「test programs」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing system capable of keeping confidentiality of test programs and test data.例文帳に追加

テストプログラムやテストデータの機密性を保持することが可能な半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

To detect transition to the other test program from some test program in a plurality of test programs and to detect bug of the program.例文帳に追加

複数の試験プログラムでのある試験プログラムから他の試験プログラムへの遷移を検出して、そのプログラムのバグを検出する。 - 特許庁

To provide a test information database comparing device extracting easily differences between test programs.例文帳に追加

テストプログラム間の差分を容易に抽出することのできるテスト情報データベース比較装置を提供する。 - 特許庁

To detect a fault at an early stage by accelerating reproduction tests in test programs.例文帳に追加

試験プログラムにおける再現テストを加速し、早期に障害を発見する。 - 特許庁

A macroprogram for indicating the practice order of a plurality of test programs and the pin condition corresponding to a plurality of the test programs are stored in a memory 32.例文帳に追加

複数の試験プログラムの実行順を指定するマクロプログラムと、それら複数の試験プログラムに対応するピン条件とをメモリ３２に記憶させる。 - 特許庁

Ensure that tests of modified programs are performed in accordance with the maintenance test plan.例文帳に追加

変更したプログラムのテストの実施は、保守のテスト計画に基づいて行うこと。 - 経済産業省

A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.例文帳に追加

テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁

To provide a computer system test device facilitating later cause analysis, in a test wherein a plurality of test programs are sequentially executed on a test target program.例文帳に追加

試験対象プログラムに対して複数の試験プログラムを順次実行するような試験において、後の原因解析を容易とする計算機システム試験装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

(a) Programs for use in equipment for digital control of propulsion equipment or test equipment therefor 例文帳に追加

イ　推進装置又はその試験装置をデジタル制御するための装置に用いるためのもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

To provide an automatic test program execution method for automatically and continuously downloading test programs by a portable terminal.例文帳に追加

携帯端末上で連続して複数のテストプログラムを自動的にダウンロードして実行するテストプログラムの自動実行方法を提供する。 - 特許庁

SOFTWARE TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM THAT RECORDS PROGRAMS TO REALIZE THE METHOD例文帳に追加

ソフトウェアのテスト項目生成装置、テスト項目生成方法およびその方法を実現するプログラムを記録した機械読取可能な記録媒体 - 特許庁

A program executing unit 103 executes the programs to be tested according to an instruction issued by the test executing unit 102.例文帳に追加

プログラム実行部１０３は、試験実行部１０２の指示に従って、試験対象プログラムを実行する。 - 特許庁

To provide a single semiconductor test system capable of running a plurality of the same or different types of test programs parallel with each other by a plurality of virtual testers.例文帳に追加

複数の仮想テスタにより、複数の同一または異なるテストプログラムを同時に並列に実行することのできる単一の半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for electronic devices, for detecting error-occurred spots and for preventing alarms, when power supply thereof is turned to ON or OFF, in a test program having test programs with several tens of thousands to several hundred thousand steps.例文帳に追加

電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法に関し、数万〜数十万ステップの試験プログラムにおいて、異常が発生した箇所を検出するとともに、電源のＯＮ、ＯＦＦ時にアラームが出ないようにする。 - 特許庁

To understand the bug characteristics of many programs and easily and efficiently create test viewpoints from the results.例文帳に追加

多くのプログラムのバグ特性を把握し、その結果からテスト観点を容易に且つ効率的に作成すること - 特許庁

The tester 20 has an integrated circuit test controller 21 and a memory 22 storing integrated circuit test programs for running the controller 21 to test integrated circuits.例文帳に追加

集積回路試験装置20は、集積回路試験制御部21と、集積回路試験制御部21に集積回路の試験を行わせる集積回路試験プログラムが記憶されている記憶部22を有している。 - 特許庁

Furthermore, in a plurality of test programs which are described by different programming languages and run for inspecting the same LSI, their respective specification files are compared with each other, whereby the presence or absence of difference between respective test programs can be accurately and rapidly checked.例文帳に追加

また、異なるプログラミング言語で記述され、同一のＬＳＩを検査する複数のテストプログラムそれぞれのスペックファイルを比較することにより、各テストプログラム間に差異があるかどうかを正確かつ迅速に確認することができる。 - 特許庁

When the connection characteristics of the connection mechanisms are not different from each other, a first load test execution part 22 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for all processors, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加

第１負荷試験実行部２２は接続機構の接続特性に相違がない場合、全プロセッサを対象に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、プロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁

To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

This program processor 100 merges a plurality of test pattern programs 101 and prepares and stores a merged pattern program 102 in program conversion processing for an IC test.例文帳に追加

プログラム処理装置１００は、ＩＣテストのためのプログラム変換処理において、複数のテストパタンプログラム１０１を併合して併合パタンプログラム１０２を作成・記憶する。 - 特許庁

If the info and test programs are properly installed at your site, the command info test should give you access to the complete manual. 例文帳に追加

これらの代数比較演算子は、それぞれ arg1 が arg2(に等しい、に等しくない、より小さい、より小さいか等しい、より大きい、より大きいか等しい)条件を満たせば真。 - JM

To provide: diagnostic programs which improve test efficiency for network devices; a diagnostic device; and a diagnostic method.例文帳に追加

ネットワーク機器に対するテストの効率を向上させることができる診断プログラム、診断装置、診断方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of small-scale test programs 8 is developed based on the selected rule and the control information 8a.例文帳に追加

そして、選択されたルールおよび制御情報８ａに基づいて、小規模試験プログラム８を複数展開していく。 - 特許庁

(b) Programs used for fault-tolerance functions of equipment for full authority digital engine control of propulsion equipment or test equipment therefor 例文帳に追加

ロ　推進装置又はその試験装置をフルオーソリティーデジタルエンジン制御するための装置の故障許容機能のためのもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

In another aspect, a sequence of event test interface includes a circuit comprising a plurality of electronic devices and a plurality of programs.例文帳に追加

別の態様で提供されるイベント列テストインタフェースは、複数の電子デバイスと複数のプログラムとを備えた回路を含む。 - 特許庁

In a general test, controller software 11 transfer a command stored in a device test program storage part 12 to a thermostatic bath 20 or tester part 30 according to description order of programs to perform a burn-in test.例文帳に追加

コントローラソフトウェア１１は、通常試験の場合には、デバイステストプログラム記憶部１２に記憶されている命令をプログラムの記述順に従って恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送してバーンイン試験を行う。 - 特許庁

A usability test system is for analyzing and verifying the operability of an object such as various kinds of merchandise, programs or homepages or the like.例文帳に追加

各種商品やプログラム又はホームページ等の対象物の操作性を分析検証等するためのユーザビリティテストシステムである。 - 特許庁

To provide a simulated application test apparatus for a computer system that facilitates changes in testing conditions, and dispenses with the new programming of test programs, when the hardware of a computer system is changed.例文帳に追加

テスト条件の変更を容易とし、かつ計算機システムのハードウェアが変更となった場合にテストプログラムの新規製作を不要とする計算機システムの模擬アプリケーション試験装置を得る。 - 特許庁

A CPU 31 reads the test programs from the memory 32 in the indicated order according to the macroprogram and also sets the pin condition to allow a pattern control part 2 to perform the test content thereof.例文帳に追加

ＣＰＵ３１は、マクロプログラムに従い、その指定順にメモリ３２から試験プログラムを読み出すとともにピン条件を設定し、パターン制御部２にその試験内容を実行させる。 - 特許庁

To provide a full automated inspection for interlocking the following programs and systems, including an inspection test, by eliminating manual starts of the respective programs and systems of a parts information automatic collection system, an automatic setting test system, and further, to provide a configuration automatic collation confirmation system.例文帳に追加

部品情報自動収集システム、自動設定テストシステム、さらには構成自動照合確認システムの各プログラム及びシステムの人手による起動を排除し、これらのプログラム、システムを連動させ、検査試験を含めた全自動化検査システムを提供する。 - 特許庁

(iii) Programs designed for the design, manufacture or use of equipment or tools for manufacturing the goods that fall under Article 3, item (ii), (a), the test equipment therefor or the components thereof, or technology (excluding programs) pertaining to the design, manufacture or use of those programs 例文帳に追加

三　第三条第二号イに該当する貨物の製造用の装置若しくは工具、試験装置若しくはこれらの部分品を設計し、製造し、若しくは使用するために設計したプログラム又はそのプログラムの設計、製造若しくは使用に係る技術（プログラムを除く。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a program generation device creating a plurality of test programs with a variety of program structures through small man hours.例文帳に追加

多種多様なプログラム構造を有する複数のテストプログラムの生成を少ない工数で実現するプログラム生成装置を提供する。 - 特許庁

To further test the printer, try downloading larger programs (for language-based printers) or running lptest(1) with different arguments. 例文帳に追加

更にプリンタをテストしたい場合は、 (言語ベースのプリンタのための)もっと大きなプログラムを送信するか、 引数を変えて lptest(1) を実行します。 - FreeBSD

To provide a memory tester capable of generating a linear burst address and an interleave burst address without the need for creating individual test programs.例文帳に追加

個別にテストプログラムを作成しなくても、リニア用およびインターリーブ用のバーストアドレスを生成することのできるメモリテスタを提供する。 - 特許庁

To provide a generating method and the like generating both or either test programs and/or test pattern programs used in each of plurality of semi-conductor testing devices of different programming languages, in which processing lines are simple and vainness is removed, without artificial technique.例文帳に追加

プログラム言語が異なる複数の半導体試験装置のそれぞれで用いるテストプログラム及びテストパタンプログラムのいずれか又は両者を生成するための生成方法等であって、人為的な手法ではなく、処理工程がシンプルで無駄を取り除いた生成方法等を提供する。 - 特許庁

When a test mode signal TM is activated by a signal provided from an external terminal CLK, RST, or SIO, various self-test programs stored in a ROM 3 are read and executed by a CPU 1.例文帳に追加

外部端子ＣＬＫ，ＲＳＴ，ＳＩＯから与えられる信号で試験モード信号ＴＭがアクティブにされると、ＣＰＵ１によってＲＯＭ３に格納された各種の自己試験プログラムが読み出されて実行される。 - 特許庁

Programs should never define these macros directly: instead, the appropriate feature test macro(s) from the list above should be employed. 例文帳に追加

ユーザプログラムはこれらのマクロを 決して 直接定義すべきではない。 代わりに、上記のリストにある適切な機能検査マクロを利用すべきである。 - JM

When the connection characteristics of the connection mechanisms are different from each other, a second load test execution part 24 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for each processor group classified according to the difference in connection characteristics, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加

第２負荷試験実行部２４は接続機構の接続特性に相違がある場合、接続特性の相違に応じて分類された複数のプロセッサ群毎に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、複数のプロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁

To provide a scenario forming device, a false base station, scenario forming programs, and a recording medium, wherein the test of communication terminals can be accurately carried out in a short time.例文帳に追加

通信端末の試験を正確、かつ短期間に行うことができるシナリオ生成装置、擬似基地局、シナリオ生成プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30.例文帳に追加

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する。 - 特許庁

Since it is impossible to test many large programs exhaustively, bugs can slip through the debug stage 例文帳に追加

多数の大きな(長い)プログラムを余すところなく(完全に)検査することは不可能なので,虫(バグ;考え違い)はデバッグ(虫とり)段階をすり抜けてしまう可能性がある - コンピューター用語辞典

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

A chip information acquiring device 103 acquires chip information 102 stored in a semiconductor chip 101, selects a test program corresponding to the acquired chip information 102 out of programs stored in a test program database 104, and loads the selected test program onto a semiconductor tester 105.例文帳に追加

チップ情報取得装置１０３は、半導体チップ１０１に記憶されたチップ情報１０２を取得し、取得したチップ情報１０２に対応するテストプログラムを、テストプログラムデータベース１０４に格納されているプログラムの中から選択し、選択したテストプログラムを半導体テスター１０５にローディングする。 - 特許庁

This IC test system 10 carries out measurement tools 42A, 42B in a central control unit 20, and outputs measurement result files 44A, 44B being measurement results of devices under test by measurement conditions described in test programs 40A, 40B to a memory unit 22, together with the measurement conditions 48A, 48B.例文帳に追加

ＩＣテストシステム１０は、中央制御部２０にて測定ツール４２Ａ、４２Ｂを実行し、テストプログラム４０Ａ、４０Ｂに記述された測定条件で被検査デバイスを測定した結果である測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂを、測定条件４８Ａ、４８Ｂとともに記憶部２２に出力する。 - 特許庁