「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a thin-sample manufacturing apparatus in which the sharpness of a cutter can be maintained for a long period in a good state, which is operated easily and which is suitable for automation.例文帳に追加

カッタの切れ味を良好な状態で長期間維持することが可能で、操作が容易で、且つ自動化に適した薄片試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical shape-measuring apparatus which can accurately measure shape, e.g. flatness and thickness, of a thin planar sample, especially a wafer.例文帳に追加

厚さの薄い平板状の被検体、特にウェーハを対象として高精度に平坦度、厚さなどの形状を測定し得る光学式形状測定装置を提供する。 - 特許庁

Spotting the sample solution on the thin-layer plate where La-ALC complex is dipped causes the color of a red-ultraviolet plate to change from blue to white depending on the concentration of the fluoride ions.例文帳に追加

Ｌａ−ＡＬＣ錯体を含浸させた薄層プレートに試料溶液をスポットすると、赤紫色のプレートがフッ化物イオンの濃度に依存して、青〜白へ変色する。 - 特許庁

A plurality of measuring units 10 each of which is provided with a dielectric block, a thin film layer formed on this dielectric block, and a sample holding mechanism are supported by a supporting body 2.例文帳に追加

誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された薄膜層、および試料保持機構を備えてなる複数の測定ユニット10を支持体２に支持させる。 - 特許庁

By using a cutting edge, having a cutting edge face provided with metal film, the sample is cut thin and obliquely, the cut specimen attached to the face of the cutting edge is mass analyzed.例文帳に追加

金属薄膜が設けられた切刃面を有する切刃を用いて、試料を薄く斜めに切断し、切刃面に付着した試料切片を質量分析する。 - 特許庁

A thin-film part 16 for allowing electrons from a transmission- type electron microscope to be transmitted is formed at a part where a semiconductor is observed, and a specific etching treatment is made to the thin-film part 16, thus preparing a semiconductor sample 13 for the transmission-type electron microscope.例文帳に追加

半導体１０の観察を受ける部分に透過型電子顕微鏡からの電子の透過を許す薄膜部１６を形成し、該薄膜部に所定のエッチング処理を施して透過型電子顕微鏡用半導体試料１３を作成する方法。 - 特許庁

To provide a method and device for evaluating the crystallizability of a semiconductor thin film which can carry out sensitive evaluation of the crystallizability of the semiconductor thin film formed on a base material while facilitating the arrangement of the base material on a sample stand.例文帳に追加

試料台への基材の配置が容易でありながら基材上に成膜された半導体薄膜の結晶性を高感度で評価可能な半導体薄膜の結晶性評価方法及び結晶性評価装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A laser beam can be irradiated to a very small part and adapt even in the case that the thickness of the sample is thin to highly accurately inspect, for example, even a plating, a thin film such as a solder junction part on a substrate, and a very small and specific region.例文帳に追加

さらに、レーザ光は微少部分に照射可能であると共に、試料の厚みが薄い場合にも対応可能であり、例えば、めっき、基板上はんだ接合部など薄膜、微少な特定領域であっても高精度に検査可能である。 - 特許庁

A horizontal force acting on a cutting blade 100 is measured, while obliquely pressing the cutting blade 100 into a sample 200 having the thin film formed therein, in a direction of the film thickness of the thin film, and a graph is obtained which is plotted with measured data respect to movement amounts of the cutting blade 100.例文帳に追加

薄膜を形成した試料２００に切刃１００を薄膜の膜厚方向に斜めに押し込みながら、切刃１００が受ける水平力を測定し、その測定データを切刃１００の移動量に対してプロットしたグラフを得る。 - 特許庁

To sample an outermost-layer from the plane direction extending over a wide range, having no dirt, no damage and excellent reproducibility, at the time of forming a thin film sample for a transmission electron microscope, thereby evaluates structure and deposit of the outermost layer.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用薄膜試料の作成にあたり、汚れや破損のない、広範囲にわたる、再現性の良い、平面方向からの最表層サンプリングを可能にすることであり、また、これによって最表層の組織、析出物評価を可能にすることである。 - 特許庁

To instantaneously measure a characteristic of a microscopic sample without disengaging individual samples in a thin film sample simultaneously formed with a plurality of microscopic shape samples with different manufacturing factors such as temperature, composition, film composition, and film thickness on the same substrate.例文帳に追加

同一基板上に温度、組成、膜構成、膜厚などの製造因子が異なる微小形状試料が同時に多数形成されてなる薄膜試料において、個々の試料を切り離すことなく瞬時に微小試料の特性測定を行うことを目的とする。 - 特許庁

Influence on atoms forming a sample 1 due to radiation of ion 5 is evaluated by applying the ion 5 to the sample 1 that is formed by laminating periodically and alternately a plurality of thin film layers in which at least a kind of layer is formed of an isotope layer 3.例文帳に追加

少なくとも一種類の層が同位体層３からなる複数の薄膜層を交互に周期的に積層した試料１に対してイオン５を照射して、照射したイオン５による前記試料１を構成する原子に対する影響を評価する。 - 特許庁

At the same time, a second guide roller 12 is moved along the scooping surface 3a of the cutter blade 3 in connection with the movement of the sample block 1 and held to a state present on the side of a third guide roller 13 from the end part of the thin sample adsorbed on the carrier tape 5.例文帳に追加

これと同時に、第二ガイドローラ１２を、試料ブロック１の動きに連動させてカッタブレード３のすくい面３ａに沿って移動し、第二ガイドローラ１２が、キャリアテープ５に吸着された薄片試料の端部よりも第三ガイドローラ１３側にある状態を保つ。 - 特許庁

The mount 1 is formed freely bendable between the back section 11 and the mount section 12 in such a manner that the recessed part 31 of the sample display frame section 3 formed in the one mount section 12 is closed by the thin sample display plate 4 attached to the other mount section 12b.例文帳に追加

一方の台紙部１２に形成したサンプル表示枠部３の凹部３１が他方の台紙部１２ｂに取着した薄サンプル表示板４で閉塞されるように台紙１を背部１１と台紙部１２との間で折曲自在となるように形成した。 - 特許庁

Although sound wave physical properties, such as sound velocity and sound wave absorption, so far determined from the travel time and attenuation of sound waves transmitted through a sample in a conventional method, measurement is extremely difficult even if an extremely thin sample (several micron meters) is used since the attenuation of sound waves while being propagated in the sample is large in a substance having a large sound wave absorption in this method.例文帳に追加

従来の方法は試料中を透過した音波のトラベルタイムと減衰から音速や音波吸収などの音波物性決めていたが、この方法では音波吸収の大きな物質では試料伝播中における音波減衰が大きいため極めて薄い試料（数ミクロンメートル）を用いても測定は非常に困難であった。 - 特許庁

Sample components in a mobile phase separated by the liquid chromatography is passed through a flow through cell 14 having an infrared transmission substrate having a thin film of noble metal by one sample component, and infrared rays are radiated to one sample component passing through the flow through cell 14, thereby detecting the infrared spectrum.例文帳に追加

液体クロマトグラフィーにより分離された移動相中の試料成分を、１試料成分ごと、貴金属の薄膜を設けた赤外透過基板を有するフロースルーセル（１４）に通過させ、前記フロースルーセル（１４）を通過中の１試料成分に赤外線を照射して赤外線スペクトルを検出することを特徴とする分光分析方法。 - 特許庁

When a laser beam pulse 24 from a pulse laser oscillator 22 is adjusted in its shape and intensity by a beam formation optical circuit system 26 and then radiated on a silicon thin film as a sample 42, a microwave 31 within a microwave waveguide 30 is applied onto a surface of the sample 42 from an antenna 36 so that an electrical field axis becomes vertical to the surface of the sample 42.例文帳に追加

パルスレーザ発振器２２からのレーザ光パルス２４をビーム成形光学回路系２６で形状と強度を調節してシリコン薄膜の試料４２に照射する際に、マイクロ波導波管３０内のマイクロ波３１をアンテナ３６を用いて電場軸が試料４２の表面に対して垂直となるよう試料４２に作用させる。 - 特許庁

A silver thin film (thickness 50 nm) 2 and an SiO_2 film (thickness 10 nm) 7 are deposited in order on one side surface of a slide glass 1 by ion beam sputtering deposition, so that a supporting substrate for sample solution is formed.例文帳に追加

スライドガラス１の片面に、イオンビームスパッタ堆積法により銀薄膜（厚さ５０ｎｍ）２とＳｉＯ_２膜（厚さ１０ｎｍ）７を順に堆積したものを試料溶液の支持基板とする。 - 特許庁

This tissue sample formation method comprises a mixing process (step S101) for producing a mixture of powder and resin and a pressurizing process (step S102) for applying a pressure to the mixture to turn it into a thin piece.例文帳に追加

粉体と樹脂との混合体を得る混合工程（ステップＳ１０１）と、この混合体に圧力を付与して薄片化する加圧工程（ステップＳ１０２）とを備えるようにした。 - 特許庁

To provide a transmission type X-ray target by which a clear X-ray image with a contrast can be obtained, even if a sample is thin or minute, or absorbs little X-rays.例文帳に追加

薄い試料やＸ線吸収が少ない試料や微小試料について、コントラストのある鮮明なＸ線画像を得ることができる透過型Ｘ線ターゲットを提供する。 - 特許庁

To form uniform self organization film on a thin-film layer that is formed on the bottom surface of a container that retains the sample of a measurement chip used for a measuring apparatus that utilizes total reflection attenuation.例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップの試料を保する容器底面に形成された薄膜層上に均一な自己組織化膜を形成する。 - 特許庁

To improve aggregation position accuracy of a sample spot, and to improve measurement accuracy, by solving a problem wherein spectrum analysis is hindered by unevenness or dispersion of the thickness of a thin film having water repellency.例文帳に追加

撥水性を有する薄膜の厚みの不均一やバラツキなどによって、スペクトル解析に支障をきたす問題や試料スポットの凝集位置精度を改善し測定精度を改善する。 - 特許庁

The phase change film inside the thin-film sample 107 is phase-changed to the molten phase in an area which is larger in diameter than the light of a measuring beam 113, and is maintained in solid phase in the peripheral part thereof.例文帳に追加

薄膜試料１０７内の相変化膜は、測定用ビーム１１３の光の径よりも大きな領域が溶融相に相変化し、周辺部分は固定相に保たれる。 - 特許庁

For example, the sample target 10 is constituted of a substrate 20 comprising a silica monolithic plate having a double pore structure and the Pt thin film 30 which covers the surface to be irradiated with the laser beam of the substrate 20.例文帳に追加

例えば、試料ターゲット１０を二重細孔構造を有するシリカモノリスプレートから成る基体２０と該基体のレーザー被照射面を被覆するPt薄膜３０とで構成する。 - 特許庁

To optimize adjustment of a lens group for aberration correction and adjustment of thin laminar illumination light according to variation in optical path length (F×n) from a surface of a sample to a focal plane.例文帳に追加

標本の表面から焦点面までの光路長(Ｆ×ｎ)の変化に対応し、収差補正用のレンズ群の調整と薄層状の照明光の調整とを迅速に最適化する。 - 特許庁

To obtain an apparatus for measuring a thin hole structure of sufficient scale for calculating a statistic index which can be applied widely to a various kinds of porous body by simply conditioning a sample.例文帳に追加

簡単な試料の調整のみで多種の多孔質体全般に対して広く適用でき、統計指標を算出するに充分な規模の細孔構造を簡単に手早く測定できる。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection apparatus capable of obtaining a clear X-ray image with a contrast even if a sample is thin, absorbs a small quantity of X-ray, or is minute.例文帳に追加

厚さの薄い試料、Ｘ線吸収が少ない試料、微小試料について、コントラストのある鮮明なＸ線画像を得ることができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

Thin layer chromatography is executed to determine first and second observed values of the mobility Rf of the sample when an eluting solvent containing a plurality of components is used at first and second specific mixture ratios.例文帳に追加

複数の成分を第1、第２の特定混合比でそれぞれ含む溶離液を用いたときの試料の移動度Ｒfの第1、第２の実測値を薄層クロマトグラフを行って求める。 - 特許庁

To determine the dielectric constant, film thickness and the direction of the main dielectric constant coordinates of an anisotropic portion and the dielectric constant and film thickness of an isotropic portion for an anisotropic sample thin film at a high speed.例文帳に追加

異方性を有する試料薄膜について、異方性部分の誘電率、膜厚及び主誘電率座標の方向、等方性部分の誘電率及び膜厚を高速で決定する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring the thicknesses of a multilayer thin film, which can instantaneously measure each film thicknesses of the multilayer thin film of functional resin films or informational electronic materials with higher accuracy, and which can also be applied to a dynamic sample.例文帳に追加

機能性樹脂フィルムや情報電子材料の多層薄膜の各膜厚を一層高精度に且つ瞬時に測定でき、動態の試料に対しても適用することが出来る多層薄膜の膜厚測定方法および膜厚測定装置を提供する。 - 特許庁

In the method and the apparatus for ion milling, a thin film formed on a sample is irradiated by ions, and then the position of the thin film to be cut out by the collision of ions is confirmed, and then the position of the collision of ions is corrected.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明によれば、試料上に形成された薄膜にイオンを衝突させ、このイオンの衝突によって薄膜が削り取られる位置を確認して、イオンの衝突位置を補正するイオンミリング加工方法、及び装置を提案する。 - 特許庁

The internal structure of the chamber is composed so that the clearance between the thin film substrate and the internal surface of the chamber is the smallest, and thereby almost all of the space in the chamber is occupied with the thin film sample material and inert substrate material.例文帳に追加

チャンバの内部構造形状は、薄膜基板とチャンバの内部表面との間のクリアランスが最小になるように構成されており、それにより、チャンバ内空間の略全てが薄膜サンプル材料及び不活性基板材料によって占められている。 - 特許庁

To provide a method for evaluating easily and quickly a film thickness and a distribution thereof of a thin film existing on a material surface, in particular, the method for evaluating the film thickness in a micro-part of the thin film existing on the material surface, and the film thickness distribution in a sample face.例文帳に追加

簡便で迅速に、材料表面に存在する薄膜の膜厚及びその分布を評価する方法、特に材料表面に存在する薄膜の微小部の膜厚および、試料面内での膜厚の分布を評価する方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem, in a sample holder having a common structure, wherein a large thickness of a sample holder interferes with RHEED observation, which is effective to measure stress and distortion of a thin film and conduct structural analysis of the thin film at the same time, due to a large shadow in a RHEED image, however it is difficult to reduce the thickness thereof due to structural constraints.例文帳に追加

ＲＨＥＥＤ観察により、薄膜の応力・歪の測定、及び薄膜の構造解析を同時に行うことが有効であるが、従来のような構造の試料ホルダーでは、その厚みが大きいとＲＨＥＥＤ像に大きな影を生じさせ、観察の妨げとなるにもかかわらず、製造上の制約によりその厚みを小さくすることは難しい。 - 特許庁

To provide a method capable of easily fabricating a sample for a transmission electron microscope in a short time without requiring troublesome pretreatments nor causing sample damage, for an organic material with a thin film of a metal or compound formed on at least one end surface thereof.例文帳に追加

有機材料表面の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

In this method for pretreating a sample, by providing the droplet 3 of a dispersing liquid containing conductive particulates for any location on the sample 2 through the use of the droplet providing means 4 and then evaporating a solvent, a conductive thin membrane formed of particulates is formed in any shape.例文帳に追加

ならびに試料上の任意の箇所に液滴付与手段を用いて導電性微粒子を含む分散液の液滴を付与した後溶媒を蒸発させることにより、微粒子からなる導電性薄膜を任意の形状で形成する試料の前処理方法。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

The thin-film hardness measurement method comprises a step 2 for measuring a film thickness (d) in a film-formed sample 1, a step 3 for performing Raman spectral measurement to the sample 1, and an operation step 4 to be made by the film thickness (d) thus obtained, G peak intensity Ig, and exposure time (t) in the Raman spectral measurement.例文帳に追加

成膜したサンプル１の膜厚ｄを測定するステップ２と、同サンプル１につきラマン分光測定するステップ３と、これらで得た膜厚ｄとＧピーク強度Ｉｇおよびラマン分光測定の際の露光時間ｔを用いて行う演算ステップ４とを備える。 - 特許庁

A self-organizing thin film 2 having high hygrophobic properties is formed on a penetrator surface for an ultra-fine hardness tester comprising materials with a sample surface 1, or diamond, or diamond structure as a keynote, and surface energy on the sample surface or penetrator surface is reduced, thus performing ultra-fine hardness tests.例文帳に追加

試料表面１、又はダイヤモンド若しくはダイヤモンド構造を基調とした材料から成る超微小硬さ試験機用の圧子表面に、疎水性の高い自己組織化薄膜２を形成し、試料表面若しく圧子表面の表面エネルギを低下させて超微小硬さ試験を行う。 - 特許庁

By arranging in free detachment a standard matter 16 with a known composition made in a thin-film shape on a light path of electron beams transmitting a sample 9, an EELS spectrum is obtained in the form of an EELS spectrum of the sample 9 and that of the standard matter 16 overlapped.例文帳に追加

試料９を透過した電子線１２の光路上に組成が既知である標準物質１６を薄膜状にしたものを着脱可能に配することにより、試料９のＥＥＬＳスペクトルと標準物質１６のスペクトルを重ね合わせた形でＥＥＬＳスペクトルを取得する。 - 特許庁

Further, light beams from a condenser lens system 11 is incident upon the back surface side of the element sample 3 (the side of the transparent substrate), in addition to the application of the electron beams, to obtain the applied voltage-current properties of the organic thin film to be measured when light is applied on the element sample 3.例文帳に追加

また、電子ビームの照射とともに、素子試料３の裏面側（透明基板側）に集光レンズ系１１からの光ビームを入射せしめることにより、素子試料３に光を照射したときの被測定有機薄膜の印加電圧−電流特性を得る。 - 特許庁

To perform high-speed measurement with an inexpensive and simple device constitution, concerning a measuring device for sample analysis such as a surface plasmon sensor for measuring an intensity change of reflected light from the interface between a thin film layer to be in contact with a sample and a dielectric member relative to various incident angles.例文帳に追加

種々の入射角度に対し、試料が接触させられる薄膜層と誘電体部材との界面からの反射光の強度変化測定する表面プラズモンセンサー等の試料分析用測定装置において、低コストの単純な装置構成による高速の測定を行う。 - 特許庁

Before forming the metal thin film on the surface of the electrical insulating sample, in the state where hydrocarbon gas is introduced into a chamber, a voltage is applied between both electrodes to generate glow discharge, and to thereby ionize a hydrocarbon component, and a hydrocarbon film is formed on the surface of the electrical insulating sample.例文帳に追加

電気的絶縁試料の表面に金属薄膜を成膜するに先立って、チャンバー内に炭化水素ガスを導入した状態で両電極間に電圧を印加してグロー放電を発生させて炭化水素成分をイオン化して電気的絶縁試料の表面に炭化水素膜を成膜する。 - 特許庁

To seal and preserve a thin slice formed from an embedding sample using an adhesive plastic film as a thin slice support material as a permanent specimen capable of being observed by an optical microscope in the state bonded to the adhesive plastic film after subjected to dyeing, dehydrating or permeating operation in the state that the thin slice is bonded to the adhesive plastic film.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、染色、脱水、透徹等の操作を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring soil property core specific resistance capable of accurately reading with a distribution of specific resistance a thin layer inside a core sample without any oversight and of performing accurate measurement of specific resistance without generating any turbulence in a current near the edge of the core sample even when measuring where a current electrode is arranged at the edge of the core sample.例文帳に追加

コア試料内部の薄層を比抵抗分布状況により見落としなく正確に地層分布を判読することができ、コア試料端に電流電極を設置して測定した場合でもコア試料端近傍で電流に乱れが生じることがなくて正確な比抵抗の測定ができる土質コア比抵抗測定方法及び測定装置を提供すること。 - 特許庁