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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "X-ray diffraction method"に関連した英語例文

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"X-ray diffraction method"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 95



例文

X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

X線回折法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND X-RAY DIFFRACTION APPARATUS例文帳に追加

X線回折方法及びX線回折装置 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION DEVICE AND X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

X線回折装置およびX線回折方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND X-RAY DIFFRACTION APPARATUS例文帳に追加

X線回折方法およびX線回折装置 - 特許庁

例文

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND NEUTRON BEAM DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

X線回折方法および中性子線回折方法 - 特許庁


例文

X-RAY DIFFRACTION METHOD AND PORTABLE X-RAY DIFFRACTION APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

X線回折方法及びそれを用いた可搬型X線回折装置 - 特許庁

DETERIORATION DIAGNOSING METHOD OF NI-BASED HARD METAL BY X-RAY DIFFRACTION METHOD AND FUTURE LIFETIME EVALUATION METHOD例文帳に追加

X線回折法によるNi基超合金の劣化診断法および余寿命評価法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ALLOY PHASE ADHESION IN PLATED LAYER USING X-RAY DIFFRACTION METHOD例文帳に追加

X線回折法を用いためっき層中の合金相付着量の測定方法及び装置 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device excellent in angle resolving power, reduced in the lowering of X-ray intensity and simplified in its structure in an X-ray diffraction method using a parallel beam method, and the X-ray diffraction method.例文帳に追加

平行ビーム法を用いたX線回折法において、角度分解能が優れていて、X線強度の低下が少なく、構造が簡素化されたX線回折装置およびX線回折方法を提供する。 - 特許庁

例文

It is desirable that the crystallite diameter of the magnetite as measured by an X-ray diffraction method is 60-90 nm.例文帳に追加

X線回折法で測定されたマグネタイトの結晶子径が60〜90nmであることが好適である。 - 特許庁

例文

Specifically, an optimum ageing condition is determined while a change of Ta-N coupling is observed by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

具体的には、X線回折法によりTaーN結合の変化を観察しながら、最適なエージング条件を決める。 - 特許庁

The particles 10 are formed so that the average size of crystallites 1 found by the X-ray diffraction method is30 nm.例文帳に追加

金属磁性粒子10は、X線回折法によって求められる結晶子1の平均の大きさが30nm以上である。 - 特許庁

To calibrate the intensity of X-rays with high accuracy for a short time in quantitative analysis by an X-ray diffraction method using a monochromator.例文帳に追加

モノクロメータを用いたX線回折法での定量分析において、短時間で高精度なX線強度の較正を実現する。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末X線回折法において、2θ=28.9°、32.8°、41.4°、42.6°及び44.3°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with an ethylenediaminetetraacetic acid ammonium solution, and a sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムをエチレンジアミン四酢酸アンモニウム溶液と混合して、X線回折に影響を与える硫酸鉛を溶解除去する。 - 特許庁

In the carbon power, it is preferable to have <3370 nm distance between surface (d002) of the graphite layers measured by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

炭素粉末は、X線回折法による黒鉛層間の面間隔(d002)が0.3370nm未満であることがより好ましい。 - 特許庁

The crystal transformation index of the insulating layer, which is obtained from the diffraction intensity by an X-ray diffraction method, is at least a predetermined value, and preferably at least 0.6.例文帳に追加

絶縁層のX線回折法の回折強度から求まる結晶変換指数が所定の値以上、好ましくは、0.6以上とする。 - 特許庁

Next, by an in-plane method as one type of the X-ray diffraction method, the lattice surface interval of the horizontal surface direction of the thin film is measured, and distortion ε is determined.例文帳に追加

次に、X線回折法の一種であるin-plane法により、薄膜の水平面方向の格子面間隔を測定し、ひずみεを求める。 - 特許庁

The spatical period d_1 of the first structure 21 and the spatical period d_2 of the second structure 24 are measured by an X-ray diffraction method.例文帳に追加

X線回折法により第1の周期構造21の空間的周期d_1、第2の周期構造24の空間的周期d_2をそれぞれ測定する。 - 特許庁

At this time, the maximum value of the accumulation degree of each crystal plane in the iron base alloy sheet 2 measured by an X-ray diffraction method is preferably controlled to 20%.例文帳に追加

このとき、X線回折法によって測定される鉄基合金板2の各結晶面の集積度の最大値が20%であることが好ましい。 - 特許庁

An anode active material of the anode 22 contains hardly graphitizable carbon with an interval of (002) face of ≥0.37 nm as measured in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

負極22の負極活物質は、X線回折法により測定される(002)面の面間隔が0.37nm以上である難黒鉛化性炭素を含有している。 - 特許庁

To provide a method of analyzing crystal structures, which can be improved in detection sensitivity in comparison with conventional methods, when evaluating degradation of structure using X-ray diffraction method.例文帳に追加

X線回折法を用いた構造劣化を評価する上で、従来と比較して検出感度の向上が可能な、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

A fiber formed product has a crystallization peak in the vicinity of an angle (2θ) of diffraction of 6-10° as a result of analysis by X-ray diffraction method and the formed product is composed of a crystallized single-wall carbon nanotube.例文帳に追加

X線回折法による解析結果、回折角2θ=6〜10°付近に結晶化ピークを有する、結晶化した単層カーボンナノチューブからなる繊維成型体。 - 特許庁

An example of a graph of diffraction intensity by an X-ray diffraction method of the obtained ITO film (as shown), and a strong peak corresponding to the (400) plane of ITO is observed.例文帳に追加

選択図には得られたITO膜のX線回折法による回折強度のグラフの一例を示し、ITOの(400)面に対応する強いピークが観測されている。 - 特許庁

In a sputtering target of high-purity TaN, the intensity peak ratio (101) plane:(110) plane is 1: 0.49±30%, where the intensity peaks are measured on the surface of the target through an X-ray diffraction method.例文帳に追加

高純度TaNからなるスパッタターゲットであって、ターゲット表面においてX線回折法で測定された (101)面のピーク強度と (110)面のピーク強度の比((101)/(110))が0.49±30% 以内である。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

X線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

Further, the above oxide has a half-value width at a diffraction peak appearing at 15°<2θ<20° and 30°<2θ<45° of 5°(2θ) or more in an X-ray diffraction method using CuKα beams.例文帳に追加

また、CuKα線を用いたX線回折法で、15°<2θ<20°および30°<2θ<45°に現れる回折ピークの半値幅が5°(2θ)以上である上記酸化物を用いる。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with a solution of potassium formate, potassium carbonate, potassium hydroxide and dithylenediaminetetraacetic acid, and barium sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムを蟻酸カリウム、炭酸カリウム、水酸化カリウム及びジエチレントリアミン五酢酸の溶液と混合して、X線回折に影響を与える硫酸バリウムを溶解除去する。 - 特許庁

This optical lever method allows the Young's modulus to be measured with the laser beam without deforming the measuring object because measurement is performed with X-rays in the in-plane X-ray diffraction method.例文帳に追加

光てこ方式ではレーザ光によって、in-planeX線回折法ではX線によって測定を行うため被測定物を変形させることなくヤング率Εを測定することができる。 - 特許庁

To provide a transmission type X-ray diffraction device capable of excluding an effect of scattered X rays in an incident part to the utmost to detect the diffracted X rays generated in a sample, and an X-ray diffraction method.例文帳に追加

入射部での散乱X線の影響を極力排して試料で生じた回折X線を検出できる透過型のX線回折装置とX線回折方法とを提供する。 - 特許庁

On the surface of steel, a rust layer in which the size of crystallites of β-FeOOH components is50 nm by an X-ray diffraction method is formed, and also, the specific surface area of the rust layer is controlled to10 m2/g by a molecular adsorption method.例文帳に追加

鋼材の表面に、β−FeOOH成分の結晶子サイズがX線回折法で50nm以下の錆層を形成させ、且つ該錆層の比表面積を分子吸着法で10m^2/g以上とする。 - 特許庁

In the evaluation method for evaluating a silicon wafer that has been subjected to heat treatment, the X-ray diffraction intensity of the silicon wafer is measured by an X-ray diffraction method, thus evaluating the IG capability of the silicon wafer.例文帳に追加

熱処理後のシリコンウェーハの評価方法であって、X線回折法によりシリコンウェーハのX線回折強度を測定することによって当該シリコンウェーハのIG能力を評価するようにした。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数(GI)2.0以下、平均粒子径5〜40μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が40〜300μmである複合粒子。 - 特許庁

Related to the lithium manganate, a 1/4 value width of (440) plane peak containing Kα1 ray and Kα2 ray which appears near 2θ=64° at powder X-ray diffraction method is at least 2.5 times of 3/4 value width of peak.例文帳に追加

マンガン酸リチウムが、粉末X線回折法において2θ=64°近傍に現れる、Kα1線とKα2線とを含む(440)面ピークの1/4値幅が、ピークの3/4値幅の2.5倍以上である。 - 特許庁

To enable measurement without destroying hard tissue when evaluating hard tissue is evaluating based on an X-ray diffraction method and then the evaluation of hard tissue with easiness within a short time.例文帳に追加

X線回折法に基づいて硬組織を評価する際に、硬組織を破壊することなく測定を行うことができるようにし、もって、硬組織の評価を簡単且つ短時間で行えるようにする。 - 特許庁

In a preferable mode of the method for evaluating the hard texture, the orientation of the crystal is evaluated by at least one type selected from a group of an X-ray diffraction method, an SEM method, and a TEM method.例文帳に追加

また、本発明の硬組織の評価方法の好ましい態様において、結晶の配向性を、X線回折法、SEM法、TEM法からなる群から選択される少なくとも1種により評価することを特徴とする。 - 特許庁

The negative electrode active material used is a carbon whose inter layer distance d(002) by an X-ray diffraction method is not less than 0.377 nm, and the size of the crystalit in the c-axial direction is not larger than 1.29 nm.例文帳に追加

負極活物質として、X線回折法による層間距離d(002)が0.377nm以上であり、c軸方向の結晶子の大きさLcが1.29nm以下である炭素材料を用いる。 - 特許庁

The evaluation of the crystallinity of the aluminum electrode film 34 by the specific resistance value requires less trouble and time compared with a prior art method evaluating by using an x-ray diffraction method or the like, and a used apparatus is comparatively inexpensive.例文帳に追加

この比抵抗値によるアルミニウム電極膜34の結晶性の評価は、X線回折法などを用いて評価する従来の方法に比べて、手間や時間がかからず、また用いる装置も比較的安価である。 - 特許庁

The inclusion of the TiC-based compound is confirmed by that a finding the diffraction line peaks at 2θ=36.2°, 42.3°, and 61.6° by X-ray diffraction method of the obtained Ti-C-based material correspond to (111), (200), and (220) in TiC.例文帳に追加

TiC系化合物の含有は、得られたTi−C系材料のX線回折法による、2θ=36.2°、42.3°、および61.6°の回折線ピークがTiCにおける(111)、(200)、および(220)に対応することにより確認された。 - 特許庁

To provide a method where a compound in electrolytic slime can be identified precisely and easily by using X-ray diffraction method, so that an available metal containing noble metals is separated with high efficiency from the electrolytic slime to be purified and treated.例文帳に追加

電解スライムから貴金属を含む有価金属を効率良く分離精製処理するため、X線回折法を用いて電解スライム中の化合物を正確に且つ容易に同定できる方法を提供する。 - 特許庁

A convenient technique capable of observing simultaneously the magnetostriction and the magnetization in the same area of the sample is provided, by combining newly a technique for measuring magnetostriction by an X-ray diffraction method and an X-ray magnetic diffraction method.例文帳に追加

X線回折法による磁歪計測の手法とX線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。 - 特許庁

The graphitized carbon fibers have a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak to the (100) diffraction peak of ≥1.15.例文帳に追加

黒鉛化炭素繊維は、X線回折法による黒鉛層間の面間隔(d002)が0.3370nm未満で、かつ、(101)回折ピークと(100)回折ピークのピーク強度比(P101/P100)が1.15以上である。 - 特許庁

This catalyst for a fuel cell contains tungsten carbide for which a half-value width of the maximum diffraction peak in a region having a diffraction angle 2θ(±0.3°) of 40°-60° by an X-ray diffraction method (Cu-K_α ray) is not less than 0.80°.例文帳に追加

X線回折法(Cu−K_α線)による回折角2θ(±0.3゜)が40゜以上60゜以下の領域における最大回折ピークの半値幅が、0.80゜以上である炭化タングステンを含有する燃料電池用触媒。 - 特許庁

Supposing that the (111) face detection peak intensity is (a) and that the (200) face detection peak intensity is b when crystal structures analysis of platinum is executed by an X-ray diffraction method, the platinum electrode films 7, 8 have the ratio (b/a) of 0.01-0.1.例文帳に追加

白金電極膜7、8は、白金をX線回折法によって結晶構造解析した際の、(111)面検出ピーク強度をaとし(200)面検出ピーク強度をbとすると、その比率(b/a)が0.01〜0.1である。 - 特許庁

The raw material originated from shell or pearl is mechanochemically ground such that the factor of decrease based on diffraction intensity before grinding at a predetermined Miller index of aragonite crystal obtained by the X-ray diffraction method becomes a prescribed value.例文帳に追加

貝殻または真珠由来の原料をX線回折法において得られるアラゴナイト結晶の所定のミラー指数における回折強度の粉砕前を基準とした減少率を所定値とするようにメカノケミカル粉砕する。 - 特許庁

Specifically, a vacuum annealing treatment is carried out after the TaXN thin film is formed into a film, and a protecting film is fabricated on it, thereby determining an optimum annealing condition while observing a change of Ta-N coupling by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

具体的には、TaXNを成膜してその上に保護膜を製作した後、真空アニール処理を行い、X線回折法によりTaーN結合の変化を観察しながら、最適なアニール条件を決める方法がある。 - 特許庁

The activated carbon is characterized by having ≥3.86 Å d_002 obtained by X-ray diffraction method, 700-2,400 m^2/g specific surface area obtained by BET(Brunauer-Emmett-Teller) method and a ratio of (oxygen atom)/(carbon atom) in the range of 0.01-0.10.例文帳に追加

X線回折法により求められるd_002が3.86Å以上、BET法による比表面積が700〜2400m^2/g、酸素原子/炭素原子の比が0.01〜0.10の範囲にあることを特徴とする活性炭。 - 特許庁

To provide a catalyst for heterogeneously catalyzed reaction, containing an active component and a catalyst carrier containing δ-Al2O3 of the amount detectable by an X-ray diffraction method, particularly a catalyst for oxychlorination of ethylene to 1,2-dichloroethane.例文帳に追加

活性成分と、X線回折法で検出可能な量のδ−Al_2O_3を含む触媒担体を含む不均一触媒反応用触媒、特にエチレンから1,2−ジクロロエタンへのオキシ塩素化のための触媒を提供する。 - 特許庁

The plastic structuring the container has a crystallinity measured by an X-ray diffraction method from 10 to 80%, and also has transparency capable of checking an amount of methanol inside the container.例文帳に追加

この容器は、容器を構成するプラスチックが、X線回折法によって測定された結晶化度が10〜80%であると共に容器内部のメタノールの量を確認できる透明性を有するプラスチックである点に特徴を有する。 - 特許庁

例文

In the graphitized fiber, the spacing d(002) between graphitized layers according to an X-ray diffraction method is within the range of ≥0.3354 to ≤0.3366 nm; and the crystallite size Lc(002) of graphite crystals is60 nm.例文帳に追加

この黒鉛化繊維によれば、X線回折法による黒鉛化層間の面間隔d(002)が0.3354nm以上0.3366nm以下の範囲であり、かつ黒鉛結晶の結晶子サイズLc(002)が60nm以上である。 - 特許庁




  
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