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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "under Inspection"に関連した英語例文

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"under Inspection"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 82



例文

This is currently under inspection. 例文帳に追加

これは審査中です。 - Weblio Email例文集

MEASUREMENT METHOD FOR OBJECT UNDER INSPECTION AND MEASURING INSTRUMENT FOR OBJECT UNDER INSPECTION例文帳に追加

被検査物の測定方法、及び被検査物の測定装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR BODY UNDER INSPECTION AND ITS DEVICE例文帳に追加

被検査体の検査方法及びその装置 - 特許庁

To acquire information on the frequency dependence of sound velocity in an object under inspection for more accurately grasping the physical characteristics of the object under inspection.例文帳に追加

被検査物における音速の周波数依存性に関する情報を得ることができ、その被検査物の物理特性をより正確に把握すること。 - 特許庁

例文

To find sound velocity and acoustic impedance in an object under inspection and to more accurately grasp the physical characteristics of the object under inspection by using them.例文帳に追加

被検査物の音速及び音響インピーダンスを求め、それらを用いて被検査物の物理特性をより正確に把握すること。 - 特許庁


例文

Two power supplies are provided to apply voltage to a semiconductor device under inspection.例文帳に追加

被検査半導体装置に電圧を印加するための電源を二つ設ける。 - 特許庁

To perform a high-speed, high-quality test by reducing inspection time for semiconductor integrated circuits under inspection (DUT).例文帳に追加

被検査半導体集積回路(DUT)の検査時間を短縮して高速で高品質な検査を行う。 - 特許庁

Flaw inspection is performed under inspection conditions, respectively different in the respective inspection conditions A1 and A2.例文帳に追加

これら各検査領域A1、A2とにおいてそれぞれ異なる検査条件で欠陥検査を行う。 - 特許庁

METHOD OF PERFORMING MODEL BASED SCANPLAN GENERATION OF COMPONENT UNDER INSPECTION例文帳に追加

検査中の構成部品のモデルベーススキャン計画の生成を実行する方法 - 特許庁

例文

A detector 14 detects γ-rays emitted from a radioisotope inside an object under inspection P.例文帳に追加

検出器14は、被検体P内の放射性同位元素から放出されたガンマ線を検出する。 - 特許庁

例文

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING CONCENTRATION OF LIGAND CONTAINED IN SAMPLE UNDER INSPECTION例文帳に追加

調査すべき試料に含まれる配位子の濃度を測定する方法及び装置 - 特許庁

One of the power supplies always applies a voltage that is equal to or less than the breakdown voltage of the semiconductor device under inspection to it.例文帳に追加

片方の電源は、被検査半導体装置の破壊電圧以下の電圧を常に印加する。 - 特許庁

To detect a warpage amount of a wafer in high-speed rotation under inspection in real time.例文帳に追加

検査中の高速回転のウェーハに対して、リアルタイムでその反り量を検出する。 - 特許庁

To detect the amount of warp of a wafer under inspection which is rotating at high speed in real time.例文帳に追加

検査中の高速回転のウェーハに対して、リアルタイムでその反り量を検出する。 - 特許庁

To provide an interferometer capable of precisely measuring the transmission wave front of an optical system under inspection.例文帳に追加

被検光学系の透過波面を高精度に計測できる干渉計を提供する。 - 特許庁

This configuration allows a contact pin provided on the pin base 3 to be brought into contact with the area under inspection a plurality of times and allows flux at the area under inspection to be surely removed.例文帳に追加

これにより、ピンベース体3に設けられたコンタクトピンを被検査箇所に対して複数回当接させ、該被検査箇所におけるフラックスを確実に除去することができる。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which can remove flux adhering to an area under inspection easily and surely and can make the condition of an area under inspection good.例文帳に追加

被検査箇所に付着したフラックスを容易かつ確実に除去することができ、被検査箇所の状態を良好にすることができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To perform optical axis adjustment work for an object under inspection smoothly and with high precision in an interferometer.例文帳に追加

干渉計において、被検体の光軸調整作業を円滑かつ高精度に行うことができるようにする。 - 特許庁

To perform continuity/insulation inspection accurately by preventing the poor contact of a probe with respect to an electrode of a board under inspection.例文帳に追加

被検査基板の電極に対するプローブの接触不良を防止して正確に導通・絶縁検査を行うことができる検査用治具を提供する。 - 特許庁

To measure a space charge distribution in an insulation layer over all circular direction of a cable under inspection without rotation of the cable.例文帳に追加

被測定ケーブルを回転させることなく、被測定ケーブルの円周方向の全域にわたって絶縁層中の空間電荷分布を測定する。 - 特許庁

This substrate visual inspection device is for inspecting the quality of the substrate by taking an image of a substrate that is an object under inspection to analyze the image.例文帳に追加

検査対象である基板の画像を撮像して、当該画像を解析することによって基板の良否を検査する基板の外観検査装置である。 - 特許庁

This leak inspection device comprises a conveyance means 10 for causing the body 1 under inspection to pass through a tunnel 15 and a detection means 20 disposed in the tunnel 15.例文帳に追加

トンネル15内に被検体1を通過させる搬送手段10と、トンネル15内に配置された検出手段20とを有する。 - 特許庁

To provide an article inspected by an inspection system for determining whether an article under inspection is authentic or not, and easily handled in shipping.例文帳に追加

検品対象品が真正品か否かを判定する検品システムにより検品可能で、且つ、出荷時に取り扱い易い物品を提供する。 - 特許庁

To provide a shape detection apparatus which improves the reliability of shape detection for objects under inspection which are arranged in a two-dimensional manner.例文帳に追加

二次元配置された検査対象物の形状検出の信頼性を向上させる形状検出装置を提供する。 - 特許庁

The function of a refrigerating machine under inspection is born by the other refrigerating machine 1 whereby air conditioning under the inspection can be achieved.例文帳に追加

点検中での冷凍機の機能を他の冷凍機1が担うことによって点検中での空調が達成される。 - 特許庁

To provide a TR-method CT device collecting data on cross-sectional images of a body under inspection, at a high speed and having a plurality of focal points.例文帳に追加

被検体の断面像のデータを高速に収集できる複数の焦点を有するTR方式CT装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device constituted so as to certainly store and preserve the inspection data of individual objects under inspection in a discriminable manner to certainly extract them.例文帳に追加

個々の被検査物の検査データを確実に識別可能に記憶保存し、確実に抽出することができるX線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection device capable of detecting a defect with high inspection accuracy even when a pattern is formed with a transparent film on an object under inspection and the film thickness of the transparent film is varied according to the position on the object under inspection.例文帳に追加

被検査物体上に透明薄膜でパターンが形成されていて、その透明薄膜の膜厚が被検査物体上の位置によって変化している場合においても、高い検査精度で欠陥を検出できるパターン欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The apparatus 15 is installed on a run-out table behind a cooling zone 12 between the final stand of a finish rolling machine 11 of a hot rolling line and a pinch roll 13 before a down coiler 14 and its floodlight projection part emits light to the surface to be inspected by an object under inspection obliquely in the width direction of the object under inspection.例文帳に追加

熱延ラインの仕上げ圧延機11の最終スタンドとダウンコイラ14前のピンチロール13との間の、冷却帯12の後のランナウトテーブル上に、圧延性ロール疵検出装置15を設置し、その投光部は、被検査体の幅方向斜めより被検査体の検査対象面上に光を照射する - 特許庁

Under the condition that five kinds of tests are supposed to be conducted for the third sample from the head of a sample rack 21, when an error indicating a shortage of the sample occurs at the third test, an analysis status flag of "under inspection/abnormal" is set for the test, and an analysis status flag of "under inspection/normal" is set for the tests therebefore.例文帳に追加

サンプルラック21の先頭から3番目のサンプルについて5種類のテストを行うように受け付けられていたが、3番目のテストでサンプル不足のエラーが発生すると、そのテストについては「検査中/異常」の分析状態フラグが立てられ、それ以前のテストについては、「検査中/正常」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁

To reduce labor and time spent by a maintenance person when the maintenance person is inspecting an elevator by omitting work for placing signs or the like in elevator landings on each floor informing that the elevator is under inspection work, and to make elevator users easily recognize information that inspection work of the elevator is started and that the elevator is under inspection work.例文帳に追加

保守員がエレベータ点検作業を行なう際に点検作業中であることを知らせるための立て札等を各階床の乗り場に配置する作業が省略できて保守員が費やす労力および時間を低減することができるとともに、エレベータ利用者に対してそのエレベータが点検作業を開始する情報および点検作業中である情報を容易に認識させることのできるようにすること。 - 特許庁

Every time the UV CCD camera 5 photographs a frame of image, the resist pattern 102 under inspection is irradiated with illuminating light having a wavelength in the UV range at an irradiating quantity of 0.5 mJ/cm2 or more, an irradiating threshold not shrinking the resist pattern 102 under inspection or an irradiating quantity below the irradiating threshold, not changing the absorption of an antireflective film.例文帳に追加

また、紫外光用CCDカメラ5が1枚の画像を撮像する毎に、検査するレジストパターンに対して、紫外域の波長を有する照明光を、0.5mJ/cm^2以上の照射光量で、且つ、検査対象のレジストパターン102を収縮させない照射閾値、或いは、反射防止膜の吸収率を変化させない照射閾値以下の照射光量で照射する。 - 特許庁

(1) During an on-site inspection, the inspector shall first have an adequate exchange of views with the financial institution under inspection with regard to the facts relevant to the rating, as well as the evaluation thereof. 例文帳に追加

(1)検査に際しては、まず検査官が、立入検査期間中に、評定に係る事実関係及びその評価について、被検査金融機関と十分に意見を交換することとする。 - 金融庁

A device assembly under inspection includes a DUT board having a plurality of spine assemblies protruding from a flat surface of the DUT board and arranged thereon.例文帳に追加

試験中のデバイスアセンブリは、DUTボードの平面から出てその上に配置された複数の尾根部アセンブリを有するDUTボードを含む。 - 特許庁

This radiation inspection device 10 detects and simultaneously counts gamma rays from a radioactive isotope in a body S under inspection to obtain distribution information on the radioactive isotope in the body S.例文帳に追加

被検体S内にある放射性同位元素からのガンマ線を検出して同時計数し、放射性同位元素の被検体S内における分布情報を取得する放射線検査装置10である。 - 特許庁

The audit CPU extracts an audit sheet Pk from the paper sheets P under inspection, transmits an inspection result thereof to the counting CPU and further stores the inspection result within the audit CPU.例文帳に追加

また、監査用CPUは、検査中の紙葉類Pの中から監査券Pkを抽出し、その検査結果を計数用CPUに送ると共に同時に、その検査結果を監査CPU内に保存する。 - 特許庁

The light intensities of the light waves, outputted from the amplifier 20 for amplifying light under inspection, are measured for each signal wavelength by an optical spectrum analyzer 6, and FWM cross stroke value XT_40 (λ) is obtained.例文帳に追加

被検査光増幅器20から出力された光波は、光スペクトラムアナライザ6にて信号波長毎に光強度が測定され、FWMクロストーク値XT_40(λ)が取得される。 - 特許庁

The image magnification of an image forming optical system 6 is set so that the image resolution by a CCD camera 5 for UV rays may be 10-30 nm on the resist pattern 102 under inspection.例文帳に追加

紫外光用CCDカメラ5による画像分解能が、検査するレジストパターン102上において10nm以上30nm以下となるように、結像光学系6の結像倍率を設定する。 - 特許庁

In this state, when an elevator user presses a landing call button 3 of a landing of a floor to use an elevator under inspection work, a buzzer 2 issues a buzzer sound.例文帳に追加

この状態において、エレベータ利用者が点検作業中のエレベータを利用しようとして、ある階床の乗り場の乗り場呼びボタン3を押すと、ブザー2がブザー音を発することになる。 - 特許庁

The other power supply applies a voltage required to cause a current under a desired inspection condition to flow, in synchronization with a control signal of the semiconductor device under inspection.例文帳に追加

もう片方の電源は、所望の検査条件の電流を流すために必要な電圧を、被検査半導体装置の制御信号と同期させて印加する。 - 特許庁

To provide a radioactive contamination inspection method and its device for acquiring a satisfactory detection limit while securing throughput per unit of time, as to radioactive contamination inspection on an object under inspection continuously moving on a conveyor.例文帳に追加

コンベアに積載され連続移動している被検査物の放射性汚染検査において単位時間あたりの処理量を確保しつつ良好な検出限界を得ることのできる放射性汚染検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

This lens holder 120 used for holding a lens 105 under inspection, comprises a lens hold part 122 for holding the lens 105, and a reflective surface 123 for reflecting light in a direction substantially orthogonal to a plane including the hold part 122.例文帳に追加

被検レンズ105を保持するためのレンズホルダ120であって、被検レンズ105を保持するレンズ保持部122と、レンズ保持部122を含む平面に略直交する方向へ光を反射する反射面123とを有する。 - 特許庁

A computer aided diagnosis (CAD) device is equipped with an accumulation detection part 23 for detecting an accumulation of radiopharmaceuticals in a body under inspection from diagnosis data (PET image) which are data for nuclear medicine.例文帳に追加

コンピュータ診断支援(Computer-Aided Diagnosis: CAD)装置は、核医学用のデータである診断データ(PET画像)から放射性薬剤による被検体内の集積を検出する集積検出部23を備える。 - 特許庁

To provide an intercom device with which an inspection worker can inform a resident that the intercom device is under inspection by using an entrance slave unit, and no false alarm is issued even if the inspection worker operates the intercom device improperly.例文帳に追加

点検作業者が玄関子機を使って、居住者に点検中であることを通知し、かつ、点検作業者が誤った操作をしても誤発報することがないインターホン装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of determining acceptability of an optical element under inspection by detecting with once measurement of surface shape error, eccentric error between surfaces, refractive index distribution etc. , even without reference lens.例文帳に追加

基準レンズがなくても被検光学素子の面形状誤差、面間偏心誤差、屈折率分布等を一度の測定で検知し、被検光学素子の合否を判定できる検査装置。 - 特許庁

The first and second light sources alternately flashes continuously from strobe lights, the first and second two-dimensional images of the part of the container 12 under inspection are downloaded from the sensor.例文帳に追加

第1及び第2光源は連続して代わるがわるストロボからフラッシュを発し、検査中の容器部分の第1及び第2の2次元画像はセンサからダウンロードされる。 - 特許庁

To perform a withstand voltage inspection for a semiconductor device under inspection, which has low withstand voltage characteristics and a large current flow, in a condition that is approximately the same as an actual use environment without destroying the device.例文帳に追加

低い耐圧特性、及び大きな電流が流れる被検査半導体装置を、破壊することなく実際の使用環境と略一致の条件にて耐圧検査する。 - 特許庁

Further, the ECU 2 sets, if determining to be under inspection of the internal combustion engine 3, an ignition timing IG_LOG at a predetermined value for inspection IG_SCS (steps 42 to 46).例文帳に追加

また、内燃機関3の点検中であると判定した場合、点火時期IG_LOGを所定の点検用値IG_SCSに設定する(ステップ42〜46)。 - 特許庁

The oil tightness inspection apparatus is provided with a measurement section 3 having an inspection section 4 on which a workpiece W under inspection is mounted and a measurement head 5 for measuring the amount of oil leakage of the workpiece W.例文帳に追加

検査すべきワークWを載せる検査部4とこのワークWの油の洩れ量を計測するための計測ヘッド5とを有する計測部3を備える。 - 特許庁

例文

Light waves that oscillate from a plurality of signal light sources 1-1 to 40 that oscillate in a vertical single mode are multiplexed by a light multiplexer 4, and are inputted into an amplifier 20 for amplifying light under inspection.例文帳に追加

縦単一モードで発振する複数の信号光源1−1〜40から発振した光波を合波器4にて合波して、被検査光増幅器20に入力する。 - 特許庁

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