「thin sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The manufacturing method is used for a micro grid 1 that includes a grid mesh 10 that is used for sample support when observed by an electron microscope and a thin film 20 placed on the grid mesh 10 that has pores 21.例文帳に追加

本発明の製造方法は、電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ１０上に設けられた、孔部２１を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

Positive voltage v is applied to a transparent electrode of an element sample 3 set in a vacuum container 1 by a power source in a source meter 13, and an electronic gun 2 is set so that electron beams are applied on an organic thin film to be measured.例文帳に追加

真空容器１内に設定した素子試料３の透明電極に、ソースメータ１３内の電源により正の電圧ｖを印加するとともに、電子ビームが被測定有機薄膜上に照射されるよう電子銃２の設定を行なう。 - 特許庁

The thin section of test piece is pulled toward the tip of the probe for sampling and holding by electrostatic attraction, and reverse voltage is given between them when loaded on the TEM sample pedestal to generate repulsive force between them, so that the test piece are to be easily removed from the probe.例文帳に追加

静電引力によってプローブ先端に薄片試料を引き寄せて採取、保持し、ＴＥＭ試料台に載置する際は逆電圧を与えることで両者の間に斥力を生じさせ、容易に試料をプローブから離脱させる。 - 特許庁

A thin-film layer of a photoelectric transducing material is formed on the back side of a transparent film 12 is which a lattice 11 is stuck to its surface side, the sample slide is created, and samples 2 are stuck to parts on the surface of the transparent film 12 between the parts in the lattice 11 so as to be used.例文帳に追加

表側に格子１１を付着させた透明膜１２の裏側に光電変換材料の薄膜層を形成して試料スライドを作成し、試料２を格子１１の間の透明膜１２表面に付着して使用するようにする。 - 特許庁

When the shape or the fixing position of the thin film sample changes, although the intensity of scattered X rays changes as well as fluorescent X rays, a ratio between the intensity of fluorescent X rays and the intensity of scattered X rays is constant with respect to a constant adhesion amount.例文帳に追加

薄膜試料の形状や固定位置が変化した場合、蛍光Ｘ線が変化すると共に散乱Ｘ線強度も変化するが、この蛍光Ｘ線強度と散乱Ｘ線強度の比は一定の付着量に対して一定の比となる。 - 特許庁

This method of photoelectron spectroscopic analysis for an insulating material has, at least, a conductive-film forming process for forming a conductive thin film near a measured position of a sample prior to measurement, and a measurement process for performing measurement while irradiating the measured position with electron rays and applying a voltage on the thin film.例文帳に追加

本発明は絶縁物試料のＸ線光電子分光分析法において、測定に先立ち、該試料の測定箇所近傍に導電性薄膜を形成する導電性薄膜形成工程と、該測定箇所に電子線を照射しつつ、かつ該導電性薄膜に電圧を印加しながら測定を行なう測定工程とを少なくとも有するＸ線光電子分光分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide the subject methods, instrument and devices that can measure a thin film having a thickness of the wavelength of light or less, and to enhance the precision therefor, when the film thickness of the uppermost layer is measured in a sample of a multilayered film structure.例文帳に追加

多層膜構造サンプルの最上層の膜厚を測定する際、光の波長以下の薄い膜の測定を行なえ、その精度の向上を図る膜厚測定方法および装置、薄膜処理方法および装置、並びに半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

When light is entered upon the interface between the silver thin film 2 and the SiO_2 film 7 at an incident angle of 59-60°, surface plasmon resonance is excited at the interface and thus an evanescent field is reinforced, so that fluorescence is generated efficiently from the fluorescence molecules 5 contained in the sample solution 3.例文帳に追加

銀薄膜２とＳｉＯ_２膜７の界面に５９〜６０°の入射角で光を入射させると、その界面で表面プラズモン共鳴が励起されてエバネセント場が増強され、試料溶液３中の蛍光分子５からの効率よく蛍光が発生する。 - 特許庁

To provide a cassette of excellent examination precision for medical examination capable of eliminating labors and time of transferring a specimen during preparation of a sample, capable of keeping the specimen in a prescribed position and direction to be embedded, capable of cutting it into a thin slice, and capable of attaining labor saving for work and quickening the work.例文帳に追加

標本作製中に検体を移し替える手間が不要で、検体を所定の位置と方向を維持して包埋し、薄切することが可能な、作業の省力化と迅速化を図るとともに、検査精度に優れた医療検査用カセットを提供する。 - 特許庁

Furthermore, since the multiple reflection of a ultrasonic wave in a thin-layer liquid medium (or the bio-sample) can not separated, the measurement in the UHF band is enabled using this measuring instrument by establishing a technique for performing measurement while containing multiple reflection.例文帳に追加

また、この装置を用いてUHF帯で計測するには、薄層液体媒体（または生体試料）での超音波の多重反射を分離することができないため、多重反射を含んだまま計測する手法を確立することで、UHF帯での計測を可能にする。 - 特許庁

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus.例文帳に追加

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。 - 特許庁

The DNA sample loading tool comprises a support substrate with an electroconductive thin film electrode evaporated on one side thereof and a cell plate having a plurality of injection parts for samples and refined reaction reagents, fastened on the side of the electrode evaporated side of the support substrate.例文帳に追加

一方の面に導電性薄膜電極が蒸着された支持基板と、該支持基板の電極蒸着面側に固着された、サンプル及び精製反応試薬注入部を複数個有するセル板とからなることを特徴とするＤＮＡサンプルローディングツール。 - 特許庁

To provide a cassette of excellent examination precision for medical examination capable of eliminating labors and time of transferring a specimen during preparation of a sample, capable of keeping the specimen in a prescribed position and direction to be embedded, cutting it into a thin slice, and of attaining labor saving for work and quickening the work.例文帳に追加

標本作製中に検体を移し替える手間が不要で、検体を所定の位置と方向を維持して包埋し、薄切することが可能な、作業の省力化と迅速化を図るとともに、検査精度に優れた医療検査用カセットを提供する。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 is made to almost perpendicularly cross with that of an electron beam irradiation system for STEM observation 5, the sample 7 is arranged on the crossing position, and an FIB cross section processing face is used for a thin film face for STEM observation.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

Therefore, even if pollutant is generated from the sample by electron beam irradiation, the pollutant is shielded by the protective thin film 27 and can not enter the inside of the collimator 13, to thereby keep clean the reflecting surface of a poly-capillary 25 and the reflecting surface of the collimator body 20.例文帳に追加

このため、電子線照射によって試料から汚染物質が発生したとしても、その汚染物質は、保護薄膜２７で遮られてコリメータ１３の内部には入り込まず、ポリキャピラリ２５の反射面とコリメータ本体２０の反射面は清浄に保たれる。 - 特許庁

To provide a sensor chip having a hollow reaction part, a detecting means comprising an electrode provided in the hollow reaction part, and a sample introducing port, and capable of inspecting a pinhole and a thin portion of the electrode by irradiating an electrode face with inspection light.例文帳に追加

中空反応部、該中空反応部に設けられた電極よりなる検知手段、及び試料導入口を有するセンサチップであって、電極のピンホールや薄い部分の検査を、検査光を電極面に照射することにより行うことができるセンサチップを提供する。 - 特許庁

A controller 103 determines, through simulation, energy spectra of backscattered ions achieved by the Rutherford back scattering spectroscopy under the same condition as the measurement for the sample 111 for a virtual thin film formed of well-known composition.例文帳に追加

制御装置１０３は、既知の組成からなる仮想薄膜について、試料１１１についての測定の際の条件と同じ条件下でラザフォード後方散乱分光分析法によって得られる後方散乱イオンのエネルギスペクトルをシミュレーションによって決定する。 - 特許庁

To provide a refractive index measuring method and its measuring device utilizing a transmission phenomenon of an evanescent wave, capable of measuring the refractive index of a substance in a thin film state without using thickness data of a sample and without needing complicated arithmetic processing that uses data actually measured.例文帳に追加

サンプルの厚さデータを用いずに、また実測したデータを用いる複雑な計算処理を要さずに、薄膜状態の物質の屈折率を測定することが可能なエバネセント波の透過現象を利用する屈折率測定法およびその測定装置を提供する。 - 特許庁

The thin slice manufacturing apparatus 1 includes the deterioration evaluating device 20, a sample stand 2 for fixing the embedding block B and a cutting means 3 for relatively moving the cutter 4 in a cutting direction X with respect to the embedding block B to cut the embedding block B.例文帳に追加

薄切片作製装置１は、劣化評価装置２０と、包埋ブロックＢを固定する試料台２と、包埋ブロックＢに対してカッター４を切削方向Ｘに相対的に移動させて、包埋ブロックＢを切削する切削手段３とを備える。 - 特許庁

The specimen coupled to the sample probe is detected based on a surface plasmon resonance angle detected by the first photoreceiving member, and the fluorescence from the fluorescent substance excited by an evanescent wave generated when the light is brought into total reflection in a boundary of the metal thin film in the substrate.例文帳に追加

第１受光部材により検出される表面プラズモン共鳴角と基板における金属薄膜の境界にて光が全反射する際に生じるエバネッセント波により励起される蛍光物質からの蛍光とに基づいて試料プローブに結合した被検体を検出する。 - 特許庁

Apart from observation lighting and its lighting optical system for positioning a sample on which a thin film pattern is formed and identifying a cell to be measured, measuring lighting and its lighting optical system are provided for measuring an intra-cell film thickness of the cell to be measured.例文帳に追加

薄膜パターンを形成した試料の位置決め及び測定対象セルの識別を行うための観察用照明及びその照明光学系とは別に、測定対象セルのセル内における膜厚を測定するための測定用照明及びその照明光学系を設けた。 - 特許庁

To solve the large fluctuations in the intensity of the fluorescent X rays from an element to be measured and to perform the evaluation of the injection amount of ions, the evaluation of the concentration of an element in a thin film and the evaluation of the contamination quantity on the surface of a sample in-line with high precision.例文帳に追加

測定目的元素からの蛍光X線強度の大きな変動を解決するとともに、これまで困難であった、高精度な、イオン注入量評価、薄膜中の元素濃度評価、試料表面の汚染量評価をインラインで行なうことを可能とする。 - 特許庁

To realize a method for measuring film thickness and optical constant which requires neither a reflection preventing process for a sample having a thin film formed on a transparent substrate nor a special optical element for removing reverse-surface reflected light and its adjustment for a measurement optical system.例文帳に追加

透明基板５ａ上に薄膜が形成された試料６に対して反射防止処理を必要とせず、測定光学系に裏面反射光を除去するための特別な光学要素もその調整も必要としない膜厚及び光学定数の測定方法を実現する。 - 特許庁

Since the embedded trench 1c can be formed into a thin piece from a side surface direction by this alteration of an FIB processing direction, a processing depth is set to about trench width (5 μm) and the conversion of an observation region to an amorphous state or the like is not caused and the observation sample of good quality for TEM can be manufactured.例文帳に追加

ＦＩＢ加工方向をこのように変更することで、埋め込みトレンチ１ｃを側面方向から薄片化できるため、加工深さはトレンチ幅（５μｍ）程度で済み、観察部位の非結晶化等は発生せず、良質なＴＥＭ用観察試料を作製可能である。 - 特許庁

A hot contact 73 comprising a thin plate-shaped thermocouple material having the thickness of 0.1 mm or below and a hot contact of a thermocouple comprising a wire lead part 72 from a wire lead having the diameter of 0.15 mm or below are brought into surface contact with a sample S on an orthogonal plane to a detection rod 2.例文帳に追加

厚さ０．１ｍｍ以下の薄板形状の熱電対材料からなる温接点７３と、径０．１５ｍｍ以下の素線リードから素線リード部７２から成る熱電対の該温接点を、検出棒２に対して垂直な面で試料Ｓと面接触させる。 - 特許庁

To provide a thin, compact and inexpensive sample of a cosmetic material to be used two or three times, having a cosmetic layer whose surface and periphery are smooth without omission of printing and hardly letting the cosmetic layer drop off when the cosmetic material is rubbed off by a puff for use.例文帳に追加

化粧料層の表面や周縁部が滑らかで印刷持の抜けがなく、使用時にパフで化粧料を掻き取る際にも化粧料層の脱落が生じ難く、薄手でコンパクトにもかかわらず２〜３回分の化粧料が付着された試供品を低コストで提供する。 - 特許庁

To provide a stress measuring instrument for microtome for correctly transmitting energy to a high-sensitivity force converter even if a change in stress is slight in cutting on an interface between minute substance mixtures or thin layer bodies, and to provide a sample determining device for microtome.例文帳に追加

微細物質混入体あるいは薄積層体の界面における切削時の応力が微弱な変化であっても、その際のエネルギーが高感度力変換器に正しく伝達できるミクロトーム用応力測定装置、およびミクロトームにおける試料判定装置を提供する。 - 特許庁

In the microchip for the isothermal nucleic acid amplification reaction, the reaction can be started at any desired timing by heating and melting the thin film covering the substances housed in the reaction region beforehand after supplying a sample solution containing remaining substances and a target nucleic acid chain into the reaction region.例文帳に追加

この核酸等温増幅反応用マイクロチップでは、予め反応領域内に収容された物質を被覆する薄膜を、残りの物質と標的核酸鎖を含むサンプル溶液を反応領域内に供給した後に加熱融解させることによって、任意のタイミングで反応を開始できる。 - 特許庁

The molted wax is made to flow into a hollow part, using an aluminum foil formed into a hollow vortex form and positioned to form a horizontal cross-sectional face into a vortex shape, as a mold, and a wax thin piece solidified between the vortex-shaped aluminum foils is used as the sample, after the wax is solidified.例文帳に追加

中空の渦巻状に形成し、水平断面が渦巻形状となるように位置させたアルミ箔を鋳型として用い、前記中空部に溶融ワックスを流し込み、ワックスを固化させた後、渦巻状のアルミ箔間で固化させたワックス薄片を試料として用いる。 - 特許庁

In the sample producing method, a groove section 12 is formed by etching / removing the periphery of a region, including a prescribed test point 7 disposed on the surface of the semiconductor wafer 14 treated in prescribed processes in a semiconductor device production line, and the region including the prescribed test point 7 is made thin.例文帳に追加

半導体デバイス製造ラインで所定の処理を施した半導体ウエハ１４に対し、ウエハ表面に形成された所定の検査箇所７を含む領域の周辺部をエッチング除去して溝部１２を形成するとともに所定の検査箇所７を含む領域を薄片化する。 - 特許庁

To provide a nanometer-level structure composition observing method, a manufacturing method of a multi-layer film structure having an interposed insulating layer, and a nanometer-level structure composition observing device, analyzing the microstructure composition in a wide range of a sample having the multi-layer thin film structure having an interposed insulating layer with high accuracy.例文帳に追加

ナノレベル構造組成観察方法、絶縁層が介在する多層膜構造体の製造方法、及び、ナノレベル構造組成観察装置に関し、絶縁層が介在する多層薄膜構造の試料の広い範囲内における微細構造組成を高精度に解析する。 - 特許庁

To provide an apparatus for lamination shaping and a method for lamination shaping in which a supporting part is made in such a way that it is possible to mold in high speed and accurately a necessary shape and in addition, thickness, etc., of a thin layer can be changed or corrected based on molding condition, etc., of a formed molded sample.例文帳に追加

サポート部を必要とする形状の造形が高速に精度よく可能で、更に、形成した造形サンプルの造形条件等に基づき薄層の層厚等を変更または補正できるようにした積層造形装置および積層造形方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a multi-item ionic activity measuring instrument of high reliability capable of distribution-supplying surely and quickly a spotted sample or a reference liquid to an ion selective electrode, even when a position of a thin piece-like porous liquid distribution member is shifted slightly in the multi-item ionic activity measuring instrument.例文帳に追加

多項目イオン活量測定器具において、細片状多孔性液体分配部材の位置が若干ずれた場合でも、点着された試料液もしくは参照液のイオン選択電極への確実かつ迅速な分配供給が可能となる信頼性の高い多項目イオン活量測定器具を提供する。 - 特許庁

Two system detection parts of a first detection part 1a and a second detection part 1b are arranged facing proximately on both side faces (the faces to be detected) by possessing a wide sensitive area of the face to be detected, introducing tritium water that is the sample to be measured in a thin hollow sampling container 3 and sandwiching the sampling container 3.例文帳に追加

被検出面の有感面積が広く、薄い中空のサンプリング容器３に被測定試料であるトリチウム水を導入し、サンプリング容器３を挟んで両側面（被検出面）に第一の検出部１ａと第二の検出部１ｂの、２系統の検出部を近接して対向配置させる構成とする。 - 特許庁

To provide an electro-optical device in which the contact resistance of a thin film transistor constituting the peripheral drive circuit of a sample hold circuit at the joint with metal wirings is provided with a structure having ohmic characteristics by suppressing nonlinearity sufficiently, and to provide its fabrication method and an electronic apparatus comprising the electro-optical device.例文帳に追加

サンプルホールド回路などの周辺駆動回路を構成する薄膜トランジスタの、金属配線との接続部におけるコンタクト抵抗を、非線形性を十分少なくしてオーミックな特性を有する構造とした電気光学装置と、その製造方法、及びこの電気光学装置を備えた電子機器を提供する。 - 特許庁

Removal of the thin film 2 in this manner allows elimination of a rising section (a salient) 3, and the wet etching allows an end of the recessed pattern for inspection 11 to be rounded off, thus making it possible to improve accuracy in inspecting the surface of the wafer surface using such pattern as a standard sample.例文帳に追加

このように、薄膜２を除去することにより検査用凹部パターン１１端部に形成された盛り上がり部（凸部）３を除去することができ、また、ウエットエッチングにより検査用凹部パターン１１端部に丸みをもたせることができ、かかるパターンを標準試料として用いた、ウエハ表面検査の精度を向上させることがでる。 - 特許庁

As the sample of the saturable absorber, (1) a nonconductive area is provided at one part of the semiconductor laser being the light source and set as the saturable absorber, (2) a thin-film layer having the saturable absorption characteristic is provided at one part of the coating film of the end face of the semiconductor laser and made the saturable absorber.例文帳に追加

可飽和吸収体の例としては、（１）光源になる半導体レーザの一部に非通電領域を設け、この非通電領域を可飽和吸収体にする、（２）半導体レーザの端面コーティング膜の一部に可飽和吸収特性を有する薄膜層を設け、この薄膜層を可飽和吸収体にする。 - 特許庁

To provide a surface measurement apparatus that improves the accuracy of measurement and enables two-dimensional measurement in a sample surface of the refractive index and thickness of a transparent thin film formed on a substrate, deflection of the substrate, step of the film, or the like, by enabling an optical interference method and polarization analysis method in one apparatus.例文帳に追加

光干渉法と偏光解析法を1台の装置において可能にすることによって、基板上に形成した透明な薄膜の屈折率と膜厚や、基板のたわみや膜の段差などを試料面内で２次元的に測定できるようにするとともに、測定精度を向上させた表面測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron probe microanalyzer, provided with an optical observation system of satisfying both requests of shallow focal point depth and high magnification observation for accurately aligning the analytical point, and of wide-view field and low magnification observation for searching for the analytical point in a thin sample by a transmission optical image.例文帳に追加

分析点の位置合わせを精度よく行うための浅い焦点深度及び高倍率観察と、薄片試料の分析点探しを透過光学像によって行うときの広い視野及び低倍率観察という両方の要求を満たす光学観察系を備える電子プローブマイクロアナライザの提供。 - 特許庁

To provide a measuring instrument and a measuring method capable of detecting Rayleigh light including feeble interface reflection information by the same one line of detection optical system, while measuring a feeble Raman scattered light by a detector, in order to impart the interface reflection information required for depth-directional analysis of a light transmissive thin film sample.例文帳に追加

光透過性の薄膜試料の深さ方向解析に必要な界面情報を付与するために微弱なラマン散乱光を検出器で測定しつつ、微弱な界面反射情報を含んだレイリー光を同一の１系統の検出光学系により検出可能な測定装置および測定方法を提供する。 - 特許庁

Herein, a gaseous decomposition is accelerated at a temperature lower than the liquefying temperature of hydrofluoric acid when the thin film or natural oxidation film on the surface of the wafer is decomposed and a sample stage on which the wafer is held in a vacuum state is subsequently heated to accelerate the separation of residue for lowering the analytical precision of a very small amount of impurities (1b).例文帳に追加

ここで、ウエハ表面の薄膜または自然酸化膜を分解する際に、フッ酸が液化する温度以下の温度で気相分解を促進した後、減圧状態でウエハを保持している試料ステージを加熱し、微量不純物の分析精度を低下させる残渣の脱離を促進する（１ｂ）。 - 特許庁

The electrochemical measuring microelectrode related to one embodiment is equipped with a substrate 1, the flow channel 7a, through which a saturated potassium solution flows, formed to the substrate 1, the silver thin film 2 formed in the flow channel 7a as a reference electrode and the flow channel 7b formed to the substrate 1 separately from the flow channel 7a to allow a measuring sample to flow.例文帳に追加

本発明の一実施形態に係る、微小電気化学測定用電極は、基板１と、基板１に形成され、飽和塩化カリウム溶液が流れる流路７ａと、流路７ａ内に形成された参照電極としての銀薄膜２と、基板１に形成され、流路７ａとは別個の流路であって、測定試料が流れる流路７ｂとを備える。 - 特許庁

The redox protein-containing lipid membrane-fixed electrode which allows the problem above to be solved is obtained, by contacting a lipid membrane sample containing redox protein to the thin film of hydrophobic molecules formed on the electrode and fixing the redox protein-containing lipid membrane.例文帳に追加

上記課題は、電極上に疎水性分子の薄膜を形成した後、酸化還元タンパク質を含有する脂質膜試料を接触させることにより、酸化還元タンパク質を含有する脂質膜を疎水性薄膜上に固定化して得られる本発明の酸化還元タンパク質含有脂質膜固定化電極により解決することができる。 - 特許庁

This manufacturing method of a sample for a transmission type electron microscope includes a process for forming a protective film of an amorphous structure to the observation cross section of the specific place of a semiconductor device, a process for removing the periphery of the observation cross section to which the protective film is formed and a process for forming the region containing the protective film into a thin film state.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法において、半導体デバイスの特定箇所の観察断面に非晶質構造の保護膜を形成する工程と；前記保護膜が形成された観察断面の周囲を除去する工程と；少なくとも前記保護膜を含む領域を薄膜化する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The downsized gas amplification type detector in which an electron incident face is separated by a low density thin film is arranged at an appropriate position in an electron beam passage retained in a high vacuum or in a sample room, and by arranging the detector in a lens magnetic field, a moving distance of an electron advancing in the detector is made large and a gas amplification rate is increased.例文帳に追加

上記目的は、電子入射面を低密度薄膜で隔離した小形のガス増幅形検出器を高真空に保持された電子線通路または試料室中の適切な位置に配置し、当該検出器をレンズ磁場中に配置することで検出器内を進む電子の移動距離を大きくしガス増幅率を増大させることで実現される。 - 特許庁