「数欠」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。例文帳に追加

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects. - 特許庁

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inspecting defects capable of determining overlapping defects in the case that defect detection processing is performed on an object to be inspected by a plurality of defect detection means. - 特許庁

複数台の画像処理装置を用いて欠陥レビューないし欠陥分類を実行する欠陥レビュー装置において、１台の画像処理装置が故障しても欠陥レビューを継続可能な欠陥レビュー装置を実現する。例文帳に追加

To provide a defect review device capable of continuing defect review even if one image processing device is failed, concerning a defect review device for executing defect review or defect classification by using a plurality of image processing devices. - 特許庁

過去に実施された欠陥修正手法を含む複数の欠陥修正手法をデータベースに蓄積し、配線基板の検査対象箇所を撮影した欠陥画像と、欠陥のない参照画像とを照合して欠陥を検出する。例文帳に追加

A defect-correcting apparatus accumulates in a database many defect correction methods, including those implemented in the past and detects defects, by checking a defect image with captured locations being tested on a wiring board against a defect-free reference image. - 特許庁

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。例文帳に追加

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed. - 特許庁

検査対象物について、複数の欠陥検出手段によって欠陥検出処理を行った場合に、重複して検出された欠陥を判定することができる欠陥検査装置及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inspecting defect capable of judging the defect detected in duplication when a defect detecting processing is performed by a plurality of defect detecting means for an object to be inspected. - 特許庁

ウェハ上の大多数を占める，レビューしていない欠陥の情報を有効活用するため，欠陥分類方法において、レビューしていない欠陥に対してレビューした欠陥と同じ定義の欠陥クラスを付与すること。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for automatically sorting defects, which supply a non-reviewed defect with a defect class having a definition identical to that of a reviewed defect when carrying out sorting the defects, in order to effectively utilize information of non-reviewed defects being the majority on a wafer. - 特許庁

キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate. - 特許庁

欠陥個数カウンタ１０１，０１１，０１２は、該範囲分けした範囲毎に当該埴中にて検出した欠陥画素の個数を数える。例文帳に追加

Each of number-of-defects counters 101, 011, 012 counts, for each divided range, the number of defective pixels detected by a defective pixel detection means. - 特許庁

欠陥解析のために欠陥を選択する一方法は、これらの欠陥の互いの近接性、及び、グループ（１つ又は複数）により形成される空間シグネチャに基づいて、欠陥をこのグループ（１つ又は複数）にビン分類することを含む。例文帳に追加

One method for selecting defects for defect analysis includes binning defects into group(s) based on proximity of the defects to each other and spatial signatures formed by the group(s). - 特許庁

欠陥検査方法も同様に、複数枚の検査対象物に亘って、同一又は近似の位置に同様の欠陥が複数検出された場合に、当該欠陥を検査対象物起因の欠陥でないと判断して除外した。例文帳に追加

When a plurality of similar defects are detected at the same positions or close positions of a plurality of sheetlike inspection objects, similarly the defect inspection method also excludes the defects by determining that the defects are not caused by inherent matters of the inspection objects. - 特許庁

欠陥でないノズルを周期的に加熱する際の周波数より大きな周波数で欠陥ノズルを加熱して、欠陥ノズルに、欠陥でないノズルから放出されるインク小滴より小さなインク小滴のみを放出させる。例文帳に追加

The defective nozzle is heated at a frequency higher than a frequency for periodically heating non-defective nozzles, so as to cause the defective nozzle to merely eject an ink droplet smaller than the ink droplet ejected from a non-defective nozzle. - 特許庁

欠陥検出の際に、存在する欠陥画素数がメモリの記憶許容数を越えている場合、それ以降検出した欠陥画素についての欠陥データを記憶できない。例文帳に追加

To solve a problem of a conventional memory control method that when the number of defective pixels in existence exceeds a permissible storage capacity of a memory in the detection of the defective pixels defect data as to the defective pixels detected thereafter cannot be stored. - 特許庁

欠陥領域判定部４４は、欠陥候補領域と判定された画素を他の複数の画像と比較し、欠陥候補領域の画像中における位置が他の複数の画像と一致する場合には、これを欠陥領域として判定する。例文帳に追加

The defective region decision part 44 compares the pixel decided as a defect candidate region with a plurality of other images and decides it as a defective region when a position in an image in the defect candidate region matches any one of the plurality of other images. - 特許庁

予測部は、欠陥画素補正用メモリ４１に記憶した最新の欠陥画素の個数とそれ以前に検出した欠陥画素の個数とを参照して欠陥画素補正部が欠陥画素を補正することができない限界の個数を超える時期を予測する。例文帳に追加

A prediction section references the newest number of the defective pixels stored in the defective pixel correction memory 41 and the number of the defective pixels having been detected before to predict a date and time when the number of the defective pixels exceeds the number of correction limit pixels at which a defective pixel correction section cannot correct the defective pixels. - 特許庁

欠陥数判定部３０６は、ブロックζｋｌの欠陥数が閾値より少ないか否かを判定し、補間処理部３０８は、ブロックζｋｌの欠陥を、近似関数算出部３０４が算出した関数ｆ（ｉ，ｊ）により補間する。例文帳に追加

A defect count determination part 306 determines whether a defect count in the blocks ζkl is smaller than a threshold or not, and an interpolation processing part 308 interpolates defects in the blocks ζkl with the function f(i, j) computed by the approximation function computation part 304. - 特許庁

マスク製造負荷指数は、欠陥保証負荷指数と描画負荷指数とで示す。例文帳に追加

The mask manufacturing load index is expressed with a defect guarantee load index and a lithography load index. - 特許庁

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。例文帳に追加

The inspection device allows defective image during inspection to be displayed, by searching similar defects on images in case of a plurality of sheets of defective data, performing trend display of a search result, displaying a defective map by designating a sheet on the trend, and designating a defect on the defective map. - 特許庁

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。例文帳に追加

In the case of a plurality of defect data, the defect map is displayed by searching for a similar defect on an image, performing trend display of the searched result, and specifying one searched result on the trend, and the defect on the defect map is specified, thus displaying the defect image in inspection. - 特許庁

近接する複数の欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する際に、発生していた欠陥管理領域の頭出しのトラックジャンプを削除し、従来の欠陥情報再生方法よりも短い時間で、欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する。例文帳に追加

To reproduce defect management information from a defect management area in time shorter than the time required by a conventional defect information reproducing method by eliminating the track jump of the program searching of the defect management area generated at the time of reproducing the defect management information from a plurality of adjacent defect management areas. - 特許庁

次に、制御手段が、検出された欠陥画素の数を計数し、その欠陥画素の位置情報を一時記憶する。例文帳に追加

Next, a control means counts the number of detected defective pixels, and the positional information on the defective pixels is temporarily stored. - 特許庁

属性集合頻度算出部５５は、各属性集合について非欠損事例数又は属性集合非欠損事例数を算出する。例文帳に追加

An attribute set frequency calculation part 55 calculates a non-loss case number or an attribute set non-loss case number about each attribute set. - 特許庁

そして、各条件について、検査感度と欠陥数の平均的な関係を求め、かかる関係から外れる値（欠陥数）があるか否かを調べる。例文帳に追加

An average relation between the inspection sensitivity and the number of defects is obtained with respect to each condition to see if there is any value outside the relation (the number of defects). - 特許庁

擬似欠陥あるいは真の欠陥のいずれを検出するかは、加算回数の異なる複数の画像の比較演算の組み合わせによって定める。例文帳に追加

In the method, which of a pseudo defect and a true defect to detect is determined by a combination of comparison operations on the images different in the number of additions. - 特許庁

次に、第２のタイマがタイムアウトした際に、送信・中継パケット数に対する宛先確認欠落数から、宛先確認欠落率を算出する。例文帳に追加

If the second timer becomes time-out, a destination validation failure rate is calculated from the number of destination validation failures to the number of transmission/relay packets. - 特許庁

カラーフィルタ欠陥修正装置は、複数個の画素を有する絵素が複数個配置されるカラーフィルタの欠陥を修正する。例文帳に追加

The device for correcting color filter defect corrects a defect of a color filter with a plurality of picture elements arranged therein, each of the picture elements having a plurality of pixels. - 特許庁

母材３に複数の切欠１７が形成され、複数の部分塊５が互いに切欠１７を境に隣接しても良い。例文帳に追加

The base material 3 may be formed with a plurality of notches 17, and the plurality of partial lumps 5 may adjoin one another with the notches 17 as boundaries. - 特許庁

撮像装置１０により得られた撮像画像から欠陥画像を検出する欠陥画像検出装置２０と、欠陥画像から複数種類の特徴量を抽出し、その組み合わせに基づいて欠陥画像を予め規定された複数種別に分類する欠陥分類装置３０とを具備する。例文帳に追加

This visual examination device is equipped with a flaw image detector 20 for detecting the flaw image from the photographed image acquired by an imaging device 10 and a flaw classifier 30 for extracting a plurality of kinds of feature quantities from the flaw image and classifying the flaw image into a plurality of preliminarily prescribed kinds on the basis of the combination of the feature quantities. - 特許庁

温度検出間欠運転によるヒータの間欠駆動の実行回数が所定回数に到達すると（ステップＳＡ６）、温度検出間欠運転を、予め設定された駆動時間及び停止時間に従ってヒータを間欠駆動する時間設定間欠運転に切り替える（ステップＳＡ７〜ステップＳＡ８）。例文帳に追加

When the execution frequency of intermittent driving of the heater by the temperature detecting intermittent operation reaches predetermined frequency (step SA6), the temperature detecting intermittent operation is switched to time setting intermittent operation of intermittently driving the heater according to the preset driving time and stop time (steps SA7-SA8). - 特許庁

複数の欠陥検出器がそれぞれ検出した被検査材の欠陥情報に基づいて、被検査材の合否判定を行う際、被検査材の欠陥数を正確に求めることができる欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method using it which accurately find the number of defects on inspected materials when quality of the inspected materials is determined based on defect information of the inspected materials respectively detected by a plurality of defect detectors and determine the quality of the inspected materials based on the number of the defects. - 特許庁

補正制御部４は、複数フレームに対する画素欠陥検出信号を比較し、複数フレームの同じ画素位置に同種の画素欠陥が存在している場合は真の画素欠陥と判定し、画素欠陥補正部５に対し画素欠陥の補正を指示する。例文帳に追加

A correction control part 4 compares pixel defect detection signals with respect to multiple frames, determines that the pixel defect is the true one when the same kind of pixel defects exist at the same pixel positions of the multiple frames, and indicates the correction of the pixel defect to a pixel defect correction part 5. - 特許庁

数日後、彼には知性が欠けている事に彼女は気付きました。例文帳に追加

After a few days, she realized that he lacks in intelligence. - Tatoeba例文

数学のクラスでの欠席が多すぎるために彼は罰を受けた例文帳に追加

he was punished for taking too many cuts in his math class  - 日本語WordNet

数学的な概念と方法についての知識と理解が欠如しているさま例文帳に追加

lacking knowledge and understanding of mathematical concepts and methods  - 日本語WordNet

バッチ処理は,数多くのユーザのニーズを満たすには,柔軟性に欠ける例文帳に追加

Batch processing is too inflexible to handle the needs of many users  - コンピューター用語辞典

数日後、彼には知性が欠けている事に彼女は気付きました。例文帳に追加

After a few days, she realized that he lacks in intelligence.  - Tanaka Corpus

しかし推定地は通常複数唱えられ、みな決め手を欠いた。例文帳に追加

Not a few places were always put forward as a candidate of the location of Kokufu, however each place lacked decisive proof.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

たとえ欠品があったとしても正確な販売数量を得る。例文帳に追加

To obtain accurate sales quantity even though there is stockout. - 特許庁

周波数に応じた糸又は糸前駆体における欠陥箇所の検出例文帳に追加

FREQUENCY-DEPENDENT FLAW DETECTION IN YARN OR YARN FORERUNNER - 特許庁

欠陥数の少ないフィルムを製造するためのポリマーブレンド例文帳に追加

POLYMER BLEND FOR PRODUCING FILM WITH REDUCED NUMBER OF DEFECTS - 特許庁

計測部６２は、欠陥候補ランドの画素数を計測する。例文帳に追加

A measurement part 62 measures the number of pixels in the defect candidate land. - 特許庁

欠陥検出のための複数照明経路システム及び方法例文帳に追加

MULTIPLE ILLUMINATION PATH SYSTEM AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT - 特許庁

半導体デバイス製造の際のパターンつぶれ欠陥数の低減方法例文帳に追加

METHOD FOR REDUCING NUMBER OF DEFECT OF PATTERN COLLAPSE IN MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

また、トレンチ形成時に発生する欠陥数を減らすことができる。例文帳に追加

Moreover, the number of faults generated during the formation of the trench 11 can be reduced. - 特許庁

複数のビジネスアプリケーション全体における手続き欠陥の検出例文帳に追加

DETECTION OF PROCEDURAL DEFICIENCY ACROSS MULTIPLE BUSINESS APPLICATIONS - 特許庁