機能診断テストの英語

複雑で大規模な回路構成を備えて複雑な制御をする必要なく、テスト仕様の変更や追加に対しても柔軟に対応することができる自己診断テスト機能を備えた半導体記憶装置を提供すること例文帳に追加

To provide a semiconductor storage device provided with a self-diagnostic test function that dispenses with complicated control by the arrangement of a complicated and large-scale circuit configuration and can flexibly cope with even revisions and additions of test specifications. - 特許庁

機能評価テストにおける期待値の自由度を確保し、且つ、装置構成を簡略化することができる自己診断機能を内蔵する半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device capable of securing the freedom of expected values in a function evaluation test and incorporating a self-diagnosis function capable of simplifying a device configuration. - 特許庁

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin. - 特許庁

ＩＧスイッチがオフの状態でメインキーを差し込み（Ｓ２１、Ｓ２２）、テスト端子をオンして補助スイッチを所定時間内に３回オンすることにより（Ｓ２３、Ｓ２４）、ドアロック／アンロック機能の診断が開始する（Ｓ２５）。例文帳に追加

A main key is inserted in a state where an IG switch is turned off (S21 and S22), the test terminal is turned on by turning on an auxiliary switch in a prescribed time three times (S23 and S24), and the diagnosis of the door locking/unlocking function is started (S25). - 特許庁

この発明は、自己診断機能を備えて各部の動作テストを効率的に行なうことができるとともに、十分に実用に適するように細部に改良の施されたディスクドライブ装置を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a disk drive device which is improved so as to fit enough to actual use, while the operation of each part can be tested efficiently by the self diagnostic function. - 特許庁

ウェハ１上に形成された複数のチップ２間のダイシングライン４上に形成され、チップ２の試験を補助する自己診断機能を有するテスト補助回路５およびチップ２の静電気破壊試験を自己完結する機能を有する評価補助回路６を備える。例文帳に追加

Test auxiliary circuits 5 each of which has a self-diagnosis function for supporting a test of a chip 2, and evaluation auxiliary circuits 6 each of which has a function for self-completing an electrostatic destruction test of the chip 2, are formed on each dicing line 4 between a plurality of chips 2, formed on a wafer 1. - 特許庁

診断機能を備えた半導体集積回路を構成するアドレスレジスタ３、データ入力レジスタ４およびコンペアレジスタ５に、スキャンパステストが実行可能に設計されシフト動作モード時にシフトレジスタ構成となる論理回路の回路要素を利用する。例文帳に追加

A circuit element of a logic circuit which is designed so that a scan pass test can be performed and has shift register constitution in a shift operation mode is utilized for an address register 3, a data input register 4, and a compare-register 5 constituting a semiconductor integrated circuit provided with self-diagnosis. - 特許庁

金融当局の対応も、前回の危機のときは、セーフティネットや破綻処理スキームが未整備でございましたし、また健全性を図る尺度、健全性の基準であるとか、あるいは、破綻を予防する枠組みなども未整備でございました。そういう中での取組みでしたから、ある程度の試行錯誤が不可避であったと思います。それに引き換えまして、今回、私どもが対応した環境というのは、健全性規制の枠組みが、ある程度整っている状況の下での対応になりました。そういう中で、早期診断・早期対処、あるいはストレステストを行う、また、そのモニタリングの結果を情報発信するということができました。また、さらに日本の場合は、金融セクターは相対的に健全でしたけれども、実体経済が急速に悪化したという特徴もございましたので、金融セクターによる金融仲介機能の発揮という点に重点を置いた対応をしてきたということでございます。例文帳に追加

As for the response of the financial authorities, in the previous crisis, there was neither a safety net nor a scheme for dealing with failures. Nor was there a yardstick to measure financial soundness or a framework for preventing failures. In a situation like that, a trial and error process was inevitable. In contrast, we are dealing with the current crisis under a fairly-well-developed regulatory framework concerning financial soundness. In this situation, we have been able to provide early diagnosis and treatment, conduct stress tests and disclose information concerning the results of monitoring. Moreover, we placed emphasis on the exercise of the financial sector's financial intermediary function, as Japan's real economy deteriorated rapidly despite the relative soundness of the financial sector.発音を聞く  - 金融庁