「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.例文帳に追加

簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。 - 特許庁

A thin film component 5 separate from a target sample is transferred and fixed to a processing position in place of the focusing ion beam assist deposition (FIBAD) film formed on the surface of the sample heretofore at the time of machining of the sample to be used as a protective film.例文帳に追加

従来、試料加工の際に試料表面に作製していた集束イオンビームアシストデポジション（ＦＩＢＡＤ）膜の代わりに、対象試料とは別の薄膜部品５を加工位置に移設固定して保護膜とする。 - 特許庁

To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder.例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。 - 特許庁

The sample is wrapped with or impregnated in an excitation gas permeable thin film, or a sample-impregnatory fibrous material or porous body to be brought into contact with excitation gas, the sample is made to react with the excitation gas to be ionized.例文帳に追加

励起ガスが透過する薄膜、または試料を含浸させ得る繊維体や多孔質体に試料を包むか染み込ませるかして試料に励起ガスを当て、試料を励起ガスと反応させてイオン化させるようにした。 - 特許庁

With this invention, thin-film processing and cross section processing can be achieved without adjustment and operation of the sample stage.例文帳に追加

本発明により、試料ステージの調整や操作を伴わない薄膜加工や断面加工を実現できる。 - 特許庁

The sucked thin sample 3 is thereby prevented from being damaged by excessive suction force getting too strong.例文帳に追加

これにより、吸引力が強くなり過ぎて吸着した薄片試料３を破壊するような事態を予防する。 - 特許庁

By the comparison of the intensities of those reflected microwaves, the crystal anisotropy of the thin-film sample 6 can be evaluated.例文帳に追加

それらの反射マイクロ波の強度の比較により、薄膜試料６の結晶の異方性を評価できる。 - 特許庁

The gold nanorod immobilized in the single particle film state on a substrate b is used as a thin-film chip for a sample.例文帳に追加

基板上に単粒子膜状態で固定化された金ナノロッドを試料用薄膜チップとして用いる。 - 特許庁

To quickly and accurately obtain evaluation results of the crystallinity of a silicon semiconductor thin film without destroying a sample.例文帳に追加

試料を破壊することなく、迅速かつ正確にシリコン半導体薄膜の結晶性の評価結果を得ること。 - 特許庁

Each of the plasma PBa and PBb conducts chemical vapor deposition on a sample S and forms a multi-element thin film.例文帳に追加

各プラズマＰＢａ，ＰＢｂは、試料Ｓ上で化学的気相成長を行って、多元素薄膜を成膜する。 - 特許庁

a thin tissue or blood sample spread on a glass slide and stained for cytologic examination and diagnosis under a microscope 例文帳に追加

顕微鏡で細胞学的検査と診断をするためにスライドに延ばされ、塗られた薄い組織または血液サンプル - 日本語WordNet

The focused ion beams are emitted to make the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.例文帳に追加

集束イオンビームを照射して透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料を作製する。 - 特許庁

When the surface layer part of the sample block 1 is thinly cut, the sample block 1 is sent out toward the cutter blade 3 and the carrier tape 5 is allowed to run in connection with the movement of the sample block 1 to suck and hold the cut thin sample 1 on its undersurface.例文帳に追加

試料ブロック１の表層部分を薄切りする際、試料ブロック１をカッタブレード３に向けて送り出すとともに、キャリアテープ５を試料ブロック１の動きに連動させて走行させ、切り取られた薄片試料をその下面に吸着して保持する。 - 特許庁

To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed.例文帳に追加

試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。 - 特許庁

To separate a specified portion from a semiconductor substrate by an FIB, and to form a sample fixed onto a mesh for a transmission electron microscope further into a thin piece of the sample, by the FIB.例文帳に追加

半導体基板からＦＩＢにより特定箇所を分離し、透過型電子顕微鏡用メッシュに固定した試料をさらにＦＩＢにより試料薄片化できる。 - 特許庁

A liquid coupler large in damping, a liquid sample or the bio-sample is formed into a thin film to enable the measurement of the ultrasonic wave velocity and the damping coefficient up to the UHF band.例文帳に追加

減衰の大きい液体カプラ、液体試料或いは生体試料を薄層化することにより、UHF帯までの超音波速度及び減衰係数を計測可能とする。 - 特許庁

The overlay 20 is a thin glass or polymer sheet having a sample well 22, a reaction chamber 24, and a conduit 26 communicating the reaction chamber 24 with the sample well 22.例文帳に追加

オーバーレイ（２０）は、ガラス又はポリマーの薄いシートであって、サンプルウェル（２２）、反応チャンバ（２４）、及び反応チャンバ（２４）とサンプルウェル（２２）とを連絡する通路（２６）を有する。 - 特許庁

In a moment when the cover glass is brought into contact with the liquid drops of the sample, the sample diffuses outwardly and adhesive force holds the deflective cover glass to form a very thin liquid layer.例文帳に追加

カバーガラスが試料液滴と接触した瞬間に、試料は外側に拡散し、付着力がたわみ性カバーガラスを保持し、非常に薄い液体の層が形成される。 - 特許庁

To confirm normal supply of a sample to a measuring instrument, in a measuring instrument provided with a flow passage mechanism for supplying the sample on a thin-film layer.例文帳に追加

薄膜層上に試料を供給するための流路機構を備えた測定装置において、測定装置に試料が正常に供給されたことを確認できるようにする。 - 特許庁

The spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction makes a first sample rub with a second thin-film-like sample, and radiates light to the interface between the first sample and second sample from the rear surface of the second sample, thereby performing the spectrochemical analysis.例文帳に追加

また、摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する本発明の分光分析装置は、第１の試料と薄膜状の第２の試料とを摩擦しつつ、第２の試料の背面から、第１の試料と第２の試料との界面に対して光を照射して分光分析を行う。 - 特許庁

To provide a method of measuring a crystallite diameter of a thin film material for easily measuring the crystallite diameter of the thin film material by X-ray diffraction measurement with high precision, a measuring objective sample for performing the X-ray diffraction measurement of the thin film, and a method of manufacturing the measuring objective sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定により薄膜材料の結晶子径を簡易且つ高精度に測定する薄膜材料の結晶子径測定方法、薄膜に対するＸ線回折測定を行うための測定対象試料、及びこの測定対象試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thin film evaluation method capable of evaluating the thickness and/or the optical constant of a thin film in a sample with a smaller dispersion than hitherto, even when using a sample wherein the thin film is formed on a transparent polymer film having a layer functioning as an optical film.例文帳に追加

光学膜として作用する層を有する透明高分子フィルム上に薄膜が成膜された試料を用いた場合であっても、試料中の薄膜の膜厚および／または光学定数を従来よりも少ないばらつきで評価することが可能な薄膜評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a glow discharge emission spectrophotometer and a method capable of accurate analysis, even when the thickness of a thin film is extremely thin relative to the sample having the thin film on a substrate, where the surface of the substrate or the thin film has a mirror-surface shape.例文帳に追加

基板の上に薄膜を有し、かつ基板や薄膜の表面が鏡面状の試料について、薄膜の厚さが極めて薄い場合であっても、正確に分析ができるグロー放電発光分光分析装置および方法を提供する。 - 特許庁

The incidence orientation dependency of the polarization state of the reflection light of infrared rays that are emitted from a light source (FT-IR device 4) and are applied to a sample thin film (sample 9) is measured to determine the molecular orientation state of a thin film.例文帳に追加

光源（ＦＴ−ＩＲ装置４）から出射し、試料薄膜（試料９）に入射した赤外線の反射光の偏光状態の入射方位依存性を測定することにより、薄膜の分子配向状態を決定する。 - 特許庁

A sample for analyzing such a thin film is destroyed and analyzed in order from an upper layer to a lower layer to obtain a relation between the growing conditions and the quality of the plurality of the thin films.例文帳に追加

そして、このような薄膜分析用サンプルを上層から下層へ順番に破壊分析して、成長条件と複数の薄膜の膜質との関係を得る。 - 特許庁

To prepare a large and thin biological tissue thin slice, free from wrinkling, shrinking, damaging or the like, and held in a shape, on a slide glass, from a biological sample embedded with paraffin or the like.例文帳に追加

パラフィン等で包埋した生物試料から、皺、収縮、損壊等がなく、形状の保たれた大きくて薄い生物組織薄切片をスライドグラス上に作製する。 - 特許庁

A photodetector 7 detects an intensity of a reflection light from the thin film through an objective lens 2 when the thin film as a sample 1 is irradiated with a spot light.例文帳に追加

光検出器７は、試料１である薄膜にスポット光を照射したときにおける該薄膜からの反射光の輝度を、対物レンズ２を介して検出する。 - 特許庁

The measuring objective sample is constituted by stacking ten test samples in each of which a thin film is formed on a film, and putting a standard powder sample between a test sample 1J which is closest to a side where an X-ray enters and a test sample 1I which is second closest to the side.例文帳に追加

フィルム上に薄膜が形成されている被検試料を１０枚積層させ、Ｘ線が入射する側から数えて第１番目の被検試料１Ｊと第２番目の被検試料１Ｉとの間に標準粉末試料を仕込み、これを測定対象試料とする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring the distortions of the thin-film semiconductor crystal layer in a sample having a distorted thin-film semiconductor crystal layer and a supporting layer supporting the thin-film semiconductor crystal layer.例文帳に追加

歪みを有する薄膜半導体結晶層と前記薄膜半導体結晶層を支持する支持層を有する試料において前記薄膜半導体結晶層の歪みを測定する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a thin slice manufacturing apparatus capable of manufacturing a thin slice by automatically exposing a living body sample suitable for observation from an embedding block in which a biosample is embedded, and a thin slice manufacturing method.例文帳に追加

生体試料が包埋された包埋ブロックから観察に好適な生体試料を自動的に露出させて、薄切片を作製することが可能な薄切片作製装置及び薄切片の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for measuring distortion of a thin-film semiconductor crystal layer in a sample having the thin-film semiconductor crystal layer with distortion and a support layer that supports the thin-film semiconductor crystal layer.例文帳に追加

歪みを有する薄膜半導体結晶層と前記薄膜半導体結晶層を支持する支持層を有する試料において前記薄膜半導体結晶層の歪みを測定する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a thin sample for testing the internal structure of a manufactured device for image formation.例文帳に追加

製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a processing device of a processing sample for allowing high speed and accurate etching, and to provide a production method of thin-film samples.例文帳に追加

高速かつ高精度なエッチングが可能な加工試料の加工装置および薄膜試料の生産方法の提供。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING THERMAL CONDUCTIVITY OF THIN FILM ON SUBSTRATE BY OPTICAL HEATING ANGSTROM METHOD, AND SAMPLE USED FOR MEASUREMENT THEREIN例文帳に追加

光加熱オングストローム法による基板上の薄膜の熱伝導率測定方法及びこの測定に使用する試料 - 特許庁

To provide an ion beam machining device executable by correctly determing the termination of thin film machining of a sample.例文帳に追加

試料の薄膜加工終了を正しく判定して実行することができるイオンビーム加工装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a film thickness monitor and a method for measuring thickness of film which can accurately measure the thickness of thin film sample.例文帳に追加

薄膜試料の膜厚測定を精度良く行うことができる膜厚モニタおよび膜厚測定方法を提供する。 - 特許庁

The biopsy tissue sample is collected, fixed and transferred by a backing mount made of a mat-like sheet for fixation and transfer comprising a sponge-like polymer mat-like sheet which is embedded in a block sample together with the biopsy tissue sample and can be thinly cut by a microtome for thin cutting.例文帳に追加

生検試料と一緒にブロック試料に包埋されて薄切用ミクロトームで薄切できる、スポンジ状ポリマーゲルマット状シートから成る固定移送用マット状シート製裏打ち用台紙で生検試料を採取・固定移送する。 - 特許庁

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.例文帳に追加

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁

To provide a method for evaluating crystallinity of a semiconductor thin film, capable of evaluating the crystallinity of the semiconductor thin film, without destroying a sample and evaluating, quickly online, the thin film formed on a manufacture line for forming the thin film.例文帳に追加

半導体薄膜の結晶性を試料を破壊することなく評価することができ、また、前記薄膜を形成させるための製造ラインで、形成された薄膜をオンラインで迅速に評価できるような半導体薄膜の結晶性の評価方法を提供する。 - 特許庁

Again, the sample stand 3 and the thin film specimen are introduced into the measuring chamber of AES held to a superhigh vacuum state and, while the sample stand 3 is rotated, ion sputtering of about 100 Å is performed.例文帳に追加

再び、超高真空に保たれたＡＥＳの測定室に試料台３、及び薄膜試料を導入し、試料台３を回転させながら１００Å程度イオンスパッタを行う。 - 特許庁

To provide a sample observation device for preventing e flying out of sample solution into a vacuum chamber, when a thin film breaks.例文帳に追加

本発明は試料観察装置に関し、薄膜が破損した時に真空室内に試料溶液が飛翔することを防止することができる試料観察装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a preparing method of a TEM sample capable of acquiring a clear TEM image showing the intrinsic structure of the sample even if the thickness of a membrane part used for TEM observation is extremely thin.例文帳に追加

ＴＥＭ観察に用いる薄膜部の厚さが極めて薄くても試料本来の構造を示す明確なＴＥＭ像が得られるＴＥＭ試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

Before machine blade machining is to be executed, a focusing ion beam is used for performing grooving 2 around a sample observation place 1, the observation place is separated from a sample configuration film in a floating island shape, and a thin film for burying is deposited at a grooving part using an ion beam.例文帳に追加

機械刃加工を実行する前に、観察箇所の周囲にFIBを用いて溝加工 を行い、当該観察個所を試料構成膜から切り離し浮島状にする。 - 特許庁

To provide a thin sample preparing method which prevents an FIB (focused ion beam) processing from forming any hole and allowing any redeposition to originate in holes when forming a protection film in preparing a thin sample, in order to obtain a good image by using an electron microscope.例文帳に追加

ＦＩＢ加工で薄片試料を作製する際に保護膜形成時に穴が形成されず穴からリデポすることを防ぎ、電子顕微鏡にて良好な像を取得することのできる薄片試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for forming a thin liquid sample, especially a thin sample of blood, for microscopic analysis which does not require any auxiliary device, and in case of blood, provides a monolayer of red blood cells and prevents any change in cell shape.例文帳に追加

補助装置を必要とせず、血液の例では赤血球の単層を提供し、かつ細胞の形態の変化を防止する、顕微鏡分析用の薄い液体試料、とりわけ薄い血液試料を生成する方法を提供することである。 - 特許庁