「sample map」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To dispense with a charging up when making a focal map of an electron beam apparatus for inspecting a sample.例文帳に追加

試料の検査を行う電子線装置用のフォーカスマップを作成する際にチャージアップを回避する。 - 特許庁

To provide a display method for displaying a particle distribution map of a measured sample and a reference particle distribution map in a comparable manner without reducing a display area for displaying data other than a particle distribution map, and to provide a sample analyzer.例文帳に追加

粒子分布図以外の情報を表示するための表示面積を少なくすることなく、測定された試料の粒子分布図と参照用の粒子分布図とを比較可能に表示することができる表示方法および試料分析装置を提供する。 - 特許庁

In a mapping process MAP, the one set of image sample values SV is mapped on the one set of image samples IS.例文帳に追加

マッピング工程[ＭＡＰ]において、一組の画像サンプル値[ＳＶ]が一組の画像サンプル[ＩＳ]上にマップされる。 - 特許庁

A person candidate position sample extraction part 14 extracts person candidate position samples by resampling from the map (b).例文帳に追加

人候補位置サンプル抽出部１４は，マップｂからのリサンプリングにより，人候補位置のサンプルを抽出する。 - 特許庁

To provide a surface analysis device, capable of displaying the shape and loading state of a sample holder on a stage map.例文帳に追加

試料ホルダの形状や搭載状態を、ステージマップ上に表示できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁

A template which is a collection of sample data such as landmarks is displayed, based on which an operation instruction for creating a target map is received and the target map data is inputted (S10).例文帳に追加

ランドマーク等サンプルデータ集であるテンプレートを表示し、これを基に目標地図を作成するための操作指示を受け付け目標地図データを入力する（Ｓ１０）。 - 特許庁

To provide a main system that determines a small-number carrier dispersion length with regard to a sample such as semiconductor wafer and a contamination level in the sample based on this, and a subsystem that detects an electrically defective map of the sample.例文帳に追加

半導体ウェハ等の試料に関する少数キャリア拡散長とこれに基づく試料内の汚染レベルを決定する主システム並びに試料の電気的欠陥マップを検出するサブシステムを提供する。 - 特許庁

A control part 1 compares the sample bit map font 7 with the whole or a part of the evaluation target bit map font 8 in the same reduction scale, and expresses numerically the ratio of coincident bits and outputs it.例文帳に追加

制御部１は、見本ビットマップフォントと評価対象ビットマップフォントの全体または一部分を、同一縮尺で比較して、一致したビットの割合を数値化して出力する。 - 特許庁

An exciting current map adjusted to a shape of sample is prepared from a plurality of focus position images by image processing and an observation picture is photographed by varying a focus position while referring to a focus position map.例文帳に追加

試料の形状に合わせた励磁電流マップを、複数の焦点位置画像から画像処理により作成し、焦点位置マップを参照しながら焦点位置を変化させて観察画像を撮影する。 - 特許庁

This tutorial shows you how to use NetBeans Visual Web Pack to build a JavaServer Faces web application that uses the sample Ajax Map Viewer component. 例文帳に追加

このチュートリアルでは、NetBeans Visual Web Pack を使用して、サンプルの AJAX マップビューアコンポーネントを使用する JavaServer Faces Web アプリケーションを構築する方法について説明します。 - NetBeans

Furthermore, because the Z map obtained from an image signal reflecting a composition information to the Z map obtained from the picture signal reflecting the surface structure is displayed by overlapping the Z map with other colors, a spatial distribution in the sample of a substance of a specific composition can be grasped distinctly.例文帳に追加

また、表面構造を反映する画像信号から得られるＺマップに組成情報を反映する画像信号から得られたＺマップを別な色で重ねて表示することで、特異的な組成の物質の試料内での空間分布を明瞭に把握することを可能にする。 - 特許庁

A bit-map representation of a sub-component-oriented character is generated by using a single image sample to generate each pixel sub- component.例文帳に追加

サブコンポーネント指向キャラクタのビットマップ表現が、それぞれのピクセルサブコンポーネントを生成するための、単一の画像サンプルを使用することにより生成される。 - 特許庁

An audio sampler/sample-processor 70 can automatically extract segments of an audio source file and map them to triggers in the sound-producing device 1.例文帳に追加

オーディオサンプラ／サンプルプロセッサ７０は、オーディオのソースファイルのセグメントを自動的に抽出し、音生成機器１のトリガにこれらをマッピングすることができる。 - 特許庁

Once operation data are input from a USB memory, a map, a last or sample trace, a person in charge, and an operation course name are displayed on a screen based upon the current position of a vehicle, and the map is moved as the vehicle moves.例文帳に追加

ＵＳＢメモリーから業務データを取り込むと、画面上に車両の現在位置に基づいて地図および前回または見本となる軌跡と担当者と作業コース名を表示し、車両の移動にしたがって地図を移動させる。 - 特許庁

The shape of a pattern to be exposed is rendered to be a bit map, the pattern data in the bit map format is rearranged and stored for every scanning line 401, 402, 403, and 404, and exposure beam scanning on the sample 108 is subjected to on/off control based on the stored data.例文帳に追加

露光すべきパターンの形状をビットマップ化し、該ビットマップ形式のパターンデータを走査線４０１、４０２、４０３、４０４毎に並べ替えて記憶し、記憶したデータに基づいて試料１０８上を走査する露光ビームをオンオフ制御する。 - 特許庁

A main control system 34 preliminarily prepares and stores in a storage 43 a voltage map showing a defocus level of a multi-beam B1 on a sample surface, according to a charged-up level caused when the sample 10 is irradiated with the primary electron beams B1.例文帳に追加

主制御系３４は、試料１０上に一次電子ビームＢ１を照射した際に生ずるチャージアップ量に応じ、試料面におけるマルチビームＢ１の焦点ずれ量を示す電圧マップを予め作成し記憶装置４３に記憶する。 - 特許庁

To obtain all at once an X-ray locking curve on each position on a sample, and to measure an area map of a lattice constant on the sample in a short time, by using a two-dimensional position sensitive X-ray detector in a precise measuring method of the lattice constant.例文帳に追加

格子定数の精密測定法において２次元の位置敏感型のＸ線検出器を用いることにより、試料上の各位置におけるＸ線ロッキングカーブを一挙に得て、試料上の格子定数のエリアマップを短時間で測定する。 - 特許庁

When the sample 10 is observed, the main control system 34 reads out the voltage map stored in the storage 43, and controls a voltage applied to an objective lens 8 or a voltage applied to the sample 10 to correct the focal position of the multi-beam B1.例文帳に追加

主制御系３４は、試料１０の観察を行う際に記憶装置４３に記憶された電圧マップを読み出し、対物レンズ８に印加する電圧又は試料１０に印加する電圧を制御してマルチビームＢ１の焦点位置を補正する。 - 特許庁

A kind of the wafer W is automatically recognized based on X-ray fluoroscopic information of the semiconductor wafer W conveyed on a sample table 3, a map of a position to be inspected such as the each semiconductor bump is automatically prepared based on the same fluoroscopic information, and the sample table 3 is automatically moved based on the map to conduct fluoroscopic inspection.例文帳に追加

試料テーブル３上に搬送された半導体ウエハＷのＸ線透過情報から、そのウエハＷの種類を自動的に認識し、同じくそのＸ線透過情報から各半導体バンプなどの検査すべき位置のマップを自動的に作成し、そのマップに基づいて試料テーブル３を自動的に移動させて透視検査を行う。 - 特許庁

The main control system 34 reads out the voltage map stored in the memory device 43 when observing the sample 4, and controls the voltage to be applied to a secondary optical system 20 or the voltage to be applied to the sample 4 so as to correct the focal point position of the secondary beam B2.例文帳に追加

主制御系３４は、試料４の観察を行う際に記憶装置４３に記憶された電圧マップを読み出し、二次光学系２０に印加する電圧又は試料４に印加する電圧を制御して二次ビームＢ２の焦点位置を補正する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer capable of creating accurately an element distribution map of a measuring sample having a complicated shape or the like, even when having a small-sized and simple structure.例文帳に追加

小型かつ簡易な構造であっても、複雑な形状等を有する測定試料の元素分布マップを精度良く作成することができるＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The method for composing an image [IM] comprises the step of mapping [MAP] a set of image sample values [SV] from a departure space [DEP] to an arrival space [ARR] in accordance with a geometrical transformation [T].例文帳に追加

画像[ＩＭ]を構成する方法は、幾何学変換[Ｔ]に従って、出発空間[ＤＥＰ]から到着空間[ＡＲＲ]へ、画像サンプル値[ＳＶ]の組みをマップ[ＭＡＰ]するステップを有する。 - 特許庁

A main control system 34 previously forms the voltage map indicating the quantity of the focal point displacement of the secondary electron beam B2 in a detecting surface of an electron beam detecting unit 30 in response to the quantity of the charge up generated when a sample 4 is irradiated with the primary electron beam B1, and stores this voltage map in a memory device 43.例文帳に追加

主制御系３４は、試料４上に一次電子ビームＢ１を照射した際に生ずるチャージアップ量に応じ、電子ビーム検出器３０の検出面における二次電子ビームＢ２の焦点ずれ量を示す電圧マップを予め作成し記憶装置４３に記憶する。 - 特許庁

The server is equipped with a database for accumulating the plurality of received collected water sample related information, an input means for inputting the plankton density and ID of the collected water sample in correlative manner with each other, and a distribution output means for mapping and outputting on a map as plankton distribution information.例文帳に追加

サーバは、受信した複数の採水サンプル関連情報を集積するデータベースと、プランクトン密度と採水サンプルのＩＤを関連づけて入力する入力手段と、プランクトン分布情報として地図上にマップして出力する分布出力手段と、を備える。 - 特許庁

The set conditions of the electron lens and the like and an electron beam irradiance level on the sample calculated from the coordinate value of a stage are integrated in a two-dimensional array 28, and an irradiance level map is displayed on a display device 25.例文帳に追加

電子レンズ等の設定状態とステージの座標値から算出される試料上での電子線照射量を二次元配列28に積算し、照射量マップを表示装置25に表示する。 - 特許庁

A determining section 64 obtaining these values as information derives the appropriate pressing positions of flange parts 20, 28 and the appropriate stroke amounts of rods 54a, 54b basd on a map 70 obtained using a sample crankshaft.例文帳に追加

これらの値を情報として得た判断部６４は、サンプルクランクシャフトを用いて得られたマップ７０に基づき、フランジ部２０、２８の適正押圧位置、及びロッド５４ａ、５４ｂの適正ストローク量を導出する。 - 特許庁

Deconvolution processing having a distribution image of light intensity as convolution kernel in the vicinity of the points of measurement is performed on the three-dimensional map to acquire a three-dimensional image of a nearly transparent sample in an undyed state.例文帳に追加

この三次元マップに、計測点付近の光強度分布像をコンボリューション・カーネルとするデコンボリューション処理を行ない、非染色状態で透明に近い試料の三次元画像を得る。 - 特許庁

A determination value calculation part 28 projects a browsing inhibition polyhedron into an image based on map information in a position attitude of each sample of a particle filter while calculating a depth value in a pixel in which the browsing inhibition polyhedron is projected based on the map information so that the minimum depth value in each of the pixels calculated in the position attitude of each sample becomes a browsing inhibition depth determination value of each pixel.例文帳に追加

判定値算出部２８が、パーティクルフィルタの各サンプルの位置姿勢において、地図情報に基づいて閲覧禁止多面体を画像に投影するとともに、閲覧禁止多面体が投影された画素における奥行き値を地図情報に基づいて算出し、各サンプルの位置姿勢において算出された各画素における奥行き値の最小値を、各画素の閲覧禁止奥行き判定値とする。 - 特許庁

The method also includes a step for forming a cluster by grouping adjacent neurons corresponding to each of the same sample in the learned self-organized map, and a step for classifying each cluster into one corresponding to a prescribed surface state having flaws, nicks, exfoliation or the like and a different one, and generating the determination data map.例文帳に追加

さらに、前記学習した自己組織化マップにおいて同じ前記サンプルのそれぞれに対応し隣接するニューロンをグループ化してクラスタにするステップと、前記クラスタのそれぞれを傷、打痕、剥離など所定の表面状態に対応するものとそうでないものとに分類して判定データマップを生成するステップと、を含む。 - 特許庁

A rasterizing device 3 generates a sample bit map font 7 generated by rasterizing an outline font 6 with an original mesh size, and an evaluation target bit font 8 generated by rasterizing the same outline font 6 with a size for an evaluation target.例文帳に追加

ラスタライズ装置１２は、アウトラインフォントをオリジナルのメッシュサイズでラスタライズして生成した見本ビットマップフォントと、同一のアウトラインフォントを評価対象となるサイズでラスタライズして生成した評価対象ビットマップフォントとを生成する。 - 特許庁

This method includes a step of preparing a plurality of samples of an inspection domain, including a domain required to be determined, a step of extracting a characteristic vector from the sample, and a step for inputting the characteristic vector into a self-organized map and making it to learn.例文帳に追加

要判定領域を含む検査領域の複数のサンプルを用意するステップと、前記サンプルから特徴ベクトルを抽出するステップと、特徴ベクトルを自己組織化マップに入力し、学習させるステップと、を含む。 - 特許庁

This method for displaying the state of the biological structure, the heart for instance, by utilizing the mapping is provided with a process for preparing the map of the surface of the heart, the process for measuring biological responses at at least three sample points on the surface of the heart, the process for calculating a vector function relating to the responses and the process for displaying the expression of vectors on the map.例文帳に追加

マッピングを利用して生物学的構造、例えば心臓の状態を表示する方法は、心臓の表面のマップを作成する工程と、心臓表面上で少なくとも３つの標本点における生理学的応答を測定する工程と、この応答に関連したベクトル関数を計算する工程と、マップ上にベクトルの表現を表示する工程とを有する。 - 特許庁

A measurement position estimation processing means 205d estimates the moving speed from the path data 204c, and estimates the position of measurement of the measured sample of the measurement data 204b, and a display processing means 205e displays the result of estimation on the map.例文帳に追加

そして、計測位置推定処理手段２０５ｄは、経路データ２０４ｃから移動速度を推定して、測定データ２０４ｂの測定サンプルの測定位置を推定して、この推定結果を表示処理手段２０５ｅが地図上に表示するようにしたものである。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of achieving high throughput by obviating the need to manufacture a Z-map and of evaluating a sample by reducing deviation of a focus even when an electron optical system using a large aperture angle is used by correcting chromatic aberration on an axis without needing an expensive stage.例文帳に追加

Ｚマップの作製を不要とし、高スループットを実現すると共に、高価なステージを必要とせず、また、軸上色収差を補正して大きい開口角を用いた電子光学系を用いてもフォーカスずれを少くして試料の評価ができる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate a visual observation of consumers' accurate interest in each attribute of a commercial product by displaying a precise commercial product attribute map reflective of data reliability created at low cost and with quickness from data acquired from a less-biased sample.例文帳に追加

偏りの少ない標本から得たデータに基づいて、低コストに、しかも迅速に、データの信頼度を反映して精度の高い商品属性マップを作成して表示することで、商品について消費者の各属性に対する正確な注目度を、視覚的に把握容易とする。 - 特許庁

Specifically, one embodiment of the present invention sets forth a method, which includes the steps of deriving a first destined texel position based on an original sample position associated with a pixel projected in a texture map and a first offset position specified by a user and fetching texel attributes at the first destined texel position for the texture operation.例文帳に追加

具体的には、本発明の一実施形態は、テクスチャマップに射影された画素に関連する元のサンプルの位置、及びユーザによって指定された第１のオフセット位置に基づいて第１の目標テクセル位置を導出するステップと、テクスチャ動作のために第１の目標テクセル位置のテクセルの属性を取り出すステップとを含む方法を説明する。 - 特許庁