「spectroscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A laser plume beam (light generated as a result that the tooth tissue is made into plasma when irradiated with the laser) occurring when a tooth tissue is irradiated with laser light through an optical fiber is transmitted to a spectroscope 10 by using the optical fiber 4 which does not transmit laser beams to project a spectrum image on an image sensor 8.例文帳に追加

歯組織に光ファイバーを通してレーザが照射された際に発生するレーザプルーム光（レーザ照射時に歯組織がプラズマ化し発生する光）を、レーザ光を透過しない光ファイバー４を用いて分光器１０に伝送し、イメージセンサ８上にスペクトル像を写しだす。 - 特許庁

The spectroscope includes a dispersion element, a prism in which an angle of emission light beam changes by the temperature change, and a light beam angle expansion optical system that is arranged between the prism and the dispersion element and emits a light beam with an angle obtained by proportionally expanding an incident angle of an incident light beam.例文帳に追加

本発明に係る分光器は、分散素子と、温度変化に対して出射光線の角度が変化するプリズムと、プリズムと分散素子の間に配置された入射光線の入射角度を比例拡大した角度で光線を出射する光線角度拡大光学系と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁

This is an ion source for an ion adhesion mass spectroscope, which has an emitter 12 and a voltage impression part 11 which impresses a bias voltage to the emitter, the emitter is heated to let it emit metal ions with positive charge, the metal ions are made to adhere to a gas to be detected, and ionizes detected gas.例文帳に追加

放出体１２と、この放出体にバイアス電圧を印加する電圧印加部１１とを有し、放出体を加熱して正電荷の金属イオンを放出させ、金属イオンを被検出ガスに付着させて被検出ガスをイオン化するイオン付着質量分析装置のイオン源である。 - 特許庁

The fluorescence excited by the exciting light to be generated from the sample surface 16 is condensed by the same Schwarz's mirror 14 to transmit through the half mirror 12 as parallel light and the transmitted light is condensed by a Sshwarz's mirror 18 to be incident on a fluorescence side spectroscope 20.例文帳に追加

励起光により励起されて試料面１６から発生した蛍光は、同じシュワルツ鏡１４により集光され、平行光とされてハーフミラー１２を透過し、シュワルツ鏡１８により集光されて蛍光側分光器２０に入射する。 - 特許庁

To provide a material of low gas emission and low secondary electron emission to be favorably used as a material for any apparatus capable of enhancing the sensitivity and accuracy of an electronic spectroscope to work in a super-high vacuum environment and also as a super-high vacuum or ultra-high vacuum structural material.例文帳に追加

超高真空環境下で稼動する電子分光器の感度、精度の向上が図れる機器用材料として、また、超高真空及び極高真空構造材料として有望視される低ガス放出及び低２次電子放出材料を提供する。 - 特許庁

A computer 6 calculates the secular change of the light source 1 using the intensity of light of the light source 1 detected by the spectroscope 5 and analyses the thin film of substrate to be measured 3 on the basis of the intensity of light reflected by the substrate to be measured 3, while calibrating the light source 1 on the basis of the secular change.例文帳に追加

計算機６は、分光器５によって検出された光源１の光強度に用いて光源１の経年変化を検出し、その経年変化に基づいて光源１の較正を行ないながら、測定基板３からの反射光の光強度に基づいて測定基板３の薄膜を解析する。 - 特許庁

The fluorescence generated from the image which appears on the proximal end surface of the CFB 16 is reflected by the first beam splitter 22, is separated by the second beam splitter 25 and forms the image again respectively on the image pickup surface of an image pickup element 35 and a light receiving surface of a spectroscope 30.例文帳に追加

ＣＦＢ１６の基端面に現れた像から発した蛍光は、第１ビームスプリッタ２２によって反射され、第２ビームスプリッタ２５によって分離され、撮像素子３５の撮像面及び分光器３０の受光面に夫々像を再結像する。 - 特許庁

The liquid colorimetric apparatus is provided with a light source 50; an integrating sphere 17 for condensing reflected light emitted from the light source and reflected from the colorimetric object liquid; and a spectroscope 46 for measuring the reflectivity of the colorimetric object liquid on the basis of the reflected light condensed by the integrating sphere.例文帳に追加

また、光源５０と、この光源から照射された光が測色対象液体で反射してなる反射光を集光する積分球１７と、積分球によって集光された反射光から測色対象液体の反射率を測定する分光器４６とを備えている。 - 特許庁

To realize a wavelength tracking system, for an optical spectrum analyzer and a wavelength-variable light source, in which measured data is sampled while a spectroscope is being swept at high speed, in which the wavelength of the wavelengthvariable light source is swept so as to match its sweeping speed, in which the wavelength is swept at high speed and whose wavelength accuracy is high.例文帳に追加

分光器を高速に掃引しながら測定データをサンプリングし、その掃引速度に合わせて波長可変光源の波長掃引を行い、もって、高速且つ高い波長確度で光スペクトラムアナライザと波長可変光源の波長トラッキングを実現させる。 - 特許庁

For example, in the formation time of an oxide film, after cleaning up a wafer in the cleaning chamber 1, the remaining extent, etc., of a natural oxide film is measured by photomodulation reflecting power spectroscope in the optical measuring chamber 5 to be oxidized later in the rapid oxidizing chamber 2.例文帳に追加

例えば、酸化膜の形成時、ウエハを洗浄用チャンバ１で洗浄後、光学的測定用チャンバ５で光変調反射率分光により自然酸化膜の残存程度などを測定し、その後高速酸化用チャンバ２で酸化する。 - 特許庁

The coolant gas from the air-cooling part 4b is sent to a quartz tube 7c in a plasma torch 7, an auxiliary gas is sent to a quartz tube 7b, a plasma is generated at the tip of the plasma torch 7, its emission is spectrally diffracted by a spectroscope 8, and data in a data processing part 9 is displayed on a display part 10.例文帳に追加

噴霧室空冷部４ｂからのクーラントガスが、プラズマトーチ７の石英管７ｃに送られ、補助ガスが石英管７ｂに送られ、プラズマトーチ７の先端でプラズマが発生し、その発光が分光器８で分光され、データ処理部９のデータが表示部１０で表示される。 - 特許庁

The light passing the sweep type etalon 3 is attenuated by an ND filter 10, and then the light of a light frequency component other than to be measured is attenuated by a spectroscope 6, converted into an electric signal by a light detector 7 and amplified by a signal amplifier 8, whereby a time change is displayed at a waveform display device 9.例文帳に追加

掃引型エタロン３を透過した光は、ＮＤフィルタ１０で減光された後、分光器６で測定対象以外の光周波数成分の光が減衰され、光検出器７で電気信号に変換され、信号増幅器８で増幅された後、波形表示装置９で時間変化が表示される。 - 特許庁

To provide an oblique entrance type multilayer diffraction grating spectroscope which has high diffraction efficiency and high heat resistance in an X-ray range having the energy of 1-3 keV (the wavelength: 0.4-1.2 nm) and in which a multilayer film is applied to a diffraction grating and the total reflection of an obliquely-entranced X-ray is utilized.例文帳に追加

1-3keV（波長：0.4-1.2nm）のエネルギーをもつX線領域において、高い回折効率および高い耐熱性をもつ、回折格子に多層膜を適用した斜入射による全反射を利用した斜入射型の多層膜回折格子分光器を提供する。 - 特許庁

The mass spectroscope is provided with a linear multipole electrode, an auxiliary electrode for impressing a DC potential on a center axis of the linear multipole electrode, and a DC power source for the auxiliary electrode, and by forming a DC potential gradient on the center axis of the multipole electrode, the potential gradient is changed according to the measuring condition.例文帳に追加

線形多重極電極と、線形多重極電極の中心軸上に直流電位を印加するための補助電極と、補助電極のための直流電源を備えた構成で、多重極の中心軸上に直流電位勾配を形成し、その電位勾配を測定条件に合わせて変化させる。 - 特許庁

When Raman scattered light from the sample S, which is spectrally diffracted by a spectroscope 30 so as to be detected by a photodetector 31 is counted, it is counted in synchronization with the excitation light in a simultaneous counting circuit 41 by an excitation-light detecting signal from a photodiode 16, used to sense the excitation light.例文帳に追加

そして、分光器３０で分光されて光検出器３１で検出される試料Ｓからのラマン散乱光の計数について、励起光を検出するフォトダイオード１６からの励起光検出信号によって、同時計数回路４１で励起光と同期させて計数する。 - 特許庁

The light of a continuous spectrum in the visible light region is projected from the light source 13, and irradiates the object 11 through the first polarization filter 15, and the light transmitted through the object 11 is also transmitted through the the second polarization filter 16 to the spectroscope 14 for spectroscopic analysis.例文帳に追加

光源１３から放出される可視光域の連続スペクトルを有する光は、第１の偏光フィルタ１５を通して被測定物１１に照射され、被測定物１１を透過した光が第２の偏光フィルタ１６を通して分光器１４により分光される。 - 特許庁

Both laser beams L11 formed in an ultra band and laser beams L13, which are formed in one line but are not formed in the ultra band, are projected to a spectroscope 20, the spectra of each laser beam are detected, and the result of the detection is transmitted to a controller 23.例文帳に追加

分光器２０は、超狭帯域化されているレーザ光Ｌ１１と１ライン化されているが超狭帯域化されていないレーザ光Ｌ１３の両方を入射して、それぞれのレーザ光のスペクトルを検出し、この検出結果を制御装置２３に送出する。 - 特許庁

This method for determining the reaping time uses an apparatus for determining the reaping time comprising a spectroscope body and a detecting part unit.例文帳に追加

刈取時期判定装置１は、分光装置本体２と、検出部ユニット３とからなり、検出部ユニット３の装着部９に装着されたサンプル容器の生籾に可視光領域から近赤外領域の光を照射し、各領域の所定波長における吸光度を求めつつ、サンプルの水分値と青籾含有率とを測定する。 - 特許庁

The spectroscope 1 disperses light L1 incident into the package 2 by a spectroscopic part 3, reflects it, detects reflected light L2 by a photo-detection element 4, and is provided with the package 2 housing the photo-detection element 4.例文帳に追加

分光器１は、パッケージ２内に入射した光Ｌ１を分光部３により分光して反射し、反射された光Ｌ２を光検出素子４により検出する分光器であって、光検出素子４を収容したパッケージ２を備えている。 - 特許庁

The white continuous spectral light pulse produced by condensing the ultrashort light pulse to a single point on a transparent material 23 is spectrally divided by a spectroscope 25 and only a plurality of lights with targeted wavelength among them are selected by a small reflector 37, a reflector with a mask or the like.例文帳に追加

超短光パルスを透明物質２３の１点に集光することにより生成される白色連続スペクトル光パルスを分光器２５により分光し、その中の複数の目的波長光のみを分離された小反射鏡３７やマスク反射鏡等により選択する。 - 特許庁

Object light L2 which is emitted from the region to be irradiated 91 in response to the irradiation of the wideband light L1, is captured by a capturing optics 30 and received by a time-resolution spectroscope 40, and temporal intensity variations in respective wavelength components of the received object light L2 are obtained.例文帳に追加

この広帯域光Ｌ_１の照射に伴い被照射領域９１から出射した物体光Ｌ_２は、捕獲光学系３０により捕獲され、時間分解分光器４０により受光されて、その受光した物体光Ｌ_２の各波長成分について時間的強度変化が求められる。 - 特許庁

When set analysis energy levels E0, E1 are determined, a display control means 11 controls a deflection signal generation means 13 so that an electron beam is scanned on a sample, and controls an analysis energy setting means 12 so that the analysis energy of an electron spectroscope 10 is set to the energy levels E0, E1.例文帳に追加

表示制御手段１１は設定分析エネルギーＥ_0、Ｅ_1を決めると、電子線が試料上で走査されるように偏向信号発生手段１３を制御すると共に、電子分光器１０の分析エネルギーが前記Ｅ_0、Ｅ_1に設定されるように分析エネルギー設定手段１２を制御する。 - 特許庁

The measurement area 93 of the substrate 9 is irradiated with an illumination light by a light emission part 3, and a reflected light of the illumination light from the measurement area 93 is spectrally dispersed by a diffraction grating 52 of a spectroscope 5, to acquire a measured spectral reflectance.例文帳に追加

基板９の測定領域９３には光照射部３により照明光が照射され、測定領域９３からの照明光の反射光が分光器５の回折格子５２にて分光されることにより、測定分光反射率が取得される。 - 特許庁

The mass spectroscope is equipped with a light source part for emitting pulse light with a plurality of wavelengths, an ionizing part 16 for ionizing a sample molecule by irradiating a sample with the light from the light source part and a mass spectrometry part 18 for separating ions formed in the ionizing part 16 corresponding to a charge mass ratio.例文帳に追加

複数の波長のパルス光を発生する光源部と、光源部からの光を試料に照射することにより試料分子をイオン化するイオン化部１６と、イオン化部１６において生成されたイオンを電荷質量比に応じて分離する質量分析部１８とを備える質量分析装置とする。 - 特許庁

To have a fast optical responsive speed in low noises, and to provide a photodiode having a high light sensitivity, a photodiode array provided with a plurality of photodiodes, a spectroscope which uses this photodiode array as a light detecting means, and a method for manufacturing the photodiode array.例文帳に追加

低ノイズで速い光応答速度を有するとともに、さらに、高い光感度を有するホトダイオードと、このホトダイオードを複数備えるホトダイオードアレイと、このホトダイオードアレイを光検出手段として用いる分光器と、このホトダイオードの製造方法と、を提供すること。 - 特許庁

Probe light from a monochromatic light source 1 is incident to a transient lattice generated in a substance 10 to be measured so as to satisfy Bragg conditions, and hence signal light diffracted by the substance to be measured is spectrally resolved by a spectroscope 4, and the wide wavelength region is simultaneously measured by a detector 5.例文帳に追加

そして、被測定物質１０中で生じた過渡格子に単色光源１からのプローブ光をブラッグ条件を満足するように入射することにより、分光器４で被測定物質により回折された信号光をスペクトル分解し、検出器５により広い波長領域を同時に測定する。 - 特許庁

This spectroscope is constituted by including an incident fiber 10, a parabolic mirror 12, a plane diffraction grating 14, an emitting slit 16, a light detector 18, an intermediate slit 20, two turning-back mirrors 22 and 24, glass panes 26 and 28 and light shielding slits 17 and 30.例文帳に追加

この分光器は、入射ファイバ１０、放物面鏡１２、平面回折格子１４、出射スリット１６、光検出器１８、中間スリット２０、２つの折り返しミラー２２、２４、ガラス板２６、２８、遮光スリット１７、３０を含んで構成されている。 - 特許庁

This dielectric constant measuring device 1 is composed of a light source 141 for applying the light, from a visible wavelength area to a near-ultraviolet wavelength area, to a base 9; a spectroscope 145 for receiving the reflection light from the base 9; and a first optical characteristic acquiring part 121 for acquiring the spectral reflectance of the base 9.例文帳に追加

誘電率測定装置１において、基板９に可視ないし近紫外の波長域の光を照射する光源１４１、基板９からの反射光を受光する分光器１４５、および、基板９の分光反射率を取得する第１光学特性取得部１２１を設ける。 - 特許庁

Operation for finding mechanical origin is not executed in the spectroscope 2, in a feed of an electric power source for the spectrophotometer, the wavelength, the pulse number and the excitation pattern stored in the memory 7 are transferred to a work memory 6 to serve as an initial state for driving the motor 23, corresponding to the wavelength.例文帳に追加

一方、本装置の電源投入時には分光器２では機械的原点を見つけるような動作は行わず、メモリ７に格納されている波長、パルス数及び励磁パターンをワークメモリ６に移し、これを波長に対応してモータ２３を駆動するための初期状態とする。 - 特許庁

White light from a light source 2 is dispersed by a spectroscope 4, is emitted to a half mirror 12 by Schwarzschild mirrors 8, 10, is reflected by the half mirror 12 and enters the Schwarzschild mirror 14, and is made to condense on a sample surface 16 by the Schwarzschild mirror 14 for irradiation.例文帳に追加

光源２からの白色光は分光器４で分光され、シュワルツシルト鏡８，１０によってハーフミラー１２に射出され、ハーフミラー１２で反射されてシュワルツシルト鏡１４に入射し、シュワルツシルト鏡１４によって試料面１６に集光されて照射される。 - 特許庁

To reduce a data transfer time and to remove noise data at the same time in a data processing function of an ADC method in a time-of-flight mass spectroscope; and to provide a mass spectroscopy technique capable of improving analysis efficiency.例文帳に追加

飛行時間型の質量分析装置におけるＡＤＣ方式のデータ処理機能において、データ転送時間の短縮化を実現すると共にノイズデータの除去を同時に行うことも可能とし、また、解析効率の向上を実現することが可能な質量分析技術を提供する。 - 特許庁

A primary X-ray 2 emitted from an X-ray tube 1 is irradiated to a sample 3, and a fluorescent X-ray 4 generated from the sample 3 is spectrally dispersed by a WDS spectroscope 5, and the spectrally-dispersed X-ray 6 is detected by an EDS detector 7.例文帳に追加

Ｘ線管球１から出射された１次Ｘ線２を試料３に照射し、試料３から発生する蛍光Ｘ線４をＷＤＳ分光器５により分光させ、分光されたＸ線６をＥＤＳ検出器７で検出するように構成する。 - 特許庁

In order to measure the thickness d of a liquid crystal layer 11, light from a light source 1 is made incident on the liquid crystal layer 11 via an incident side polarizer 2 and the light reflected by a reflection sheet 15 is received at a spectroscope unit 4 via an emitting side polarizer 3 and is subjected to spectral resolution.例文帳に追加

液晶層１１の厚みｄを測定するために、光源１からの光を入射側偏光子２を介して液晶層１１に入射させ、反射板１５で反射した光を、出射側偏光子３を介して分光器４で受光し、スペクトル分解する。 - 特許庁

A calibration value is calculated using a rotational angle of a diffraction grating at which the incident angle of a reference light beam with respect to the diffraction grating and the emission angle of an emission light beam from a spectroscope with respect to the diffraction grating are equal to each other and a design value including an output wavelength at the rotational angle.例文帳に追加

基準光の回折格子に対する入射角と分光器からの出射光の回折格子に対する出射角とが等しくなる回折格子の回転角度及び該回転角度における出力波長を含む設計値を用いて校正値を算出する。 - 特許庁

After measuring an apparent energy spectrum E1(λ) by introducing light emitted from the luminous body that is the object under measurement into a spectroscope via optical fiber or directly (S4), a correction is made by using the stored device function T(λ) to calculate a true emission spectrum Et(λ) (S5).例文帳に追加

測定対象である発光体からの放出光を光ファイバを介して又は直接的に分光器に導入して見かけのエネルギスペクトルＥ１（λ）を測定したならば（Ｓ４）、記憶してある装置関数Ｔ（λ）を用いて補正し、真の発光スペクトルＥｔ（λ）を算出する（Ｓ５）。 - 特許庁

To provide a structure of a multiwavelength range photosensitive element and a photosensitive system, which can detect a plurality of wavelength band regions by one photosensitive element and output them individually, and can constitute a highly functional photosensitive system without using an optical filter or a spectroscope highly functionally and highly efficiently.例文帳に追加

複数の波長帯域を一つの受光素子で検出し、個別に出力し、高機能、高効率で光フィルタまたは分光器を用いずに高機能受光システムを構成できる多波長域受光素子の構造および受光システムに関するものである。 - 特許庁

Thereafter, the standard sample of the sample holder attached to a sample receiving stand 11 is irradiated with X-rays and the control device 23 calculates the sensitivity of an electronic spectroscope on the basis of the intensity of the output signal of a detector 27 and the X-ray intensity x0.例文帳に追加

その後、Ｘ線が、試料受け台１１に取り付けられた試料ホルダの標準試料に照射され、制御装置２３は、検出器２７の出力信号強度と前記Ｘ線強度ｘ_0に基づいて電子分光器の感度を求める。 - 特許庁

In the ionizer for a mass spectroscope, the capillary 121A of an ionization probe 12 has a double tube structure of a capillary inner tube 1211 and a capillary outer tube 1212, where nebulizer gas flows through the capillary inner tube 1211 and a sample liquid flows through the capillary outer tube 1212.例文帳に追加

本発明に係る質量分析装置用イオン化装置では、イオン化プローブ１２のキャピラリ１２１Ａがキャピラリ内管１２１１とキャピラリ外管１２１２の二重管構造を有し、キャピラリ内管１２１１をネブライザーガスが、キャピラリ外管１２１２を試料液が、それぞれ流れる構造を有する。 - 特許庁

The plasma light is condensed by a lens 15, is transmitted by optical fibers 122 and 123, and is dispersed by a spectroscope 116.例文帳に追加

プラズマ光はレンズ１５にて集光されて光ファイバ１２２，１２３にて伝送され、分光器１１６にて分光され、分光されたスペクトル光がＣＣＤカメラ１１７にて撮影され、撮影した映像（スペクトル状態）を基に、組成成分の同定や濃度検出をする。 - 特許庁

To provide an Fe-Co-V soft high magnetic flux-density material which is used, e.g., for a ball piece and a yoke of an electron lens for an electron microscope, an electron beam lithography system, etc., and a ball piece and a yoke of an electromagnet for a magnetic resonance apparatus, a mass spectroscope, etc., and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子レンズのボールピース、ヨーク、および磁気共鳴装置、質量分析装置等の電磁石のボールピース、ヨーク等に使用するＦｅ−Ｃｏ−Ｖ軟質性の高磁束密度材料およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A case 20 is provided as the platform to support the side of the wavelength selector consisting of an input/output port 10, a collimator 11, an optical magnification system 12, a spectroscope element 13, a condensing optical system 14, and a MEMS mirror array 15.例文帳に追加

入出力ポート１０、コリメータ１１、拡大光学系１２、分光素子１３、集光光学系１４、ＭＥＭＳミラーアレイ１５からなる波長選択デバイスのプラットフォームとして、これらを、側面から支持する筐体２０を設ける。 - 特許庁

A measurement probe 8 is moved to the measurement position of a reference sample 20a by controlling a linear slider 5 when the time of a time interval predetermined by a CPU 1 is passed, and reference sampling for storing spectral data that are output to a RAM 2 by a spectroscope is performed.例文帳に追加

ＣＰＵ１が予め設定した間隔時間の経過時にリニアスライダ５を制御して測定プローブ８をリファレンスサンプル２０ａの測定位置に移動させて、前記分光器が出力した分光データをＲＡＭ２に記憶させるリファレンスサンプリングを行う。 - 特許庁

To provide an electron-electron-ion coincidence spectroscope, electron-electron-ion coincidence spectroscopy, electron-electron coincidence spectroscopy, and electron-ion coincidence spectroscopy all of which have a simple structure and can be produced at a low cost.例文帳に追加

簡易かつ廉価に、電子−電子−イオンコインシデンス分光、電子−電子コインシデンス分光及び電子−イオンコインシデンス分光を高効率で測定し得る新規な電子−電子−イオンコインシデンス分光器と、電子−電子−イオンコインシデンス分光法、電子−電子コインシデンス分光法及び電子−イオンコインシデンス分光法とを提供する。 - 特許庁

This analyzer is comprised of a chromatograph 11 for separating a sample to be analyzed 10, an electron capture detector 13 for ionizing a separated sample 12, and a mass spectroscope 15 for separating an ionized sample 14 from its mass and enables speedy qualitative and quantitative analyses on isomers of the organic halides.例文帳に追加

分析対象試料１０を分離するクロマトグラフィー１１と、該分離された分離試料１２をイオン化する電子捕獲検出器１３と、該イオン化されたイオン化試料１４をその質量により分離する質量分析装置１５とからなり、有機ハロゲン化物の異性体の定性、定量の迅速化を可能にした。 - 特許庁

The mass spectroscope for analyzing secondary ions and neutral secondary particles ionized afterward to be analyzed is provided with an ion source for making primary ion beams for generating secondary particles by irradiating the sample, and an analyzing unit for mass spectrometry of the secondary particles, and is also provided with a function capable of controlling kinetic energy per atom structuring a primary ion in a range of 20 eV or less.例文帳に追加

二次イオンおよび後からイオン化された中性の二次粒子を分析するための質量分析器において、試料を照射することで二次粒子を発生させるための一次イオンビームを作り出すイオン源と、二次粒子の質量分析のための分析ユニットとを設け、一次イオンを構成する原子１個あたりの運動エネルギーを20eV以下の領域で制御できる機能を装備させる。 - 特許庁