「probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

A method for manufacturing the probe 1 includes a base layer formation step, a seed film formation step, a first resist layer formation step, a hydrophilic treatment step, a second resist layer formation step, a probe formation step, and a removal step.例文帳に追加

また、本発明のプローブ１の製造方法は、下地層形成工程、シード膜形成工程、第１レジスト層形成工程、親水処理工程、第２レジスト層形成工程、プローブ形成工程および除去工程を備える。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe wherein the close adhesion of the projection installed on the eddy current flaw detection probe as a spacer is stabilized even in the inspection of the surface of an object to be inspected small in sharp unevenness and curvature, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

鋭利な凸凹や、曲率の小さい被検査体面の検査でも、渦電流プローブにスペーサーとして設置する突起物の密着を安定させた渦電流プローブ及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method of measuring a dielectric constant of SNDM and SNDM capable of avoiding change of probe edge shape by detecting to bring a probe edge into contact with a sample in dielectric constant measurement of a minute region.例文帳に追加

微小領域の誘電率測定において、探針先端と試料とを接触することを検出することで、探針先端形状の変化を回避可能とするＳＮＤＭの誘電率の測定方法及びＳＮＤＭを提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe assembly capable of applying roughly uniform thermal energy to a connection part between a connection pad in a connection pad array or a separated connection pad and a probe by obviating the need of control of laser energy corresponding to arrangement of the connection pads.例文帳に追加

接続パッドの配列に応じたレーザエネルギの制御を不要とし、接続パッド列の接続パッドや孤立した接続パッドとプローブとの結合部にほぼ均等な熱エネルギを付与し得るプローブ組立体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To solve such problems in an inspection method that the service life of a probe N is shortened by scrubbing and that yield of a device is reduced by damaging the inspection electrode P as shown in (b) of figure 7 when the probe N is brought into contact with an inspection electrode P electrically by scrubbing operation.例文帳に追加

スクラブ操作によりプローブＮと検査用電極Ｐを電気的に接触させると、スクラブによりプローブＮの寿命を縮めたり、図７の（ｂ）に示すように検査用電極Ｐを傷つけてデバイスの歩留りを低下させる。 - 特許庁

To provide a guide for a probe allowing stable electrical connection and being kept from leaving a scrub trace on a projection apex of a projecting connection electrode, a cantilever-type probe card, and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加

安定した電気的接続を可能にし、かつ、突起状接続電極の突起頂点にスクラブ跡を付けることのないプローブ針のガイド部材、カンチレバー型プローブカード、並びに、半導体装置の試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a probe structure for a probe device which easily forms a protrusion suitable for electric connection on the surface of a resin plastic substrate made of a flexible material and easily performs circuit mounting on the peripheral portions, and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

柔軟な材料からなる樹脂プラスチック基板の表面に、電気接続に適した突起を容易に形成でき、周縁部における回路実装も容易にできる探針装置用プローブ構造及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and equipment, in an object being inspected represented by a semiconductor wafer, if there is no defect on a probe-mark, even if foreign matters remain on an electrode pad, the probe-mark and thus the electrode pad are, preferably, treated as normal ones.例文帳に追加

半導体ウェハに代表される被検査物において、異物が電極パッド上に残っていたとしても針痕に異常がなければ、正常な針痕、しいては正常な電極パッドとして扱う方法と装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for automatically fitting a probe fitted to a lower part of a sub-lance with which a cycle time of the probe fitting for performing one or more of the temperature measurement of molten metal, the molten metal surface level measurement and pickup of a sample, can be shortened.例文帳に追加

サブランスの下端部に装着され、溶融金属の温度測定、湯面測定、材料採取のうち１以上を行うプローブ装着のサイクルタイムを短くすることができるプローブ自動装着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a front and rear surface measuring probe, a front and rear surface measuring instrument, and a method for measuring front and rear surfaces, for highly accurately measuring the front and rear surfaces of a measuring object by one probe independently of the shapes of the front and rear surfaces of the measuring object.例文帳に追加

被測定物の表裏面形状にかかわらず、１つのプローブで被測定物の表裏面を高精度に測定できる表裏面測定プローブ、表裏面測定装置および表裏面測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for measuring characteristics of electronic components, the device being brought into fully contact with an electrode of the electronic component, needing less frequent exchanges of a probe, and allowing the probe to be easily exchanged, and to provide a method therefor.例文帳に追加

電子部品の電極に対して十分に接触することができ、プローブの交換頻度が少なく、かつプローブを容易に交換することができる電子部品の特性測定装置および特性測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a carbon filament probe of a high aspect ratio, high durability and high reliability suitable for a probe for an SPM cantilever or the like, allowing batch dealing by a simple manufacturing method, and capable of imparting a magnetic characteristic.例文帳に追加

高アスペクト比で高耐久性及び高信頼性を備え、簡単な製造方法によりバッチ処理が可能で磁性特性を持たせることも可能な、ＳＰＭカンチレバーの探針などに好適なカーボン細線プローブを提供する。 - 特許庁

In the method, SH guide waves are transmitted from a probe 2 into a tube wall 11 in the longitudinal direction X of the tube 10, and SH waves which propagate in the tube wall 11 and pass through or are reflected by the damaged area, are received by the probe 2.例文帳に追加

探触子２から管１０の長手方向Ｘに向かって管壁１１の内部へＳＨガイド波を送信すると共に、管壁１１を伝播し損傷部を透過し又は反射したＳＨ波を探触子２で受信する。 - 特許庁

To provide a surface plasmon resonance sensor probe capable of detecting a micro change of refractive index by curving completely an optical fiber or by folding back at 180° of angle, and a method for manufacturing the surface plasmon resonance sensor probe.例文帳に追加

光ファイバを完全に湾曲させる、又は１８０度折り返すことで、屈折率の微小変化を検出することができる表面プラズモン共鳴センサプローブ及び表面プラズモン共鳴センサプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

By the mask inspecting method of the present invention, the Si stencil mask 10 is irradiated with probe light from a laser light source 3 and a photodiode 5 detects a probe light 15 scattered by dust 13 sticking onto a hole part 9 of the mask 10.例文帳に追加

本発明のマスク検査方法は、Ｓｉステンシルマスク１０にレーザ光源３からプローブ光を当て、マスク１０の孔開き部９に付着したごみ１３によってプローブ光が散乱された光１５をフォトダイオード５で検出する。 - 特許庁

To provide a probe polishing method that reliably performs electric property inspection of a sample to be inspected after polishing, by reliably removing a contamination from a polishing object, after detecting the contamination on the upper surface of a polishing wafer (the polishing object), when polishing of the probe is performed.例文帳に追加

プローブの研磨時に研磨ウエハ（研磨体）の上面の異物を検出し、研磨体から異物を確実に除去し、研磨後に被検査体の電気的特性検査を支障なく行うことができるプローブの研磨方法を提供する。 - 特許庁

To provide a traffic information system, a probe device for a vehicle, a traffic information system and the traffic information distribution method of a traffic information distribution center for distributing traffic information with individuality of each probe car excluded.例文帳に追加

各プローブカーの個性を排除した交通情報を配信することができる交通情報システム、車両用プローブ装置、交通情報システム及び交通情報配信センタの交通情報配信方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe unit, a probe assembly, and an inspection method of an electronic device capable of simultaneously inspecting a plurality of electronic devices formed on a wafer at a narrow interval without damaging the top surfaces of the electronic devices.例文帳に追加

電子デバイスの電極の頂面を傷つけることなく、ウェハ上に狭い間隔で複数形成された電子デバイスを同時に検査することができるプローブユニット、プローブアッセンブリ及び電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new DNA probe which shows a very large difference in the electrochemical response between a perfect complementary strand and SNP and can obtain an almost digital on/off response, and a method of detecting a complementary strand nucleic acid molecule sequence and a method of detecting SNP which use the probe.例文帳に追加

完全相補鎖とＳＮＰとの間で非常に大きな電気化学応答の差として現れ、ほぼデジタル的なon/off応答が得られるような新たなＤＮＡプローブ、及び該プロ−ブを用いる相補鎖核酸分子配列検出方法並びにＳＮＰ検出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for preparing a labeled nucleic acid with attaining high detection sensitivity without depending on the location of a probe sequence in detecting the nucleic acid by a hybridization method using a detection probe immobilized on a solid phase.例文帳に追加

固相上に固定されている検出用プローブを用いたハイブリダイゼーション法を応用する核酸検出において、鋳型核酸の塩基配列上に選択されるプローブ配列の位置に依存せず、高い検出感度を達成可能な、標識化された核酸を調製する方法の提供。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of adjusting a tester by which the excessive pressure of a probe needle can be prevented from being given to a specific area on a semiconductor substrate when a probe needle is brought into contact with an electrode pad, and to provide a method of testing a semiconductor device.例文帳に追加

電極パッドに対してプローブ針を接触させる際に、半導体基板上の特定領域にあるチップに対してプローブ針の過大な針圧が付与されることを抑制することができる検査装置の調整方法および半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a surface shape of a soft material by a probe microscope allowing accurate measurement of the surface shape of the soft material including a droplet or a material that has high volatility, and is soft and easy to deform, and to provide a probe microscope used for the measuring method.例文帳に追加

液滴や揮発性が高い上に軟らかく変形し易い材料を含む軟質物の表面形状を、精度良く測定することが可能となるプローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In an ammonia analyzer based on a direct method and an indirect method, a sampling probe 9 used therein is impregnated in a 0.1N aq. soln. of NaOH, and the gas contact surface 9a of the probe 9 is treated to be brought to an alkali state so as not to generate reaction and adsorption of NH3 with respect to the gas contact surface 9a.例文帳に追加

直接法ならびに間接法を基にしたアンモニア分析装置において、これに用いるサンプリングプローブ９の接ガス表面９ａをアルカリ状態に表面処理して、接ガス表面９ａに対するＮＨ_3 の反応ならびに吸着を生じさせないようにしている。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing exhaust gas probe disposed in an exhaust system of a new and improved internal combustion engine capable of executing diagnosis of the exhaust gas probe after a special drive condition of the internal combustion engine is detected, and a device for executing the method.例文帳に追加

内燃機関の特別な駆動状態が検出された後に排気プローブの診断が実行されることが可能な、新規かつ改良された内燃機関の排気システム内に配置された排気プローブを診断する方法、および、本方法を実行するための装置を提供すること。 - 特許庁

DETECTION METHOD AND DETECTION KIT FOR OBJECTIVE DNA OR RNA IN SPECIMEN USING PNA PROBE, PREPARATION METHOD AND PREPARATION KIT FOR OBJECTIVE DNA OR RNA TO BE HYBRIDIZED WITH PNA PROBE, AND PNA CHIP FOR DETECTION OF OBJECTIVE DNA OR RNA例文帳に追加

ＰＮＡプローブを利用した検体中の目的ＤＮＡまたはＲＮＡの検出方法及び検出用キット、ＰＮＡプローブとハイブリダイズさせる目的ＤＮＡまたはＲＮＡの調製方法及び調製用キット、ならびに目的ＤＮＡまたはＲＮＡを検出するためのＰＮＡチップ。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

To provide a method for controlling an optical distance using evanescent waves which facilitates a detecting operation of a distance between a probe and a material to be measured, replacement or handling of the probe and which can reduce in size a recorder/reproducer or an analyzer, when the method is applied to the recording/reproducing or the analyzer.例文帳に追加

プローブと被測定材料との間の距離の検出操作が容易であり、また、プローブの交換や取扱いが容易であり、さらに、記録再生装置や分析装置に応用した場合に、これら装置を小型化できるエバネッセント波を利用した光距離制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for assaying a nucleic acid using a nucleic acid probe labelled by a fluorochrome, the real-time quantitative PCR method utilizing the method, and a method for analyzing data obtained by the PCR method in a short time and accurately.例文帳に追加

蛍光色素で標識された核酸プローブを用いる核酸測定法、該法を利用するリアルタイム定量的ＰＣＲ法、及び該ＰＣＲ法により得られるデータを解析する方法において、短時間かつ正確に目的が達成できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for designing a probe set accurately identifying a variety of the target sequences quickly even in the existence of two or more target sequences.例文帳に追加

多数の標的配列を速かに、かつ標的配列が二つ以上存在しても正確に同定できるプローブセットの設計方法の提供。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting substrate products and a probe for inspection whereby whether or not substrate products are good can be easily inspected.例文帳に追加

基板製品の良否検査を容易に行える基板製品検査装置、基板製品検査方法およひ検査用プローブを提供する。 - 特許庁

To provide an optical signal processing circuit and an optical signal processing method in which loss is small and a probe light is unnecessary and which is of stable and simple.例文帳に追加

損失が少なく、プローブ光を必要としない、安定で簡便な光信号処理回路及び光信号処理方法を提供すること。 - 特許庁

The method also includes a step of forming the non-conductor layer 10 similarly on the inspecting pad 14, and inspecting of whether the formation is good or not before the contact with the probe card.例文帳に追加

この検査パッド１４上にも同様に不導体層１０を形成し、その形成良否をプローブカードのコンタクト前に検査する。 - 特許庁

To provide a device for storing data on a storage surface without heating up a probe and a method of detecting the data from the storage surface.例文帳に追加

プローブの加熱を行うことなく記憶表面にデータを記憶する装置および記憶表面からデータを検出する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holding probe capable of sufficiently suppressing deformation/denaturation in processing an object to be processed; and to provide a manufacturing method of a sample.例文帳に追加

被加工物の加工時の変形・変質を十分に抑制できる試料保持用プローブ及び試料の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detecting method which detects a flaw while keeping a constant pressing force to a material to be inspected of an ultrasonic probe.例文帳に追加

超音波探触子の被検査材に対する押圧力を一定にして探傷を行うことができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

For this configuration measuring method, a master member 74 for obtaining the diameter of a probe 12 is constituted by bringing three block gauges 76, 78, and 80 into contact.例文帳に追加

本発明は、プローブ１２の径を取得するためのマスタ部材７４を、３枚のブロックゲージ７６、７８、８０を密着させて構成している。 - 特許庁

To provide a resistance measuring method capable of measuring a resistance easily by using a probe pin for resistance measurement even in the case of a small-sized narrow connector.例文帳に追加

小型・狭小のコネクタでも抵抗測定用プローブピンを用いて容易に抵抗測定が可能となる抵抗測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface profile measuring method which can measure the surface profile of an object under measurement using a probe easily and with high precision.例文帳に追加

プローブを用いて、容易かつ高精度に被検物の表面形状を測定することができる表面形状の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a friction stir welding method which facilitates insertion of a probe into a workpiece and which enables a workpiece to be joined with a large joining strength.例文帳に追加

ワークに対して挿入しやすく、且つ大きい接合強度でワークを接合させることのできる摩擦撹拌接合方法を提供する。 - 特許庁

The method also comprises the steps of providing a base space communicating with the through recess on the plate 60, molding a probe base 70, and removing the base material and the photoresist.例文帳に追加

ベースプレート６０に貫通くぼみに通じるベース空間が設けられ、プローブベース７０を成形し、基本材料とフォトレジストを除去する。 - 特許庁

To provide a production method of a probe card capable of preventing contact mutually by adjacent contact probes by a simple work.例文帳に追加

簡単な作業で隣接するコンタクトプローブ同士が接触するのを防止できるプローブカードの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING EXACERBATION RISK OF HEPATITIS IN SUBJECT INFECTED WITH HEV, AND PROBE SET AND PRIMER SET TO BE USED THEREIN例文帳に追加

ＨＥＶに感染した対象における肝炎が重症化する可能性を予測する方法、そこにおいて使用されるプローブセットおよびプライマーセット - 特許庁

To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of an inspecting object body at a time, and its manufacturing method.例文帳に追加

被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁