「sample-preparation method」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

In this sample preparation method for the double resonance absorption microscope, a sample is dyed by a quantum dot.例文帳に追加

二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色する。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device, capable of performing sample observation in a short time in a transmission electron microscope, a scanning electron microscope or the like, and a sample observation device capable of observing the prepared sample in a short time.例文帳に追加

透過電子顕微鏡や走査電子顕微鏡などにおける試料観察を短時間に行える試料作製方法および試料作製装置、ならびにその作製された試料を短時間に観察できる試料観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparing method that shortens the processing time in the preparation of a sample of 3DAP and prevents a foreign matter from being mixed with the sample.例文帳に追加

３ＤＡＰの試料作製に対する加工時間が短く、試料に異物が混入しないような試料作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a preparation method of sample liquid for impurity analysis in a silicon compound-containing sample capable of easily preparing stable sample liquid.例文帳に追加

簡易に安定な試料液を調製することができるケイ素化合物含有試料中の不純物分析用試料液の調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method for an evaluation sample, capable of obtaining an accurate and precise measured result, the evaluation sample, a production method for an electronic component material, an electronic component, and an evaluation sample preparation device for preparing evaluation samples.例文帳に追加

精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation apparatus having high durability, capable of reducing greatly contamination of a constitutive material into the sample, and hardly influenced by a sample used in the past, a sample preparation method and a highly-accurate elemental analysis method.例文帳に追加

耐久性が高く、構成材料の試料へ混入を著しく減少でき、かつ過去に使用した試料による影響を受けることが少ない試料調整器具、試料調整方法、及び高精度の元素分析方法を提供することできる。 - 特許庁

To provide an ultrathin slice sample preparation method and an ultrathin slice sample preparation apparatus for simplifying work for preparing an ultrathin slice sample, and efficiently preparing the ultrathin slice sample in a short time.例文帳に追加

超薄切片試料を作製するための作業を簡単化でき、超薄切片試料を短時間で効率よく作製することができる超薄切片試料作製方法および超薄切片試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an observation sample preparation device and a preparation method capable of preparing in an excellent state, an observation sample formed by immobilizing a nano-material on a substrate.例文帳に追加

ナノ材料が基板上に固定化された観察試料を良好な状態に作製することが可能な観察試料作製装置及び作製方法を提供する。 - 特許庁

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

To provide a sample preparation method for sampling only a sample piece including a desired, specific region from a semiconductor wafer and a device chip for mounting on the sample stage of an analyzer/measuring device without going through the sample preparation process of manual work requiring experience, skill, and time, and to provide a sample preparation apparatus.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

METHOD, APPARATUS, AND SYSTEM FOR MEASURING MOLECULAR VIBRATION AND KIT FOR SAMPLE PREPARATION例文帳に追加

分子振動計測法、分子振動計測装置、試料調製用キット及び分子振動計測システム - 特許庁

TEMPERATURE MEASURING METHOD, PREPARATION OF SAMPLE FOR TEMPERATURE MEASUREMENT AND FABRICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

温度測定方法，温度測定用サンプルの作成方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

ELECTROLYTIC GRINDING METHOD IN PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND APPARATUS UTILIZING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料作製における電解研磨方法およびこれを利用する装置 - 特許庁

To provide a glycoprotein sample preparation method for separating glycoprotein from a glycoprotein inclusion sample without isolating a sugar chain.例文帳に追加

糖タンパク質含有試料から糖鎖を遊離することなく糖タンパク質を分離する糖タンパク質の試料調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an observation sample preparation method and an observation sample preparation device capable of preparing an observation sample having high uniformity of thickness, and including a vacuum domain at a desired distance from an observation portion.例文帳に追加

厚さの均一性が高く、かつ、観察部位から所望の距離に真空領域を有する観察試料を作製することができる観察試料作製方法及び観察試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a slice sample preparation method for surely holding a slice sample on a fixing base and a slice sample for this method so as to prevent the sample slice placed on a sample base for a microscope from peeling off from the sample base and being lost during storage, carriage, or operation.例文帳に追加

本発明の課題は、試料台に載置した顕微鏡用の試料切片が、保管したり運搬したり作業中に試料台から剥がれ遺失してしまうことがなく、固定台上に確実に保持される薄片試料を作成する方法と、そのような薄片試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide a sample container moving method in a sample preparation part of a particle size distribution measuring device capable of moving the sample container from the liquid sample collection position to the position of a mixing part in a short time without spilling the liquid sample.例文帳に追加

液体試料をこぼすことなく短時間で試料容器を液体試料採取位置から混合部の位置まで移動できる粒径分布測定装置の試料調整部における試料容器移動方法を提供すること。 - 特許庁

CAPILLARY FOR X-RAY CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS, AND PREPARATION METHOD FOR PROTEIN CRYSTAL SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

Ｘ線結晶構造解析用キャピラリー及びそれを用いたタンパク質結晶試料の調製方法 - 特許庁

To provide a quick and accurate preparation method of standard data of an inclusion or the like in a metal sample and a standard sample therefor.例文帳に追加

金属試料中の介在物等の標準データ及びそのための標準試料の迅速かつ正確な作成方法を提供すること。 - 特許庁

SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR MAGNETOSTRICTION AND MAGNETIZATION, PREPARATION METHOD FOR CALIBRATION STANDARD SAMPLE FOR MAGNETOSTRICTION MEASURING EQUIPMENT USING THE SAME, CALIBRATION STANDARD SAMPLE FOR MAGNETOSTRICTION MEASURING EQUIPMENT PREPARED BY PREPARATION METHOD, AND MAGNETOSTRICTION MEASURING EQUIPMENT CALIBRATED USING THE CALIBRATION STANDARD SAMPLE例文帳に追加

磁歪と磁化との同時測定方法、及びその方法を用いた磁歪計測用機器の較正用標準試料の作成方法、並びにその作成方法で作成した磁歪計測用機器の較正用標準試料、及びその較正用標準試料を使用して較正した磁歪計測用機器 - 特許庁

BURR-FREE UNIT SYSTEM EMBEDDING FRAME-LIKE SUBSTRATE CONTAINER STRUCTURE, AND SPECIMEN PREPARATION/STORAGE METHOD FROM TRANSMISSION AND CONNECTION OF SAMPLE DATA OF EXTRACTED SAMPLE AND FIXATION AND TRANSFER OF SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

バリ無しユニットシステム包埋枠状基体容器構成体及びそれを用いた採取試料の試料データの伝達連結と試料の固定移送から標本作製・保管方法 - 特許庁

To provide a sample preparation method for a microsampling operation using a focused ion beam, which prevents substances sputtered by and which prevents sample processing from adhering to a sample surface.例文帳に追加

集束イオンビームを用いたマイクロサンプリングにおいて、試料加工の妨げとなる、スパッタリングされた物質の試料表面への付着を防止する試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

METHOD OF SAMPLE PREPARATION FOR MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION MASS SPECTROMETRY AND METHOD OF MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析用サンプル調製法及びマトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 - 特許庁

To provide a method of preparation of sample for mass spectrometry making possible for mass analysis of RNA of concentration of sub-pico order.例文帳に追加

サブピコモルオーダの濃度のRNAの質量分析を可能とする質量分析サンプルの調製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation method capable of carrying out a two-dimensional mass spectrographic imaging operation, using high spatial resolution.例文帳に追加

高い空間分解能での二次元質量分析イメージングが可能なサンプルの調製方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION, AND INSTRUMENT AND METHOD FOR DIRECTLY SPOTTING ELUTION AGENT ON MALDI-TOF TARGET例文帳に追加

試料調製およびＭＡＬＤＩ−ＴＯＦターゲット上への溶離剤の直接スポッティングのための器械および方法 - 特許庁

There are provided: a method for preparing the sample for analyzing the amino acid in the sample by gas chromatography, which includes a process to treat the sample with an arginine-degrading enzyme; an analysis method of amino acids using the obtained sample; and a kit including the arginine-degrading enzyme for the preparation of such a sample.例文帳に追加

試料中のアミノ酸をガスクロマトグラフィーによって分析するためのサンプルの調製方法であって試料をアルギニン分解酵素で処理する工程を含む方法、得られるサンプルを用いるアミノ酸の分析方法、及びこのようなサンプルの調製用のアルギニン分解酵素を含むキット。 - 特許庁

To provide a preparation method for a biological sample capable of preventing the state and the shape of the sample from changing, even if it is dried after dehydration, and capable of observing the sample in a condition close to that of a living organism.例文帳に追加

脱水後乾燥しても、試料の形態や形状の変化することがなく、試料をより生体に近い状態で観察することが可能な生体標本の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a preparation method of a liquefied processing cytologic specimen capable of preparing simply a uniform cell sample.例文帳に追加

簡単に均一な細胞標本を作成できる液状処理細胞診標本の作製方法を提供すること。 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF MASS SPECTROMETRY SAMPLE, IONIZATION METHOD OF RIBONUCLEIC ACID, MASS SPECTROMETRY METHOD OF RIBONUCLEIC ACID, AND THIS MASS SPECTROMETRY METHOD OF LOW MOLECULE RIBONUCLEIC ACID OF CELL PROVENANCE例文帳に追加

質量分析サンプルの調製方法、リボ核酸のイオン化方法、リボ核酸の質量分析方法、及び細胞由来の低分子リボ核酸の質量分析方法 - 特許庁

To provide a sample preparation method for electron microscope observation and a sample preparation kit, by which a sample present in a liquid and having floating property can be efficiently prepared by an optimal method to be observed with an optical microscope while suppressing the floating property, a sample to be an object for electron microscope observation is specified in the sample, and the specified sample can be precisely observed with an electron microscope.例文帳に追加

最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and its device in which only a sample piece containing a desired specified region from a semiconductor wafer and a device chip is sampled (extracted) and is mounted on a sample stage of analysis and measurement device without going through a process of sample preparation by manual work requiring experience, skill, and time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR PERFORMANCE OF ACTIVATION GAS DEACTIVATING ANTIGENIC SUBSTANCE AND PREPARATION APPARATUS FOR PROCESSED ANTIGENIC SUBSTANCE USED AS EVALUATION SAMPLE FOR THE EVALUATION METHOD例文帳に追加

活性化ガスが抗原性物質を失活させる性能の評価方法、その評価方法の評価試料として用いる処理済抗原性物質の作成装置 - 特許庁

To provide a cross section preparation method and a preparation system capable of acquiring accurately a desired cross section in sample internal structure unobservable by an optical microscope in order to prepare a cross-sectional sample of a SiP type semiconductor package by an ion milling method.例文帳に追加

イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。 - 特許庁

This method for measuring the concentration of an analytical object in the fluid sample includes preparation of an electrochemical sensor matched so as to measure the analytical object in the sample.例文帳に追加

流体試料中の分析対象物の濃度を測定する方法は、試料中の分析対象物を計測するように適合された電気化学的センサを用意することを含む。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample observed by a transmission electron microscope and reduced in the change in the vicinity of the surface of the original sample.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a firm sticking fixing procedure between a sample substrate and a block-shaped sample capable of enduring sufficiently a strong electrostatic attractive force at an AP analysis time, in a preparation method of the sample for atom probe analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、アトムプローブ分析用試料の作製方法において、ＡＰ分析時の強い静電引力に十分耐えることができる試料基板とブロック状試料との強固な接着固定手法を提示することにある。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample and a device therefor wherein only a sample piece including a desired specific area from a semiconductor and a device chip is taken out, and the sample is mounted on the sample stage of an analyzer/measuring device, dispensing with a hand-working sample preparation process which requires experience, skills and time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a pretreatment method for a cadmium measurement sample capable of reducing cost, time and work required for preparation, and easily and rapidly providing a high purity sample, a method for separating cadmium and a column device for separating cadmium.例文帳に追加

作製に要するコスト、時間及び労力を低減でき、簡易で迅速であり、且つ、高精製度の、カドミウム測定用試料の前処理方法、カドミウムの分離方法、及び、カドミウム分離カラム装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a biosample specimen, easily moving a sample to the surface of slide glass and enhancing the preparation efficiency of the biosample specimen.例文帳に追加

スライドガラス上への試料の移動が容易に行え、また作製効率が向上する生体試料標本の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for STEM sample preparation and analysis that can be used in a FIB-STEM system without a flip stage.例文帳に追加

フリップステージなしにＦＩＢ−ＳＴＥＭシステムで使用されることができるＳＴＥＭサンプル作製および解析のための方法を提供する。 - 特許庁

To provide an asbestos analysis method capable of measuring accurately and inexpensively in a short time, an asbestos content included in a plaster board, and to provide an analysis sample preparation method.例文帳に追加

石膏ボード中に含まれるアスベスト含有量を精度良く、安価にまた短時間に測定可能なアスベスト分析方法及び分析試料作製方法を提供する。 - 特許庁

MOLECULAR IMPRINTED POLYMER CAPABLE OF CATCHING OBJECTIVE COMPOUND, ITS PREPARATION METHOD, METHOD OF CATCHING OBJECTIVE COMPOUND IN OBJECTIVE SAMPLE BY MOLECULAR IMPRINTED POLYMER例文帳に追加

対象化合物を捕捉することができるモレキュラーインプリンテッドポリマー、その調製方法、およびモレキュラーインプリンテッドポリマーにより対象試料中の対象化合物を捕捉する方法 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample for observation, an observation method of the sample, the sample for observation, an observation device or the like capable of observation by TEM or FIB, even when an observation object is a molding prior to sintering, a porous body or the like having a weak shape-retaining force.例文帳に追加

観察対象が保形力の弱い、焼結前の成形体や多孔質体等であっても、ＴＥＭやＦＩＢによる観察が行える観察用試料の作成方法、試料の観察方法、観察用試料、観察装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of performing separation or separation preparation of a sample for analysis from a wafer, without contaminating with an element, such as Ga, that becomes a problem, when processing the wafer.例文帳に追加

ウェーハをプロセスに問題となるＧａのような元素で汚染することなく、ウェーハから解析用サンプルを分離または分離準備する方法を提供する。 - 特許庁