| 例文 |
system test setの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 74件
To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加
携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁
The method and system further includes building a simulation model based on the extracted resources and executing the simulation model using only the extracted resources, exclusive of an entire design, to test a specific function or group of interrelated functions represented by the discrete test case or set of associated test cases for design verification, and correlating the simulation results with the test plan.例文帳に追加
この方法およびシステムはさらに、抽出されたリソースに基づいてシミュレーション・モデルを構築することと、設計全体ではなく、抽出されたリソースだけを用いてこのシミュレーション・モデルを実行し、それによって、離散的なテスト・ケースまたは１組の関連するテスト・ケースによって表される特定の機能または一群の相互に関係する機能をテストして設計を検証することと、このシミュレーション結果とテスト計画を相関させることとを含む。 - 特許庁
The data receiving apparatus 12 samples the test data using an internal clock with a system clock multiplied by two or more times and fetches the data into a capture circuit 23 system, and in a data fetch timing control section 24, optimal data fetch timing is selected from the fetched data and set.例文帳に追加
データ受信装置１２は、システムクロックを数倍に逓倍した内部クロックによりテストデータをサンプリングしてキャプチャ回路２３に取り込み、データ取り込みタイミング制御部２４において上記取り込みデータから最適のデータ取り込みタイミングを選択して設定する。 - 特許庁
To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加
本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁
In a combination circuit 11 which is operated by being synchronized with a system clock, for example, the test circuit which makes a state machine as a verification target, in its test mode, the system clock is supplied only in its active period as the clock in a flip-flop circuit 12 which holds a simulation execution result through a clock enabler 132 to become active by a fact that a clock enable signal is set.例文帳に追加
システムクロックに同期して動作する組合せ回路１１、例えばステートマシンを検証対象とするテスト回路において、そのテストモード時には、シミュレーション実行結果を保持するフリップフロップ１２にはそのクロックとして、クロックイネーブル信号がセットされることでアクティブとなるクロックイネーブラ１３２を通してそのアクティブ期間においてのみシステムクロックを供給するようにする。 - 特許庁
A comparison circuit 12 compares waiting time T3 from a system test start time until the transfer of linkdown information with sufficient long time T2 set by a timer 2 to thereby determine the existence/absence of a failure in the entire system, especially between the opposite side device and a terminal device.例文帳に追加
比較回路１２でシステムの試験開始時よりＬＩＮＫＤＯＷＮ情報の転送が行われるまでの待ち時間Ｔ３と、タイマ２で設定した十分長い時間Ｔ２を比較判定することで、システム全体で特に対向側装置と端末装置間にて障害の有無を判断できる。 - 特許庁
In the line test system for an in-band ringer subscriber circuit, an electronic exchange 4 connects to an in-band ringer IBR terminal 2 via a subscriber line 3, the IBR terminal 2 connects to a telephone set 1 and a maintenance terminal 10 for system maintenance connects to the electronic exchange 4.例文帳に追加
このインバンドリンガー加入者回路の回線試験システムは、電子交換機４が加入者回線４を介してインバンドリンガー（ＩＢＲ）端末２を接続し、ＩＢＲ端末２は電話機１を接続し、また、電子交換機４にはシステムの保守用として保守端末１０が接続されている。 - 特許庁
A system controller 14 becomes a test mode with respect to the optical disk reproducing apparatus equipped with the flash memory 20, and when it is set to display the additional information, it performs processing to display the additional information on the display means.例文帳に追加
このフラッシュメモリ２０を実装した光ディスク再生装置に対して、システムコントローラ１４は、テストモードになり、当該付加情報を表示させるように設定されると、当該付加情報を表示手段に表示させる処理を行う。 - 特許庁
To provide a pole switch made in such a structure that an AC voltage-withstanding test can be made on it before being set in a power distribution system at a site even after a lightning arrester is incorporated, and a degraded one can be detected.例文帳に追加
避雷器を内蔵した後においても現地で配電系統に設置する前にＡＣ耐電圧試験を実施できる機構にし、劣化した柱上開閉器を判別できるように図った柱上開閉器を提供する。 - 特許庁
To provide a test sheet set group treated for illegal act prevention for preventing an illegal act such as stealing a glance of an answer of an answer column of an answer sheet filled in by another candidate for an examination or so-called cheating on the answer among the candidates for the examination and a system for forming it.例文帳に追加
受験者同士の間で、他の受験者が記入した解答用紙の解答欄の解答を盗み見るいわゆるカンニング行為等の不正行為を防止した試験用紙セット群及びその作成システムを提供する。 - 特許庁
The density of a test pattern toner image is detected by an image density sensor 20, and a developing bias potential and a grid voltage optimum for a potential control part 26 are calculated and set by a system control part 27 based on the detected image density, and an image forming operation is performed.例文帳に追加
テストパターンのトナー像の画像濃度を画像濃度センサ２０で検出し、システム制御部２７は検出された画像濃度に基づいて電位制御部２６に最適な現像バイアス電位、グリッド電圧を演算・設定し、作像動作が実行される。 - 特許庁
To unify a plurality of pattern programs using effectively a free timing set in a system, and to eliminate thereby a wasteful idle period to enhance a through-put in a device test.例文帳に追加
当該システムで空いているタイミングセットを有効利用して、複数本のパターンプログラムを１本化して、無駄なアイドル期間を削除してデバイス試験のスループットを向上する半導体試験装置、タイミングセットの最適化方法、タイミングセットの最適化プログラムを提供する。 - 特許庁
When a seek control flag for self diagnosis is set, a seek control part 5 sets a cylinder value for self-diagnosis test and seek instructions to a servo control firmware 6 so that a head is positioned on a cylinder for diagnosis which is provided on the system area of a disk 9.例文帳に追加
自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、シーク制御部５は、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダにヘッドを位置づけるように、自己診断テスト用シリンダ値およびシーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする。 - 特許庁
To provide a polishing method which can set a polishing time with high accuracy corresponding to the kind of a wafer to be polished or the changeover of a process without executing test polishing which reduces throughput in a production line for a plurality of kinds of semiconductor devices, and to provide its system.例文帳に追加
多品種の半導体デバイスを生産するラインにおいて、スループットを低下させるテスト研磨を行わなくても、研磨対象ウェハの品種もしくは工程の切り変えに応じて研磨時間を精度良く設定できる研磨方法およびそのシステムを提供する。 - 特許庁
To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.例文帳に追加
ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
This multi-processor system is provided with communication register modules 400-402 corresponding to processors 10-12 one to one, and a lock processing test operation is operated to the corresponding communication register modules, and a lock value set operation and an unlock operation are operated through an inter-communication module bus to all the communication modules by executing simultaneous writing control.例文帳に追加
プロセッサ１０〜１２に１対１対応する通信レジスタモジュール４００〜４０２を設け、ロック処理テスト動作は対応する通信レジスタモジュールに対して行ない、ロック値セット動作およびアンロック動作は通信モジュール間バス７００を介して全通信モジュールに同時書き込み制御して行なう。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device of a design system which makes it possible to set read/write operation and refresh operation in a close state, and makes the accuracy of test and quality improvement realizable in the semiconductor storage device having a memory cell which requires refresh for holding data.例文帳に追加
データ保持のためにリフレッシュを要するメモリセルを有する半導体記憶装置において、リード／ライト動作とリフレッシュ動作とを接近した状態に設定することを可能とし、テストの精度、品質向上を実現可能とする設計方式の半導体記憶装置の提供。 - 特許庁
The system area comprises a test recording area where data are recorded on a trial basis to set optimal recording conditions for recording in the data area, a recording control information area where information necessary for recording user data in the data area is recorded, and a user data read-in area required for reproducing the optical disk medium where the user data are recorded.例文帳に追加
前記システム領域は、前記データ領域に記録するときの最適記録条件を設定するために試し記録されるテスト記録エリアと、前記データ領域にユーザデータを記録するために必要な情報が記録される記録制御情報エリアと、前記ユーザデータが記録された光ディスク媒体を再生するために必要なユーザデータリードインエリアとを備えている。 - 特許庁
To provide such a temperature control method that, in a test system that cultured products set inside a casing composed of a radiowave-transmitting material, even if the cultured products themselves generate heat by radiowave radiation, the temperature rise of the cultured products are suppressed, and the temperature difference between a non-exposed group of cultured products and exposed ones can be reduced.例文帳に追加
電波透過材料で構成された筐体の内部に設置された培養物に外部から電波を照射する試験系において、電波照射によって培養物そのものが熱を発生しても、培養物の温度上昇を抑え、非ばく露群の培養物とばく露群の培養物との温度差を低減することが可能な温度制御方法を提供する。 - 特許庁
To provide an endoscopic system which enables the miniaturization of an endoscope, prevents forgetting to put a waterproofing cap, and allows faster sterilization of channels built inside the endoscope in a structure that a steam hole is set to connect to the inner of an endoscope and can also be used as an air hole for leakage test, thereby to use the parts in common.例文帳に追加
リークテスト用の通気孔と併用可能な内視鏡内部と連通する蒸気進入孔を設けた構成とすることで、部品の共通化及び内視鏡の小型化を図り、且つ防水キャップの付け忘れを防止することができるとともに、内視鏡に内蔵された管路内の滅菌を従来より速やかに行うこと。 - 特許庁
In a disk drive 1 having a cache controller 11 that performs cache control using a buffer memory 20 divided into segments and managed, sequential hit test is executed on each segment in accordance with the requested access range designated by a read or write command coming from a host system 30, and the hit upper-limit LBA set for each segment is updated when a mishit occurs.例文帳に追加
セグメントに分割して管理するバッファメモリ２０を使用したキャッシュ制御を実行するキャッシュコントローラ１１を有するディスクドライブ１において、ホストシステム３０からのリード又はライトのコマンドによる要求アクセス範囲に応じて、セグメント毎にシーケンシャルヒット判定を実行し、ミスヒットの場合にセグメント毎に設定されたヒット上限ＬＢＡを更新する構成である。 - 特許庁
A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.例文帳に追加
マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁
A system controller 84 controls an overlap ratio which is a ratio of the size of a dot to the distance between adjoining dots becomes smaller in the case when a test pattern is formed on paper than an overlap ratio in the case when an image is formed on the paper K by the smallest dots in size of dots enabled to be selectively set to the recording head prepared in a head unit 66.例文帳に追加
システムコントローラ８４は、テストパターンを用紙に形成する場合に、隣接するドット間距離に対するドットの大きさの割合であるオーバーラップ率が、ヘッドユニット６６に設けられた記録ヘッドに対して選択的に設定可能とされたドットの大きさのうちの最も小さなドットで用紙Ｋに画像を形成した場合のオーバーラップ率より小さくなるように制御する。 - 特許庁
As a method for time limiting (setting) of an open trial examination, a home test wherein an examination is assumed, etc., through the Internet, a time setting method for question answering using a communication network is provided which performs forcible transmission to an educational system server immediately each time a time previously set for each problem elapses after a problem begins to be solved.例文帳に追加
インターネット等を介しての公開模擬試験や、試験を仮定しての在宅テスト等における時間制限（設定）を行う方法において、問題に着手してから、予め問題単位ごと等に設定された時間に応じて、設定時間の経過と共に、即座に教育システムサーバーに強制的に送信されるようにしてなる、通信ネットワークを用いた問題解答における時間設定方法を提供する。 - 特許庁
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