「spectroscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

This spectroscope is provided with a wavelength dispersing means for dispersing measured light, a photo detecting element where measured light dispersed by the wavelength dispersing means enters, and a plurality of measured light entering means different in incident position of the measured light to the wavelength dispersing means, and the incident position of the measured light by the measured light entering means is selected according to the measured wavelength range.例文帳に追加

測定光を分散させる波長分散手段と、波長分散手段で分散された測定光が入射される受光素子と、波長分散手段に対する測定光の入射位置が異なる複数の測定光入射手段とを設け、測定波長範囲に応じて測定光入射手段による測定光の入射位置を選択することを特徴とするもの。 - 特許庁

The liquid repellent member has an underlayer film 23 containing silicon on a surface of a base material 22 and a liquid repellent layer 24 of a silane coupling agent having a fluorocarbon group mounted on the underlayer film 23 wherein an intensity ratio of the most strongly detected ion of detected fluorocarbon-based fragmented ions to a silicon ion is not less than 10, the ion being detected by a flight time type secondary ion mass spectroscope.例文帳に追加

基材２２の表面にケイ素を含有する下地膜２３と当該下地膜２３上に設けられたフルオロカーボン基を有するシランカップリング剤の撥液膜２４とを有し、飛行時間型二次イオン質量分析装置により測定した際に検出されるフルオロカーボン系フラグメントイオン中最も強く検出されるイオンのケイ素イオンに対する強度比が、１０以上である。 - 特許庁

The spectroscope further comprises an incident opening 302 for limiting the light, emitted by the incident light-introducing means 301 to the concave diffraction grating 303; and an emission opening 304 for limiting the emission angle of the emission light dispersed by the concave diffraction grating 303 by each wavelength, to the emission light-receiving means 305.例文帳に追加

分光器は、入射光導入手段３０１によって発せられた光の凹面回折格子３０３への入射角度を制限する入射開口３０２と、凹面回折格子３０３によって波長ごとに分光された出射光の出射光受光手段３０５への出射角度を制限する出射開口３０４とをさらに有する。 - 特許庁

This spectroscope is provided with a light filter having filters F1 and F2 adapted to selectively transmit primary diffracted light and higher diffracted light multiplied by an integer to enable measurement of the light 2 admitted into a diffraction grating 5 by changing the light incident into the diffraction grating 5 properly switching the filters F1 and F2.例文帳に追加

回折格子５に入射される測定対象光２を一次回折光やその整数倍の高次回折光を選択し透過させるフィルタＦ１、Ｆ２を有する光フィルタを設けた分光器で、これらフィルタＦ１、Ｆ２を適宜切り換えて回折格子５への入射光を変えることにより測定光２に対し、その全波長域での測定ができるようにしたものである。 - 特許庁

A spectroscope 2, which is movable between a spectral position on a light leading optical path in a light leading optical system 1 and a stand-by position which is deviated from the light guide optical path is installed between an objective lens part 11, including objective lenses 11a to 11c, for generating observed image from the image of a semiconductor device S and a imaging camera 3 for capturing the observed image.例文帳に追加

半導体デバイスＳの像から観測像を生成する対物レンズ１１ａ〜１１ｃを含む対物レンズ部１１と、観測像を撮像する撮像カメラ３との間に、導光光学系１での導光光路上の分光位置と、導光光路から外れた待機位置とを移動可能な分光器２を設置する。 - 特許庁

In this device, a floodlight system fiber switching mechanism for passing successively and selectively floodlighting light from one optical fiber among optical fibers to the number of n is provided in the middle of the optical fibers to the number of n in a floodlight system corresponding to n-channels, and each reception light from the optical fibers to the number of n in a light reception system is received in common by one spectroscope.例文帳に追加

この発明は、ｎチャネルに対応する投光系のｎ本の光ファイバの途中にｎ本のうちの１本の光ファイバの投光光を順次選択的に通過させる投光系ファイバ切換機構を設け、１つの分光器でｎ本の受光系光ファイバからの受光光を共通に受けるようにしたものである。 - 特許庁

In the inspection of the flaw of a disk substrate 1 during nano-imprinting, the disk substrate 1 is irradiated with the light from a first light source containing a plurality of wavelengths through a half mirror 7 and an object lens 8 and the reflected light from the disk substrate 1 is thrown on a spectroscope 9 through the object lens 8 and the half mirror 7 to inspect the disk substrate 1 by a scatterometry method.例文帳に追加

ナノインプリント時の欠陥の検査は複数の波長を含む第１の光源からの光をハーフミラー７、対物レンズ８を介してディスク基板１に照射し、反射光を対物レンズ８、ハーフミラー７を介して分光器９に入射させることによってスキャットロメトリー法により検査する。 - 特許庁

The mass spectroscope constructed by non-axially combining an ion trap with a time-of-flight mass spectrometer comprises a mass filter 8 arranged between an ion source 1 and the ion trap 9, and a means independently controlling gas pressure inside the ion trap and that inside the mass filter, and the gas pressure inside the ion trap is set higher than that inside the mass filter.例文帳に追加

イオントラップと飛行時間型質量分析計とを非同軸に結合した質量分析装置であり、イオン源１とイオントラップ９の間に配置される質量フィルター８と、イオントラップ内部のガス圧と質量フィルターの内部のガス圧を独立に制御する手段とを有し、イオントラップの内部のガス圧が質量フィルターの内部のガス圧よりも高く設定される。 - 特許庁

To provide an electron source used for a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer such as an Auger electron spectroscope, an electron beam exposure machine, in particular, a scanning electron microscope used at low acceleration where an acceleration voltage of an electron beam is not higer than 1kV, or a semiconductor wafer inspection device such as a CD SEM or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

A spectroscope 9 is controlled by a wavelength selection part 11 to successively irradiate a sample with light with a sample absorbing wavelength having light absorption of a target component and light with a reference wavelength having no light absorption of the target component in such a state the sample is absent in a separation flow channel 55 and the quantities of background light are stored in memory parts 25s and 25r.例文帳に追加

波長選択部１１により分光器９を制御して、分離流路５５にサンプルが存在しない状態で、目的成分の光吸収があるサンプル吸収波長の光及び目的成分の光吸収がないリファレンス波長の光を順次照射し、バックグラウンド光量を記憶部２５ｓ，２５ｒに記憶する。 - 特許庁

The spectroscope 1A is composed of: an optical body 10 wherein a spectral light path is established, through which spectral object light is propagated; a light entrance slit 16 the object light enters; a diffraction grating 17 which spectrally processes the entrance object light; and a photodiode array 18 which detects the object light spectrally processed by the diffraction grating 17.例文帳に追加

分光の対象光が伝搬する分光光路が内部に設定される光学体１０と、対象光を入射する光入射スリット１６と、入射された対象光を分光する回折格子１７と、回折格子１７で分光された対象光を検出するフォトダイオードアレイ１８とによって、分光器１Ａを構成する。 - 特許庁

This mass spectroscope for conducting MS^n analysis wherein a sample eluted from the separation means for separating the sample a component by a component is ionized, and wherein an optional mass number of an ion is cloven to be mass-spectroscopically analyzed is provided with a database for storing correlation information between the isomer existence ratio and a specified ionic strength ratio in every of isomers.例文帳に追加

試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するＭＳ^n 分析を行う質量分析装置において、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納されたデータベースを備えたことである。 - 特許庁

In a process for manufacturing a semiconductor device by chemical-machine-polishing with the use of a tantalum nitride film, a wafer 22 is performed in CMP with a laser beam radiated from a Raman spectroscope 23 irradiated onto the wafer 22 and a slully switched in response to a Raman peak intensity of 180 to 200 cm2 derived from the bonding of tantalum and nitrogen.例文帳に追加

バリアメタルとして窒化タンタル膜を用い、化学機械研磨により半導体装置を製造する工程において、ラマン分光装置２３から出射されたレーザー光をウェハー２２に照射し、タンタルと窒素との結合に由来する１８０〜２００ｃｍ^-1のラマンピークの強度に応じてスラリーを切換えて、ウェハー２２をＣＭＰ研磨する。 - 特許庁

In this method of ion attachment mass spectrometry, the substance to be measured is introduced into an ion source 22 having a metallic ion discharge mechanism, metallic ions of positive charges discharged from the metal ion discharge mechanism are made to adhere to a measured substance, the substance is finally extracted as positive ions, and then the mass spectrometry is performed by the mass spectroscope.例文帳に追加

このイオン付着質量分析方法は、被測定物質を金属イオン放出機構を有するイオン源２２に導入し、金属イオン放出機構から放出された正電荷の金属イオンを被測定物質に付着させてイオン化し、被測定物質を最終的に正のイオンとして取り出し、その後に質量分析装置２１により質量分析を行う。 - 特許庁

To clearly get an image of a measurement target in an image spectroscope using a wavelength filter, especially to stabilize tracking an to prevent losing sight of the target when measuring the moving target with tracking the target, by doing away with a narrow-bandwidth bandpass filter for improving wavelength resolution to increase a light amount contributing to image pickup.例文帳に追加

波長フィルタを用いて画像分光装置を構成する場合に、波長分解能を上げるためにバンドパスフィルタの帯域幅を狭くすると、撮像に寄与する光量が減るため、計測対象の像が明確に得られなくなり、特に動く目標を追尾しながら計測しようとする際に追尾が安定しないとか、目標を見失い易い。 - 特許庁

The spectroscope includes an electro-optic crystal having an electro-optic effect; a beam deflector having an electrode pair for applying an electric field in the electro-optic crystal; spectroscopic means for spectrally diffracting emission light from the beam deflector; wavelength selection means for selecting light of an optional wavelength from the emission light spectrally diffracted by the spectroscopic means.例文帳に追加

本発明に係る分光器は、電気光学効果を有する電気光学結晶、および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、該分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段とを備える。 - 特許庁

To provide an organic photovoltaic device which can be easily produced by wet film formation, and ensures good stability and high conversion efficiency, and to provide an optical sensor which includes the device, requires neither a spectroscope nor a filter, allows a detection wavelength to vary depending on pigment selection and detects only light having a particular wavelength or shorter.例文帳に追加

湿式成膜可能で製造が容易であり、安定性がよく、かつ高い変換効率を与える有機光起電力素子、およびそれを備えた、分光器やフィルターが要らず、色素の選択により検出波長が可変であり、かつ特定波長以下の光に対してのみ検出が可能である光センサーを提供することを課題とする。 - 特許庁

There are provided a method for correcting magnification and position and a system for correcting magnification and position, both of which can correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where the amount of energy loss and the measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に補正可能な倍率・位置補正方法および倍率・位置補正システムを提供する。 - 特許庁

Further, an adsorption pipe in which a material to be analyzed in a soil gas is collected in the investigation spot is set in a thermal adsorption-gas chromatographic mass spectroscope to quantitatively determine at least one of 1,1- dichloroethylene, dichloromethane, trans-1,2-dichloroethylene, cis-1,2- dichloroethylene, 1,1,1-trichloroethane, trichloroethylene, tetrachloroethylene, chloroform, carbon tetrachloride, and benzene.例文帳に追加

また、調査現場で土壌ガス中の分析対象物質を捕集した吸着管を当該現場にて熱脱着ーガスクロマトグラフ質量分析装置にセットし、１，１−ジクロロエチレン、ジクロロメタン、ｔｒａｎｓ−１、２−ジクロロエチレン、ｃｉｓ−１、２−ジクロロエチレン、１，１，１−トリクロロエタン、トリクロロエチレン、テトラクロロエチレン、クロロホルム、四塩化炭素、ベンゼンのうちの少なくとも一種を定量する。 - 特許庁

The spectroscope includes an incidence slit 4 to let in soft X rays, a concave mirror 5 to converge the incident soft X rays 9, a multilayer film grating 1 illuminated with the converged soft X rays, a fixed-position exit slit 8 and a multilayer plane mirror 7 to guide the soft X rays diffracted by the grating 1 to the exit slit 8.例文帳に追加

本発明の分光装置は、軟Ｘ線を入射させる入射スリット４と、入射軟Ｘ線を収束させる凹面鏡５と、収束された軟Ｘ線９により照明される多層膜回折格子１と、位置が固定された出口スリット８と、回折格子１により回折された軟Ｘ線を出口スリット８に導くための多層膜平面鏡７と、を備える。 - 特許庁

This spectroscope 1 is constructed of an optical fiber 4 introducing light from a light source 2 via an optical circulator 3, a collimator lens 5 converging the light emitted from the optical fiber 4, a flat mirror 6 attached to a rotary shaft connected to a pulse motor not shown in the figure and turned around the shaft, and a flat diffraction grating 7 fixed to a predetermined position.例文帳に追加

分光器１は、光源２から光サーキュレータ３を介してから光を導入する光ファイバ４と、この光ファイバ４から射出される光を収束するコリメートレンズ５と、図示しないパルスモータと連結される回動軸に取り付けられ、その軸周りに回動可能な平面鏡６と、所定の位置に固定された平面の回折格子７とから構成される。 - 特許庁

In this mass spectrometry, a sample containing aminopyridine label sugar chain is MS-measured using an MALDI mass spectroscope, an ion (A) to/from which an ion X is added or desorbed in the sugar chain and an ion (B) having a mass number two larger than that of the ion (A) are obtained, and the ion (B) is used as a marker of the aminopyridine label sugar chain.例文帳に追加

アミノピリジン標識糖鎖を含む試料を、ＭＡＬＤＩ質量分析装置を用いてＭＳ測定し、糖鎖においてイオンＸが付加又は脱離したイオン（Ａ）と、イオン（Ａ）からみて質量数が２増加したイオン（Ｂ）とを得て、イオン（Ｂ）を、アミノピリジン標識糖鎖のマーカーとする、質量分析法。 - 特許庁

This spectroscope is equipped with a container 16 for storing an analysis object, a light source 17 provided on one side of the container, a programmable diffraction grating 10 provided on the other side of the container 16, having movable diffraction elements 12, for spectrally separating the wavelength of light transmitted through the container 16 by moving each movable diffraction element 12, and an array photodetector 14 for detecting the light spectrally separated by the diffraction grating.例文帳に追加

分析対象物を収容する容器１６と、その容器の一方に設けられた光源１７と、前記容器１６の他方に設けられ、可動回折素子１２を有すると共に、その各可動回折素子１２を移動して前記容器１６を透過した光を波長を分光するプログラマブル回折格子１０と、その回折格子で分光された光を検出するアレイ光検出素子１４とを備えたものである。 - 特許庁

The control device 41 instructs, when the plasma treatment apparatus 11 performs the actual device manufacturing process, the plasma treatment apparatus 11 to perform the predetermined etching process based on data detected by electric measuring devices 17, 20, gas flow rate sensors 27, 29, a temperature sensor 13b, a pressure sensor 12a, and a plasma emission spectroscope 31.例文帳に追加

制御装置４１は、プラズマ処理装置１１がデバイス製造の実処理時には、電気測定器１７，２０、ガス流量センサ２７，２９、温度センサ１３ｂ、圧力センサ１２ａ、プラズマ発光分光器３１が検出した検出データに基づいてプラズマ処理装置１１に所定のエッチング処理を実行させる。 - 特許庁

In this state, by actuating an electron gun 130 or an ion gun 140, electrons or positive ions of inactive gas is irradiated onto an MgO membrane surface of the measurement sample, energy distribution of the emitted secondary electrons is measured with an electronic spectroscope 150, and the measured data of the secondary electron spectra are sent to an analysis device 200.例文帳に追加

この状態で、電子銃１３０或はイオン銃１４０を作動させて電子或は不活性ガスの正イオンを測定試料のＭｇＯ膜表面に照射すると共に、電子分光器１５０で、その放出された二次電子のエネルギー分布を測定し、測定した二次電子スペクトルのデータを解析装置２００に送る。 - 特許庁

In the mass spectroscope with the multipole ion guide for transporting ions output from an ion source by applying a high-frequency voltage to a plurality of rod-like electrodes, a high-frequency voltage with a characteristic vibration frequency of ions having a prescribed mass electric charge ratio is further applied to the ion guide by superimposing it on a high-frequency voltage for guide.例文帳に追加

複数のロッド状電極に高周波電圧を印加して、イオン源から出たイオンを輸送するイオンガイドを備えた質量分析装置において、ガイド用の高周波電圧に重畳して、さらに、所定の質量電荷比を持ったイオンの固有振動周波数の高周波電圧を、イオンガイドに印加するようにした。 - 特許庁

To provide a sum frequency generating spectroscope device and method capable of solving the problem that signal intensity is faint in a single channel SFG spectroscopic method, improving an S/N ratio by improving a narrow-band visible light generating method, and improving measurement sensitivity and measurement accuracy by the improvement of the S/N ratio, and substantially enlarging fields of measurement.例文帳に追加

シングルチャンネルＳＦＧ分光法における信号強度が微弱であるという問題を解消しつつ、狭帯域可視光の発生方法を改良することによりＳ／Ｎ比をさらに向上し、それによって測定感度、測定精度の向上、測定分野の大幅な拡大を可能にする和周波発生分光装置および方法を提供する。 - 特許庁

Also, the organic matter analyzer 10 comprises: a light source 12 for generating excitation light for exciting specific electromagnetic waves; a spectroscope 14 for measuring transmitted electromagnetic waves by generating electromagnetic waves by the excitation light and applying them to the frozen sample 40; and a low-temperature chamber 16 for obtaining the frozen sample by freezing the solution to which the inorganic salt has been added and mixed.例文帳に追加

また、特定の電磁波を励起する励起光を発生する光源１２と、前記励起光により電磁波を発生させて凍結試料４０に照射し、透過した電磁波を測定する分光器１４と、無機塩が添加、混合された水溶液を凍結させて前記凍結試料を得る低温チャンバ１６とを備えた有機物分析装置１０。 - 特許庁

The spectroscope is provided with a color wheel 1 comprising a light transmissive disk 10 of which the surface has three kinds of filters R, G, B, transmitting light of respective wavelengths of red, green and blue, selectively film-formed thereon and ranges W where no filter is film-formed between the adjacent filters and a motor 2 to rotate the color wheel 1.例文帳に追加

１体の光透過性円盤１０の表面に赤色、緑色、青色の各波長の光を透過する３種類のフィルタＲ，Ｇ，Ｂを選択的に成膜し、これらフィルタ間にはフィルタ未成膜範囲Ｗを備えたカラーホイール１と、このカラーホイール１を回転させるモータ２とを備えた分光装置。 - 特許庁

In the analysis method of the very small quantity of impurity in a gas using a mass spectroscope for separating the very small quantity of impurity in a sample gas by a separation column 2 of a gas chromatograph, ionizing the very small quantity of impurity at an ion source section 19, and separating mass, pressure in the ion source section 19 from the separation column 2 is kept higher than an atmospheric pressure for analysis.例文帳に追加

ガスクロマトグラフの分離カラム２で試料ガス中の微量不純物を分離し、当該微量不純物をイオン源部１９でイオン化し、質量分離する質量分析装置を用いるガス中の微量不純物の分析方法において、 前記分離カラム２から前記イオン源部１９の圧力を、大気圧よりも高く維持しながら、分析を行う。 - 特許庁

This method includes a light source 2 having a white light source 7, a measuring part 1 having a spectroscope 9, and a light receiver 10, and a data processor 3 having a computer 12, and measures the distortion of the wurtzite semiconductor film 8b by measuring the A, B, C exciter absorption peak energy of the film 8b on the substrate 8a of a sample to be measured 8.例文帳に追加

白色光源７を有する光源部２と、分光器９と受光器１０を有する測定部１と、計算機１２を有するデータ処理部３とを含み、被測定試料８の基板８ａ上のウルツ鉱型半導体膜８ｂのＡ、Ｂ、Ｃ励起子吸収ピークエネルギーを測定することにより、ウルツ鉱型半導体膜８ｂの歪量を測定する。 - 特許庁

The material inspection apparatus 100, which is an apparatus sampling materials adhering to food 1 conveyed on a belt conveyor 50 to inspect, is provided on the belt conveyor 50 and includes a sample sucking device 13 sucking material adhering to food 1 with atmosphere peripheral of food 1 conveyed on the belt conveyor 50 as samples, and a mass spectroscope 23 analyzing samples sucked by the sample sucking device 13.例文帳に追加

ベルトコンベア５０上を搬送されてくる食品１に付着している物質を試料として採取して検査する装置であって、ベルトコンベア５０上に配置され、ベルトコンベア５０上を搬送されてくる食品１周辺の雰囲気とともに食品１に付着している物質を試料として吸引する試料吸引装置１３と、試料吸引装置１３により吸引された試料を分析する質量分析装置２３とを備える物質検査装置１００を提供する。 - 特許庁

The silver halide emulsion has 89-100 mol% silver chloride content, the average side length of silver halide grains constituting the silver halide emulsion is 0.01-0.34 μm and the silver halide emulsion has been chemically sensitized with a selenium compound in which the bound electron energy of the 3d orbit of a selenium atom measured with an X-ray photoelectron spectroscope is 54.0-65.0 eV.例文帳に追加

塩化銀含有率が８９モル％以上１００モル％以下のハロゲン化銀乳剤であって、前記ハロゲン化銀乳剤を構成するハロゲン化銀粒子の平均辺長が、０．０１μｍ以上０．３４μｍ以下であり、かつ、Ｘ線光電子分光装置で測定したセレン原子の３ｄ軌道の電子の束縛エネルギー値が、５４．０ｅＶ以上６５．０ｅＶ以下であるセレン化合物により化学増感されたことを特徴とするハロゲン化銀乳剤。 - 特許庁

This device is equipped with a standard container 12 with the organic halide 11 of a fixed concentration sealed within, a purge gas supply pipe 14 for supplying the container 12 with a purge gas 13 for purging the halide 11 sealed within, and a standard gas introducing pipe 16 for introducing a standard gas 15 accompanied by the halide 11 of the fixed concentration into a mass spectroscope 50 by the supplied gas 13.例文帳に追加

内部に所定濃度の有機ハロゲン化物１１を封入した標準容器１２と、該標準容器１２に上記封入された有機ハロゲン化物１１を追い出す追出しガス１３を供給する追い出しガス供給管１４と、該供給されたガス１３により所定濃度の有機ハロゲン化物１１を同伴させた標準ガス１５を質量分析装置５０へ導入する標準ガス導入管１６とを具備する。 - 特許庁