「数欠」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

そして、抽出部３４は範囲指定部３３で指定した範囲の中に存在する欠陥から所定数の欠陥を抽出する。例文帳に追加

An extracting part 34 extracts the prescribed number of defects from the defects existing in the range designated by a range designating part 33. - 特許庁

塗膜欠陥が小さくでき、塗膜欠陥数も低減可能な感光性樹脂組成物を提供すること。例文帳に追加

To provide a photosensitive resin composition capable of diminishing film defects and capable also of reducing the number of film defects. - 特許庁

クリティカルパス中のMOS界面欠陥・結晶粒界数・結晶粒界欠陥が低減されている。例文帳に追加

A defect in an MOS interface, the number of crystal grain boundaries and defects in the crystal grain boundaries in the critical path are reduced. - 特許庁

側壁２３０には、矩形状の複数の開口２３１を間欠的に形成することで、柱部２３２が間欠的に設けられる。例文帳に追加

The side wall 230 is intermittently formed with a plurality of rectangular openings 231 for intermittently forming pillar portions 232. - 特許庁

予想される複数の致命欠陥について、シミュレーション画像の差分信号を計算し、欠陥毎に差分信号を表示する。例文帳に追加

The difference signal between the simulation images is calculated as to the plurality of predicted fatal defects to display the difference signal the defect by the defect. - 特許庁

フォトマスク上の異物欠陥を複数のプローブを用いて除去するフォトマスクの欠陥修正方法である。例文帳に追加

The defect correction method for a photomask includes removing a foreign matter defect on a photomask by use of a plurality of probes. - 特許庁

一方、これらの領域間で欠陥数に差がある欠陥については、電子ビーム描画装置に起因するものと推測できる。例文帳に追加

On the other hand, defects varying in the number of defects between these areas can be assumed to be caused by the electron beam lithography system. - 特許庁

ＣＣＤデータのスキャン開始位置をゼロとして欠点までの画素数をカウントし、欠点検出位置をメモリに保持する。例文帳に追加

A scan start position of CCD data is set to zero, the number of pixels up to a defect is counted, and a defect detection position is retained in a memory. - 特許庁

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner. - 特許庁

部品１４の開口および隣接欠陥を補修する方法は、まず母材の開口に隣接する１つまたは複数の欠陥が除去される。例文帳に追加

The method for repairing an aperture and defect in a part 14 is started by removing one or more defects adjacent the aperture in a base material. - 特許庁

所定の輝度レベル以上のブロックを抽出して欠点候補とし、所定数以上のブロックを含む欠点候補を候補から除外する。例文帳に追加

The blocks of a prescribed brightness level or more are extracted to serve as defect candidates, and the candidates including the blocks of a prescribed number or more are excepted from the candidates. - 特許庁

ショルダー部２３の長手方向における複数箇所には、ショルダー部２３の一部が切り欠かれてなる切り欠き部２５が形成されている。例文帳に追加

Notch parts 25 in which a part of the shoulder part 23 is notched are formed at a plurality of positions in a longitudinal direction of the shoulder part 23. - 特許庁

同一の垂直ＣＣＤに複数の点欠陥が存在しても、これらの点欠陥により発生する白縦線を良好に補正することを可能にする。例文帳に追加

To satisfactorily correct a white vertical line generated due to a plurality of point defects existing in the same vertical CCD. - 特許庁

複数種類の欠陥検出処理を順次行うような場合、欠陥の分類処理を容易かつ適切に行う。例文帳に追加

To easily and properly classify defects, when carrying out sequentially a plurality of kinds of defect detection. - 特許庁

間欠起動演算処理部１３は上記起動信号により間欠動作し、上記パス数Ｎｐのパスを検出する。例文帳に追加

The intermittent start arithmetic processing section 13 operated intermittently by the start signal to detect paths of the path number Np. - 特許庁

複数の第１のフィーチャを含む第１のマスクが、フィーチャの欠陥に関して検査され欠陥データが記憶される２０。例文帳に追加

A first mask including a plurality of first features is inspected for defects in the features, and defect data are stored (step 20). - 特許庁

砥材層３の外周側に開口した扇状の切欠部４が複数設けられ、切欠部４は互いにその大きさが異なっている。例文帳に追加

A plurality of fan-like notches 4 opening on the outer peripheral side of the grinding material layer 3 are disposed, and sizes of the notches 4 are different from each other. - 特許庁

撮像面が複数のブロックからなる撮像素子を欠陥の有無及び欠陥のパターンにかかわらず、１つの撮影装置で使用可能とする。例文帳に追加

To enable a single photographing device to use an image pickup element whose image pickup surface consists of plural blocks, regardless of the presence/absence of defects and the pattern of the detects. - 特許庁

一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。例文帳に追加

Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A). - 特許庁

間欠回転盤１２６の間欠回転により複数の部品保持装置１４０を移動，停止させ、電気部品の吸着，装着を行う。例文帳に追加

A plurality of component holding devices 140 are moved and stopped by intermittent rotation of an intermittent rotating board 126 to suck and mount electric components. - 特許庁

遺伝子欠損の検査を簡便に、しかも精度よく多数検体を効率よく検査できる核酸配列欠損の検出方法の提供。例文帳に追加

To provide a method for detecting a deletion in a nucleic acid sequence, capable of examining the gene deletion simply and in a good accuracy on many specimens in a good efficiency. - 特許庁

複数の種類の欠陥について欠陥の有無を判定することができる透明体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transparent body inspection device for determining whether any defect exists as to various types of defects. - 特許庁

超音波は、間欠動作制御手段１２の間欠駆動により、１０秒間発信させて脈拍数を実測し、その後５０秒間停止する。例文帳に追加

The ultrasonic wave is transmitted for 10 seconds by the intermittent drive of an intermittent operation control means 12 to measure the pulse rate, and then, stopped for 50 seconds. - 特許庁

また、人工欠陥作成手段は、被検物における欠陥の位置、輝度及び形状の内の少なくとも一つを乱数により決定して作成する。例文帳に追加

The artificial flaw forming means determines at least one of the position, brightness and shape of the flaw in the object to be inspected by random numbers. - 特許庁

タイマ制御部１１３は、欠損検出部１１１により複数の欠損データを検出した場合に、検出の都度、所定の監視時間を設定する。例文帳に追加

When the loss detection part 111 detects multiple pieces of loss data, a timer control part 113 sets a predetermined monitor time whenever the loss data are detected. - 特許庁

横仕切板３ａ〜３ｄは、一対の第３切欠部６とその間の複数の第４切欠部７とを備える。例文帳に追加

Transverse partition panels 3a-3d are provided with a pair of third notches 6 and a plurality of fourth notches 7 between them. - 特許庁

また、検出ウインドウには中の欠陥セクタの数が閾値を超えた場合に欠陥登録の対象にする付加セクタ群が定義されている。例文帳に追加

Also, An additional sector group which is an object of defective registration when the number of defective sectors exceeds the threshold value is defined for the detection window. - 特許庁

検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。例文帳に追加

This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously. - 特許庁

欠陥検出モード及び欠陥修正モードの少なくとも一方を切換えるためのモード切換条件を取得して、モード切換条件に基づいて、複数の欠陥検出モードから所定の欠陥検出モードを選択することと、複数の欠陥修正モード中から所定の欠陥修正モードを選択することの少なくとも一方を行う。例文帳に追加

The defect detection and correction part executes at least either of operation for selecting a prescribed defect detection mode from among a plurality of the defect detection modes and operation for selecting a prescribed defect correction mode from among a plurality of the defect correction modes on the basis of mode switching conditions after acquiring the mode switching conditions for switching at least either of the defect detection modes and the defect correction modes. - 特許庁

上面１ａに複数の上向凹部３、下面１ｃに複数の下向凹部４、コーナー部に一側切欠部５、第１他側切欠部６、第２他側切欠部７を有し、その各凹部と各切欠部に框をそれぞれ支持して段ボール箱で梱包するようにしたパットである。例文帳に追加

The pad comprises a plurality of upward recesses 3 on an upper surface 1a, a plurality of downward recesses 4 on a lower surface 1c, and a one-side notch 5, a first another-side notch 6 and a second another-side notch 7 at corners, wherein the rails are supported on the respective recesses and the respective notches for packing in the corrugated fiberboard box. - 特許庁

また、人工欠陥作成手段は複数の分類すべき欠陥毎に人工的な欠陥画像を作成する手段であり、学習手段は分類すべき欠陥の人工画像と良品画像の学習パターンを乱数により決定してニューラルネットワークに学習させる。例文帳に追加

Further, the artificial flaw forming means is a means for forming the artificial defective image at every flaw of a plurality of defects to be classified and the learning means determines the learning patterns of the artificial image of a defect to be classified and a non-defective image by random numbers to allow the neural network to learn. - 特許庁

ページデータの読出の際には、フラッシュメモリ３から読み出されるページデータに付加されている欠陥数情報を当該ページデータから抜き取ると共に、この欠陥数情報を参照し、当該欠陥数情報に示される数だけ当該ページデータの中に挿入されているダミーデータを抜き取る。例文帳に追加

In reading the page data, the circuit 31 extracts the defective-number information added to the page data read from the flash memory 3 from the page data, refers to the defective-number information, and extracts dummy data inserted in the page data by the number indicated by the defective-number information. - 特許庁

筋状欠陥検出フィルタは、欠陥検出領域に対して所定の係数が設定された欠陥検出領域用フィルタと、欠陥検出領域の外周部の特定領域に対して所定の係数がそれぞれ設定された２つの特定領域用フィルタとを有するベースフィルタを、筋状欠陥の検出方向に複数並べて構成する。例文帳に追加

The stripe defect detecting filter is composed by arranging, in the direction of detecting a stripe defect, a plurality of base filters comprising a filter for a defect detecting region where a predetermined coefficient is set to the defect detecting region, and a filter for two particular regions where a predetermined coefficient is set to each particular region in an outer periphery of the defect detecting region. - 特許庁

間欠周波数を、前記間欠周波数は、前記駆動周波数以下で、可聴周波数以上することで、騒音の少ない超音波アクチュエータを提供できる。例文帳に追加

The intermittent frequency is set within the range from an audible frequency to a driving frequency, so that an ultrasonic actuator having less noise can be provided. - 特許庁

この間欠駆動においては、間欠信号の周波数（周期Ｔｎの逆数）を可聴周波数域以上の周波数に設定することで、簡易に静音化が図れることとなる。例文帳に追加

The intermittent driving is silenced with ease by setting the frequency (inverse number of cycle Tn) of the intermittent signal to be that equal to or higher than audio frequency range. - 特許庁

次に、この差分画像に、複数の欠陥修正手法および欠陥の種類ごとに当該欠陥が出現されることが想定される領域情報が登録されたデータベースから読み出した領域情報を適用して欠陥を検出し、検出した欠陥に基づいて前記データベースから欠陥修正手法を読み出す。例文帳に追加

Successively, region information read out from a database in which a plurality of defect correction methods and region information in which appearance of defect is assumed for each kind of the defect are registered is applied to the difference image and the defect is detected, and the defect correction method is read out from the database based on the detected defect. - 特許庁

自動欠陥検査装置で検出したカラーフィルタ基板内の欠陥の中から、カラーフィルタ基板を欠陥修正機投入する前に突起異物を判定することによって欠陥修正機で確認する欠陥数を減少させ、最小限の修正装置で効率的な欠陥修正作業を行うことを可能とするカラーフィルタ基板の修正突起異物判定方法を提供するを提供する。例文帳に追加

To provide a correction projection foreign matter determination method of a color filter substrate, wherein the method reduces the number of defects to be confirmed by a defect correction machine by determining a projection foreign matter from among defects in the color filter substrate to be detected by an automatic defect inspection device before inputting the color filter substrate into the defect correction machine, and performs an efficient defect correction work by the minimum correction devices. - 特許庁

第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。例文帳に追加

When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field. - 特許庁

単一対象内欠陥周期推定部３２および複数対象内欠陥周期推定部３４は、個々の欠陥の特徴に関する欠陥情報、被検査対象の画像情報、および被検査対象に関する情報に基づいて、被検査対象における欠陥の周期性を、欠陥情報に対する統計的仮説検定により推定する。例文帳に追加

A defect cycle estimator in single object 32 and a defect cycle estimator in a plurality of objects 34 estimate periodicity of a defect in the object of inspection with statistical hypothesis to defect information based on defect information on features of the individual defects, picture information on the object of inspection and information on the object of inspection. - 特許庁

ライン欠損補正部３３は、その画素数から、モアレパターン中でライン欠損画素と同じ位相の画素を求め、その画素の値を用いてライン欠損画素を補正する。例文帳に追加

A line defect correcting part 33 obtains pixels of the same phase as line defective pixels in the moire pattern, and corrects the line defective pixels using the value of the pixels. - 特許庁

欠陥画素の補正自体は、欠陥画素が複数画素に隣接して発生し始める、且つ欠陥画素自体が目立ち始めるシャッタースピード以上のときのみ補正を実行するようにする。例文帳に追加

The correction itself of the defective pixels is carried out only at a shutter speed or higher with which the defective pixels start occurring adjacently to a plurality of pixels and the defective pixels themselves start standing out. - 特許庁

欠陥分類装置では、基板上の検査領域の画像データから複数の欠陥要素が特定され、各欠陥要素の代表点の座標値が取得される。例文帳に追加

By this defect classifier, a plurality of defect factors are specified from image data in an inspection area on a substrate to acquire coordinate values of representative points of the respective defect factors. - 特許庁

所定数以上の欠損画素が連続して集合した欠損画素塊Ｂの周辺に隣接する正常画素を用いて、欠損画素塊Ｂの内部を補正するプレ補正処理を行う。例文帳に追加

Pre-correction processing for correcting the inside of the defective pixel block B is performed using a normal pixel adjacent to the periphery of the defective pixel block B where a predetermined number or more defective pixels continuously collect together. - 特許庁

フォトニック結晶中に列状の欠陥が導入されてなるフォトニック結晶光導波路において、他の光導波路との交差部近傍に、列状の欠陥から孤立している複数の孤立欠陥を設ける。例文帳に追加

In the photonic crystal optical waveguide having photonic crystals in which linear defects are introduced, a plurality of isolated linear defects isolated from the linear defects are disposed adjacent to cross parts crossing other optical waveguides. - 特許庁

また、複数の検査領域を有するフォトマスクの所定のパターンに対する欠陥検査感度と欠陥検査位置とを定義した欠陥検査データを用意しこのデータに基づいてフォトマスク検査を行う。例文帳に追加

Further, defect inspection data wherein the defect inspections ensitivity and defect inspection positions are defined for the specific pattern of the mask having a plurality of inspection areas are prepared and photomask inspection is performed according to the data. - 特許庁