「数欠」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

今日は代数の時間に欠席した例文帳に追加

I cut my algebra today.  - 斎藤和英大辞典

学生の半数は欠席している。例文帳に追加

Half of the students are absent. - Tatoeba例文

定員に欠けた人数例文帳に追加

the number of people missing or lacking from the fixed requirement  - EDR日英対訳辞書

月の満ち欠けを示す日数例文帳に追加

the number of days that indicate full moon and new moon  - EDR日英対訳辞書

学生の半数は欠席している。例文帳に追加

Half of the students are absent.  - Tanaka Corpus

歌の数は1400首（欠巻を除く）。例文帳に追加

The collection contains 1400 poems (excluding those in the lost volumes).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

複数段間欠駆動機構例文帳に追加

MULTIPLE-STAGE INTERMITTENT DRIVING MECHANISM - 特許庁

ガス欠信号が所定回数出力されたときに、ガス欠状態としてガス欠判定を行う。例文帳に追加

When the low-gas running signals are outputted for prescribed times, it is determined to be the low-gas running state. - 特許庁

欠陥の見逃しや、近接した欠陥の画像の重なりを防止して、欠陥計数誤差が低減する。例文帳に追加

To reduce defect count errors by preventing defects from being overlooked, and the images of close defects from being overlapped. - 特許庁

複数の表面欠陥計による表面欠陥検査方法例文帳に追加

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD BY A PLURALITY OF SURFACE DEFECT METERS - 特許庁

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。例文帳に追加

The header a defect list identifier 131 for identifying the defect list, and first updating number-of-time information 133, and a defect entry number 132 indicating the number of defect entries. - 特許庁

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。例文帳に追加

The header includes a defect list identifier 131 for identifying a defect list, a first update-times information representing the number of times that the defect list has been updated, and a defect entry number 132 representing the number of defect entries. - 特許庁

つまり、欠陥パラメータ値と欠陥数の関係である度数分布を作成し、表示する。例文帳に追加

Namely, frequency distribution being a relation between a defect parameter value and the number of the defects is generated and displayed. - 特許庁

縦仕切板２ａ〜２ｄは、複数の第１切欠部４と複数の第２切欠部５とを交互に備える。例文帳に追加

Lengthwise partition panels 2a-2d are alternately provided with a plurality of first notches 4 and a plurality of second notches 5. - 特許庁

そして、計数された欠陥画素数と所定数とを比較する。例文帳に追加

The number of the counted defective pixels is compared with a prescribed number. - 特許庁

続いて、欠損数算出部１２０は、検出した絶縁膜における欠損のうち、交差部における欠損の数を算出する。例文帳に追加

Then, a deficiency number counting section 120 counts the number of deficiencies on intersections out of the detected deficiencies in the insulating film. - 特許庁

教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。例文帳に追加

The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position. - 特許庁

また、共振振動数算定部７で振動応答波形を周波数分析して共振振動数を算定し、共振振動数と欠陥形状を対応させる欠陥形状データベースとから欠陥形状を推定する欠陥形状推定部８を備えた欠陥診断装置により、欠陥の深さと形状の推定が可能となる。例文帳に追加

By the flaw diagnosing apparatus thus constituted, the depth and the shape of the flaw can be estimated. - 特許庁

欠陥検出修正部４０は、欠陥検出処理は複数の欠陥検出モードを有し、欠陥修正処理は複数の欠陥修正モードを有する。例文帳に追加

A defect detection and correction part 40 is composed so that defect detection processing has a plurality of defect detection modes and defect correction processing has a plurality of defect correction modes. - 特許庁

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。例文帳に追加

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not. - 特許庁

欠陥検出器を複数有する欠陥検査装置であって、複数の欠陥検出器と、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する判別器とを備えた欠陥検査装置およびそれを用い、それぞれの欠陥検出器から送られてくる被検査材の欠陥情報を比較・照合することにより、それぞれの欠陥検出器が検出した欠陥が同じ欠陥であるのか、否かを判別する欠陥検査方法。例文帳に追加

The defect inspection method uses the defect inspection apparatus and discriminates whether the defects respectively detected by the defect detectors are the same by comparing and verifying the defect information of the inspected materials sent from defect detectors. - 特許庁

皿が, 欠けたのを数えないで, 14 枚あった.例文帳に追加

There were fourteen plates, not counting the cracked ones.  - 研究社 新英和中辞典

彼の議論には数々の欠陥があった.例文帳に追加

There were numerous lacunae in his argument.  - 研究社 新英和中辞典

彼の欠席の回数はどれほどですか.例文帳に追加

How often [many times] was he absent?  - 研究社 新和英中辞典

喫煙者の病欠日数は非喫煙者の２倍です。例文帳に追加

Smokers take twice as many days off sick as non-smokers. - Tatoeba例文

あなたは、すべての欠席者を数えられますか？例文帳に追加

Can you account for all these absences?  - 日本語WordNet

十分な量や数に欠けていること例文帳に追加

lack of an adequate quantity or number  - 日本語WordNet

一部が欠けて数が揃わないもの例文帳に追加

something that is missing a part and uneven in number  - EDR日英対訳辞書

喫煙者の病欠日数は非喫煙者の２倍です。例文帳に追加

Smokers take twice as many days off sick as non-smokers.  - Tanaka Corpus

しかしそれには20数年分の欠落があった。例文帳に追加

However it was missing twenty years or more worth of parts.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

切欠部の表面には複数の溝が形成されている。例文帳に追加

A plurality of grooves are formed on the surface of each notch. - 特許庁

複数の撮影画像から欠陥画像を特定する。例文帳に追加

A defective image is identified from the multiple photographed images. - 特許庁

黄斑領域視野欠損指数算出装置例文帳に追加

MACULAR AREA VISUAL FIELD DEFECT INDEX CALCULATION APPARATUS - 特許庁

コスト低減のためには工程数の削減が不可欠である。例文帳に追加

To reduce the number of processes for reducing costs. - 特許庁

これはプロ野球の永久欠番と同じで、「代数を欠くこと」そのものに意義があるのである。例文帳に追加

In much the same way as numbers are `retired` in professional baseball, the eliminating a certain number from a sequence in itself has significance.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

欠陥サイズ分布の妥当性を評価し、確率欠陥数の信頼性を高める。例文帳に追加

The reliability of the number of probable defects is improved by evaluating the propriety of the defective size distribution. - 特許庁

欠陥を計数する際の適正なしきい値を決定する欠陥検査方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a defect inspection method used for determining an appropriate threshold value in counting defects. - 特許庁

歯欠け歯車が１回転する過程で複数回間欠的に動力を伝達させる。例文帳に追加

To intermittently transmit motive power more than once in a process of rotating a tooth-chipped gear once. - 特許庁

半導体集積回路パターンの欠陥検査において、欠陥検査回数を制限しつつ、致命欠陥の管理を容易にする。例文帳に追加

To facilitate the management of critical defects while restricting the number of defect inspections, in the defect inspections of a semiconductor integrated circuit pattern. - 特許庁

欠陥検査装置１は、上記機能を有する境界強調部１２、欠陥検出部１３及び欠陥計数部１４からなる。例文帳に追加

The defect inspection apparatus 1 comprises a boundary emphasis section 12 having the above functions, a defect detection section 13, and a defect count section 14. - 特許庁

欠陥画素判定部２０ｅは、複数の第２の絶対値、および、欠陥画素判定用閾値に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する。例文帳に追加

A defective pixel determining section 20e determines whether the target pixel is defective pixel based on the second absolute values and the threshold for determining defective pixel. - 特許庁

欠陥の無い部分がない場合は、欠陥の数が最も少ない位置を選択するか、欠陥が全て指定した領域内にある位置を選択する。例文帳に追加

When there are no parts without defects, positions with least defects are selected or positions at which defects are confined to a prescribed area are selected. - 特許庁

当該欠陥管理領域の一時的欠陥管理領域(TDMS)には、複数の欠陥領域リスト(TDFL)と、構造情報(TDDS)とが記録されている。例文帳に追加

A plurality of defective area lists (TDFL) and structure information (TDDS) are recorded in the temporary defect management area (TDMS) of the defect management area. - 特許庁

この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。例文帳に追加

The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals. - 特許庁

判定部５２では、同一欠陥に由来する欠陥要素により構成される複数の欠陥要素ペアが取得される。例文帳に追加

A determining part 52 acquires a plurality of defect element pairs constituted of the deflect elements derived from the same defect. - 特許庁