「under Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

(4)Inspection order under Article 26 of the Act 1) Issuance of an inspection order例文帳に追加

(4)法第26条の規定に基づく検査命令 - 厚生労働省

MEASUREMENT METHOD FOR OBJECT UNDER INSPECTION AND MEASURING INSTRUMENT FOR OBJECT UNDER INSPECTION例文帳に追加

被検査物の測定方法、及び被検査物の測定装置 - 特許庁

Flaw inspection is performed under inspection conditions, respectively different in the respective inspection conditions A1 and A2.例文帳に追加

これら各検査領域Ａ１、Ａ２とにおいてそれぞれ異なる検査条件で欠陥検査を行う。 - 特許庁

(v) when the person obstructs an inspection under the provisions of this Act; 例文帳に追加

五　この法律の規定による調査を妨げたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Inspection after completion set forth under Article 10 paragraph (6) item (i) of the Act 例文帳に追加

法第十条第六項第一号の完成後の検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Inspection after maintenance set forth under Article 10 paragraph (6) item (iii) of the Act 例文帳に追加

法第十条第六項第三号の整備後の検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(vii) on-site inspection under the provisions of Article 51 of the Act. 例文帳に追加

七　法第五十一条の規定による立入検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

法第 28 条の規定に基づくモニタリング検査。 - 厚生労働省

Inspection order under Article 26 of the Act例文帳に追加

法第 26 条の規定に基づく検査命令 - 厚生労働省

Monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

法第 28 条の規定に基づくモニタリング検査 - 厚生労働省

(2)Monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

(2)法第28条の規定に基づくモニタリング検査 - 厚生労働省

(2) Monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

(2)法第28条の規定に基づくモニタリング - 厚生労働省

(3) The registration under the provisions of paragraph (1) shall be made on the application of a person who intends to be a registered inspection agency for specified voluntary inspection. 例文帳に追加

３　第一項の登録は、検査業者になろうとする者の申請により行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To perform a high-speed, high-quality test by reducing inspection time for semiconductor integrated circuits under inspection (DUT).例文帳に追加

被検査半導体集積回路（ＤＵＴ）の検査時間を短縮して高速で高品質な検査を行う。 - 特許庁

When the inspection program is under operation, it is judged that the inspection process is being performed.例文帳に追加

検査プログラムが動作している場合には、検査工程であると判断する。 - 特許庁

To display an inspection list in which inspection list information required for a process under processing is arranged.例文帳に追加

処理中の工程に必要な検査リスト情報を配置した検査リストを表示する。 - 特許庁

(v) a person who has failed to prepare inspection records under the provision of Article 14-3-2 or prepared false inspection records, or failed to preserve inspection records; 例文帳に追加

五　第十四条の三の二の規定による点検記録を作成せず、虚偽の点検記録を作成し、又は点検記録を保存しなかつた者 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an inspection device properly making inspection under desired photographing conditions in an inspection of a photographing device that automatically adjusts photographing conditions.例文帳に追加

自動撮影条件調整を行う撮影装置の検査において、所望の撮影条件で適切に検査を行うことができる検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device constituted so as to certainly store and preserve the inspection data of individual objects under inspection in a discriminable manner to certainly extract them.例文帳に追加

個々の被検査物の検査データを確実に識別可能に記憶保存し、確実に抽出することができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To acquire information on the frequency dependence of sound velocity in an object under inspection for more accurately grasping the physical characteristics of the object under inspection.例文帳に追加

被検査物における音速の周波数依存性に関する情報を得ることができ、その被検査物の物理特性をより正確に把握すること。 - 特許庁

To find sound velocity and acoustic impedance in an object under inspection and to more accurately grasp the physical characteristics of the object under inspection by using them.例文帳に追加

被検査物の音速及び音響インピーダンスを求め、それらを用いて被検査物の物理特性をより正確に把握すること。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF LOW-CONTRAST FLAW UNDER CYCLIC NOISE, AND INSPECTION METHOD OF LOW-CONTRAST FLAW UNDER REPEATED PATTERN例文帳に追加

周期性ノイズ下での低コントラスト欠陥検査方法、繰返しパターン下での低コントラスト欠陥検査方法 - 特許庁

The function of a refrigerating machine under inspection is born by the other refrigerating machine 1 whereby air conditioning under the inspection can be achieved.例文帳に追加

点検中での冷凍機の機能を他の冷凍機１が担うことによって点検中での空調が達成される。 - 特許庁

an inspection body provided for under administrative law operated to inspect the administration and its operations 例文帳に追加

行政法において,行政事務に関して監督検査を行う機関 - EDR日英対訳辞書

(ii) The designated periodic inspection body has fallen under item 1 or 3 of Article 27. 例文帳に追加

二　第二十七条第一号又は第三号に該当するに至ったとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

iv) Any person who intends to have an inspection of repair or alteration under Article 16 paragraph (1 例文帳に追加

四　第十六条第一項の修理改造検査を受けようとする者 - 日本法令外国語訳データベースシステム

xx) Any person who has an inspection on an aerodrome under Article 47 paragraph (2 例文帳に追加

二十　飛行場について第四十七条第二項の検査を受ける者 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Inspection after completion set forth under Article 17 paragraph (3) item (i) of the Act 例文帳に追加

法第十七条第三項第一号の完成後の検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

There were paths under local government for the purpose of inspection (to prevent ambiguity). 例文帳に追加

監察のための地方行政単位である道(曖昧さ回避)があった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In addition, the Kofun is open to public inspection during the day and visitors can get in under the stones. 例文帳に追加

なお、昼間は公開されており、石の下に入ることが出来る。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The right of inspection under this section does not apply to-- 例文帳に追加

本条に基づく閲覧の権利は，次の事項には適用されない。 - 特許庁

The right of inspection under sub-rule (1) does not apply to 例文帳に追加

前(1)に基づく閲覧の権利は次の事項には適用しない。 - 特許庁

Two power supplies are provided to apply voltage to a semiconductor device under inspection.例文帳に追加

被検査半導体装置に電圧を印加するための電源を二つ設ける。 - 特許庁

The inspection terminal is arranged under a driver IC formed with COG.例文帳に追加

また、検査端子はＣＯＧで実装するドライバＩＣの下に配置する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR PILE EXISTING UNDER FUNDAMENTAL STRUCTURE AND ITS MEASURING DEVICE例文帳に追加

基礎構造物下に存在する杭の調査方法及びそのための測定装置 - 特許庁

Administrative inspections other than the monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

法第 28 条の規定に基づくモニタリング検査以外の行政検査 - 厚生労働省

Inspections other than the monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

法第 28 条の規定に基づくモニタリング検査以外の検査 - 厚生労働省

(3)Administrative inspections other than the monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

(3)法第28条の規定に基づくモニタリング検査以外の行政検査 - 厚生労働省

(3) Inspections other than the monitoring inspection under Article 28 of the Act例文帳に追加

(3)法第28条の規定に基づくモニタリング検査以外の検査 - 厚生労働省

(d) as a result of the inspection under the provision of paragraph (1) of the preceding Article, the matters subject to inspection pertaining to the property under fire prevention measures have been judged by a qualified inspector of property under fire prevention measures to fail to conform to the inspection standards within the past three years; or 例文帳に追加

ニ　過去三年以内において前条第一項の規定による点検の結果、防火対象物点検資格者により点検対象事項が点検基準に適合していないと認められたことがあること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image.例文帳に追加

検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To realize both lock inspection under a PLL-closed loop and inspection under a PLL-opened loop on the same substrate without being affected by the respective inspections, in inspection of an integrated circuit 1 having the PLL.例文帳に追加

ＰＬＬを有する集積回路１の検査において、ＰＬＬ閉ループでのロック検査と、ＰＬＬ開ループでの検査を、それぞれの検査に影響を及ぼすことなく同一の基板上で実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which can remove flux adhering to an area under inspection easily and surely and can make the condition of an area under inspection good.例文帳に追加

被検査箇所に付着したフラックスを容易かつ確実に除去することができ、被検査箇所の状態を良好にすることができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a charged particle beam device or an inspection method using a charged particle beam, wherein the inspection can be performed under the inspection condition where at least two or more kinds of electrical defects can be picked up in a single inspection with higher probability than a conventional method.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の電気的欠陥を１回の検査で従来よりも高い確率で捕捉可能な検査条件で検査を実行可能な荷電粒子線装置ないし荷電粒子線による検査方法を実現する。 - 特許庁

The image inspection apparatus 30 acquires a key image in an inspection in the past under the same condition as the inspection in which DICOM images to be an image inspection object are generated from an image server 40.例文帳に追加

検像装置３０は、検像対象となるＤＩＣＯＭ画像を生成した検査と同一条件の過去検査におけるキー画像を、画像サーバ４０から取得する。 - 特許庁