「数欠」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

この場合、ＥＥＰＲＯＭには欠陥レベルの大きい欠陥画素画素アドレスから順に記憶されているので、欠陥画素が互いに近接して存在する場合、つまり補償対象の欠陥画素アドレスが互いに隣接する複数の欠陥に関しては、欠陥レベルの大きい欠陥画素に関する欠陥補償処理が優先して実行されることになる。例文帳に追加

In this case, since the EEPROM stores defective data of the defective pixels sequentially in the order of addresses of defective pixels with a greater defective level, when defective pixels exist adjacently to each other, that is, when a plurality of defects, where defective pixel addressed of compensation objects are adjacent to each other, exist, the defect compensation processing is carried out for defective pixels having a greater defect level with priority. - 特許庁

半導体基板に形成されたパターンに存在する複数の欠陥を検出し、検出した複数の欠陥の中から所定数の欠陥を抽出した後、抽出した所定数の欠陥について外観検査を実施する工程において、検出した欠陥の発生状況を反映した代表的な欠陥を抽出することができる半導体装置の製造技術を提供する。例文帳に追加

To provide manufacturing technology of a semiconductor device, which can extract a representative defect that reflects an occurrence situation of a detected defect in a process for detecting a plurality of the defects existing in a pattern formed in a semiconductor substrate, extracting the prescribed number of the defects from a plurality of the detected defects and inspecting an appearance on the prescribed number of the extracted defects. - 特許庁

半導体ウェーハ表面でレーザ光を一定方向に走査することによって欠陥を検出する計測器を用いて、異方性を有した欠陥と等方性を有した欠陥とを高精度に識別して、両者の欠陥の数を高精度に検出できるようにし、また、異方性が異なる各欠陥を高精度に識別して、異方性の異なる欠陥毎に欠陥の数を高精度に検出できるようにする。例文帳に追加

To precisely discriminate an anisotropic defect from an isotropic defect to detect precisely the numbers of the both defects, using a measuring instrument for detecting the defect by scanning a laser beam along a fixed direction on a semiconductor wafer surface, and to precisely discriminate the respective defects different in anisotropy to detect precisely the numbers of the defects in every defect different in the anisotropy. - 特許庁

温度依存間欠発振周波数制御回路８は周囲温度に変化に対して間欠周波数を変化させる機能を備え、周囲温度が低下すると、間欠周波数を低下させるようになっている。例文帳に追加

The frequency control circuit 8 has a function to change the frequency of intermittent oscillation in compliance with varying ambient temp. and lowers the frequency of intermittent oscillation if the ambient temp. sinks. - 特許庁

欠陥補正手段３０による補正は、感度係数欠陥情報記憶手段２８Ａに記憶されている固定欠陥画素及び点滅欠陥画素を対象として行う。例文帳に追加

A defect correction means 30 corrects fixed defect pixels and flicker defect pixels stored in the sensitivity coefficient defective information storage means 28A. - 特許庁

この一次欠陥リストまたは二次欠陥リストを用いて、近接する複数の欠陥管理領域から一度に欠陥管理情報を再生する（ステップ３）。例文帳に追加

By using the primary defect list or the secondary defect list, the defect management information is simultaneously reproduced from a plurality of the adjacent defect management areas (step 3). - 特許庁

その不確かな欠陥ラインを欠陥かどうか判定するために、不確かな欠陥ラインの平均輝度と、隣接する複数の正常画素からなるラインの平均輝度とを比較して欠陥かどうかを判定する。例文帳に追加

For determining whether the uncertain defective line is a defect, the average luminance of the uncertain defective line is compared with that of a line, comprising a plurality of normal, adjacent pixels. - 特許庁

欠陥画素検出部１１２ｂでは、複数の欠陥画素候補が隣接した場合には優先順位の低いものは欠陥と判定しないという、優先度に基づく欠陥画素判定が行われる。例文帳に追加

The defect pixel detection section 112b conducts defect pixel discrimination on the basis of priority, where defect pixel objects resident adjacent to each other with lower priority are not discriminated to be defective. - 特許庁

複数の配線パターンが形成された基板６上の欠陥を修正する欠陥修正方法であって、基板６上の欠陥部位を検出し、その欠陥部位の基板６上における位置情報を取得する。例文帳に追加

The defect correction method for correcting a defect on a substrate 6 wherein two or more circuit patterns are formed detects a defective part on the substrate 6 and acquires position information on the substrate 6 of the defective part. - 特許庁

欠陥要素ペア決定部５３では各欠陥要素の代表点を母点としてドローネ三角形分割を行い、複数の三角形を構成する各辺の両端点の欠陥要素により構成される欠陥要素ペアが求められる。例文帳に追加

A defect factor pair decision part 53 performs Delaunay triangulation with the representative points of the respective defect factors used as generatrices to find defect factor pairs comprising defect factors of both end points of respective sides forming a plurality of triangles. - 特許庁

また、教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて、欠陥の重度分類を決定し、欠陥の重度分類を出力することができる。例文帳に追加

The educated artificial neural network determines the classification of the degree of the defect on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals, and outputs them. - 特許庁

これにより円周疵あるいは島状欠陥を他の欠陥と分離して欠陥検出処理を段階的に行うことができるので、検出される欠陥数が増加してもデータ処理装置の処理ロードを低減することができる。例文帳に追加

Hereby, since defect detection processing of the circumferential flaw or the island defect can be performed stepwise separately from other defects, even if the number of defects to be detected is increased, a processing load of a data processing device can be reduced. - 特許庁

ステップＳ１４において、欠陥サイズ・個数別致命率表を参照して、チップに存在する欠陥の欠陥種類に対応する致命率を、チップに存在する欠陥サイズ毎に読み取る。例文帳に追加

The method is characterised in that, in the step S14, the lethality rate corresponding to the type of the defects existing in the chips is read for every size of the defects by referring to a lethality table showing the size/number lethality of defects. - 特許庁

印刷画像から検出された欠陥画像に対して正確に欠陥判定・欠陥分類を行うことが可能になり、欠陥画像を複数種別に分類可能な外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual examination device capable of accurately performing the judgment of a flaw and the classification of the flaw with respect to the flaw image detected from a printed image and capable of classifying the flaw image into a plurality of kinds. - 特許庁

欠陥要素ペア決定部５３では各欠陥要素の代表点を母点としてドローネ三角形分割を行い、複数の三角形を構成する各辺の両端点の欠陥要素により構成される欠陥要素ペアが求められる。例文帳に追加

A defect element pair determining part 53 performs Delaunay triangulation with the typical point of the respective defect elements as base point, and determines a defect element pair constituted of the defect elements of both end points of the respective sides that constitute a plurality of triangles. - 特許庁

時計回路１１を設け、欠陥画素検出部３９が電源投入時又は投入後に、欠陥画素の検出を行って、欠陥画素の個数をその時点の日時とともに欠陥画素補正用メモリ４１に記憶する。例文帳に追加

The imaging apparatus is provided with a clock circuit 11, a defective pixel detection section 39 detects defective pixels at or after application of power and stores information about the number of the defective pixels to a defective pixel correction memory 41 together with a date and time at the detection. - 特許庁

ウェーハ上の多数の欠陥データの中から集積回路の動作に致命的な影響を与える可能性のある欠陥を、オペレータの容易な操作で選択し、選択した欠陥の欠陥画像を表示できる方法の提供。例文帳に追加

To provide a method by which an operator can select defects having the possibility of exerting a fatal influence upon the operation of an integrated circuit from many pieces of defect data of a wafer surface by his or her easy operation so as to display defect images of the selected defects. - 特許庁

細かな欠点の輪郭や、欠点箇所の中に存在する高い空間周波数のコントラストを高精度に検出する欠点検査装置および欠点検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device for detecting the contour of a fine flaw or the contrast of high space frequency present in a flaw place, and a flaw inspection method. - 特許庁

指の数またはつま先が通常の数より多く存在することに特徴づけられる先天性欠損症例文帳に追加

birth defect characterized by the presence of more than the normal number of fingers or toes  - 日本語WordNet

細胞（特に、１細胞）のシミュレーションに不可欠であった小数点以下の端数処理を可能とすること例文帳に追加

To enable fraction processing required for simulation of cells (especially one cell). - 特許庁

複数の鋳枠を搬送路に沿って設けた複数の停止位置に順次間欠的に搬送する。例文帳に追加

A plurality of flasks are brought one by one to plural stopping positions intermittently which are arranged along a transportation route. - 特許庁

なお、切り欠き部１−１は、接続リードの個片端部の数に応じて複数形成されてもよい。例文帳に追加

Furthermore, two or more of the cutouts 1-1 may be formed according to the number of the unit piece ends of the connection lead. - 特許庁

低倍率のＳＥＭ像で欠陥を検出し、高倍率のＳＥＭ画像で欠陥を観察する半導体デバイスの欠陥レビューにおいて、欠陥レビューの効率をあげて短時間に多数に欠陥をレビューできるようにする。例文帳に追加

To enhance efficiency for reviewing a defect to review the large number of defects in a short time, in the defect review for a semiconductor device capable of detecting the defect in a low magnification of SEM (Scanning Electron Microscope) image and capable of observing the defect in a high magnification of SEM image. - 特許庁

欠陥データ検出部１１２ａによる欠陥検出では、例えば毎回の本撮像の際に画像を解析して欠陥の候補が検出され、さらに複数回の検出において所定の条件を満たした欠陥候補のみが欠陥画素データとして決定される。例文帳に追加

In defect detection by the defect data detecting part 112a, candidates for defects are detected by analyzing an image, for example, in the case of every main photographing and only a candidate for the defects to satisfy prescribed conditions in a plurality of times of detection is further determined as defect pixel data. - 特許庁

シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。例文帳に追加

A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate. - 特許庁

本発明のエッジ欠陥検出方法は、撮像画像にエッジ欠陥強調フィルタを適用することにより、パターンＰにおける複数の方向Ｄ１〜Ｄ３にそれぞれ沿った各エッジＥ１〜Ｅ３に係るエッジ欠陥を強調し、エッジ欠陥強調値を取得するエッジ欠陥強調工程を備える。例文帳に追加

The edge defect detecting method of the invention is provided with the process of enhancing the edge defects at edges E1-E3 in a plurality of the directions D1-D3 in the pattern P, and obtaining edge defect enhancement values by applying an edge defect enhancement filter to a captured image. - 特許庁

欠落画素を含む画素の組を構成する複数の画素の値の平均値と欠落画素を含まない画素の組を構成する複数の画素の値の平均値が等しくなるように欠落画素の補間データを求める。例文帳に追加

The interpolating data of lacked pixels are obtained so that the mean value of values of a plurality of pixels constituting a group of pixels including lacked pixels is made equal to the mean value of values of a plurality of pixels constituting a group of pixels including no lacked pixel. - 特許庁

その後、システムコントローラ４０は、位置検出部５１によって検出された欠陥画素の画素数と、位置情報記憶部５２に記憶された欠陥画素の画素数とを比較して、欠陥画素が増加したか否かの判定を行う。例文帳に追加

Then, the system controller 40 decides whether defective pixels are increased, by comparing the number of pixels of defective pixels detected by a position detector 51 with the number of pixels of defective pixels memorized by a positional information storage 52. - 特許庁

超音波画像に複数の欠陥像が表れている場合に、実際には単一の欠陥に起因するのか複数の欠陥に起因するのかを、デジタル演算処理によってより正確に判別する。例文帳に追加

To correctly determine whether multiple flaw images appearing on an ultrasonic image substantially arise from a unique flaw or from a plurality of flaws by digital operation processing. - 特許庁

スロット１は、複数の溝を仕切るリブ５を複数有し、リブ５は、その少なくとも一部が欠落している欠落部５ａが間欠的に形成されている。例文帳に追加

The slot 1 has a plurality of ribs 5 which partition the plurality of grooves, the ribs 5 has lack parts 5a which are intermittently formed in which at least a part of the rib lacks. - 特許庁

この発明は、半径別の欠陥数ヒストグラムデータにおける半径別の欠陥検出量（欠陥検出個数）についての標準偏差値を越える集計トラック領域において、円周疵の検出をする。例文帳に追加

In this invention, a circumferential flaw is detected in a totalized track domain exceeding a standard deviation value on a defect detection amount (the number of detected defects) classified by radius in defect number histogram data classified by radius. - 特許庁

本発明は、単結晶の複数個の欠陥を重複せずに分離してカウントし、かつ、同一の欠陥の複数回カウントを回避することにより高精度に欠陥密度を測定する方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method for measuring the flaw density of a single crystal with high precision by separating a plurality of the flaws of the single crystal without overlapping them each other to count them and avoiding that the same flaw is counted a plurality of times. - 特許庁

複数画面に亘る欠陥黒画素候補の検出が完了すると、複数画面分の欠陥黒画素候補から真の欠陥黒画素が判定される。例文帳に追加

When the detection of the defective black pixel object is finished over a plurality of images, a true defective black pixel is discriminated from the defective black pixel objects for a plurality of images. - 特許庁

超音波画像に複数の欠陥像が表れている場合に、実際には単一の欠陥に起因するのか複数の欠陥に起因するのかを、デジタル演算処理によってより正確に判別する。例文帳に追加

To discriminate accurately by digital operation processing, when a plurality of flaw images are displayed on an ultrasonic image, whether the flaw images are caused actually by a single flaw or caused by a plurality of flaws. - 特許庁

また、１枚のシートＳに対して切欠きＶの位置を変更して複数回の切欠き形成動作を実行し、複数の切欠き溝Ｖａを形成する。例文帳に追加

In addition, a notching procedure is taken to a single piece of the sheet S a plurality of times by changing the notch V position, and thereby, a plurality of the notched grooves Va are formed. - 特許庁

符号化データから、中途で打ち切られている付加ビットの断片を取得し、付加ビットの断片から打ち切りにより欠落しているビット数を欠落ビット数として取得し、欠落ビットを再生して付加ビットを復元する。例文帳に追加

Fragments of overhead bits truncated on the way are acquired from encoded data, the number of bits omitted due to truncation is acquired from the fragments of the overhead bits as the number of missing bits, and the missing bits are reproduced to restore the overhead bits. - 特許庁

そのデータを複数の欠陥セクタがある領域に記録させる場合、複数の欠陥セクタ、及びそれらの間に挟まれた非欠陥セクタをまとめて交替領域内の領域と交替させる。例文帳に追加

When these data are made to be recorded in an area having a plurality of defective sectors, the plurality of the defective sectors and non- defective sectors held among these defective sectors are made to be alternated with an area in an alternate area. - 特許庁

欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置に関し、複数品種の電子デバイスの欠陥数データを同一のチャートにプロットして、工程管理を定期的に精度良く行う。例文帳に追加

To provide a defect inspection method, a schedule control method and a defect inspection device for periodically performing schedule control with high accuracy by plotting data of the number of defects in various kinds of electronic devices on the same chart. - 特許庁

同一箇所を複数回スキャンして得られる画像あるいは画像信号を加算し、加算回数の異なる画像あるいは画像信号を比較することにより、擬似欠陥あるいは真の欠陥の欠陥位置を検出する。例文帳に追加

The method comprises: detecting a defective position of a pseudo defect or true defect by adding up images or image signals obtained by performing a number of scans on each location, and comparing the images or image signals which are different in the number of additions with each other. - 特許庁

このとき得られた画像データの信号レベルから、ＣＣＤ３７で発生した欠陥画素の個数を計数し、計数した欠陥画素の個数と、ＥＥＰＲＯＭ５０に記憶された欠陥画素の個数に対する撮像レンズ１１の周辺温度とから、撮像レンズ１１の周辺温度を検出する。例文帳に追加

The CPU 33 counts the number of defective pixels made in the CCD 37 from the signal level of image data obtained at such a time, and detects the ambient temperature of the imaging lens 11 from the counted number of defective pixels and the ambient temperature of the lens 11 corresponding to the number of defective pixels stored in an EEPROM 50. - 特許庁

画素補間部４が，１次元のイメージセンサ１の欠落画素の画素データを，欠落画素両側それぞれの複数の画素データを用いて補間する。例文帳に追加

A pixel interpolating unit 4 interpolates image data of lost pixels of a one-dimensional image sensor 1 using a plurality of pixel data at both sides of the lost pixel. - 特許庁

予想される複数の致命欠陥について、シミュレーション画像の差分信号を計算し、欠陥毎に差分信号を表示する。例文帳に追加

The difference signal between the simulation images is calculated as to the plurality of predicted fatal defects to display the difference signal the defect by the defect. - 特許庁

半導体ウェーハの内部結晶欠陥の深さと相対的寸法因子の測定及び結晶欠陥の個数の算出を可能とする。例文帳に追加

To measure the depth of the internal crystal defect of a semiconductor wafer and a relative dimension factor and to compute the number of crystal defects. - 特許庁

これにより、アモルファスカーボン中の欠陥数を減少させることができ、欠陥密度の低いアモルファスカーボンが実現可能となる。例文帳に追加

Consequently, the number of defects in the amorphous carbon can be reduced, and the amorphous carbon with low defect density can be realized. - 特許庁

複数の読み出し方法でそれぞれ欠陥画素の判定を行い、欠陥画素のアドレスを読み出し方法ごとに記憶する。例文帳に追加

The defective pixel is determined respectively by a plurality of the reading method and addresses of the defective pixels are stored by each reading method. - 特許庁