「数欠」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

この欠陥来歴リスト８は、ウエハ１毎に作成され、各検査工程３_1,３_2,……,３_N毎に分けて夫々の欠陥の座標位置や検出数，大きさ，クラスタ情報，画像取得のインデックス情報などからなり、当該ウエハでの欠陥に関する全ての情報を含んでいる。例文帳に追加

The historical defect list 8 is created for each wafer 1 and comprises a coordinates position, the number of detects, size, a cluster information, an index information of an image capturing, and the like of each defects for every inspection processes 31, 32, etc., and 3N, and every information in relation to the defects of the wafer. - 特許庁

複数枚のディスク基板上に磁性膜を形成した後、ディスク１，２，３の表面に存在する欠陥を検出して、３枚のディスク１，２，３の主面にそれぞれ存在する欠陥の検出結果から、互いにほぼ等しい位置に存在する固定欠陥４を抽出する。例文帳に追加

After the formation of magnetic films on the plural disk substrate, the defects existing on the surfaces of the disks 1, 2, and 3 are detected, and the fixed defects 4 existing at approximately the same positions each other are extracted by the detection result of the defects existing on the major surfaces of the three disks 1, 2, and 3, respectively. - 特許庁

基板の表面に複数枚のタイルが取り付けられているタイルパネルを下地躯体に固定させるに際し、タイルの少なくとも一部に切り欠き部が設けられており、該切り欠き部から該基板を介して下地躯体に固定することを特徴とするタイルパネルの固定施工方法で、切り欠き部は、例えばタイルの目地交差部に設けられている。例文帳に追加

The cutout part is arranged, for example, in a joint crossing part of the tile. - 特許庁

墜落の発生は、試験機にて検出した欠陥突起の位置データ（半径、角度）を欠陥突起検出マップとして記憶し、同一円周上に欠陥突起が多数検出されるものを自動的に抜き出しヘッド墜落として検知する。例文帳に追加

The occurrence of the drop is stored as a defective protrusion detecting map that is position data of the defective protrusion detected by a tester (radii and angles) and a disk on which many defective protrusions are detected on the same circumference is automatically extracted and detected as the head drop. - 特許庁

複数の発光素子３０を有する照明部３と、この照明部３による照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラ４と、撮像カメラ４の出力信号を評価して被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段とを備えた表面欠陥検査装置。例文帳に追加

The surface defect inspection device comprises: the illumination part 3 equipped with a plurality of light emission elements 30; the imaging camera 4 for photographing the inspection part illuminated by the irradiation light by the illumination part 3; and the defect evaluation means for detecting the defect on the inspection surface by evaluating the output signal of the imaging camera 4. - 特許庁

透光性を有する複数の層が積層されて構成される光学部品の欠陥を、光学部品と検出用の光の入射位置とを高精度に位置決めすることなく、検出することができる光学部品の欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect detecting method and a defect detecting device of an optical part, capable of detecting a defect of the optical part constituted by laminating a plurality of light transmissive layers, without highly accurately positioning the optical part and an incident position of the detecting light. - 特許庁

情報記録媒体１００は、ユーザデータを記録するデータ領域１０２と、Ｎ個の欠陥領域（Ｎ≧０を満たす整数）を管理する欠陥リスト１１２を記録する少なくとも１つの欠陥管理領域１０４（１０５、１０８、１０９）とを備える。例文帳に追加

The information recording medium 100 is provided with a data area 102 for recording user data, and at least one defect management area 104 (105, 108, 109) for recording a defect list 112 for managing N defect areas (integer of N≥0). - 特許庁

その後、欠陥は、任意に定義された欠陥の下位分類に分類され、１つのコア分類と結合され、関連するコア分類の限定数からのみ欠陥を分類するように調整された特定の適用可能な分級機でユーザにより定義される。例文帳に追加

Afterwards, the defects are classified into a low-order class of arbitrarily defined defects, and defined by a user with a specific adaptive classifier connected with one core class, and adjusted so that the defects can be classified only from a limited number of related core classes. - 特許庁

誤って検出される擬似欠陥の数を低減できるとともに、欠陥の検出感度を落とすことなく、本来検出されるべき真の欠陥を検出できる基板検査方法及びその基板検査用のフィルタ画像の画像作成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a substrate, which can reduce the number of pseudo-defects that are erroneously detected and detect a real defect that should normally be detected without deteriorating a defect detection sensitivity, and a method for creating a filter image for the substrate inspection. - 特許庁

シールド板の複数の切り欠き部に弾性力によって嵌り合う係合部を備えた支持部材を設け、係合部には全閉位置用切り欠き部と少し開いた位置用切り欠き部間の凸部が嵌る凹部を設け、凸部と凹部との嵌り合いによって、シールド板が記少し開いた位置よりも更に少なく開いた曇り防止位置をとること。例文帳に追加

The shield plate can take an anticlouding position opened at an opening narrower than the partly opened position by the fitting of the protrusion and the recess. - 特許庁

溶接中における高周波電流の発振周波数を複数回測定し、測定された複数の発振周波数のうち前後する２つの発振周波数の変化量を求め、この変化量に基づいて溶接欠陥を検出する。例文帳に追加

The oscillation frequency of the high frequency current during welding is measured a plurality of times to obtain the change of two adjacent oscillation frequencies among the plurality of measured oscillation frequencies to detect the welding defects on the basis of this change. - 特許庁

転写性を有する欠陥が検出されたらその大きさと個数を露光回数とともに記憶し、複数回のデータ（４回分）に基づいて露光回数Ｅｘの関数ｆ（Ｅｘ）として予測する。例文帳に追加

When defects having transferability are detected, their size and the number of defects are stored with the exposure frequency, and it is predicted as a function f(Ex) of the exposure frequency Ex based on data of a plurality of times (4 times). - 特許庁

また、ＣＰＵが擬似情報数に基づく任意の複数回数たとえば３回を、累積回数たとえば欠席回数１回として演算する場合にその処理も容易となる。例文帳に追加

Moreover, the CPU can easily perform a process when calculation is made by making a plurality of arbitrary numbers, such as three times based on the number of pieces of the pseudo information to be an accumulated number such as one time of absence. - 特許庁

次に、欠点が連続して続く間の画素数をカウントし、連続性が途切れた時点のカウント数をメモリに保持し、先の開始位置と、このカウント数を欠点の画像情報として保持し、端末ＰＣへ転送するためのメモリに書き込む。例文帳に追加

Then, the number of pixels while defects continuously continue is counted, a count number when continuity ends is retained in the memory, and the previous start position and the count number are retained as image information of the defects and are written in a memory for performing transfer to a terminal PC. - 特許庁

欠陥の大きさＳｎの関数ｆ（Ｅｘ）の値が予め設定したウエハの歩留まりが低下する欠陥の大きさＳｙに達する露光回数Ｅｙを算出し、以後はフォトマスクの検査を行わず、露光回数ＥｘがＥｙに達したらフォトマスクの洗浄を行う。例文帳に追加

The exposure frequency Ey is calculated at which the value of the function f(Ex) of the size Sn of the defects reaches a preset size Sy of the defect for reducing the yield of the wafer, after that, the photomask is not inspected, and the photomask is cleaned when the exposure frequency Ex reaches Ey. - 特許庁

複数の鋼材の欠陥を位置と共に検出して欠陥データとして記憶しておくと共に、鋼材の注文に係る切断仕様データを記憶しておき、これらデータを用いて歩留率を算出し、この歩留率を用いて複数の母材と複数の注文の組を選択決定する。例文帳に追加

The defects of a plurality of steel materials are detected with the positions, and stored as defect data, and cutting specification data related with the ordering of steel materials are stored, and a yield rate is calculated by using those data, and the sets of a plurality of base materials and a plurality of orders are selected and decided by using the yield rate. - 特許庁

この際、欠陥領域特定部５５Ａは、判別条件記憶部６０Ａが予め記憶している、閾値が大きくなるほど個数が少なくなるように定めた、閾値と個数との組み合わせからなる複数の判別条件のうちのいずれかを満足するように上記欠陥領域の特定を行う。例文帳に追加

In the defective area identification, the defective area identification part 55A meets any of a plurality of criteria each combining a threshold and units such that the larger the threshold is, the smaller the units are, stored in advance in a criterion storage part 60A. - 特許庁

上記課題は、診断画像中に含まれるモアレ周波数算出部9と、前記モアレ周波数算出部9にて算出されたモアレの周波数から欠損画素補正に用いる画素を選択する欠損補正画素選択部10とを備えることによって解決される。例文帳に追加

The X-ray diagnostic imaging apparatus is provided with: a part 9 for calculating the frequency of the moire included in the diagnostic image; and a defect correction pixel selection part 10 for selecting a pixel to be used for defective pixel correction from the frequency of the moire calculated in the moire frequency calculation part 9. - 特許庁

間欠駆動制御部１１１は、順方向送信周波数および逆方向送信周波数の計測時に数クロック分の順方向クロック選択信号ＣＳ_ｊおよび逆方向クロック選択信号ＣＳ_ｇを間欠時間をあけて出力する。例文帳に追加

An intermittent drive control section 111 outputs a forward direction clock selecting signal CS_j and a reverse direction clock selecting signal CS_g each having a several clock duration such that an intermittent period is interposed between them, when measuring a forward direction transmission frequency and a reverse direction transmission frequency. - 特許庁

同一の垂直ＣＣＤ上に複数の点欠陥１０６，１０７が存在する場合に、水平ＣＣＤ１０４から出力された輝度信号が対応するＹ方向位置が、複数の点欠陥の各Ｙアドレスによって区画される複数の領域のいずれに位置するかを判定する。例文帳に追加

When a plurality of point defects 106 and 107 exist on the same vertical CCD, which of a plurality of regions divided by each Y address of the plurality of point defects is a Y directional position corresponding to the luminance signal outputted from a horizontal CCD 104 positioned is determined. - 特許庁

３　第四百一条第二項から第四項までの規定は、執行役が欠けた場合又は定款で定めた執行役の員数が欠けた場合について準用する。例文帳に追加

(3) The provisions from paragraph (2) through paragraph (4) of Article 402 shall apply mutatis mutandis to the cases where there are no executive officers in office, or where there is a vacancy which results in a shortfall in the number of executive officers prescribed in the articles of incorporation.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

公告手数料を期限内に納付したことを正規に証明しなかった場合((3))，又は補正したクレームに欠陥があった場合は((4))，出願人に対し，1月の期間を指定して欠陥の修正を求める。例文帳に追加

If due payment of the publication fee has not been duly proved (subsec. (3)) or if the amended claims (subsec. (4)) are defective, a time limit of one month shall be fixed for applicant to remedy the deficiencies.  - 特許庁

複数の光電変換画素を有する撮像素子からの画素データを受け、該撮像素子の画素欠陥に起因する不良画素データを適切に修正する画素欠陥修正装置である。例文帳に追加

A pixel defect correction device receives pixel data from the imaging device having plural photoelectric conversion pixels to properly correct defective pixel data caused by the pixel defect of this imaging device. - 特許庁

欠陥が存在する表示パネルの画面上に、前記欠陥を表示させかつアドレスが既知の複数の画素を選択的に表示させた状態で、前記表示パネルの表示画面を撮影する。例文帳に追加

The display image of the display panel is picked up while displaying the defect on the screen of the display panel where the defect exists, and selectively displaying two or more pixels whose addresses are known. - 特許庁

欠陥解析方法は、検査パラメータ値のそれぞれの範囲によって特徴付けられる複数の欠陥部類に対する単一部類分類子を識別する段階を含む。例文帳に追加

A method for defect analysis includes identifying single-class classifiers for a plurality of defect classes, the plurality of defect classes being characterized by respective ranges of inspection parameter values. - 特許庁

表面に中性欠陥または負に荷電した欠陥を有すると共に、励起状態の電子の波動関数の密度が表面で増大する大きさを有する半導体ナノ結晶を記録材料として用いる。例文帳に追加

A semiconductor nanocrystal having neutral defects or negatively-charged defects on a surface, and such a size that wave function density of excited electrons is increased at the surface is used as a recording material. - 特許庁

欠陥異常検出処理部２３４は、位置が合った部分での正規化相互相関係数が判定指標値を下回る場合画像欠陥が存在すると判定する。例文帳に追加

A defect abnormality detection processing part 234 decides that any image defect exists when the specified interrelation coefficients of the positioned portions are lower than a decision index value. - 特許庁

個々の画素電極が複数のサブ画素電極を有する液晶表示装置における短絡欠陥の修正が容易な液晶表示装置およびそのような欠陥の修正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a liquid crystal display device wherein individual pixel electrode has multiple sub pixel electrodes and a short circuit defect is easily corrected and to provide its defect correcting method. - 特許庁

本発明は、複数の画像を読み取ることにより得た画像信号を用いて画素ごとに欠陥画素の有無を特定し、かつ前記欠陥画素の座標を特定する。例文帳に追加

This invention identifies the presence of the defective pixel for every pixel by using an image signal obtained through reading of images and identifies the coordinates of the defective pixel. - 特許庁

欠陥の検出は、薄鋼板１の幅方向を複数に区分して、各区分ごとに行われており、マーキングも欠陥が存在する区分ごとになされる。例文帳に追加

Defect detection is done for each segment produced by plurally segmenting the width direction of the thin steel sheet, marking is done for each segment where a defect exists. - 特許庁

複数画素に対して画像上の連なる欠陥（＝線欠陥）を低減すると共に、補正精度を向上させ、画質劣化を低減することができる撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image capturing apparatus capable of reducing continuous defects (=line defects) on an image for a plurality of pixels, improving correction accuracy, and reducing image quality degradation. - 特許庁

また、読み取り装置は、複数の無線タグ１が密集して配置された場合でも欠落無く読み取ることができるように、アンテナから円偏波の読み取り電波を間欠的に放射する。例文帳に追加

The reader intermittently radiates circle polarized, reading radio waves from an antenna so as to be able to read without omission, even when a plurality of the tags 1 are arranged densely. - 特許庁

ウェハ上に欠陥がクラスタ化して発生した場合に、発生したクラスタに関する正しい情報を、より少ない数の欠陥をレビューする事で効率よく得られるようにする。例文帳に追加

To efficiently obtain appropriate information on generated clusters by reviewing less defects when the defects are clustered and generated on a wafer. - 特許庁

ピストン６８及びハブ部６４に互いに周方向のずれた複数箇所にそれぞれ切欠部７０，７１を設け、これら切欠部７０，７１が設けられた部分を軸方向にオーバーラップさせる。例文帳に追加

Cutout parts 70, 71 are respectively provided in the piston 68 and the hub part 64 in plural places mutually deviated in a circumferential direction, and portions provided with the cutout parts 70, 71 are overlapped in the axial direction. - 特許庁

シーリングブレード（２Ａ）に穿設する多数の切欠部の形状を長穴（２１Ａ）としたので、切欠部の中間部分にも塗工液を流すことができ、不均一性を無くすことができる。例文帳に追加

The coating liquid is made flow even into the intermediate part of each notched part to eliminate the ununiformity by forming the shape of many notched parts perforated on the sealing blade 2A into a long hole 21A. - 特許庁

ここで、巻線体３１Ｔ１〜３１Ｔ３は、各々の巻回内周側の輪郭および巻回外周側の輪郭に、複数の切り欠き部が一定の間隔で間欠的に設けられたものである。例文帳に追加

Windings 31T1-31T3 of each conductor have multiple notches that are intermittently provided, at regular spacings, in their respective inner circumference-side contours and outer circumference-side contours. - 特許庁

補間順位決定部１８は、動画像データの１つのフレーム内に欠陥部分が複数存在していた場合に、欠陥部分に対して補間処理の優先順位を決定する。例文帳に追加

If there are a plurality of defective portions in one frame of motion image data, an interpolation order deciding unit 18 decides a priority order of the interpolation processing of the defective portions. - 特許庁

汎用のレーザマーカを改良した非接触式マーキングを行い、工数を削減するとともに、欠陥の直近に高精度にマーキングを行うことができ、歩留まりを大幅に向上させることができる欠陥マーキング装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect marking device which can decrease a man-hour, perform high-precision marking right nearby a defect, and improve greatly a yield by performing contactless marking using an improved general laser marker. - 特許庁

シリコンとサファイアとの格子定数の不適合に起因して欠陥密度が増大する問題を克服し欠陥密度が小さいＳＯＳ基板を提供する。例文帳に追加

To provide an SOS (silicon on sapphire) substrate reduced in surface defect density by solving a problem that defective density increases due to incompatibility in a lattice constant between silicon and sapphire. - 特許庁

本発明のリダンダンシ制御回路は、電圧（ＳＶＴ）が印加されて絶縁破壊されることにより、欠陥の位置を示す欠陥アドレスの情報がプログラムされる複数のプログラム素子を備えた回路である。例文帳に追加

This redundancy control circuit is a circuit provided with a plurality of program elements in which information of a defective address indicating defect is programmed by applying voltage (SVT) and breaking insulation. - 特許庁

動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出すること。例文帳に追加

To detect the defect of a disk by increasing an operation frequency even during the double speed of a blueray disk, and to detect a defect of increasing reflectance. - 特許庁

鉄イオン及びＬ−プロリンを有効成分とする鉄欠乏性貧血改善及び鉄欠乏性貧血による疲労症状回復促進、赤血球数増加促進又はヘモグロビン量増加促進のための薬剤。例文帳に追加

This medicine comprises an iron ion and L-proline as an active ingredient and is useful for ameliorating iron deficiency anemia, promoting recovery of fatigue symptom by iron deficiency anemia, promoting increase in the number of erythrocyte or promoting increase in amount of hemoglobin. - 特許庁

プレート４の外周面には複数の切欠部８が形成され、センサ５ａ〜５ｅは切欠部８の有無に応じた検出信号（符号コード）を出力する。例文帳に追加

A plurality of notching sections 8 are formed on the circumference of the plate 4, and the sensors 5a-5e output detection signals (sign codes), in response to the presence of the notching sections 8. - 特許庁

具体的には、回転角センサ８から出力されるパルス信号に基づいて欠歯部を検出し、その欠歯部が１回目（最初）の時は、冷却水温（THW ）とバッテリ電圧（VB0 ）から機関回転数を予測する。例文帳に追加

Concretely the ECU 3 senses the tooth missing part on the basis of the pulse signal emitted by a rotating angle sensor 8, and the tooth missing part is the first one, predicts the engine speed from the cooling water temperature (THW) and the battery voltage (VBO). - 特許庁

欠陥救済機能を損なうことなく、回路面積の増加を抑制して、複数の半導体記憶回路に欠陥救済機能をそれぞれ付加することができるようにする。例文帳に追加

To add defect relieving functions to a plurality of semiconductor memory circuits, respectively by suppressing increment of circuit area without spoiling the defect relieving function. - 特許庁