「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法 - 特許庁

To provide a microscope apparatus in which various samples from a thin sample up to a thick sample can be observed by simple operation.例文帳に追加

薄い試料から厚い試料まで様々な試料を、簡単な操作で観察することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A thin plate of a minute thin film different from a target sample is transferred and fixed to a processing position in place of the focusing ion beam assist deposition (FIBAD) film fabricated on the surface of the sample during sample processing to be used as a protective film.例文帳に追加

試料加工の際に試料表面に作製していた集束イオンビームアシストデポジション（FIBAD）膜の代わりに、対象試料とは別の微小な薄膜の薄板を加工位置に移設固定して保護膜とする。 - 特許庁

To accurately measure an internal stress near the surface of a sample or a thin film state sample by excluding an effect of a refraction of an X-ray on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面におけるＸ線の屈折の効果を排除し、試料の表面近傍もしくは薄膜形態試料における内部応力を正確に測定する。 - 特許庁

To adjust the attitude of a sample block with high precision relative to the traveling level of a cutter when a sample block is sliced with a microtome for preparation of a thin sample.例文帳に追加

ミクロトームを用いて試料ブロックをスライスして薄片状の試料を作成する際、カッタ走行面に対する試料ブロックの姿勢を高い精度で調整する。 - 特許庁

The thin sample piece 30 cut out from a solid sample by cut- working the solid sample using a converged ion beam working method is fixed onto a microgrid 50.例文帳に追加

集束イオンビーム加工法を用いて固体試料を切削加工することで固体試料から切り出した薄片試料（３０）をマイクログリッド（５０）上に固着する。 - 特許庁

A thin film sample 1 is fixed to a sample stand 2 to be introduced into an ultrahigh vacuum apparatus and ion sputtering of about 100 Åis performed while the sample stand 2 is rotated.例文帳に追加

薄膜試料１を試料台２に固定し、超高真空装置内に導入し、試料台２を回転させながら、１００Å程度イオンスパッタを行う。 - 特許庁

To provide a sample evaluating method and a sample evaluating apparatus capable of more correctly evaluating quality without destroying a sample, such as a thin film used as a measurement object.例文帳に追加

測定対象となる薄膜等の試料を破壊すること無く、品質をより正確に評価することが可能な試料の評価方法及び評価装置を提供する。 - 特許庁

The sample stage 15 is driven in the vertical direction (the Z-axis direction) with reference to the surface of the sample block 11 in order to set the thickness of a thin sample which is cut off.例文帳に追加

試料ステージ１５は、切り取られる薄片試料の厚さを設定するため、試料ブロック１１の表面に対して垂直方向（Ｚ軸方向）に駆動される。 - 特許庁

To enhance uniformity in the thickness of a produced sample in a thin sample producing device by slicing a sample block with a cutter blade.例文帳に追加

カッタブレードを用いて標本ブロックをスライスして薄片状の試料を作製する薄片試料作製装置において、作製される薄片試料の厚さの均一性を高める。 - 特許庁

To provide a measurement method for a thin-film shaped sample capable of stably and accurately measuring Seebeck characteristics of the thin-film shaped sample by giving sufficient temperature gradient when the thin-film shaped sample is small and the distance between terminals for voltage measurement is short.例文帳に追加

薄膜状試料が小さく、電圧測定を行う端子の距離が小さい場合に、十分な温度勾配を付与して、薄膜状試料のゼーベック特性を安定かつ正確に測定することのできる薄膜状試料の測定方法を提供する。 - 特許庁

THIN-FILM SAMPLE CUTTER FOR ANALYSIS AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZING METHOD USING IT例文帳に追加

分析用の薄膜試料切断器およびそれを用いた蛍光Ｘ線分析方法 - 特許庁

To measure and evaluate an optical anisotropy of a thin film sample at a high speed and moreover with accuracy.例文帳に追加

薄膜試料の光学的異方性を高速にしかも正確に測定評価する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a thin slice of a sample by using a microtome while guaranteeing high quality of the manufactured thin slice.例文帳に追加

作製された薄切片の高品質を保障しつつ、ミクロトームを用いてサンプルの薄切片を作製する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a sample for a transmission electron microscope which easily fabricates the thin film sample with a desired cross section.例文帳に追加

所望の断面を持つ薄膜試料を容易に作製することができる透過電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device.例文帳に追加

オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。 - 特許庁

To provide a thin slice forming method reducing the damage of a thin slice when the thin slice is cut off from a sample block and bonded to a carrier tape to be recovered.例文帳に追加

試料ブロックから薄切片を切り取り、キャリアテープに貼り付けて回収する際、薄切片を破損するおそれが少ない薄切片作成方法を提供する。 - 特許庁

To display the thickness of a thin film formed on a sample as a map image in a face analysis.例文帳に追加

面分析において、試料上に形成された薄膜の膜厚をマップ画像表示する。 - 特許庁

By this method, near-field infrared spectrometry is performed with respect to the thin film sample.例文帳に追加

このようにして薄膜化された試料に対し、近接場赤外顕微分光測定を行う。 - 特許庁

To prepare a thin sample for testing internal structure of a manufactured device to form an image.例文帳に追加

製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する。 - 特許庁

The sample is the thin film formed on the sample and the scattered X rays attenuated by the attenuation mechanism 7 are mirror surface reflected X rays.例文帳に追加

前記試料は、基板上に形成された薄膜であり、前記減衰機構７で減衰させる散乱Ｘ線は、鏡面反射Ｘ線である。 - 特許庁

After an analytical sample is fixed to a support substrate, a uniform thin film having a thickness equal to an intended analysis depth is formed on the analytical sample and the support substrate surface, and the analytical sample is thinned up to a thickness where the thin film on the support substrate is ground.例文帳に追加

分析試料を支持基板に固定した後、分析試料と支持基板表面に目的の分析深さと同等の厚さの均一な薄膜を形成し、支持基板上の薄膜が研磨される厚さまで分析試料を薄片化する。 - 特許庁

This constitution allows the specific sample stage for the electron beam device comprising the specific sample holder 13 and the sample cover 15 to function and form a gas layer flow covering an extremely thin layer alone on the sample surface.例文帳に追加

本発明では、特殊な試料ホルダー１３および試料カバー１５から構成された電子ビーム装置用の特殊な試料ステージを機能させることにより、試料表面上の非常に薄い層のみを覆うガス層流を形成する。 - 特許庁

A thin-film sample 2 thinned down to allow for observation by a transmission type electron microscope is made from a model alloy 1 to be observed, and a mark 3 is manufactured on the thin-film sample 2.例文帳に追加

観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。 - 特許庁

The measuring portion 30 has a thin film formation sample base 31 to which a thin film material flowing therein from the furnace 20 adheres.例文帳に追加

測定部３０には、薄膜形成炉２０から流入してくる薄膜物質を付着させる薄膜形成サンプル基板３１が備えられている。 - 特許庁

As a result, since the special manufacture of the inspecting sample for the first and second thin films 13, 15 is dispensed with and the same sample as a product can be inspected directly, adhesiveness of the first thin film 13 to the second thin film 15 can be known accurately.例文帳に追加

これにより、第１、第２薄膜１３、１５の検査用サンプルを別に製作する必要がなく、製品と同じものを直接検査することができるので、第１薄膜１３と第２薄膜１５との密着性を正確に知ることができる。 - 特許庁

To provide strain measuring device for measuring strain of a thin-film crystal layer in sample which contains the above strained thin-film crystal layer and supporting layer supporting the above thin-film crystal layer.例文帳に追加

歪みを有する薄膜結晶層と前記薄膜結晶層を支持する支持層を有する試料において前記薄膜結晶層の歪みを測定する歪み測定装置を提供する。 - 特許庁

A nonmetallic thin film 1 whose thermophysical value is unknown is sandwiched between a first metallic thin film 2 and a second metallic thin film 3 situated on its opposite side, and a sample of a three-layer structure is obtained.例文帳に追加

熱物性値が未知の非金属薄膜１を、第１金属薄膜２とその反対側に位置する第２金属薄膜３とにより挟んで３層構造の試料を得る。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for preparing a thin piece sample which accurately position a desired observation region in a sample substrate, without finely separating the sample substrate, and easily prepare a planar sample with regard to a region, at an arbitrary depth from the surface of the sample substrate.例文帳に追加

試料基板内の所望観察領域を試料基板を細かく分離せずに正確に位置出しして試料基板表面から任意の深さの領域についての平面試料を容易に作製することのできる薄片状試料の作製方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

A conductive thin film is formed on the sample surface by allowing adhesion of atoms of a sputtered target 2 onto a sample 10 placed on a stage 11.例文帳に追加

スパッタされたターゲット２の原子がステージ１１上に載置された試料１０に付着することにより試料表面上に導電性薄膜が形成される。 - 特許庁

To radiate an ion beam onto the surface of a thin-film sample to level the surface of the sample while ionizing a working gas in a clustered state as well as accelerating it.例文帳に追加

クラスタ状態の作動ガスをイオン化すると共に加速させて薄膜試料の表面にイオンビームを照射して、試料の表面を平坦化する。 - 特許庁

An opposite face to the sample 1 with which ions or the like scattered from the sample easily collide on the surface of a holder plate is coated with an insulating thin film 13.例文帳に追加

ホルダー板１２の表面のうち、試料１から散乱したイオン等が衝突し易い、試料１との対向面を絶縁性薄膜１３で被覆する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device and a sample manufacturing method capable of concurrently performing a thin film processing with high accuracy by irradiating ion beam on a sample and an STEM observation with high resolution by irradiating electron beam with high throughput almost without moving the sample.例文帳に追加

試料のイオンビーム照射による高精度の薄膜加工と電子ビーム照射による高分解能のＳＴＥＭ観察の両者を、ほぼ試料を動かすことなく、高スループットで実施する。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of carrying out a thin film processing and a STEM observation by using a pretilt holder without reloading the sample in a sample holder and a multi-beam system.例文帳に追加

本発明は試料ホルダ及びマルチビームシステムに関し、プリティルトホルダを用いて薄膜加工とＳＴＥＭ観察を試料の乗せ替え無しに行なうことができる試料ホルダを提供することを目的としている。 - 特許庁

The surface plasmon sensor apparatus includes a surface plasmon sensor 2, and a closed chamber 11 that surrounds a detector 3 formed of metal thin-films contacted with a sample of the surface plasmon sensor 2 and stores the sample so as to replace the sample.例文帳に追加

表面プラズモンセンサー２と、表面プラズモンセンサー２の試料と接触する金属薄膜からなる検出部３の周囲を囲み、試料を交換可能に収容する密閉室１１とを有する。 - 特許庁

METHOD OF FORMING SUBMICRON THROUGH-HOLE WIRTH VERTICAL EDGE, AND THIN-FILM SAMPLE WITH THROUGH-HOLE例文帳に追加

垂直エッジのサブミクロン貫通孔を形成する方法とそのような貫通孔が形成された薄膜試料 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁

a thin tube is inserted through the cervix into the uterus, and gentle scraping and suction are used to remove the sample. 例文帳に追加

細い管を子宮頸部から子宮へ挿入して軽くこすり、吸引して標本を採取する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the sample is removed with a thin needle that is inserted through the skin between the scrotum and rectum and into the prostate. 例文帳に追加

陰嚢と直腸の間の皮膚から前立腺に挿入した細い針を使って標本を切除する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。 - 特許庁

This sample collection tool has a sample collection member 1 comprising a sample collection part 11 having an opening 11a formed by bending in the long side direction of an elongate and thin-walled planar member, and an elongate gripping part 12 connected to the sample collection part 11.例文帳に追加

細長且つ薄肉の板状部材の長辺方向が曲げられて形成された開口１１ａを有する試料採取部１１と、試料採取部１１に接続する細長状の把持部１２とからなる試料採取部材１を有する。 - 特許庁

This film thickness measuring instrument is constituted to measure the film thickness of a conductive thin film in the inspecting sample formed with the conductive thin film on a polyester film 11.例文帳に追加

ポリエステルフィルム１１に導電性薄膜が形成された検査試料に対して当該導電性薄膜の膜厚を測定する膜厚測定装置である。 - 特許庁

The head section of the thin film, made of an SOI layer or the like and formed like a cantilever, is used as the sample holder, and a thin-film temperature sensor is formed on this region.例文帳に追加

ＳＯＩ層などをカンチレバ状に形成した薄膜の先端部を試料ホルダとして利用し、この領域に薄膜温度センサを形成する。 - 特許庁

To provide a thin-layer oblique illumination system that can move illumination light in a thin-layer shape along the depth of a sample while keeping constant illumination conditions in the sample, and to provide a microscope.例文帳に追加

標本の内部における照明条件を一定に保ちながら、薄層状の照明光を標本の深さ方向に移動させることができる薄層斜光照明装置および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁