「system test set」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.例文帳に追加

試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁

EXTRACTION SYSTEM OF COMBINATION SET OF CLINICAL TEST DATA, DETERMINATION SYSTEM OF NEOPLASM PROGRESS USING THE SAME AND CLINICAL DIAGNOSIS SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

臨床検査データの組合わせ集合の抽出システムとこれを用いた腫瘍進行度の判定システム並びに臨床診断支援システム - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源１０からの第１試験信号を周波数分析装置２０に供給して第１測定データを測定すると共に、第１試験信号を既知の周波数だけシフトした第２試験信号を周波数分析装置２０に供給して第２測定データを測定する。 - 特許庁

The receiver sensitivity simplified evaluation system comprises a GTEM cell 1, a test set 2 and a simulation wiring device 4.例文帳に追加

受信感度簡易評価システムはＧＴＥＭセル１とテストセット２と模擬配線装置４とを備える。 - 特許庁

Since the function (6W/2W conversion circuit 32) of the repeater system is incorporated in the test telephone set 20, an efficient test is made possible.例文帳に追加

試験用電話機２０にレピータ装置の機能（６Ｗ／２Ｗ変換回路３２）が内蔵されているので、効率的な試験が可能となる。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

In devices E, F, a test time T1 of a time series 361 is set in a test mode, while in devices A, B, C, D, a system time T0 of a time series 360 is set.例文帳に追加

装置Ｅ，Ｆは試験モードで、時刻系列３６１の試験時刻Ｔ１が設定されており、装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは時刻系列３６０のシステム時刻Ｔ０が設定されている。 - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a bus loading test device and a processing system by which a state of a bus loading is realized at optional set ratio and a bus test is easily performed with successful test efficiency.例文帳に追加

設定した任意の割合でバス負荷の状態を実現でき、しかも試験効率良く容易にバス試験を行うことができるバス負荷試験装置および処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a game machine and a game test system allowing a manufacturer of the game machine or an organization for testing the game machine to easily perform a test on the change of set values.例文帳に追加

遊技機の製造者や試験機関が設定値の変更に関する試験を容易に行うことができる遊技機および遊技試験システムを提供する。 - 特許庁

A test of the computer system is executed, by using the test program stored in the 1st divided area, and after completing the test, the image data file stored in the 2nd divided area is developed to be set in an arbitrary preinstalled state.例文帳に追加

そして、該第１分割領域のテストプログラムを使用してコンピュータシステムのテストを実行し、テスト終了後に前記第２分割領域のイメージデータファイルを展開して任意のプレインストール状態にする。 - 特許庁

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30.例文帳に追加

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する。 - 特許庁

For instance, the apparatus is a test system provided with: a tester configured to test a set of components and generate test data for the set of components, wherein the components are manufactured based on a manufacturing process; and a diagnostic system configured to receive the test data from the tester, and identify the characteristic of the manufacturing process of the components by automatically analyzing the test data.例文帳に追加

例えば、一組のコンポーネントを試験し、該一組のコンポーネントに対する試験データを生成するように構成されたテスターであって、該コンポーネントは製造プロセスに基づいて製造される、テスターと；該テスターから該試験データを受け取り、該試験データを自動的に分析することによって、該コンポーネントの該製造プロセスの特徴を識別するように構成された診断システムと、を備える、試験システム。 - 特許庁

The method and system comprises extracting resources required to run a discrete test case or set of associated test cases on a design.例文帳に追加

この方法およびシステムは、ある設計に対して離散的なテスト・ケースまたは１組の関連するテスト・ケースを実行するのに必要とされるリソースを抽出することを含む。 - 特許庁

To conduct a test from an arbitrary station by using a test use maintenance terminal, such as a conventional subscriber telephone set and a personal computer, without the use of a special device exclusively for test and maintenance with respect to acoustic equipment test system for exchange.例文帳に追加

交換機の音声系機器の試験システムに関し、試験保守専用の特殊な装置を使用せず、通常の加入者電話機とパーソナルコンピュータ等のような試験用保守端末を使用して任意の局から試験を行えるようにする。 - 特許庁

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The system facilitates changing test methods for the printer, so that a basic set of system software can be readily applied to different types of printing hardware.例文帳に追加

本システムを用いると、プリンタのテスト法を容易に変えることができ、システムソフトウェアの基本セットを相異なるタイプの印刷ハードウェアに容易に適用できる。 - 特許庁

To provide a testing machine which can be adjusted so as to make an amplitude of a measurement signal set to a set value even when the response of a whole system including a test piece changes because of a change in the rigidity of the test piece.例文帳に追加

供試体の剛性の変化等により供試体を含むシステム全体の応答性が変化した場合であっても、測定信号の振幅を設定値となるように調整することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.例文帳に追加

システムプロファイルは、１組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたＴＯＳとを含む。 - 特許庁

The transport system includes a carrier holding a set of sample test devices and a drive subsystem for moving the carrier through the sample testing machine.例文帳に追加

運搬システムは、一式の試験試料装置を保持する担体と、担体を試料試験機を通して移動させる駆動サブシステムとを備えている。 - 特許庁

To facilitate the incorporation of software for IC test system and to accurately set a privilege to the incorporated software.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテストシステム用のソフトウェアの組み込みを容易にし、組み込んだソフトウェアに対して正確に特権を設定することである。 - 特許庁

To provide an immunochromatographic test piece, immunochromatographic test piece set, immunochromatographic system and immunochromatographic device which are advantageous for increasing accuracy of measuring the concentration of an object to be measured, even when observing with naked eyes.例文帳に追加

肉眼で視認するときであっても、測定対象物の濃度を測定する測定精度を高めるのに有利なイムノクロマト試験片、イムノクロマト試験片セット、イムノクロマトシステム、イムノクロマトデバイスを提供する。 - 特許庁

In a system basic I/O system(BIOS), sets up the performance of a CPU 11 is set up to the maximum performance by using a CPU speed control circuit 152 in power ON self-test(POST) processing independently of CPU performance specified by a user and set up in a CMOS memory 20.例文帳に追加

システムＢＩＯＳは、ＣＭＯＳメモリ２０に設定されているユーザ指定のＣＰＵ性能とは無関係に、ＰＯＳＴ処理の中でＣＰＵ速度制御回路１５２を用いてＣＰＵ１１の性能を最高性能に設定する。 - 特許庁

When a multi-axis test is to be made, system parameters that has already set to system parts 14 and 24 in the controllers 11 and 21 corresponding to the axis A and B to be used are read by the host computer 15, and the read system parameters are combined and a multi-axis test program is executed.例文帳に追加

多軸試験を行うときは、使用する軸ＡおよびＢに対応するコントローラ１１および２１中のシステム部１４およびお２４に既に設定されているシステムパラメータをホストコンピュータ１５に読み出し、この読み出したシステムパラメータを結合して多軸試験プログラムを実行する。 - 特許庁

A value of an internal row address signal bit is set from an address buffer 2 according to the test control signal, and operations of a row selecting circuit 3 and a bit line peripheral circuit 4 are controlled by a row system control circuit 10 with a test controlling function according to the test control signal.例文帳に追加

このテスト制御信号に従ってアドレスバッファ（２）からの内部ロウアドレス信号ビットの値を設定し、かつテスト制御信号に従ってテスト制御機能付行系制御回路（１０）が行選択回路（３）およびビット線周辺回路（４）の動作を制御する。 - 特許庁

To provide a new method to apply to a non-aqueous system of performance test to establish fine particle removal ability of a film and an integrity test of a non-destructive method for checking that a used film is within a set range in the fine particle removal performance, a test reagent to be applied to the test, and a method for manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の非水系で実施する新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

These algorithms remove a reference impedance offset between test pieces by using a mathematical technique, and corrects an offset drift in scanning, and can balance the system by using only a set of test pieces of unclear quality.例文帳に追加

これらのアルゴリズムは、数学的な手法を用いて、試験片間の基準インピーダンスオフセットを除去し、走査中、オフセットドリフトを補正し、不明な品質の一組の試験片だけを用いて、システム平衡化を可能にする。 - 特許庁

This semiconductor storage 1000 is provided with a test mode setting circuit 6 which receives an external signal and can set plural test modes in serial, a voltage generating circuit 8, a column system control circuit 10, a row system control circuit 12, and a memory cell array 14.例文帳に追加

本発明に係る半導体記憶装置は、外部信号を受けて複数のテストモードをシリアルに設定することが可能なテストモード設定回路６、電圧発生回路８、コラム系制御回路１０、ロウ系制御回路１２、およびメモリセルアレイ１４を備える。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Ｑを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Ｑ_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Ｑ_2の合計時間とする。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

To provide an output data control device or the like enabling a user to set easily selection of data acquired from a test system, and an output form of the selected data.例文帳に追加

テストシステムから得られるデータの選択、および選択されたデータの出力形式を、ユーザが容易に設定可能な出力データ制御装置等を提供する。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

A distribution test for compressed voice data is conducted after system installation and the like, and one or two optimal compression ratios that match the system's installation environment and the position of a client device are set.例文帳に追加

システムの設置後などに圧縮音声データの配信テストを行って、その設置環境やクライアント装置の位置に応じた最適な圧縮率を１つ又は２つ設定する。 - 特許庁

This spectrophotometer 12 has a lens system for transmitting the radiation reflected from the test patch 31 to the photosensor D12, and a lens magnification ratio is set to about 1:1.例文帳に追加

この分光光度計１２は、前記テストパッチ３１からの反射された照射を前記光センサＤ１２に伝達するレンズ系を有しており、そのレンズ倍率比は約１：１である。 - 特許庁

A test using the pulse having the narrower pulse width than the system clock can be performed simply by monitoring the pulse having the pulse width set beforehand simply and accurately by an external tester.例文帳に追加

予め設定したパルス幅のパルスを簡便かつ正確に外部テスタでモニタすることにより、簡便に、システムクロックよりもパルス幅の狭いパルスを用いた試験を行うことができる。 - 特許庁

In this on-line color printer control system, substantially circular common irradiation color test areas set in various intervals and orientations with respect to a spectrophotometer 12 are irradiated in order vertically by plural LEDs D1, D2, D3, D4 of different spectra via a common central lens system 13, and reflected beams from the test areas are measured at about 45° with respect to the test areas.例文帳に追加

このオンラインカラープリンタコントロールシステムでは、分光光度計１２に対して様々な間隔および配向で設置される略円形の共通照射色テスト領域を複数の異なるスペクトルのＬＥＤ Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４により共通中央レンズシステム１３を介して順次垂直に照射し、該テスト領域からの反射光を該テスト領域に対して約４５度で測定する。 - 特許庁

The test problem distributing system is provided with a filter for extracting a sentence, in accordance with previously set conditions so that the filter can extract the sentence meeting the conditions, for example, of specific genre, difficulty level, length, language and the sentence can be sent out to the test problem creating section 12.例文帳に追加

予め設定された条件に従って文を抽出するフィルタを設け、該フィルタで該条件に合った文、例えば特定のジャンル、文難易度、文長、言語の文を抽出してテスト問題生成部１２に送出するようにすることができる。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

Information of a connection destination set in another connection system of dial-up connection or the like is displayed and if there are a plurality of destinations, a user selects any one of them and stores it as test connection destination information.例文帳に追加

ダイヤルアップ接続のような他の接続システムで設定している接続先情報を表示し、複数ある場合にはそれらの中からユーザに選択させ、試験接続先情報として記憶する。 - 特許庁

A sensibility estimation system 1 processes a driving test result and a subjective evaluation result in a condition set by a condition setting part 2 by a data processing part 4, and inputs the processed result to a sensibility estimation part 5 in a learning mode.例文帳に追加

感性推定システム１は、学習モード時、条件設定部２で設定した条件での走行試験結果と主観評価結果とをデータ処理部４で処理し、感性推定部５に入力する。 - 特許庁

To set appropriate sound volume without driving a speaker by pink noise or white noise, when a sound field characteristic is compensated by generating a test signal by a speaker system, for example, by being applied to a car audio system, regarding the sound field compensation system and the sound filed compensation method.例文帳に追加

本発明は、音場補正装置及び音場補正方法に関し、例えばカーオーディオ装置に適用して、テスト信号をスピーカシステムにより再生して音場の特性を補正する場合に、ピンクノイズ、ホワイトノイズによりスピーカを駆動しなくても、適切に音量を設定することができるようにする。 - 特許庁

To provide a test system of semiconductor integrated circuit and operation confirming board therefor in which the reliability of judgement results can be ensured by confirming whether a scan signal is being outputted normally or not and whether a test mode is just as set or not.例文帳に追加

スキャン信号が正常に出力されているか否か、及び、設定した試験モードが設定通りであるか否かを確認することで、判定結果の信頼性を確保することができる半導体集積回路試験装置及び当該装置の動作確認用基板を提供する。 - 特許庁

A control system for a medical technology (1) is provided with a test and/or a treatment apparatus (2), optical detecting systems (9 and 10) equipped to detect inputs of gestures, and an evaluating system (11) to set operational parameters (P) of the test and/or treatment apparatus (2) with regard to the data detected through the inputs of gestures.例文帳に追加

医療技術の制御システム（１）は、検査および／または治療装置（２）と、ジェスチャー入力の検出のために設けられた光学式検出システム（９，１０）と、ジェスチャー入力を介して検出されたデータに関連して検査および／または治療装置（２）の作動パラメータ（Ｐ）を設定するために設けられた評価システム（１１）とを備えている。 - 特許庁

An opening 81a, set so as to be larger than the image of opening tr1 of a test reticle TR projected through the projection optical system PL, is formed at the central part of upper surface of the label board 81.例文帳に追加

この標示板８１の上面の中央部には、投影光学系ＰＬを通過して投影されるテストレチクルＴＲの開口部ｔｒ１の像よりも大きく設定された開口部８１ａが形成されている。 - 特許庁

Thus, after the completion of the inspection by the test set, the printed circuit board can be operated in the remote communication switch system assigned to a manufacturer's site or an installation site.例文帳に追加

これにより、プリント回路基板は、テストセット上での検査が終了した後、製造業者現場または現地での設置のいずれかにおいてその割り当てられた遠隔通信交換システム内で動作できるようになる。 - 特許庁