「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The glass base material alone of the material with a metal or a chemical film formed on at least one end face thereof is dissolved away by a solvent to sample a thin film.例文帳に追加

ガラス基材の少なくとも片端面に金属あるいは化合物の薄膜が成膜された材料の前記基材のみを溶剤を用いて溶解除去し、薄膜を採取することを特徴とする。 - 特許庁

At both end portions that are apposite to each other across the gap 35, sample holding portions (36A, 36B) having extremely thin thickness extend outward perpendicularly to a tip plane 37 while maintaining the gap.例文帳に追加

ギャップ３５を挟んで対向する両端部には、それぞれ、厚さの極めて薄い試料把持部３６Ａ，３６Ｂがギヤップを維持しながら、先端面３７に対して外側に垂直に伸びている。 - 特許庁

The analyte in the sample is detected using a thin film device through variation of the spectrum of light impinging on the surface of the analyte before and after the analyte is bound to a binding layer on the substrate thereof.例文帳に追加

薄膜デバイスを使用し、その基質上の結合層に対する分析対象物の結合前後の表面に当る光のスペクトル変化を通して試料中の分析対象物を検出する。 - 特許庁

A segregation/refinement technique, such as electrophoresis or thin-layer chromatography, can be employed for a mixed protein sample by using the method to obtain a two-dimensional image showing a high spatial resolution (up to 1 μm).例文帳に追加

これを用いて空間分解能の高い（〜１μｍ）二次元イメージ像を得ることで、混合蛋白質試料において、電気泳動法や薄層クロマトグラフィーなどの分離精製手法を用いることが出来る。 - 特許庁

To precisely measure non-destructively and non-contactingly an index value in a short time, which is for evaluating the crystallinity of an extremely micro area in a thin film sample comprising a semiconductor such as polysilicon.例文帳に追加

ポリシリコン等の半導体からなる薄膜試料のごく微小領域の結晶性を評価するための指標値を，非破壊及び非接触で，かつ短時間及び高精度で測定できること。 - 特許庁

The film substrate 10 on which a first thin film layer 41 has been formed in the first deposition chamber 13a is carried into the first sampling chamber 14a, and a sample is extracted from the film substrate 10 under the reduced pressure.例文帳に追加

第１サンプリング室１４ａには、第１成膜室１３ａで第１薄膜層４１が形成されたフィルム基板１０が搬入され、減圧条件下でフィルム基板１０から試料を採取する。 - 特許庁

Then, on the upper surface of the thin-film sample 2 positioned near the mark 3 where ultrahigh-voltage electron rays are applied with an area near the mark 3 as an irradiation part, there is formed a protective film 4.例文帳に追加

そして、マーク３近傍を照射部位として、超高圧電子線の照射が行なわれ、マーク３の近傍に位置する薄膜試料２の上面にて、保護膜４の形成が行なわれる。 - 特許庁

To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image.例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。 - 特許庁

To easily and precisely measure thermal conductivity of a thin film on a substrate by an optical heating angstrom method, and to provide a sample used for measurement of the thermal conductivity.例文帳に追加

基板上の薄膜の熱伝導率を光加熱オングストローム法により簡単且つ精確に測定する方法を提供すること、及びこの熱伝導率の測定に使用する試料を提供すること。 - 特許庁

When the temperature of sapphire substrate in the reactive chamber 1 comes to a room temperature, the reactive chamber 1 is restored to an atmosphere using nitrogen, and a sample of nitride semiconductor thin-film deposited on the sapphire substrate is taken out.例文帳に追加

反応室１内のサファイア基板２３の温度が室温になったら、反応室１を窒素で大気に戻し、サファイア基板２３に堆積された窒化物半導体薄膜のサンプルを取り出す。 - 特許庁

The controller 103 analyzes the thin film of the sample 111 and its neighboring structure on the basis of the difference between the energy spectra determined by the simulation and the energy spectra measured.例文帳に追加

また、制御装置１０３は、シミュレーションによって決定されたエネルギスペクトルと測定されたエネルギスペクトルとの差のスペクトルに基づいて、試料１１１における薄膜およびその近傍の構造を解析する。 - 特許庁

A measurement apparatus 101 measures energy spectra of backscattered ions for a sample 111 containing a thin film formed of well-known composition by using Rutherford back scattering spectroscopy under a predetermined condition.例文帳に追加

測定装置１０１は、既知の組成からなる薄膜を含む試料１１１について、所定の条件でラザフォード後方散乱分光分析法によって後方散乱イオンのエネルギスペクトルを測定する。 - 特許庁

Each liquid flowing on the surface of each titanium oxide film 16a, 16b flows as a thin liquid film by a catalysis of the titanium oxide, and CO_2 is transferred between the sample water and the ion exchange water.例文帳に追加

これら酸化チタン膜１６ａ、１６ｂの表面を流れる液体は酸化チタンの触媒作用により薄い液膜となって流れ、試料水とイオン交換水との間でＣＯ_2の授受が行なわれる。 - 特許庁

To apply thin film processing by the other pre-processing method on a sample processed by a focused ion beam processing method or the like, and to observe and analyze it as it is by an electron microscope.例文帳に追加

本発明の目的は、集束イオンビーム加工法などにより加工した試料をさらに他の前処理法で薄膜加工し、そのまま電子顕微鏡により観察および分析することにある。 - 特許庁

A microchip 10 obtained by joining together a first microchip substrate 11 having a trench part formed to serve as a flow passage and a second microchip substrate 12 filmed with a metal thin film 13 is provided with a metal thin film 15 as a reference part N on the first and second microchip substrates outside the flow passage, in addition to the metal thin film 13 as a detection part where a sample is set.例文帳に追加

流路となる溝部が形成されている第１のマイクロチップ基板１１と、金属薄膜１３が成膜されている第２のマイクロチップ基板１２とを接合したマイクロチップ１０において、試料を設置する検出部となる金属薄膜１３とは別に、第１または第２のマイクロチップ基板上であって上記流路外に参照部Ｎとなる金属薄膜１５を設ける。 - 特許庁

In the focused ion beam machining device, the probe is provided which has a long life and can be shape processed in accordance with the purpose of an extracted sample in the focused ion beam machining device by forming the tip of the probe device 9 for manipulating a sample 7 into a multi-step thin wire probe 11, and the method of manufacturing the probe is provided.例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置において、試料７をマニピュレート操作するためのプローブ装置９の先端を多段の細線プローブ１１とすることで、長寿命化、並びに集束イオンビーム加工装置内での抽出試料目的に合わせた形状加工ができるプローブと製造方法を提供する。 - 特許庁

The impact of an electron beam on the target 6 generates X-rays, where the small thickness of the recessed thin portion 6b renders transmitted X-rays full of soft X-ray components, which can produce a high-contrast sharp X-ray image, when a sample with a small thickness and a sample with small X-ray absorption irradiated.例文帳に追加

電子ビームがターゲット６に当たるとＸ線を発生し、凹部形状の薄部６ｂは厚さが薄いので透過Ｘ線は軟Ｘ線成分の多いＸ線となり、厚さの薄い試料やＸ線吸収が少ない試料に照射して、コントラストのある鮮明なＸ線画像を得ることができる。 - 特許庁

Furthermore, since the space between the objective lens and the sample is immersed in the liquid which has a refractive index approximate to that of a transparent film, even in the case a transparent interlayer insulating film is formed on the surface of a sample, fracturing of amplitude at an interface between the liquid and the insulating film is suppressed, and unevenness of brightness caused by thin film interferences is reduced.例文帳に追加

さらに、対物レンズと試料の間を透明膜に近い屈折率の液体で浸すことにより、試料表面に透明な層間絶縁膜が形成されている場合においても液と絶縁膜界面での振幅分割を抑制し、薄膜干渉による明るさむらを低減する。 - 特許庁

To attach a metal stud and a sample while keeping the perpendicular relation, clamp the metal stud attached to the sample without causing slipping, and perform an adhesion evaluation test by a stud pull method having high replicability in the same sample, in a perpendicular tension type adhesion strength test machine for performing the stud pull method capable of easily evaluating the adhesion strength of a thin film.例文帳に追加

垂直引張型密着強度試験機に関し、薄膜の密着強度を簡便に評価できるスタッドプル法を実施する試験機に於いて、金属スタッドと試料とを垂直の関係を維持して取り付け、その試料に取り付けた金属スタッドを滑りを生じることなくクランプし、同一試料内で再現性が高いスタッドプル法による密着力評価試験を行うことを可能にしようとする。 - 特許庁

Measuring units 10 of which each comprises a dielectric block 11 and a thin film layer 12 formed in one face of the block 11 to contact with a sample are plurally arrayed integratedly in one line to constitute a measuring unit-coupled body 8.例文帳に追加

誘電体ブロック11と、この誘電体ブロック11の一面に形成されて試料に接触させられる薄膜層12とからなる測定ユニット10を複数１列に並べて一体化して測定ユニット連結体８とする。 - 特許庁

To facilitate the use in the glove box, the chamber may includes a retrievable sample cartridge in which a plurality of thin film substrates are disposed so that all substrates are put in or taken out all together.例文帳に追加

グローブボックス内での使用を容易にするために、チャンバは、全ての基板をひとまとめにして積み込んだり取り出したりできるように、複数の薄膜基板が配置された取り出し可能なサンプルカートリッジを備えてもよい。 - 特許庁

The beryllium thin plate 8 mounted to a window section 7 is, for example, has a thickness of 25 μm, and further a vapor-deposited film by beryllium is formed on the surface at a side of at least the sample chamber 9 for the purpose of embedding a pin hole.例文帳に追加

窓部７に取り付けられるベリリウム薄板８は例えば厚み２５μｍであり、ピンホールを埋める目的で、少なくとも試料室９側の面上には、更にベリリウムによる蒸着膜が形成されている。 - 特許庁

(c) A damaged region 105 is then recrystallized by heat-treating a sample and a doped hard silicon layer 106 is formed on the surface of the silicon thin film 103 where the opening 104 is formed.例文帳に追加

（ｃ）次に試料を加熱処理することにより損傷領域１０５が再結晶化され、開口１０４が形成されたシリコン薄膜１０３の表面には不純物が導入された硬シリコン層１０６が形成される。 - 特許庁

To provide a power-saving heat-resistant thin lighting system for automatic vending machines using the LED light source that minimizes illuminance variation and optical unevenness due to a temperature change and that uniformly illuminates each sample.例文帳に追加

温度変化による照度の変化と光のむらを最小限に抑え、各商品見本を均一に照明するＬＥＤ光源を用いた自動販売機用省電力薄型耐熱照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical characteristics measuring device and an optical characteristics measuring method, capable of measuring the optical characteristics, with higher accuracy, such as film thickness and refractive index, in a thin-film sample whose refractive index is unknown.例文帳に追加

その屈折率が未知の薄膜試料における膜厚や屈折率といった光学特性をより高い精度を測定することが可能な光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。 - 特許庁

The resonance angle of the sample solution being dispensed into each cell that is selected based on the intensity of each reflection light from the metal thin-film boundary surface of the glass substrate 7 corresponding to each cell 5a can be simultaneously detected.例文帳に追加

各セルに対応するガラス基板の金属薄膜境界面からの各反射光の強度に基づいて選択された各セル内に分注された試料溶液の共鳴角を同時に検出可能にする。 - 特許庁

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples.例文帳に追加

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。 - 特許庁

Alternatively, the index value of the crystallizability, which is related to the time until the intensity of the band end emission caused by irradiating the thin film sample 5 with pulse like exciting light is attenuated to a predetermined level after reaching a peak, is calculated.例文帳に追加

或いは、パルス状の励起光を薄膜試料５に照射して生じるバンド端発光の強度がピークに達してから所定レベルまで減衰するまでの時間に関する結晶性の指標値を算出する。 - 特許庁

The thin-film interference filter 4 is installed rotatably so that the transmitted center wavelength can be adjusted, by changing the incident angle of light and is adjusted so as to match the absorption peak wavelength of the sample 2.例文帳に追加

薄膜干渉フィルタ４は、光の入射角を変化させて透過中心波長を調整できるように回転可能に設置されており、試料２の吸収ピーク波長に合わせるように調整される。 - 特許庁

To provide a needle-like body efficiently performing the APFIM analysis of a flat sheet-like or thin film-like sample, used in a semiconductor process or the development of a semiconductor device, having high reproducibility and reliability.例文帳に追加

半導体プロセスや半導体デバイス開発などで用いられる平板状・薄膜状の試料のＡＰＦＩＭ分析を高い再現性・信頼性で効率よく可能にするような針状体を提供する。 - 特許庁

In a process in which a sample piece extracted from a film made up of an aggregate of micro-particulates is to be subjected to micro-machining of two sections of the piece by utilizing a focused ion beam to thin the film, a thin film made up of a uniform material is formed to cover micro-machined end faces after each section is micro-machined.例文帳に追加

微細粒子の凝集体からなる膜から抽出した試料片に対し、その二つの断面に集束イオンビームを利用する微細加工を施し、薄片化を行う工程中、各断面に微細加工を施した後、微細加工端面を被覆する、均質な材料からなる薄膜をそれぞれ形成する。 - 特許庁

Since a metal thin film 17 is formed on the outer interface 19 of the clad, a surface plasmon phenomenon is excited, a light entering at the predetermined incident angle influenced by an atmosphere on a surface of the metal thin film 17 and depending on a characteristic of the sample is used for excitation of the surface plasmon phenomenon, and light intensity is reduced.例文帳に追加

クラッド外境界面１９には金属薄膜１７が形成されているため、これにより表面プラズモン現象が励起され、金属薄膜１７の表面の雰囲気に影響された、試料の特性に依存した所定の入射角の光が表面プラズモン現象の励起に使われ、光の強度が減少される。 - 特許庁

To stain a thin section produced from a frozen embedded sample by using an adhesive plastic film as a support material for the thin section in a state attached to the adhesive plastic film, and thereafter enclose and preserve it in the form attached to the adhesive plastic film as a permanent specimen that can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、凍結包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で染色を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

The method for measuring a protease comprises the following processes: (1) a process where a protease-containing sample is allowed to come into contact with a thin film (photographic films are excluded) containing a protease substrate and a hardening agent, and formed on the surface of a support; and (2) a process where the digestion marks formed on the thin film by the action of a protease are detected.例文帳に追加

プロテアーゼの測定方法であって、（１）プロテアーゼ基質と硬膜剤とを含み支持体表面に形成された薄膜（ただし写真用フイルムを除く）に対してプロテアーゼを含む試料を接触させる工程；及び（２）プロテアーゼの作用により該薄膜に形成された消化痕を検出する工程を含む方法。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

In this method for detecting a substance to be detected in a sample by a sensor including a substrate 1, and a channel having a source electrode 3 and a drain electrode 4 provided oppositely at a prescribed interval on an insulating thin film 2 formed on the upper surface of the substrate 1, the channel is constituted of ultrafine fibers, and after dropping sample solution onto the channel, a solvent in the sample solution is vaporized.例文帳に追加

基板１と、その基板１の上面に形成した絶縁薄膜２上に、所定の間隔をおいて対向して設けたソース電極３およびドレイン電極４を有するチャネルとを少なくとも備えたセンサーで試料中の被検出物質を検出する方法において、前記チャネルが超微細繊維で構成され、そのチャネル上に前記試料溶液を滴下した後、その試料溶液の溶媒を蒸発させることを特徴とする。 - 特許庁

In the formation of the transmission electron microscope observation sample for a magnetic material by means of a convergent ion beam machining method, machining is carried out so that a width w1 of the thin piece machined part for observation and a sample thickness t in the part adjacent to the machined part satisfy the relation t<3×w1.例文帳に追加

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料を集束イオンビーム加工法で作製するにあたり、観察をおこなう薄片加工部の幅ｗ_1 とそれに隣接した部分の試料厚みｔとの間に、ｔ＜３×ｗ_1 なる関係が成り立つように加工することを特徴とする磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法。 - 特許庁

Also, the biopsy tissue sample is integrated with a mat for fixation and transfer or a main thin cutting determination reference mat frame composed of the sponge-like polymer gel mat-like sheet provided with an entry column where a worker on a clinical side can enter a patient name, and the fixation and transfer are performed.例文帳に追加

また、臨床側の作業従事者が患者名を記載できる記載欄を備えた該スポンジ状ポリマーゲルマット状シートから成る固定移送用マット或いは本薄切決定基準マット枠と一体化して固定移送する。 - 特許庁

The magnetic property measuring method is characterized by that the thin film sample is used formed with various samples with different preparing conditions on the same substrate, magneto-optical characteristics are measured by irradiating respective samples with a laser, and magnetic characteristics are relatively compared.例文帳に追加

同一基板上に作成条件が異なる多種試料が形成されてなる薄膜試料を用い、各々の試料にレーザを照射して磁気光学特性を測定し、相対的に磁気特性を比較することを特長とする。 - 特許庁

To provide a machining method that uses a glass probe for secure retention after thin-piece finish machining, and at the same time carries out transport and placement onto mesh for stably creating a sample for TEM observation.例文帳に追加

本発明の課題は、薄片化仕上げ加工の後ガラスプローブを用いて確実に保持すると共にメッシュ上に移送載置してＴＥＭ観察用の試料を安定して作成することができる加工法を提供することである。 - 特許庁

To effectively remove a BN thin piece attaching to a rear face of a semiconductor substrate when the semiconductor substrate is subjected to process treatment while holding the semiconductor substrate in a sample base whose outermost surface layer is pyrolytic boron nitride (PBN).例文帳に追加

熱分解窒化ホウ素（ＰＢＮ）を最表面層とする試料台に半導体基板を保持して該半導体基板にプロセス処理を行ったときに、該半導体基板の裏面に付着したＢＮ薄片を効果的に除去する。 - 特許庁

In the cell for optical measurements, a liquid sample under high-pressure and high-temperature condition is irradiated with an exciting light passing through a window member, and the scattered / transmitted light is received through the window member, and a single-crystal diamond thin plate is employed as the window member.例文帳に追加

高温高圧下の液体試料に窓材を通して励起光を照射し、その散乱／透過光を窓材を通して受光する光学測定用セルにおいて、単結晶ダイヤモンド薄板を窓材として用いたものである。 - 特許庁

To accurately calibrate a measuring error caused by a drift component included in a measured result, in a measuring instrument provided with a flow passage for supplying a sample on a thin film layer, and a measuring method using the measuring instrument.例文帳に追加

薄膜層上に試料を供給するための流路を備えた測定装置およびこの測定装置を用いた測定方法において、測定結果中に含まれるドリフト成分による測定誤差をより正確に校正する。 - 特許庁

Furthermore, the device 18 acquires a reference data that shows a relationship between film thickness and substrate current in a reference sample, takes the reference data into consideration, and calculates the film thickness of the thin film on the basis of the corrected board current value.例文帳に追加

膜厚測定装置１８は、標準試料における膜厚と基板電流との関係を示す参照データを取得し、参照データを考慮して、補正された基板電流値から測定対象の薄膜の膜厚を算出する。 - 特許庁

This photothermal conversion measuring instrument includes a substrate 20, a metal thin film 30 and capturing film 32 formed on its surface, an exciting system, and a measuring system, so as to measure a heating amount by the photothermal effect of a measuring object material contained in a sample.例文帳に追加

試料中に含まれる測定対象物質の光熱効果による発熱量を測定するため、基材２０と、その表面に形成される金属薄膜３０及び捕捉膜３２と、励起系及び測定系とを備える。 - 特許庁