detecting the Neisseria meningitidis and distinguish the Neisseria meningitidis from the Neisseria gonorrhoeae, and the method for amplifying the nucleic acid of the bacteria are described.例文帳に追加

淋菌を選択的に検出し髄膜炎菌は検出しない核酸ハイブリダイゼーションアッセイプローブおよびヘルパーオリゴヌクレオチドからなるプローブ混合物、髄膜炎菌選択的に検出しかつこれらの髄膜炎菌を淋菌から区別するハイブリダイゼーションアッセイプローブおよび増幅プライマー、およびこれらの菌の核酸を増幅する方法。 - 特許庁

To provide a measuring needle for a probe card, having a simple structure and capable of maintaining the functions such as conductivity of the measuring needle without damaging the measuring needle or without lowering the use efficiency of the probe card, and to provide a manufacturing method of the measuring needle and the probe card using the measuring needle.例文帳に追加

シンプルな構成で、かつ測定針にダメージを与えることなく、また、プローブカードの使用効率を低減させることなく測定針の導通性等の機能維持を行うことのできるプローブカード用測定針、測定針形成方法及び、その測定針を用いたプローブカードを提供することを目的とする。 - 特許庁

The rail flaw detection auxiliary tool 10 is provided with a probe holding section 20 for holding a probe to detect a defect within the rail by using an ultrasonic flaw detecting method, a slide section 30 for moving the probe holding section 20 in the longitudinal direction of the rail 50 and a fixing section 40 for fixing the slide section 30 to the rail 50.例文帳に追加

本発明に係るレール探傷補助具10は、レール内部の欠陥を超音波探傷により検出するためのプローブを保持するプローブ保持部20と、プローブ保持部20をレール50の長手方向に沿って移動させるスライド部30と、スライド部30をレール50に対して固定する固定部40とを備えている。 - 特許庁

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly.例文帳に追加

この測定方法は、探針25で試料12を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるXY微動機構24と試料を粗動させるXYステージ51を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

To provide an acoustic lens for an ultrasonic probe, an ultrasonic probe, an ultrasonic image display device and a production method of the acoustic lens for the ultrasonic probe, which can endure an excellent abrasion resistance while suppressing influence on the characteristic of the acoustic lens such as acoustic characteristics and chemical solution resistance characteristic.例文帳に追加

音響特性や耐薬液特性などの音響レンズの特性に影響を及ぼすことを抑制しつつ、良好な耐磨耗性を持続させることができる超音波プローブの音響レンズ、超音波プローブ、超音波画像表示装置及び超音波プローブの音響レンズの製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method for fitting a probe onto a converter sub-lance with which in the converter operation, when the probe for performing the temperature measurement in molten steel and the sample-extraction of molten, is fitted onto the sub-lance, a sub-lance holder can quickly hold the sub-lance and thus, the probe can be fitted onto the sub-lance for a short time.例文帳に追加

転炉操業において、溶鋼の温度測定や試料採取を行うためのプローブをサブランスに装着するに際して、サブランスホルダーがサブランスを迅速に把持することができ、それによって短時間でプローブをサブランスに装着することを可能にする転炉サブランスへのプローブ装着方法を提供する。 - 特許庁




  
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