「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

THIN PIECE SAMPLE PREPARING DEVICE例文帳に追加

薄片試料作製装置 - 特許庁

THIN FILM SAMPLE PREPARATION METHOD例文帳に追加

薄膜試料作製方法 - 特許庁

THIN SAMPLE PIECE PREPARING METHOD例文帳に追加

薄片試料作製方法 - 特許庁

TEM SAMPLE PREPARATION METHOD, TEM SAMPLE, AND THIN SECTION SAMPLE例文帳に追加

ＴＥＭ試料作製方法、ＴＥＭ試料及び薄片試料 - 特許庁

THIN FILM SAMPLE OBSERVATION SYSTEM, COOLING SAMPLE HOLDER, AND THIN FILM SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法 - 特許庁

THIN FILM SAMPLE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

薄膜試料、及びその作製方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR THIN FILM ANALYSIS AND THIN FILM ANALYZING METHOD例文帳に追加

薄膜分析用サンプルの製造方法及び薄膜分析方法 - 特許庁

DOPANT PROFILE MEASURING THIN PIECE SAMPLE PREPARING METHOD例文帳に追加

ドーパントプロファイル測定用薄片試料作成方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MEASURING CONTAINER FOR THIN-FILM SAMPLE例文帳に追加

薄膜状試料用Ｘ線回折測定容器 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF THE SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡用薄片試料の作製方法とこの試料の観察方法 - 特許庁

PLASMA SAMPLE TREATMENT METHOD, THIN FILM AND PLANE DISPLAY DEVICE例文帳に追加

プラズマ試料処理法、薄膜及び平面表示装置 - 特許庁

THIN FILM MAGNETIC HEAD, SAMPLE PREPARATION METHOD, AND ANALYSIS METHOD FOR THE THIN FILM MAGNETIC HEAD例文帳に追加

薄膜磁気ヘッド、試料作製方法および薄膜磁気ヘッドの解析方法 - 特許庁

Next, the sample stand 2 is taken out of the ultrahigh vacuum apparatus and the thin film sample 1 is taken out of the sample stand 1.例文帳に追加

次に、試料台２を超高真空装置から取り出し、薄膜試料１を試料台２から取り外す。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR OBSERVING CRYSTAL DEFECT IN SILICON CRYSTAL AND THIN PIECE SAMPLE例文帳に追加

シリコン結晶中の結晶欠陥観察用試料作製方法及び薄片試料 - 特許庁

PREPARATION OF THIN LIQUID SAMPLE FOR MICROSCOPIC ANALYSIS例文帳に追加

顕微鏡分析用の薄い液体試料を準備する方法 - 特許庁

A heater 108 heats the thin-film sample 107 so as to give a temperature difference between a central part and a peripheral part of the thin-film sample.例文帳に追加

ヒーター１０８は、薄膜試料１０７を、中心部分と周辺部分とに温度差を与えるように加熱する。 - 特許庁

To provide a thin sample piece preparing method capable of accurately performing finishing to object cross section after cutting out a thin sample piece from an object sample.例文帳に追加

対象試料から薄片試料を切り出した後に、正確に対象断面に仕上げ加工を行うことが可能な薄片試料作製方法を提供する。 - 特許庁

FORMATION FOR THIN FILM SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料作製方法 - 特許庁

To simply and precisely measure a thickness of a very thin sample.例文帳に追加

簡便、且つ高精度に極薄い試料の厚さを測定する。 - 特許庁

To raise the precision of structural analysis of evaluation patterns by making a thin filmlike evaluation sample surely contain the evaluation patterns, and moreover thinning the membrane of the evaluation sample.例文帳に追加

薄膜状の評価サンプルに確実に評価パターンを含ませるようにする。 - 特許庁

To provide a thin film sample creating device with a sample holder having a longer life.例文帳に追加

試料ホルダの寿命が長くなる薄膜試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

THIN HAIR PART AREA EVALUATING METHOD AND SYSTEM, THIN HAIR PART POSITIONING PLATE AND SAMPLE PHOTO FOR EVALUATING THIN HAIR PART AREA例文帳に追加

薄毛部面積評価方法およびそのシステムならびに薄毛部位置決め板および薄毛部面積評価用見本写真 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法 - 特許庁

To provide a sample holder holding a sample subjected to a thin film processing on the holder face, thereby causing no coming-off of the sample even if the sample holder is cooled.例文帳に追加

ホルダ面に薄膜加工される試料を保持する試料ホルダに関し、試料ホルダを冷却しても、試料が外れない試料ホルダを提供することを課題とする。 - 特許庁

In the method of manufacturing a thin film sample, a lump of the index sample is stuck to the analyte sample, they are integrated, and the integrated part is cut to form a sample piece.例文帳に追加

本発明の薄膜試料の作製方法では、検体試料に指標試料の塊を密着させて一体化させ、一体化させた部分を切り取って試料片とする。 - 特許庁

A sample is acquired by forming a resin 13 layer on the thin film 12 side of a substrate 11 on which the thin film 12 is laminated, and after mounting an AE sensor 21 on the sample 1, the sample 1 is cooled to exfoliate the thin film 12.例文帳に追加

薄膜１２が積層された基板１１の薄膜１２側に樹脂１３層を形成したものを試料１とし、試料１にＡＥセンサ２１を取り付けた後、試料１を冷却し薄膜１２を剥離させる。 - 特許庁

To provide a measuring method of a thin film like sample capable of simply measuring the Seebeck coefficient or thermoelectric characteristics of the thin film like sample.例文帳に追加

薄膜状試料のゼーべック係数や熱電特性等を簡便に測定することのできる薄膜状試料の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device capable of preparing surely a favorable thin film sample suitable for TEM observation or the like.例文帳に追加

ＴＥＭ観察などに適した良好な薄膜試料を確実に作製できる試料作製方法および試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanism capable of measuring the thickness of a thin film sample with an accuracy of subnanometer order and capable of measuring the analysis of various measuring results of a thin film, taking into consideration the thickness of the thin film sample.例文帳に追加

薄膜試料厚さをサブナノメートルオーダーの精度で測定することを可能とし、薄膜の各種測定結果の解析を、試料厚さを考慮して測定できる機構を提供する。 - 特許庁

Next, a thin film sample for plane observation is prepared by FIB processing.例文帳に追加

次に、平面観察用の薄膜試料をＦＩＢ加工により作製する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER ROTATING MECHANISM AND VACUUM THIN-FILM DEPOSITION DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

サンプルホルダー回転機構及びこの機構を備える真空薄膜成膜装置 - 特許庁

To provide a method for producing the thin slice of a sample using a microtome.例文帳に追加

ミクロトームを用いてサンプルの薄切片を作製する方法を提示する。 - 特許庁

METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁

To accurately produce a thin film of the water-containing sample, and enable image observation with regard to a thin film sample observation system for a water-containing sample including a living sample, a cooling sample holder, and a thin film sample observation method.例文帳に追加

本発明は生物試料を含む含水試料の薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法に関し、含水試料の薄膜を精度よく作製し、像観察を行なうことができる含水試料の薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

The interval between the beryllium thin plate 8 and the substrate 1 is set as a sample chamber 9, and a sample inflow hole 10, and a sample outflow hole 11 are provided in the base body 1 facing the sample chamber 9.例文帳に追加

ベリリウム薄板８と基体１の間隙は試料室９とされ、試料室９に面する基体１には試料流入孔１０、試料排出孔１１が設けられている。 - 特許庁

To fix a thin section sample on a sample holder without tilting a stage and to efficiently prepare a TEM sample in a shorter time with increasing throughput.例文帳に追加

ステージを傾けることなく薄片試料を試料ホルダに固定でき、スループットを高めてより短時間で効率良くＴＥＭ試料を作製すること。 - 特許庁

THIN FILM MAGNETIC HEAD, MANUFACTURING METHOD THEREOF, THIN FILM MAGNETIC HEAD INTEGRATED SUBSTRATE, METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ANALYSIS, AND METHOD OF ANALYZING THIN FILM MAGNETIC HEAD例文帳に追加

薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法、薄膜磁気ヘッド集積基板、解析用試料作製方法、薄膜磁気ヘッドの解析方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING THIN SLICE OF SAMPLE USING IMAGE-RECOGNITION SYSTEM例文帳に追加

画像認識システムを用いてサンプルの薄切片を作製する方法及び装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR THIN FILM STRUCTURAL BODY, SAMPLE USED IN IT AND OPTICAL DEVICE例文帳に追加

薄膜構造体の製造方法、これに用いられる試料、及び光学装置 - 特許庁

THIN FILM FORMING METHOD, SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

薄膜形成方法、電子顕微鏡用試料ホルダおよびその形成方法。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RESIDUAL STRESS IN THIN-FILM SAMPLE例文帳に追加

薄膜試料の残留応力計測方法および残留応力計測装置 - 特許庁

To make a travel speed of a carrier tape identical relative to the feed speed for a sample block in a thin piece sample preparing device where a thin piece sample obtained by slicing off the sample block is collected by being adhered on the tape.例文帳に追加

標本ブロックをスライスして得られた薄片状の試料を搬送テープに貼り付けて回収する方式の薄片試料作製装置において、標本ブロックの送り速度に対して搬送テープの走行速度を高い精度で同一にする。 - 特許庁

The durability evaluation method for a thin film includes a sample making step of fixing a shearing stress granting means on the surface of a thin film to make a sample, and a sample expansion contraction step of expanding and contracting the sample made.例文帳に追加

薄膜の表面に剪断応力付与手段を固定し、テストピースを作製する、テストピース作製工程と、作製されたテストピースを伸縮させる、テストピース伸縮工程と、を備えることを特徴とする薄膜の耐久性評価方法とする。 - 特許庁

To provide the thin cut sample sticking device which can securely stick a thin cut sample held on a tape carrier on a slide glass without leaving an air bubble inside.例文帳に追加

キャリアテープに保持された薄切試料を、気泡を巻き込むことなくスライドガラス上に確実に貼り付けることができる薄切試料貼付装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SETTING INSPECTION SPECIFICATION IN THIN-FILM DISPLAY, APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING THIN-FILM DISPLAY, AND SAMPLE FOR SETTING INSPECTION SPECIFICATION IN THIN-FILM DISPLAY例文帳に追加

薄膜表示装置の検査諸元設定方法、薄膜表示装置の検査装置及び検査方法並びに薄膜表示装置の検査諸元設定用サンプル - 特許庁