「てきしゅつせいけん」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

This device includes a focus ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and also includes a probe for separating the microscopic sample containing the desired region of the sample by a charged particle beam type molding process to take out the separated microscopic sample. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

The device is equipped with a focused ion-beam optical system and an electro-optical system in the same vacuum device, as well as a probe for separating a minute sample including a desired area of the sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

The minute sample processing observation device includes a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, as well as a probe 72 separating a minute sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated minute sample. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

This device is provided with a focused ion beam optical system and an electronic optical system in the same vacuum device, and also provided with a probe for separating a minute sample including a desired area of a sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

This apparatus is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and provided with a probe separating a minute sample including the desired area of the sample by charged particle beam molding processing and picking up the separated minute sample. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

This device is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and a probe separating a trace sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated trace sample. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。例文帳に追加

The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated. - 特許庁

背骨関節形成、椎間板の一部又は全体の置換、輪治療、脊椎形成、髄核摘出等のような続く治療処理のため背骨内治療場所（例えば脊椎間運動部）へアクセスしそして準備するための器具を提供する。例文帳に追加

To provide an instrument for accessing and preparing treatment site within the spine (for example, inter-vertebral motion segments) for subsequent treatment procedures such as formation of backbone joints, replacement of a part or the whole of the intervertebral disk, ring treatment, vertebra formation, nucleus pulposus extenteration. - 特許庁

深溶込みレーザ溶接時に発生する溶接欠陥を、溶融池の固有振動と一致した周波数でレーザ出力を変動させ、かつ、その波形を適切に制御することで効果的に防止するとのことを、簡便に、最適出力変調波形や周波数を決定することによって実現する。例文帳に追加

To simply, easily and effectively prevent a weld defect to be generated during deep penetration laser welding by fluctuating a laser output at a frequency which matches the natural frequency of a molten pool and properly controlling the waveform of the laser output to determine the optimum output modulation waveform and frequency. - 特許庁

同一真空装置に集束イオンビーム光学系３１と電子ビーム光学系４１を備え、ウェーハ２１の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブ７２を備えた。例文帳に追加

The minute sample processing observation device includes a focused ion beam optical system 31 and an electron beam optical system 41 in an identical vacuum device, and a probe 72 that separates a minute sample containing a desired area of the wafer 21 by a charged particle beam type molding process and takes out the separated minute sample. - 特許庁

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample preparation method and its device in which only a sample piece containing a desired specified region from a semiconductor wafer and a device chip is sampled (extracted) and is mounted on a sample stage of analysis and measurement device without going through a process of sample preparation by manual work requiring experience, skill, and time. - 特許庁

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a specimen making method and device for sampling (picking) only a specimen piece including a desired specified region out of semiconductor wafers or device chips and mounting it to the specimen stage of an analyzing/measuring device without the need for a specimen-making manual process requiring experiences, skills and a time. - 特許庁

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample preparation method for sampling only a sample piece including a desired, specific region from a semiconductor wafer and a device chip for mounting on the sample stage of an analyzer/measuring device without going through the sample preparation process of manual work requiring experience, skill, and time, and to provide a sample preparation apparatus. - 特許庁

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a testpiece analyzing method and its equipment which samples (extracts) only a testpiece strip including a desired specific region from a semiconductor wafer or a device chip and mount it on the testpiece stage of analysis/measuring apparatus without taking a testpiece making-process executed by manual operation which requires experience, skill or time duration. - 特許庁

乳癌の摘出手術に伴う手術痕等の、上腕部から肩、胸部にかかる傷痕を隠すことができ、しかも左右の乳房の形状や大きさの違いを整形することができ、着用後において、外観及び装着感に違和感を生じることのない女性用水着を提供すること。例文帳に追加

To provide a lady's swimming suit capable of concealing scars such as ones caused by a surgery operation for breast cancer, ranging from an upper arm part through the shoulder and breast parts, capable of trimming the difference between the sizes of the right and left breasts, and causing no sense of incompatibility in its appearance and wearing feeling. - 特許庁

これらの問題は、装置でビット間干渉の摘出試験を行うことで解決できるが、複数の半導体メーカの半導体メモリを混在して搭載する装置では、搭載された半導体メモリのマット種が不明の為に実行すべき試験が不明となる新たな課題が発生する。例文帳に追加

The mat information of a semiconductor memory is recorded in an SPD of a memory module in manufacturing a memory module, and the mat information recorded in the SPD is read at the time of the memory test of the device. - 特許庁

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するマニピュレータと、該マニピュレータをウェーハ試料台と独立に駆動するマニピュレータ制御装置を備えた。例文帳に追加

This apparatus is equipped with a focused ion beam optical system and electron optical system in the same evacuation device and a manipulator, to separate a trace sample, including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and to pick up the separated trace sample, and a manipulator control device for driving the manipulator, independently of a wafer sample board. - 特許庁

アナログＴＶ放送の受信状態を判定する受信状態判定手段と、所定の画像を保持する画像保持手段と、受信状態判定手段の判定結果に応じて、該映像信号又は該所定の画像の信号の何れか一方を該再生機器に出力する選択的出力手段とを具備したＴＶ放送受信機を提供する。例文帳に追加

The television broadcasting receiver includes a reception state discrimination means for discriminating the receiving state of an analog TV broadcast; an image storage means for storing a prescribed image; and a selective output means for outputting either the video signal or the prescribed image to a reproducing device, according to the result of the discrimination by the reception state discrimination means. - 特許庁

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method of preparing a sample and a device therefor wherein only a sample piece including a desired specific area from a semiconductor and a device chip is taken out, and the sample is mounted on the sample stage of an analyzer/measuring device, dispensing with a hand-working sample preparation process which requires experience, skills and time. - 特許庁

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample analysis method and an apparatus by which desired locations such as foreign substances and defects detected by inspection of all or part of a wafer are accurately located without cutting or separating the wafer, and are analyzed by various kinds of analytical apparatuses, with processing them into a sample piece suitable for various kinds of analyses. - 特許庁

マウスより下顎を摘出し、実体顕微鏡下において臼歯及び切歯を抜歯し、大きさを揃えた歯槽骨を採取し、歯槽骨の器官培養系に、ＬＰＳ又はＴＬＲ２リガンドを添加して、被検物質の存在下又は非存在下に６日間培養し、培養後、培養上清中のカルシウム濃度の定量により骨吸収活性を測定する。例文帳に追加

A lower jaw is extirpated from a mouse, a grinder and an incisor are pulled out under a stereoscopic microscope, alveolar bones with uniform size are gathered, an LPS or a TLR2 ligand is added to an organ culture system of the alveolar bones, the culture system is cultured for 6 days under existence or non-existence of a subject substance, bone absorbing activity is determined by quantitative analysis of calcium concentration in a culture supernatant after culturing. - 特許庁

空気圧縮機と、この空気圧縮機から送給される空気を加熱膨張させる空気加熱部と、この空気加熱部から送られる加熱膨張して空気圧縮機からの送給時より高温低圧となった空気のエネルギーを機械的出力に変換する駆動部とを具えた外燃機関により、上記課題を解決する。例文帳に追加

The problem is solved by the external combustion engine including: an air compressor; an air heating unit for heating and expanding the air fed from the air compressor; and a driving unit for converting energy of the air which is fed from the air heating unit, is heated and expanded, and gets higher temperature and lower pressure than when fed from the air compressor, into a mechanical output. - 特許庁