VAD orとは 意味・読み方・使い方

The invention makes it possible to improve a propagation characteristic of a fiber by the conventional technique by optimizing a refractive index profile and can be carried out by the conventional preform manufacturing technique by VAD or MCVD.例文帳に追加

本発明は、屈折率プロファイルを最適化することで従来技術のファイバーの伝播特性の改良を可能にし、ＶＡＤまたはＭＣＶＤによる従来のプリフォーム製造技術で実施可能である。 - 特許庁

The method for manufacturing the glass particulate deposit by a VAD (vapor-phase axial deposition) process or OVD (outside vapor deposition) process comprises maintaining the humidity within the apparatus for manufacturing the glass particulate deposit at ≤5 g/kg or the oxygen concentration therein at ≤20%.例文帳に追加

ＶＡＤ法若しくはＯＶＤ法によってガラス微粒子堆積体を製造する方法において、ガラス微粒子堆積体製造装置内の湿度を５ｇ／ｋｇ以下又は酸素濃度を２０％以下に保持することを特徴とするガラス微粒子堆積体の製造方法。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a glass fine particle deposited body by which the crack of the glass deposited body deposited on a starting material or the peeling off from the staring material hardly occurs and excellent productivity is attained in the manufacture of the glass fine particle deposited body by the VAD method.例文帳に追加

ＶＡＤ法によりガラス微粒子堆積体を製造した際、出発材上に堆積するガラス微粒子堆積体に割れや出発材からの剥がれが生じ難く、生産性の良好なガラス微粒子堆積体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

A VAD 110 refers to a DCT type of a decoding object block and discriminates the block to be a block causing image deterioration when a DCT mode of the block is a frame DCT mode and a sum of quantization coefficients at frequency components (0, 7), (1, 7) shown in Figure 5 is a threshold value S1 or over.例文帳に追加

ＶＡＤ２０２は、復号対象ブロックのＤＣＴタイプを参照し、当該ブロックのＤＣＴモードがフレームＤＣＴモードであり、且つ、（０，７）（１，７）の周波数成分の量子化係数の加算値が閾値Ｓ１以上であるとき、当該ブロックを、画像劣化を引き起こすブロックと判別する。 - 特許庁

A VAD 110 refers to a DCT type of a decoding object block and discriminates the block to be a block causing image deterioration when a DCT mode of the block is a frame DCT mode and a sum of quantization coefficients at frequency components (0, 7), (1, 7) shown in Figure 3 is a threshold value S1 or over.例文帳に追加

ＶＡＤ１１０は、復号対象ブロックのＤＣＴタイプを参照し、当該ブロックのＤＣＴモードがフレームＤＣＴモードであり、且つ、（０，７）（１，７）の周波数成分の量子化係数の加算値が閾値Ｓ１以上であるとき、当該ブロックを、画像劣化を引き起こすブロックと判別する。 - 特許庁

The invention relates especially to a final optical-fibre preform comprising a primary preform 3 obtained by a VAD (vapor-phase axial deposition) process or an OVD (outside vapor deposition) process, a silica sleeve tube 4 surrounding the primary preform 3, and a built-up layer 5 made of silica particles surrounding the silica sleeve tube 4.例文帳に追加

本発明は、ＶＡＤ堆積法またはＯＶＤ堆積法によって得られる一次プリフォーム３と、一次プリフォーム３を取り囲むシリカスリーブチューブ４と、シリカスリーブチューブ４を取り囲むシリカ粒子でできたビルトアップ層５とを含む、光ファイバ最終プリフォームに特に関する。 - 特許庁

In the method for manufacturing a fluorinated glass product by dehydrating and fluorinating a deposited body of glass fine particles formed by an OVD method, VAD method, or the like, the dehydration process is carried out in an atmosphere containing 0.01 to 0.4 mol% Cl and the fluorination process is carried out in an atmosphere containing ≥1 mol% of F.例文帳に追加

ＯＶＤ法ＶＡＤ法等により形成したガラス微粒子積層体を脱水処理、フッ素添加処理してフッ素添加ガラス物品を製造する方法において、脱水処理をＣｌを０．０１〜０．４モル％含有雰囲気で行い、フッ素添加処理をＦを１モル％以上含有する雰囲気で行なう。 - 特許庁

This method comprises detecting the foreign matter in the glass preform manufactured by undergoing a sintering process step for forming a glass particulate deposit made by an OVD process or VAD process into transparent glass and a stretching process step of stretching a sintered preform after sintering to a desired external diameter, in which the foreign matter is detected while the glass preform is kept heated during the sintering process step and the stretching process step.例文帳に追加

ＯＶＤ法又はＶＡＤ法により作製したガラス微粒子堆積体を透明ガラス化する焼結工程、焼結後の焼結母材を所望の外径に延伸する延伸工程を経て作製されるガラス母材中の異物を検出する方法において、前記焼結工程及び延伸工程中のガラス母材が加熱されている状態で異物を検出することを特徴とするガラス母材中の異物検出方法。 - 特許庁