「数欠」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

フレームの複数の切り欠き部を治具上のピンに当接してフレームの位置決めを行う。例文帳に追加

A frame is positioned by making a plurality of cut parts of the frame abut against pins on a fixture. - 特許庁

欠陥数の少ない箔又は成形品の製造を可能にするポリマーを提供する。例文帳に追加

To provide a polymer blend which can be used to produce foils or moldings with a reduced number of defects. - 特許庁

多数のホットスポットから欠陥がより生じ易いホットスポットを抽出する。例文帳に追加

To extract a hot spot that easily causes a defect from a great number of hot spots. - 特許庁

複数部品の接合でバリ等の欠陥を生じさせない樹脂製部品の接合方法を提供する。例文帳に追加

To bond a plurality of resin parts without generating a flaw such as burr or the like. - 特許庁

これにより、点状欠陥から取り出される所定周波数の光の分波効率が向上する。例文帳に追加

As a result, the demultiplexing efficiency of the light of the prescribed frequency taken out of the dot defects is improved. - 特許庁

排出数は予め第１センサー23により確認しているので、欠落も計算器24に送信される。例文帳に追加

As the number of discharged objects are previously ascertained by the first sensor 23, a omitted number is transmitted to a computer 24. - 特許庁

複数方向に異なる表示出力を行なう場合の文字欠けや潰れに対処すること。例文帳に追加

To cope with character breakage or crush in outputting different displays in a plurality of directions. - 特許庁

検出される擬似欠陥の数を低減できるマスク作成方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for forming a mask, with which the number of detectable pseudo defects is reduced. - 特許庁

複数の欠陥種の検出を、検出性能を落とすことなく、短時間で行う。例文帳に追加

To detect a plurality of defect types, in a short time without degrading detection performance. - 特許庁

複数の集積回路をカスケード接続する信号線の欠陥を容易に検出する。例文帳に追加

To easily detect defects of signal lines cascade-connecting a plurality of integrated circuits. - 特許庁

この搬送手段は、進行方向に直列に並んだ状態で複数のマンドレルを間欠的に移送する。例文帳に追加

The feed means intermittently transports a plurality of mandrels arranged linearly in the running direction. - 特許庁

プレートパターン検査において、擬似欠陥の検出量を減らして、検査の工数を減らす。例文帳に追加

To decrease the man-hours of inspection by reducing the amount of the pseudo defects to be detected in plate pattern inspection. - 特許庁

複数層の構造を有する半導体装置の界面における微小な欠陥を検出する。例文帳に追加

To detect a minute defect on a boundary surface of a semiconductor device having a structure of a plurality of layers. - 特許庁

画像内の欠落領域を高度な数理方程式によらずにしかも高速に補う。例文帳に追加

To compensate for lost areas in images quickly without using an advanced mathematical equation. - 特許庁

塗布動作を複数回実行して修正ペースト１３を欠陥部２ａに塗布する。例文帳に追加

The applying operation is performed a plurality of times so that the correction paste 13 is applied to the defect part 2a. - 特許庁

そしてこのマットを複数枚上記切欠部で係止して長尺の仮設マットを形成する。例文帳に追加

A plurality of this mats are hooked by the notched parts, making long temporally mats. - 特許庁

欠陥領域が多数存在しても情報記憶媒体上に安定した連続記録が可能となる。例文帳に追加

To enable stable contiguous recording on an information storage medium even if many defect regions exist. - 特許庁

エンボス線の各々は、間欠的に設けられた複数の凹部４１で形成される。例文帳に追加

Each embossed line is formed of a plurality of recesses 41 provided intermittently. - 特許庁

ホログラムの基準空間周波数ｆに基づいて、ホログラムの欠陥判定を行う。例文帳に追加

The flaw of the hologram is judged on the basis of the reference spatial frequency (f) of the hologram. - 特許庁

モアレ縞の周波数に対してサンプリング周波数が整数倍でない場合においても簡便かつ迅速に欠損画素の補正を可能とする。例文帳に追加

To simply and rapidly correct a defective pixel even in a case that sampling frequency is not an integral multiple with respect to the frequency of a Moire fringe. - 特許庁

補正係数を欠損日における各キーワードの入力回数に乗算することにより、入力回数を補正する（ステップＳ１８）。例文帳に追加

By multiplying the input frequency of each the keyword in the loss day by the correction coefficient, the input frequency is corrected (step S18). - 特許庁

故障は、欠陥の物理現象が明らかになったものであるから、同じように故障自身も分布関数を持つと仮定して、半導体装置の歩留の算出と、欠陥分布関数と特性を同じくする故障分布関数とを用いて欠陥レベル式を導出することで、欠陥レベル推定する方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

A formula on a defect level is deduced by calculating the yield of the semiconductor device and using a fault distribution function having the same characteristics of those of a defect distribution function by assuming that faults themselves also have distribution functions, because the faults are the defects showing cleared-up physical phenomena. - 特許庁

この時定数回路１００等は、このコンデンサを間欠的に充電する充電回路と、間欠的に放電させる放電回路とを備えており、小さな静電容量のコンデンサに対して間欠的な充放電動作を行うことにより、大きな時定数が設定されている。例文帳に追加

This time constant circuit 100 or the like is equipped with a charging circuit for intermittently charging a capacitor thereof and a discharging circuit for intermittently discharging the capacitor and by performing intermittent charging/discharging operation on the capacitor of small electrostatic capacitance, a great time constant is set. - 特許庁

時定数回路１００は、コンデンサを間欠的に充電する充電回路と、間欠的に放電させる放電回路とを備えており、小さな静電容量のコンデンサに対して間欠的な充放電動作を行うことにより、大きな時定数が設定されている。例文帳に追加

The time constant circuit 100 is provided with a charging circuit for intermittently charging a capacitor and a discharging circuit for intermittently discharging the capacitor, and the intermittent charging/discharging operation is conducted on the capacitor whose electrostatic capacity is small, so that a large time constant can be set. - 特許庁

複数の画像取得条件等を設定し、設定条件毎に検査を実行し、検出した欠陥全てを欠陥自動分類機能を用いて真の欠陥と虚報とに分類することにより、複数条件の中から最も検出に適した条件を自動選別する方式。例文帳に追加

A condition most suitable for detection is automatically sorted from a plurality of conditions by setting a plurality of image acquiring conditions or the like to perform inspection at every set condition and classifying all of detected flaws into a real flaw and a false report using an automatic flaw classifying function. - 特許庁

補間部４は、例えば欠落画素を含む複数の画素の値の平均値と欠落画素を含まない複数の画素の値の平均値が等しくなるような補間演算と、欠落画素の左右の画素の平均を求める補間演算とを含み、これらのうち誤差の少ないものを選択する。例文帳に追加

An interpolation part 4 includes an interpolation operation by which, for example, an average value of a plurality of pixel values including the missing pixel equals to an average value of a plurality of pixel values without including the missing pixel and an interpolation operation for calculating an average of pixels at left and right of the missing pixel and the one with less error among them is selected. - 特許庁

撮影画像に対して空間フィルタを適用して輝度が変化する部分を強調し、当該強調した部分を２値化することによって近接した欠陥も重なることなく検出し、その検出した部分の特徴量を基に欠陥かノイズかを判別して欠陥個数を計数する。例文帳に追加

A spatial filter is applied to the photographed image for emphasizing a section where the brightness changes, the emphasized section is binarized for detecting close defects without any overlap, and it is judged whether the defect is a true defect or a noise based on the amount of feature at the detected section to count the number of defects. - 特許庁

この生成した複数の変換音素列の全てに入力テキスト情報の欠落部が含まれている場合に、欠落部カウント手段３は各変換音素列の欠落部の個数をカウントし、このカウント値が最小となるもの以外の変換音素列を排除する。例文帳に追加

When an absent part of the input text information is included in all the converted phoneme sequences, an absent part count means 3 counts absent parts of the respective converted phoneme sequences to exclude converted phoneme sequences except the one having the smallest count value. - 特許庁

信号０６が出力されると、制御コンピュータＣは、欠歯部Ｄ３６の検出によって得られた過去の信号３６の時間幅ｔを欠歯数で割った時間幅ｔ／３の欠歯数分の仮信号３６１，３６２，３６３に置き換える。例文帳に追加

When the signal 06 is output, the control computer C replaces the past signal 36 gained through detection of the toothless portion D36 with temporary signals 361, 362, 363 corresponding to the missing tooth number and having the length of time t/3 obtained by dividing the length of time t of the past signal 36 by the number of the missing teeth. - 特許庁

上記複数のフィン２０の折り曲げ方向の内側かつ屈曲部２６に対して片側に内側切り欠き２３が設け、複数のフィン２０の折り曲げ方向と反対側の外側かつ屈曲部２６に対して内側切り欠き２３と反対の側に外側切り欠き２４を設ける。例文帳に追加

Inside cutouts 23 are provided inside the plurality of fins 20 in the bending direction and on the single side of bent portions 26, and outside cutouts 24 are provided outside the plurality of fins 20 in opposition to the bending direction and on the side of the bent portions 26 in opposition to the inside cutouts 23. - 特許庁

したがって、複数の孔３ａをフィルム３に形成した後に欠陥部２ａを１つずつ修正するので、１つの孔３ａを形成する毎に欠陥部２ａを修正する場合に比べ、複数の欠陥部２ａを短時間で修正することができ、フィルム３の消費量が少なくて済む。例文帳に追加

Consequently, since the defective parts are corrected one by one after forming the plurality of holes 3a in the film 3, the plurality of defective parts 2a can be corrected in a shorter period of time and consumption of the film 3 is less as compared with the case of correcting the defective parts 2a whenever one hole 3a is formed. - 特許庁

Ｘ軸方向に配置された複数のゲート線４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄと、Ｙ軸方向に配置された複数のデータ線３ａ，３ｂとが格子状に交差している構造を有してなるマトリクス構造１００の欠陥検出方法であって、点状欠陥１１を線状の欠陥にして検出することを特徴とする。例文帳に追加

The defect detection method of matrix structure 100 which has structure of grid-like crossing a plurality of gate lines 4a, 4b, 4c and 4d arranged in X-axis direction and a plurality of data lines 3a and 3b arranged in Y-axis direction, which detects point-like defects 11 as linear defects. - 特許庁

２つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。例文帳に追加

Inspection results detected under the plurality of defect detecting conditions are found preliminarily by changing a parameter of the defect detecting condition for detecting the defect based on a Gray level difference between corresponding partial images in the two inspection images, and the optimum inspection result is selected out of the plurality of inspection results. - 特許庁

第２コーンスプリング１７は、円周方向に等間隔に配置された複数の第１切欠部１７ａと、隣接する第１切欠部１７ａ同士の間に円周方向に等間隔に配置された複数の第２切欠部１７ｂとを有している。例文帳に追加

The second cone spring 17 has a plurality of first cutout portions 17a arranged at equal intervals in the circumferential direction and a plurality of second cutout portions 17b arranged between the adjacent first cutout portions 17a at equal intervals in the circumferential direction. - 特許庁

この時定数回路１００は、このコンデンサを間欠的に充電する充電回路と、間欠的に放電させる放電回路とを備えており、小さな静電容量のコンデンサに対して間欠的な充放電動作を行うことにより、大きな時定数が設定されている。例文帳に追加

This time constant circuit 100 is provided with a charging circuit for intermittently charging the capacitor and a discharging circuit for intermittently discharging the capacitor, and the intermittent charging/discharging operation is conducted on the capacitor whose electrostatic capacity is small so that a large time constant can be set. - 特許庁

複数の検査対象板を連続的に検査する検査部と、当該検査部を制御すると共に欠陥が見つかった場合に少なくともその欠陥の位置情報を蓄積する制御コンピュータと、前記欠陥情報をその欠陥を有する検査対象板の検査時に同時に表示する欠陥情報表示部とを備えて構成した。例文帳に追加

This flaw estimating system includes an inspection part for continuously inspecting a plurality of inspection target plates, a control computer for controlling the inspection part and accumulating at least the position data of a flaw in the case where the flaw is found out and a flaw data display part for simultaneously displaying flaw data at the time of inspection of the inspection target plate having the flaw. - 特許庁

画像処理部１１は、赤外域の画像情報から傷、ゴミの欠陥領域を取得し、可視域の画像情報内の各欠陥画素の周辺に存在する複数の正常画素に基づいて、各欠陥画素の補間信号値を算出し、各欠陥画素の信号値とその前記補間信号値とに基づいて、各欠陥画素を補正する仮の補正量を算出する。例文帳に追加

An image processing part 11 acquires the defective area of any scratch or trash from the image information of the infrared area, and calculates the interpolated signal value of each defective pixel based on a plurality of normal pixels existing in the periphery of each defective element in the image information of the visible area, and calculates temporary correction quantity for correcting each defective pixel based on the signal value of each defective pixel and its interpolated signal value. - 特許庁

欠落補償部１１は、各位相点に対応する周波数点の昇順又は降順で並べ替え、欠落した周波数点に対応する位相点を補間し、補間された位相点系列を算出する。例文帳に追加

An absence compensation part 11 rearranges frequency points corresponding to the phase points in the increasing or decreasing order, and interpolates phase points corresponding to absent frequency points to calculate an interpolated phase point series. - 特許庁

また、複数の欠陥撮像部３を有し、それぞれが相異なる方向から略同一のフィルム面（撮像領域Ｒ）を撮像するため、１つの欠陥に対し、複数の方向から撮像することができる。例文帳に追加

The one defect is able to be imaged from a plurality of directions, because the plurality of defect imaging parts 3 are provided to image the same film face (imaging area R) from the directions different each other. - 特許庁

また、同じく絡みを発生させやすい電池側圧バネ１ａの切欠部１ｆを複数の連続するプレス加工で形成し、切欠形状内側へ突出する突出形状を複数箇所配設した。例文帳に追加

Multiple consecutive press works forms a cutout part 1f on the battery side pressing spring 1a that also tends to cause an entanglement, thereby providing multiple extruded shapes extruding inside the cutout shape at multiple locations. - 特許庁

提供するコンテンツを複数の区間に分けるステップと、複数のコンテンツ区間についての無欠性検証情報をコンテンツに挿入するステップと、を含む無欠性検証の可能なコンテンツ提供方法である。例文帳に追加

The content providing method capable of integrity verification includes a step of dividing the contents to be provided into a plurality of sections, and a step of inserting integrity verification information for each of the plurality of contents sections is inserted into the content. - 特許庁

第２の所定数のまたはそれより多い数の隣接する欠陥画像形成素子(30)に関連する画像データ(120)の部分に対して、別の第２の欠陥画像形成素子補償処理が実施される(310)。例文帳に追加

A different second defective image formation element compensation process is performed (310) for portions of the image data (120) that are associated with a second predetermined number or more adjacent defective image formation elements (30). - 特許庁

第１の所定数のまたはそれより少ない数の隣接する欠陥画像形成素子(30)に関連する画像データ(120)の部分に対して、第１の欠陥画像形成素子補償処理が実施される(308)。例文帳に追加

A first defective image formation element compensation process is performed (308) for portions of the image data (120) that are associated with a first predetermined number or fewer adjacent defective image formation elements (30). - 特許庁

ひとつの欠陥に複数の検査データに対する複数の分類情報を登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。例文帳に追加

A plurality of pieces of grouping information can be registered to a plurality of inspection data in one defect, and the grouping information of defects as an analyzing object can be selected arbitrarily. - 特許庁

複数の第１の欠陥画素の位置と複数の第２の欠陥画素の位置とを互いに独立して記憶するためのデータ容量を全体として低減する。例文帳に追加

To reduce a data capacity for mutually independently storing positions of a plurality of first defective pixels and positions of a plurality of second defective pixels as a whole. - 特許庁