「under Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device for liquid crystal device that can easily observe right under a pressing member that is difficult to observe by the conventional one and reduce missing of detection of potential short-circuit defect, and to provide an inspection method and a method of manufacturing a liquid crystal device by which missing of detection of potential short-circuit defect is suppressed.例文帳に追加

従来、観察が困難であった押圧部材の直下を容易に観察することができ、潜在的な短絡欠陥の検出漏れを低減することができる液晶表示装置の検査装置、検査方法および潜在的な短絡欠陥の検出漏れが少ない液晶表示装置の製造方法を提供する - 特許庁

A surface of a work W of an inspection object is imaged by individually or concurrently driving illumination parts 2A, 2B, under illumination thereof, using the workpiece W of configuration with the transparent coating layer formed on a surface of a workpiece body formed of a colored resin, as the inspection object.例文帳に追加

着色樹脂により成形されたワーク本体の表面に透明のコーティング層が形成された構成のワークＷを検査対象として、照明部２Ａ，２Ｂを個別または同時に駆動して、その照明下で撮像を実行する。 - 特許庁

To provide a substrate inspecting apparatus, can inspect the electrical characteristics between two inspection positions of a wiring pattern, by suppressing (or by removing under prescribed conditions) the influence of the contact resistance between a terminal and the wiring pattern, while simplifying the constitution of an inspection fixture, or the like.例文帳に追加

検査治具の構成等を簡略化しながら、端子と配線パターンとの間の接触抵抗の影響を抑制（あるいは所定の条件下で除去）して配線パターンの２つの検査位置間の電気的特性を検査できる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

It is diagnosed in an inspection process that an off-specification product is caused by a manufacturing device or a process, and the above diagnosis is made by the use of inspection data on each process in the manufacturing lines of various kinds of semiconductor devices and the actual values of the manufacturing conditions under which the manufacturing device operates in the processes.例文帳に追加

本発明は、多品種の半導体デバイス製造ラインにおける各工程毎の検査データおよびその際の製造装置の製造条件の実績値を用いて、半導体デバイス製造の検査工程における規格外れ要因を、製造装置起因とプロセス起因に分離する診断処理を行う。 - 特許庁

This technique is to create Raster Image Processor (RIP) development data Compact Discs (CDs) 2, 3 for inspection developed under the same developing conditions from two print image data created in different processes during plate making process, and then obtain the inspection results by comparing these data CDs 2, 3.例文帳に追加

製版工程の中の異なる工程で作成された２つの印刷物画像データから、同一のＲＩＰ展開条件で展開された検版用ＲＩＰ展開データＣＤ２，ＣＤ３を作成し、これらのデータＣＤ２，ＣＤ３を比較することによって検版結果を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method for a container and an inspection device for a container capable of constantly inspecting a non-cylindrical container in any position and angle under ideal conditions without mechanically positioning a rotational angle of the container to a certain angle.例文帳に追加

円筒形でない容器が、どのような位置や角度にあっても、容器の回転角度を機械的に一定角度に位置決めすることなく、常に最適な条件で検査できる容器の検査方法及び容器の検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an anisotropically conductive connector for surely achieving a satisfactory state of electrical connection to a wafer even if the pitch is extremely small between electrodes under inspection on the wafer which is an inspecting object with its contact members kept from being soon uncoupled, and to provide its manufacturing method, a probe card, and a wafer inspection device.例文帳に追加

検査対象であるウエハにおける被検査電極のピッチが極めて小さくても、ウエハに対する良好な電気的接続状態が確実に達成され、接点部材が早期に離脱しない異方導電性コネクターおよびその製造方法、プローブカード並びにウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

A first inspection beam FL1 from a first light source 11 is caused to enter a surface 82S of a shading film 82 obliquely from above the object 80 under inspection with the shading film 82 formed on a front surface 81S of a transparent substrate 81, and its reflected light is received by a first photo-detector 21.例文帳に追加

透明性の基板８１の表面８１Ｓに遮光膜８２が形成されている被検査体８０の斜め上方から遮光膜８２の表面８２Ｓに第１の光源１１から第１の検査光ＦＬ１を入射させて、その反射光を第１の光検出器２１が受光する。 - 特許庁

The dangerous object is detected by changing the temperature of a sample to be inspected by changing the distance between the heating surface of a heating part for heating an inspection sample and the surface to be heated of the inspection sample and evaporating the adhesion substance of the sample to be inspected under a plurality of temperature conditions to ionize the same.例文帳に追加

検査試料を加熱する加熱部の加熱面と、検査試料の被加熱面との間の距離を変化させることで該検査試料の温度を変化させ、複数通りの温度下で該検査試料の付着物質を気化させ、イオン化することにより、危険物を探知する構成とする。 - 特許庁

When the presence of an inspection object 2 is visually confirmed with a binocular telescope 22, the electromagnetic wave reception-and-transmission surface 21a of an antenna member 21 is directed to the inspection object 2, and under such conditions the button member 24a of a switch device 24 is pressed down.例文帳に追加

検査対象物２の存在が双眼望遠鏡２２によって目視で確認されれば、アンテナ部材２１における電磁波の送受信面２１ａは検査対象物２に向けられており、かかる状態のまま、スイッチ装置２４のボタン部材２４ａが押下される。 - 特許庁

To provide a tape inspection peeling device for peeling an ACF tape that is not stuck to a substrate under an appropriate state efficiently, without having to break the substrate even when the ACF tape is peeled from a large substrate, and to provide an electronic component mounting device and a tape inspection peeling method.例文帳に追加

適切な状態で基板に貼り付けられていないＡＣＦテープを効率よく剥離することができ、かつ大きさの大きな基板からＡＣＦテープを剥離する場合であっても、基板が割れないテープ検査剥離装置、電子部品実装装置およびテープ検査剥離方法を提供すること。 - 特許庁

To provide inexpensively an inspection device and an observation device capable of inspecting and observing an inspection object having a periodical pattern without generating almost no fading or deterioration of an image, and without being influenced by moire even under the condition that the pattern period is close to CCD resolution.例文帳に追加

周期的パターンを持つ検査対象を、画像のボケや劣化をほとんど生じさせることなくかつパターン周期とＣＣＤ分解能が接近した条件であってもモアレの影響なく検査および観察できる検査装置および観察装置を安価に提供する。 - 特許庁

An SV wave propagating just under the surface of the inspection object 11 is transmitted from either of two ultrasonic probes 12a, 12b arranged at a prescribed interval on the surface of the inspection object 11 and received by the other, to thereby measure the ultrasonic beam path length by an ultrasonic beam path length measuring means 14.例文帳に追加

被検査体１１の表面上に所定の間隔を保って配置された２個の超音波探触子１２ａ、１２ｂの一方から被検査体１１の表面直下を伝搬するＳＶ波を送信し、他方で受信して超音波ビーム路程測定手段１４で超音波ビーム路程を測定する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device for maintaining foreign substance detection sensitivity in a high X-ray transmission portion and foreign substance detection sensitivity in a low X-ray transmission portion properly even when a large difference in X-ray transmission comes out by differences in thickness and density of each section of an object under inspection.例文帳に追加

本発明の課題は、被検査対象物の各部の厚みや密度の違いによってＸ線透過率に大きな差が出るような場合であっても高Ｘ線透過率部分での異物検出感度と低Ｘ線透過率部分での異物検出感度とを良好に保つＸ線検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Further, the fixing jig 50 for the meter inspection tool is prevented from coming off even when upward force acts on the fixing jig 50 for the meter inspection tool, because a mounting adaptor 51 and a casting upper case 15 of the city water meter 10 are clamped between an outer fitting ring 60 and a locking plate 77, from both upper and under directions.例文帳に追加

しかも、載置アダプタ５１と水道メータ１０の鋳物上ケース１５とが外嵌リング６０と係止板７７との間で上下方向で挟持されるから、メータ検査器固定治具５０に上向きの力が働いても水道メータ１０から脱落することが防がれる。 - 特許庁

To provide a metal detecting device excellent in inspection efficiency capable of precisely detecting a magnetic material without erroneous detection, capable of adjusting the height of the detecting head to the suitable height of the inspection object by detecting the distance between the upper surface of the conveyor belt and the under surface of the detection head.例文帳に追加

搬送ベルト上面と検出ヘッド部下面との距離を検出し、被検査物の高さに適した検出ヘッド部の高さを設定でき、誤検出がなく、高精度で磁性物を検出することができ検査効率の高い優れた金属検出装置を提供する。 - 特許庁

By this constitution, the high flaw detecting capacity is obtained without extending the inspection time like a case that inspection is performed under a new condition and abnormality of a degree unnecessary to set a flaw or noise and the surface flaw are certainly discriminated to prevent the outflow of the flaw or the lowering of the yield.例文帳に追加

これにより、新たな条件下での検査を行う場合のような検査の長時間化を招くことなく、高い欠陥検出能力を得て、欠陥とする必要のない程度の異常やノイズと表面欠陥とを的確に判別して、欠陥の流出および収率の低下を防止する。 - 特許庁

To enable measurement of flow rate distribution ratio without breaking an inspection object and determination of individual difference between inspected bodies using it, under a condition where data related to the flow channel resistance of a plurality of internal flow channels of the inspection objects can be unclear or the data can change.例文帳に追加

被検査体の複数の内部流路の流路抵抗に関与するデータが不明あるいは同データが変化する可能性がある条件下において、被検査体を破壊することなく流量配分比率の測定及びそれを利用した被検査体間の個体差の判別を行うことを可能とする。 - 特許庁

Since each temperature of the measuring object 25 and the corrosive chemical 7 can be kept at prescribed temperatures by performing heat exchange between the coolant 15 and the measuring object 25 and the corrosive chemical 7, inspection data under a prescribed constant temperature condition can be acquired, and the inspection data having high accuracy and high reliability can be acquired.例文帳に追加

冷媒１５と測定対象物２５及び腐食薬品７との間で熱交換することにより、測定対象物２５及び腐食薬品７の温度を所定の温度に保つことができるので、所定の一定温度条件下での検査データが得られ、精度が高く、信頼性の高い検査データが得られる。 - 特許庁

The lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 are arranged with the maximum allowance of spacing of a specified-directional shift between the transparent electrodes 4, 5 under the condition where a lower substrate 1 and an upper substrate 2 are laminated each other in a specified position and where the upper substrate 2 is press-operated.例文帳に追加

下側検査電極４１および上側検査電極７１を、下側基板１および上側基板２が規定の位置に貼り合わされ、かつ上側基板２が押圧操作された状態で、透明電極４，５間の規定の方向へのずれの最大許容値の間隔をおくように配する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of carrying out stable inspection, even when executing the inspection under a high temperature or a low temperature condition by mounting directly part of an electronic component of an inspecting circuit onto the probe card, in order to inspect characteristics of a device to be inspected such as a high-frequency semiconductor device.例文帳に追加

高周波半導体装置などの被検査デバイスの特性検査をするため、プローブカードに直接検査用回路の電子部品の一部を搭載して、高温下や低温下で検査をする場合でも、安定した検査をすることができるプローブカードを提供する。 - 特許庁

The first and second reverse filters 4e, 4f are applied, under this condition, to the acoustic signal obtained from the sound generated in the inspection object during usual work, to remove influences of the sound generated from the inspection object in the normal time and the predicted other sound.例文帳に追加

この状態で、通常作業中の検査対象物から発生する音から得た音響信号に第１逆フィルタ４ｅおよび第２逆フィルタ４ｆを作用させ、正常時の検査対象物から発生する音およびあらかじめ予想される他の音の影響を除くことができる。 - 特許庁

An inspection device constituted as an inline device for a substrate processing system includes a conveyance unit for conveying a substrate as the inspection object at substantially constant conveyance speed, a line camera 21 for imaging the substrate under conveyance, an imaging control part 300, and an image processing part 301.例文帳に追加

基板処理システムのインライン装置として構成される検査装置に、検査対象物としての基板を実質的に一定の搬送速度で搬送する搬送ユニットと、搬送中の基板を撮像するラインカメラ２１と、撮像制御部３００と、画像処理部３０１とを設ける。 - 特許庁

To provide a socket capable of conducting electric characteristic inspection with the same electric characteristic, by using in common the socket used in the electric characteristic inspection under an integrally formed condition of a wafer level CSP package or the like, and debugging work in a separate piece or the like.例文帳に追加

ウエハレベルＣＳＰパッケージ等の一括形成状態での電気特性検査及び、個片でのデバッグ作業等に使用するソケットを共用化し、同一の電気的特性をもって電気特性検査を行なえるソケットを提供する。 - 特許庁

To improve the inspection precision by performing an inspection in such a manner that paper leaves of respective pagenation groups are taken out on a carrying means sheet by sheet in the order of pagenations from a leaf paper group accumulated in a leaf paper feeding section, and respective paper leaves which are continuously carried under an offset overlapped state are inspected in the middle of the carrying.例文帳に追加

紙葉供給部に集積されている紙葉群の中から各ページ番号類の紙葉をページ番号順に１枚ずつ搬送手段上に取り出してずれ重ね状態で連続的に搬送される各紙葉を搬送途中で検査することにより検査精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a means capable of prolonging the lifetime of an X-ray source, while securing output stability of the X-ray source, in an X-ray inspection device for performing inspection, by irradiating X-rays toward an article under conveyance, from the X-ray source for emitting the X-ray by applying a high voltage between a cathode and an anode.例文帳に追加

陰極と陽極間に高電圧をかけてＸ線を照射するＸ線源から、搬送中の物品にＸ線を照射して検査を行うＸ線検査装置において、Ｘ線源の出力安定性を担保しながら、Ｘ線源の長寿命化を図ることができる手段を提供する - 特許庁

When the maintenance timing of a light source 13 is reached, after inspection process has been interrupted temporarily and an image sensor element for light source adjustment is conveyed to be placed on a placing section 11 (S1), imaging is carried out with the image sensor element for light source adjustment (S2), under identical conditions as the imaging conditions at inspection of image sensor element 12.例文帳に追加

光源１３のメンテナンスのタイミングになると、検査工程が一時中断され、光源調整用撮像素子が載置部１１へと搬送されて載置され（Ｓ１）、撮像素子１２を検査する際の撮像条件と同じ条件で、光源調整用撮像素子により撮像が行われる（Ｓ２）。 - 特許庁

To inspect a predetermined weld line on an inner face of a tank by using an inspection equipment mounted on a carriage while moving the carriage along a rail member during the use of the tank, and enables this inspection to be made during the use of the tank without emptying the tank under the condition of halt of the tank.例文帳に追加

各種タンク類を長期間使用中に腐食や熱応力や地震等により溶接線が損傷することがあるが、タンク類の使用開始後は検査するのが難しく、検査の為にタンクの稼働を停止させると種々の支障が起こり、検査費用も高価になる。 - 特許庁

Under the current system, the licensees of reactor operation steadily conduct the measures for aging management based on the maintenance plan, and NISA confirms the implementation situation of each licensee through periodic inspection, Periodic Safety Management Review, and Operational Safety Inspection.例文帳に追加

現行制度においては、原子炉設置者は保全計画に基づき、着実に高経年化対策を実施し、原子力安全・保安院は、原子炉設置者の実施状況を定期検査、定期安全管理審査及び保安検査等を通じて確認している。 - 経済産業省

Periodic inspectionPeriodic Inspection of a nuclear installation (excluding that under decommissioning) is conducted periodically in order to prevent accidents and failures and to mitigate the consequences in reactor, associated facilities and steam turbine facilities that constitute electric facilities for power generation. This is the inspection conducted for facilities especially important in ensuring safety of a nuclear power generation facility.例文帳に追加

2003年10月からは、定期検査の実施にあたっては、電気事業法の規定に基づき行われる経済産業大臣の指示に基づき原子力安全基盤機構が定期検査実務の一部を原子力安全・保安院に代わって実施し、その結果を経済産業大臣に通知する方法が採用されている。 - 経済産業省

The MHLW shall provide, in its website, information on food-safety regulations in Japan, sample cases of violations of the Act concerning foods that are subject to an inspection order or enhanced-monitoring inspection as well as the results of the Plan and monitoring and guidance under the Plan in English.例文帳に追加

本省は、ホームページにおいて、我が国の食品安全規制、検査命令の対象食品等及びモニタリング検査が強化された食品等の法違反事例、本計画及びその監視指導の結果を英語により情報提供を行う。 - 厚生労働省

The MHLW shall publish a summary of monitoring inspection status based on this plan around June of the following fiscal year. The summary shall include the actual implementation of monitoring inspections and other inspections under inspection orders on imported foods and the results of these inspections, monitoring and guidance given to the importers and their brief results.例文帳に追加

本省は、モニタリング検査、検査命令等の輸入食品等に係る検査の実施状況及びその結果の概要、輸入者に対する監視指導及びその結果の概要等の本計画に基づく監視指導の実施状況について、翌年度の６月を目途に公表する。 - 厚生労働省

The MHLW shall publish a summary of monitoring inspection status based on this plan around August of the following fiscal year.The summary shall include the actual implementation of monitoring inspections and other inspections under inspection orders on imported foods and the results of these inspections, monitoring and guidance given to the importers and their brief results.例文帳に追加

本省は、モニタリング検査、検査命令等の輸入食品等に係る検査の実施状況及びその結果の概要、輸入者に対する監視指導及びその結果の概要等の本計画に基づく監視指導の実施状況について、翌年度の8月を目途に公表する。 - 厚生労働省

(3) The provision of the first sentence of paragraph (1) shall also apply where the bankrupt has refused an inspection under the provision of Article 83(1) (including cases where applied mutatis mutandis pursuant to Article 96(1)), where an order of commencement of bankruptcy proceedings is made against the inherited property and a person set forth in Article 230(1)(ii) or (iii) has refused an inspection under the provision of Article 83(1) or where an order of commencement of bankruptcy proceedings is made against the trust property and the trustee, etc. has refused an inspection under the provision of Article 83(1) (including cases where applied mutatis mutandis pursuant to Article 96(1)). 例文帳に追加

３　破産者が第八十三条第一項（第九十六条第一項において準用する場合を含む。）の規定による検査を拒んだとき、相続財産について破産手続開始の決定があった場合において第二百三十条第一項第二号若しくは第三号に掲げる者が第八十三条第一項の規定による検査を拒んだとき又は信託財産について破産手続開始の決定があった場合において受託者等が同項（第九十六条第一項において準用する場合を含む。）の規定による検査を拒んだときも、第一項前段と同様とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(2) When a request is made by a person to inspect the records set forth in the preceding paragraph, the Commission and the Regional Board shall make such records available for inspection to such person; provided, however, that they may refuse the inspection when such inspection could impede improvement or rehabilitation of the subject persons of the recommendations under said paragraph or proceedings or could harm the fame or peaceful existence of the persons concerned. 例文帳に追加

２　審査会及び地方委員会は、前項の記録の閲覧を求める者があるときは、これをその者の閲覧に供さなければならない。ただし、同項の申出若しくは審理の対象とされた者の改善更生を妨げ、又は関係人の名誉若しくは生活の平穏を害するおそれがあるときは、閲覧を拒むことができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 21-45 A registration under the provisions of Article 17-2, paragraph (1) or Article 21-3, paragraph (1) (hereinafter simply referred to as a "registration" in this Section) shall be made upon application from a juridical person which intends to conduct an evaluation of the performance of special fire defense equipment, etc. and a test and lot inspection of a machine or tool, etc. subject to inspection (hereinafter referred to as an "inspection, etc." in this Section), for each category of operation listed in the following: 例文帳に追加

第二十一条の四十五　第十七条の二第一項又は第二十一条の三第一項の規定による登録（以下この節において単に「登録」という。）は、次に掲げる業務の区分ごとに、特殊消防用設備等の性能に関する評価並びに検定対象機械器具等についての試験及び個別検定（以下この節において「検定等」という。）を行おうとする法人の申請により行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The results of the third inspection of the Incubator Bank of Japan were terrible. Is it your understanding that the first and second inspections were properly conducted under the current inspection and supervision systems? Or was there any fault in the inspection system or supervision system on the part of the FSA against the Bank? Please share your views with us on this matter. 例文帳に追加

振興銀行なのですけれども、3回目の検査がひどかったというのがあるのですけれども、では1、2回目というのは、今の検査監督体制においては適正な運営がされていたという理解なのか。それともやはり何らか、銀行に対する金融庁としての検査体制とか監督体制に何らか今回課題がとか落ち度があったのか、その辺のところはどういうふうに考えてございますか。 - 金融庁

(2) The reports of examiners made under this Act shall not be open to public inspection or be published by the Commissioner; and such reports shall not be liable to production or inspection in any legal proceeding unless the Court or officer having power to order discovery in the proceeding certifies that the production or inspection is desirable in the interests of justice, and ought to be allowed:例文帳に追加

(2) 局長は，本法に基づいて作成される審査官の報告書を，公衆の閲覧に供してはならず，また，公表してはならない。また，前記の報告書は，何れの訴訟においても提出してはならず又は閲覧に供してはならない。ただし，提出又は閲覧が司直のため望ましくこれが許されるべきことを証拠の開示を手続上命じる権限を有する裁判所又は官吏が証明する場合は，この限りでない。 - 特許庁

A quantitative method of nitrite ions contained in inspection water includes: a step 1 for adding a diazotization reagent capable of generating diazonium salts by reaction with nitrite ions to the inspection water and performing the reaction under acidity generated by adding hydrochloric acid or the like; and a step 2 for measuring color absorbance by the diazotization reagent or color absorbance by the generated diazonium salt about the inspection water obtained through the step 1.例文帳に追加

検査水に含まれる亜硝酸イオンの定量方法は、検査水に対し、亜硝酸イオンとの反応によりジアゾニウム塩を生成可能なジアゾ化試薬を添加し、塩酸等を添加した酸性下において反応させる工程１と、工程１を経た検査水について、ジアゾ化試薬による着色の吸光度または生成したジアゾニウム塩による着色の吸光度を測定する工程２とを含んでいる。 - 特許庁

At that time, the adhesion of the ECT sensor 114 at a flaw inspection start position is confirmed, flaw inspection is performed after the confirmation while operating a manipulator 113 under the same condition as prior scanning to acquire data, the adhesion is determined from the acquired data, and when the adhesion is low, the condition is readjusted to perform flaw inspection.例文帳に追加

その際、探傷スタート位置におけるＥＣＴセンサ１１４の密着性を確認し、確認後、事前走査と同じ条件でマニピュレータ１１３を操作しながら探傷を実施してデータを取得し、取得したデータから密着性を判断し、密着性が低い場合は、条件を再調整して探傷を行う。 - 特許庁

Any person who has refused, prevented or avoided the access, inspection or submission of samples involved in the operational safety inspection or physical protection inspection, or has failed to make a statement or has made a false report in response to the questioning, is subject to imprisonment with work for not more than one year or a fine of not more than a million yen, or both, under the provisions of the Reactor Regulation Act.例文帳に追加

また、保安検査あるいは核物質防護検査による立ち入り、検査もしくは試料の提出を拒み、妨げ、もしくは忌避し、又は質問に対して陳述をせず、もしくは虚偽の陳述をした場合には、原子炉等規制法の規定に基づき、一年以下の懲役もしくは百万円以下の罰金、又はこれらが併科される。 - 経済産業省

A. If inspection program personnel find signs of poor product handling and storage while conducting the organoleptic examination of the shipping cartons at either official or non-official establishments, they are to (under Inspection System Procedure codes 06 using the inspection methodology outlined in FSIS Directives 5400.5 and 5000.1, Revision 1):例文帳に追加

A.公認施設または非公認施設において出荷段ボール箱の官能検査を実施中、製品の取扱いおよび保管に不良な徴候を認めた場合には、検査プログラム担当職員は次の措置を実行するものとする（FSIS指令第5400.5号および第5000.1号改訂第1版に概括された検査方法を用いる検査制度手続コード06に基づく）。 - 厚生労働省

B. If inspection program personnel have reason to question whether the product is properly identified and labeled to meet the importing country’s requirements, they are to (under Inspection System Procedure codes 04 using the inspection methodology outlined in FSIS Directives 5400.5 and 5000.1, Revision 1) follow the above methodology for:例文帳に追加

B.製品が輸出先国の要件を満たすように適切に識別・表示されていないのではないかと疑われる場合には、検査プログラム担当職員は、上に示した方法に従って以下の措置をとるものとする（この場合、FSIS指令第5400.5号および第5000.1号改訂第1版に概括された検査方法を用いる検査制度手続きコード04に基づく）。 - 厚生労働省

(3) The provision of paragraph (1) shall also apply where the rehabilitation debtor has refused an inspection under the provision of Article 59(1) (including cases where applied mutatis mutandis pursuant to Article 63, Article 78 or Article 83(1)) or where the rehabilitation debtor or his/her statutory agent has refused an inspection under the provision of Article 223(8) (including cases where applied mutatis mutandis pursuant to Article 244). 例文帳に追加

３　再生債務者が第五十九条第一項（第六十三条、第七十八条又は第八十三条第一項において準用する場合を含む。）の規定による検査を拒んだとき、又は再生債務者若しくはその法定代理人が第二百二十三条第八項（第二百四十四条において準用する場合を含む。）の規定による検査を拒んだときも、第一項と同様とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(vi) a person who has failed to make explanatory documents or written documents under Article 46-4, Article 46-6(3), Article 47-3, Article 66-17(2), or Article 66-18 available for public inspection, or placed such explanatory documents or written documents containing misstatement under public inspection; 例文帳に追加

六　第四十六条の四、第四十六条の六第三項、第四十七条の三、第六十六条の十七第二項若しくは第六十六条の十八の規定による説明書類若しくは書面を公衆の縦覧に供せず、又は虚偽の記載をした説明書類若しくは書面を公衆の縦覧に供した者 - 日本法令外国語訳データベースシステム