「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The radical plasma-etches the damage layer generated on the cut surface of the thin piece sample 30 by the convereged ion beam working.例文帳に追加

フッ素ラジカルは集束イオンビーム加工によって薄片試料（３０）の切削端面に生じたダメージ層をプラズマエッチング処理する。 - 特許庁

To measure highly accurately the film thickness relative to a sample having the thin film thickness which is impossible to be measured by a conventional method.例文帳に追加

従来方法では測定が不可能であるような薄い膜厚の試料に対する膜厚測定を高精度で行う。 - 特許庁

The cut thin slice 7 is successively pasted on the carrier tape 6 form the leading end thereof to be separated from the sample block 1.例文帳に追加

切断された薄切片７は、先端部分から順にキャリアテープ６に貼り付けられて、試料ブロック１から離れて行く。 - 特許庁

To provide a cell for measuring an optical absorption spectrum, capable of measuring the optical absorption spectrum in a thin film state of a liquid sample.例文帳に追加

液体試料の薄膜状態における光吸収スペクトルを測定可能な光吸収スペクトル測定用セルを得る。 - 特許庁

To realize structurally analyzing a heavy sample with very high accuracy using X-ray and measuring a thin film by observing at the site.例文帳に追加

Ｘ線を用いて極めて高精度に重量物試料の構造分析や、その場観測による薄膜測定を実現する。 - 特許庁

A plurality of grooves 12 are formed on a sample piece 11 where a thin film 11b is formed on a substrate 11a by a dicing saw.例文帳に追加

基板１１ａ上に薄膜１１ｂを成膜した試料片１１に、ダイシングソーを用いて複数の溝１２を形成した。 - 特許庁

To realize an optical system for measuring the complex dielectric constant of a thin film on a substrate by measuring the reflection spectrum of a sample.例文帳に追加

試料の反射スペクトルを測定することで、基板上の薄膜の複素誘電率を測定できる光学系を実現する。 - 特許庁

To provide a fluorescent X-ray spectrometer quickly accurately analyzing the thickness or the composition of a thin film in each layer of a multi-layer thin film sample.例文帳に追加

多層薄膜試料について各層の薄膜の厚さまたは組成を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、十分に迅速で正確な分析ができる装置を提供する。 - 特許庁

The method allows a dual beam FIB/STEM system with a typical tilt stage having a maximum tilt of approximately 60 to be used to extract a STEM sample from a substrate, to mount the sample onto a TEM sample holder, to thin the sample using FIB milling and to rotate the sample so that the sample face is perpendicular to a vertical electron column for STEM imaging.例文帳に追加

方法は、約６０度の最大傾斜を有する典型的な傾斜ステージを有するデュアル・ビームＦＩＢ／ＳＴＥＭシステムが、基板からＳＴＥＭサンプルを抜き出し、ＴＥＭサンプル・ホルダ上にサンプルを搭載し、ＦＩＢミリングを使用してサンプルを薄化し、かつサンプル面がＳＴＥＭ撮像のために垂直電子カラムに垂直であるように、サンプルを回転するために使用されることを可能にする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample which can form at once a large quantity of thin piece samples for a crystal defect observing transmission electron microscope in the silicon crystal and which can be simply manufactured in a wide area and to provide the thin piece sample.例文帳に追加

シリコン結晶中の結晶欠陥観察用透過型電子顕微鏡用の薄片試料を、一度に大量に作成することができるとともに簡便に広い面積で作製することを可能とした試料作製方法及び薄片試料を提供する。 - 特許庁

This sample holding member 30 for an electron microscope used for holding a sample is composed by stacking a grid mesh thin piece 25 provided with a grid mesh 25a at its distal end, and a member provided with a plurality of reinforcing ribs 26 of thin pieces for reinforcing the grid mesh 25a.例文帳に追加

試料を保持する電子顕微鏡用試料保持部材３０であって、その先端部にグリッドメッシュ２５ａを設けたグリッドメッシュ薄片２５と、前記グリッドメッシュ２５ａを補強するための薄片の補強用リブ２６を複数枚設けたものとを積層構成とした。 - 特許庁

To provide an energy dispersion type semiconductor X-ray detector that can detect a desired characterized X-ray with accuracy, by avoiding the bad influence of a system peak generated when an electron beam projected to a sample collides with a lower pole piece positioned below the sample after passing through the sample when the sample has a thin film-like shape.例文帳に追加

試料が薄膜状であるとき、この試料に対して照射される電子線が当該試料を透過してその下方に位置する下部ポールピースに衝突して生ずるシステムピークの悪影響を受けないようにして、所望の特性Ｘ線を精度よく検出することのできるＸ線検出器を提供すること。 - 特許庁

To carry out with a high throughput both of a thin-film working of high precision by ion beam irradiation and a STEM observation of high resolution by electron beam irradiation of a sample, without moving the sample.例文帳に追加

試料のイオンビーム照射による高精度の薄膜加工と電子ビーム照射による高分解能のＳＴＥＭ観察の両者を、ほぼ試料を動かすことなく、高スループットで実施する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

A detection device integrates on a thin layer, an aggregator (13) for collecting the sample and a detector (15) for detecting components of the sample collected by the aggregator.例文帳に追加

本発明の検出装置は、試料を捕集する凝集器（１３）と、該凝集器によって捕集した試料の成分を検出する検出器（１５）とを薄層に集積したことに特徴がある。 - 特許庁

A thin sample display plate 4 for displaying patterns, etc., is freely attachably and detachably attached to the inner flank of the other mount section 12b of the mount 1.例文帳に追加

台紙１の他方の台紙部１２ｂの内側面に柄例等を表示する薄サンプル表示板４を着脱自在に取着した。 - 特許庁

The flaw on the transparent thin film provided on the surface of the sample is detected on the basis of the outputs of the oblique detection system and the upper detection system.例文帳に追加

斜方検出系と上方検出系の出力によって、試料の表面の透明薄膜上の欠陥を検出する。 - 特許庁

To prevent an increase in vessel cost, by storing a soil sample, by using a tube made of a transparent and thin resin film.例文帳に追加

透明で薄い樹脂膜で作ったチューブを用いて土壌サンプルを収容できるようにし、容器コストの上昇を防ぐものである。 - 特許庁

The cover 10 is a thin, light transmissive glass or polymer sheet, having a sample receiving opening 14 and an elongate opening 12.例文帳に追加

カバー（１０）は光透過性のガラス又はポリマーの薄いシートであって、サンプル受容開口部（１４）及び細長い開口部（１２）を有する。 - 特許庁

The gas adsorption sample chamber includes a plurality of thin film substrates and fluidly connects the substrates to a Sievert apparatus or other gas adsorption analyzer.例文帳に追加

ガス収着サンプルチャンバは、複数の薄膜基板を含み、該基板をシーベルト装置又は他のガス収着分析器に流体連通結合する。 - 特許庁

The flaw on the transparent thin film provided on the surface of the sample is detected on the basis of the outputs of the oblique detection system and the upper detection system.例文帳に追加

斜方検出系と上方検出系の出力によって、試料の表面の透明薄膜上の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a relatively thin transmission illuminator for a microscope which enables observation of a transparent sample with a moderate shadow.例文帳に追加

透明な試料に適度な陰影をつけて観察することを可能にする比較的薄型の顕微鏡用透過照明装置を提供する。 - 特許庁

A hydrogen standard sample for analyzing hydrogen concentration is made of an extremely thin silicon insulation film 5 containing deuterium whose concentration is known.例文帳に追加

水素濃度を分析するための水素標準試料が、濃度既知の重水素が含有されている極薄シリコン絶縁膜５からなる。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine capable of efficiently testing a thin sample or the like even if an electromagnetic brake is used.例文帳に追加

本発明の課題は、電磁ブレーキを使用していても、薄い試料等が効率良く試験できる硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

To provide a sample housing device capable of being held between three kinds of thin samples different in content from each other in common and excellent in general-purpose properties.例文帳に追加

中身が異なる３種類の薄型サンプル間で共有することのできる、汎用性に優れたサンプル収納具を提供する。 - 特許庁

A thin piece sample 30 cut-worked by a converged ion beam working method is heated to a boiling point of a hydrofluoric acid solution 51 or more.例文帳に追加

集束イオンビーム加工法によって切削加工が行われた薄片試料（３０）をフッ化水素酸（５１）の沸点以上に加熱する。 - 特許庁

In the thin sample limit, the number of scatterers and the amount of scattering increase in proportion to thickness x, but cross-section б remains constant. 例文帳に追加

薄い試料の限界では、散乱体の数と散乱の量は厚さxに比例して増加するが、「(散乱)断面積」бは一定にとどまる。 - 科学技術論文動詞集

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 and an irradiation axis of a STEM observation electron beam irradiation system 5 are made almost orthogonal, and the sample 7 is arranged at the intersection position and the FIB cross-section working face of the sample is made a thin-film face of the STEM observation sample.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

To restrain generation of grinding dents and uneven stress on a grinding surface of a sample, to attain high flatness in an extremely wide range of a sample surface, to largely increase a feasible range of analysis and evaluation, and to obtain a thin-film sample having high reliability.例文帳に追加

試料の研磨面における研磨痕や応力ムラの発生を抑え、試料表面の極めて広い範囲において十分な平坦度が得られて分析評価の可能な領域の大幅な拡大化を実現し、信頼性の高い薄膜化された試料を得る。 - 特許庁

Then, the evaporation material released from the evaporation system 13 passes through an evaporation material passing hole 12 of a base 3 and reaches the sample 11 on a sample stage arranged on the route of the evaporation material to deposit a thin film of gold on the surface of the sample.例文帳に追加

そして、蒸着装置１３から放出された蒸着物質は、基台３の蒸着物質通過孔１２を通過して、蒸着物質の進路上に配置された試料ステージ上の試料１１に到達し、試料の表面に金の薄膜が形成される。 - 特許庁

In the of secondary ion for mass analysis method insulating material, a Pt-Pd alloy thin film that is a conductive continuous film is formed on the surface of a sample that is the insulating material, the sample with the Pt-Pd alloy thin film is irradiated with a primary ion beam and an electron beam, and the secondary ions generated from the sample are extracted and are subjected to mass analysis.例文帳に追加

本発明の絶縁物の二次イオン質量分析方法は、絶縁物である試料の表面に導電性の連続膜であるＰｔ−Ｐｄ合金薄膜を成膜し、このＰｔ−Ｐｄ合金薄膜付き試料に一次イオンビーム及び電子ビームを照射し、この試料から発生する二次イオンを引き出し、質量分析する。 - 特許庁

A sample solution introduced to a preprocessing section A is dissolved and fed to an analyzing section B where the preprocessed sample solution is distributed, by a specified quantity at a time, to two systems of thin tube 32, 33 alternatively by means of a sampling/distributing valve 31 and the sample solution in each thin tube 32, 33 is analyzed independently by flow injection system.例文帳に追加

前処理部Ａにサンプル溶液を導入して溶解処理し、分析部Ｂにおいて前処理部Ａで前処理したサンプル溶液をサンプル切取振分け弁３１により所定量づつ切り取り２系統の細管３２，３３に交互に振り分け、各細管３２，３３中のサンプル溶液を独立してフローインジェクション方式により分析する。 - 特許庁

A slice part, containing a desired observation place 2 due to the transmission electron microscope, is formed by processing the sample 1, and after a thin film is formed on the surface of the sample containing the slice part, the slice part is processed by a converged ion beam and the thin film of a part of the slice part is removed, to obtain the observation sample of the transmission electron microscope.例文帳に追加

試料１を加工することによって、透過型電子顕微鏡による所望の観察箇所２を含む薄片部を形成し、記薄片部を含む試料表面に薄膜を成膜した後に、薄片部に対し集束イオンビームにより加工を施して、薄片部の一部の薄膜を除去し、透過型電子顕微鏡の観察試料とする。 - 特許庁

In this vacuum thin-film deposition equipment, a process of depositing a thin film on a light incident end face is followed by the rotation of the sample holder 6 by nitrogen gas with the vacuum chamber being kept at a high vacuum, and thereby a thin film is deposited on a light emitting end face.例文帳に追加

この真空薄膜成膜装置では、光入射端面に薄膜を成膜する工程に続いて、真空室を高い真空度に保持したままサンプルホルダー６を窒素ガスで回転させ、光出射端面に薄膜を成膜できる。 - 特許庁

A sample mixture of an optically transparent thin film and a thin metal film is irradiated with light, reflected light from the sample is detected and a decision is made whether the metal film remains after CMP or not based on the intensity of the reflected light thus detected or the reflectivity.例文帳に追加

光学的に透明な薄膜と金属薄膜が混在する試料に光を照射し、該光の照射により試料から発生する反射光を検出し、該検出した反射光の反射強度もしくは反射率に基づいて、ＣＭＰ後の金属膜加工残りの有無を判定する。 - 特許庁

To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers.例文帳に追加

多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。 - 特許庁

Then the supply amount of oxygen gas is increased to a prescribed amount of 6.5 cc/min to satisfy the conditions for depositing a thin film, then a thin film 27 of SiO2 is deposited on the surface of a sample 21.例文帳に追加

その後、酸素ガスの供給量を所定量の６．５ｃｃ／ｍｉｎに増やし、薄膜を堆積する条件を満たした後に、ＳｉＯ_2 からなる薄膜２７を試料２１の表面上に堆積する。 - 特許庁

To provide a crystallizability evaluation device of a polysilicon thin film capable of evaluating the crystal state of a polysilicon (p-Si) thin film sample with high precision in a non-destructive and non-contact state in a short time and capable of further evaluating the crystal state of a local region.例文帳に追加

ポリシリコン（ｐ−Ｓｉ）薄膜試料の結晶状態を、非破壊及び非接触で、かつ短時間で、かつ高精度で評価でき、さらに、局所領域の結晶状態を評価できること。 - 特許庁

The hydrogen standard sample forms the extremely thin silicon insulation film 5 containing deuterium on a silicon substrate 1 and is manufactured by determining the concentration of deuterium in the extremely thin silicon insulation film 5.例文帳に追加

この水素標準試料は、シリコン基板１上に重水素を含有した極薄シリコン絶縁膜５を形成し、次いで極薄シリコン絶縁膜５中の重水素濃度を定量することにより作製する。 - 特許庁

To realize an optical system for measuring both the planarity of a substrate and the complex dielectric constant of a thin film, by measuring the transmission spectrum of a sample.例文帳に追加

試料の透過スペクトルを測定することで、基板の平坦度と薄膜の複素誘電率の両方を測定できる光学系を実現する。 - 特許庁

A thin-film sample 107 includes a phase change film which phase-changes from a solid phase to a molten phase, and a protective film laminated on the phase change film.例文帳に追加

薄膜試料１０７は、固体相から溶融相に相変化する相変化膜と、相変化膜に積層された保護膜とを有している。 - 特許庁

The thin-film sample 11a is irradiated with infrared rays at a temperature of 5K or lower, to measure the absorption peak at a wavenumber of 1,136/cm.例文帳に追加

薄膜化した試料１１ａに５Ｋ以下の温度で赤外線を照射して１１３６／ｃｍの波数における吸収ピークを測定する。 - 特許庁

To provide a transmission illumination apparatus for a microscope which enables a transparent sample to be observed by giving it moderate shading and which is a relatively thin type.例文帳に追加

透明な試料に適度な陰影をつけて観察することを可能にする比較的薄型の顕微鏡用透過照明装置を提供する。 - 特許庁

The damaged layer such as a layer having a lattice defect is formed in the cut end face of the thin sample piece 30 by the sputtering- etching with a gallium ion beam.例文帳に追加

薄片試料（３０）の切削端面にはガリウムイオンビームによるスパッタエッチングによって格子欠陥等のダメージ層が形成されている。 - 特許庁